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文档简介
第三介质的损概U的作用下,单位时间内消耗的能量,即引起电介质发热的功率。在直流电压作用下,介质中或多或少有些存在载流子,就有电流IRU USPUIRSRv
v为体积电阻 E2d Pv
ESv
3-P
E2 p
p为单位体积的功耗,单位为W v(v(在交变电场作用下,IRI∴v来描述就不够了,必须要用其它量来描述介质的品质,即介质损耗角正切tgIIIP
IP
S~IS~IIPIQ
U、IIPIQtgtg3-IIIUI 图3-电压与电流的相位差,tgtan
是电压与电流相位差
PUIU2C C
UE p S
r0E0介质损耗角正切tg①当Etgptgp②tg③tg的研究对介质的研究很有意义。ⅰ:用电桥可以同时测出r和tg,但是tg比r~不明显,而tg~TRtgr则需要经过计算。R
p
阶跃电压作用下极化建立的过程、吸收电rs静态介电常数。如果:电场频率frs;frsf的高低如何评价T1与极化时间f瞬时位移极化——DiscementPolarization:包括电子、离子位移极化;松弛极化——RelaxationPolarization:包括转向、热离子和夹层极化。瞬时位移极电子位移极化建立时间1015~1016离子位移极化建立时间1012~1013P表示;松弛极化转向、热离子和夹层极化,极化建立时间为108ss或分钟Pr表示。PPrPrPrm(1e
Relaxationt——加压时PrmtUU0Ptt图3-PrPrmPPm0(rPrm0(b
P0( P立即释放,而PrP
et r1τ时间常数τ①表示松弛极化建立和的快
图3-建立PP(1et/ t=τP=0.632 r rPP
et
P=0.368 r r②P
et rdPr1
et
r
图3-任何时刻的Pr,按Pr曲线在改点切线变化率变化,经过τPriU 图3-总电流i
S
IRSdD——介质的位移电流,D∵D0Ei
SdESdP SdE——真空中的位移电流 SdP∵PP P0(i
SdESdPSd
SdE
0S
1)dESdPr,
0S
1dEISdESd 0
iSdE真空位移电流+ 0 令
SdPr——吸收电流,AbsorptioniIRiiSd
P(1et/)=(
)E(1et/)——突然稳态时 0(s)SEetigSEeti
r
g0(s)——松弛极化的初始电导率(等效 s——介电常数——光频下介电常ttiI'RI'I'a(I'I'R0d
et/
S tI'
S r rm S0(s)Eetigit吸收电流t吸收电流是反向的,趋于Max
图3-数值上与iagiSE——maxUttgI0图3-QQ 图3-QQ'QaQ2QQ'aQ2Q'§3- 交变电场下电解质的损s(t
igSEet 外1(t1(t阶跃电 t t t
git
t
tS(t)gi
图3-e(0
n图3-e(t)e(0)*1(t)E1*1(t)E2*1(t2)E3*1(t3...Ek*1(tk)...En*1(tnEk——在时间tk1(tk——时间tk时单位阶跃函数r(t)e(0)s(t)E1s(t)E2s(t2)E3s(t3...Eks(tk)...Ens(tnr(t)e(0)s(t)E1s(t)E2s(t2)E3s(t3 ...Eks(tk)...Ens(tnnne(0)s(t)k
Eks(tk当n 0无限小
r(t)e(0)s(t)0k
s(tk有k
dtde(
de()0r(t)e(0)s(t)0正弦电场e(Emsin
s(tE dEt
tIagi
s(t)giSe 代表e(0)s(t 1iIagiSE(i)et/e
1i iSEet/e11
iSEeiti i212 12 IeitiI Ieit——场周期,iIeit——与电场垂直超前90°,为电容分
iSE12
giSEE212iIU图3-IIRIIIRSESISdEiS
Eeit 0 0IIIRI ( i)SEeiti0( 1( IeitiI
1(I i)SE(g)SE——有功分量,E 1(22 (其中:g i ——表示有功部1( 1( 0(s21(Ig
s1(
)SE——无功分量,E(∵
s1(
s1(
Ig0rSE——电容分量部分交变电场下电介质的动态介电常数rp,介质损耗角正切tg与频率、温度T的关系i 交变电场下电电介质的动态介电常数rp,介质损耗角正切tg
s1(
)SE0r令r
s1(
(与T无关,
有关,与温度有关:ekt1( u0T↑、↓,∴松弛极化部分与、T有关 PUIPU(g)SE——g是等效电导率,UEd,体积VS (g)SdE 单位体积介质损耗:p (g)E S直流作用下,g=0p( g(交流作用下有g作用g 2 ——松弛极化的特效电场率1( 1(( g g(∵
1(
tg
(g)SE 0r 0①r、p、tg与f的关系(T为 T=常数——则为常A:
r
s1(
p(g)E2(0(s)2)E21(0(s())E21g1(tgg
(∵g0、
r
If:0,tg0 0B:
s1( 22( r d [22(122)22(122)2222]( r d2 (12222()[322d
(122 23rd 0,即r随变化最快。令310,即3rPrg)E2,rf、无关
gE2的影响( g
1(dP
0
d2d2
0120(s)12 1(00tan00
tan
[s 1(0(ss2sdtan
()[22 [s22当 时,d0(tan
0,即tantans2
13∵变化最快时, 1,变化先出13rPtantan
13 1313C:13
1,tan(tan
r
s2
P(g)E2[0(s)2]E1([0(s)]E2(gi)E2gitang r r
)/
r
p(g)Ei i0
1212r、PtanT的关系(isr、PtanT的关系,主要与相关体现(ekT0是松弛活化能A1,T低①
T0
r
s1(
() (P(g)E2gE2 E20 E2gEtang
1( s
1,TrB:
r
s1( 22( r d 22()[322 r 0d [1()213r随T3221013rPg)E2,不计()PgE2 E21( ()2[122 0 [1()2 0(s)E2giE即
tang 00(s) 1(
s]1()20(ss2sdtan
()(22 0 (s2222
,即((s s(tan sss C1,T↑r
s1(
T进一步升高时,由于分子热运动,无序化加剧,N↓sP(g)E2[0(s)2]E1([0(s)]E1(
(00AeB/TeB/TPAeB/TE2,0tan
AeB/
0 0 0Pp
3
上升最
TT增加的方
§3—4复介电常数与-
r
0D0r
etEmsindtDmsintEEEEeit,im
(D,E相位差
DDDeitm0
0
复介电常i
0
cosisin可
0
0
sintan
sinIIISDSESi
I
i22gi
s
3-33
IaIRI122
i01+22
s12s12s ss
tg
2S0EiS0II0SEi0IP0SEIP与IQ0SE,Eg0
i
s1
s1(
is1(
s1I
s1(
]sE0(s)21(德拜方程的性质:①讨论、Ttan与,T(s1(d [](122 0 [1()2
13与p13当11
变化最快的点是 1
出现极大值与 一
tans还未出现,即将出现(tans2s2
而(tan
,
1/3
21s111tan出Cole-Cole
s1((s1(2 22消去得到
2ω
2
εs单一松弛时间的—Debye§3—5松弛时间的分事实:大多数tanfDebyetan
实实 f()d松弛时间以到d0f()d
因此,复合常数 实部
f()01f( d
01(虚部
f() 01( SchweiderDebyef()0,由0f()dtIff((t|t1Debye方程A:正态分布(分布)函
f()Ce(/0C是常数,0为最可几的松弛时B:Kirkwood—Fours
2chyyln(/0f(、f通常采用、与f的经验来表达,概括试验结果。复介电常数
s0 10
松弛时间参数:表示松弛时间的分散程度,0Debyei
(
1(
)1sin2
12(
)2(1(
)1cos2 12(
)2(10s②01,
2中消去
1sin2
2
2利用实验测得的实验数据,求Cole—Cole图 221sin222R 21cos02(s,-stan §3—6气体电介质的损r较小,即r非极性气体:e.N↓s1g,
1,g
0s
1(tan
(g
0
10
(在低电压或电场下成立ff(1)E1V ohmlaw0.81017Sf50Hz,tan
0.810172.9 JJsm饱E击 0
0tan0
p E pE
E2
EEEmsinpT2
202JsEmsintdt20
Jstan
1.62101022JsmE2 2fE 22Jsm sJ61016Am2s
f50z
E105V/tan§3-7液体电介质的损一、非极性和弱极性液体电介①e,②d的贡献小,f50zrsg由tan 1.81010tan
fr
Pf
r一般小,R.T.1012Sm,再取2frtan1.8104tanTAeB/Ttan
tan eB/Ttan
0eB0ln=lnA-Tlntan
0
)T二、极性液体电介①除e外,还有②偶极距的转动容易DebyeFFaMFd(摩擦转矩M0Eisin(转矩FM后为匀速运动,是逐渐趋于稳定的过程,与模型的假设类似22E p (1e) 0iaiae0摩擦系数8a3(Stokes定律
(极化电流0ekTT↑,n E 松弛时间8a38a3en,T↑,↓,
0 n T
Ttan出现(tan
的条件是tanT曲线,为工程应用服务,改变tan常常调节液体粘度而调节峰值出现的位置,从而使使用区间中的tan8油多松香多8油多松香多56425 4321
§3-8固体电介质的损一、固体的无机电介 1r﹤10,较小,损耗主要来源于电导损耗。只有和n2 tan 1.81010Nacl晶体tan
fr
,(1)f((3×106②高频(2×106Hz)下,介质损耗也是电导损耗。∵电桥精度不高,高频下,用T很小进 量时,很高,tan数值大 测量达不到此精度,则T↑,而使数量级大约保持在10-4而进量。
,g0,tan 0纯玻璃中,①没有弱束缚离子,结构紧密,只有很小的电导
(R.T硼玻璃tan<10-3(高频工程玻璃,①结构变松,热离子→Tsg②弱联系离子,K+Na+,Li+工程玻璃中的tan 热离子损耗(热离子极化带来 电 松 ω=cons303绝缘
tan↑。1)tan:ABCtan
22Al2O3高频瓷,MgSiO4tanf50ztan=0.002~0.006(高频瓷tan=0.001~0.003(块滑石瓷)二、固体有机电介只有 ,主要是,tan1.81010r fr3-4tanf极性:PVC.CF(甲酚-树脂),EP(环氧树脂e和tanHighfrequency大,见表3-5(今,电介质物理第二版§3-9不均匀电介质的界面极化和损前面讨论了e,a,d,T,现在讨论不均匀介质的界面极化,工程上,单一提出问题:假设式样由几种共有特性ri
样时:①初始电压分布,仅对应于介电常数ri的空间分布。②稳态电压分布,仅对应于导率iS, dS, d1R1R2UU11dC1d
,C02S;R
d1,
dS dS t
C
Ct
R U2
R
u
U
)Uet R C R u U
)Uet R C R R1R2(C1C2)0(1d22d1
1d2流入iu1
1
)Uet R C R 流出iu2
1
)Uet R C R ii
C2R2
Uet RR(CC1 积聚在界面上的电荷 如令Q=0时,C2R2C1R1即2Q (ii)dtC2R2
R 界面上积聚的界面电荷密度(单位面积上的电荷Q0(1221 1d22是决定于12和21的大 122122为“正”+ 122122 122122全电流
iR
du1u2C
其中
du1 u
)Uet R C R (RCRC
ti 2 1
iRR RR(CC)2(RR 1 (只有当C2R2C1R1时才不会出现夹层极化iiaiGUet/(吸收电流a(R
RC
(
)2ddG 2 1 1 2 1
,G0RR(CC)2(RR (dd)2(dd1 1 2 1 2
s(t)ia(t)U
tUUtI dUs(tt td[Uei
t iGUet/
e1i21(
UiG12 eit IeitiIeit IIIRIICI
CC的串联 C IR
UR
IR
iCU1()2Ui122 (RR1()2)Ui[C1()2IIpIpIq为无功电流。对应于,有C
C
12
12其中G RR(CC (RCRC k 1 2 2 1 R RR(CC)2(RR
1
(C1C2(RCRCk 2 1 CC(RRk0G
1 R
12
C
tan 2
1221
122
122 其中122RR tan 122C
121、Ctan与①C
1220,CC(1k),Cdd2 0时,C13 13②tan 122
2121
(当
110,tan1,tan1
dtan2121k
0,(tan
maxC
C(1k
13 13(Ctan与的关系图2tanT
(CC,C随温度TR T↑,↓11§3-10电介质在光频范围的色散和吸色散现象:介电常数f变化(增高)假设:原子或分子中,由于电子质量比原子核小得多,在E的作用下,F电场力+F H固定不电电(Ze)
Z2e2 力 4 4 e2Za0k a0F
(EEeit,角频率为d2mdt
dkxeE(电子运动方程 ddtE
E xxx的方向,以电场的方向作为基准,m是电子云质量,ex m0kmkm 4a300 ,a10104a300
1031kg,
19C0(10
Ee0m2Ee00 0 m2如果: e→不可d2d2dd2xdtdxkx2b2bmdxx E
m2 E*eE*e0m220* m2200*Ei E(莫
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