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文档简介

A：基于槽型光耦的直流电机转速测量实验实验七B：基于霍尔IC的直流电机转速测量实验实验置。本实验使用亿光生产的ITR9606型槽型光耦，由一个红外线发射管与一个NPN型的硅光敏三极管组合而成，外形如图1所示。1冲的个数获得电机的实际转速，如图2所示。2转速计算：若测速编码数为M，测量时间为t，测量到的脉冲数为N，则转速n=(N/t*M)*60。实验中，LabVIEW采用了计算每一个转速脉冲周期的方法，将周期转换实验连线图J301：取槽型光耦接收端光敏三极管的集电极信号为测速信号，将其连接至AI0+AI0-3启动实验用的计算机主机，成功安装NIELVISmx4.4.x软件（LabVIEW+ELVISmx）将NIELVIS工作所需的电源线正确可靠连接，将NIELVIS与计算机之间用随机USB线将位于ELVIS面板右上方的PrototyBoardingPower电源开关关闭，将位于BICIC又称霍尔开关。当一块通有电流的金属或半导体薄片垂直地放在磁场中时，薄片的两端就会产生电位差，这种现象就称为霍尔效应。两端具有的电位差值称为霍尔电势U，其表达式为U=K*I*B/d。其中K为霍尔系数，I为薄片中通过的电流，B为外加磁场（洛伦兹力Lorrentz）的磁感应强度，d是薄片的厚度。由此可见，霍尔效应的灵敏度高低与44IC霍尔开关的输入端是以磁感应强度B来表征的，当B值达到一定的程度（如B1）时，霍输出，和接近开关类似有NPN、PNP、常开型、常闭型、锁存型（双极性）、双信号输出AllegroA1102IC传感器。A11023个引脚，分别为Vcc（电源引脚接+5V）、GND（地引脚）、Vout（传感器信号输出引脚）。霍尔IC元件测速法和光电码盘测速法的测速方法基本类似，霍尔IC元件测速法是在电机IC转换为电脉冲，进而通过计算电脉冲的个数获得电机的实际转速。霍尔IC测速装置如图5所示。若测速编码数为M，测量时间为t，测量到的脉冲数为N，则转速n=(N/t*M)*60。实验中，LabVIEW采用了计算每一个转速脉冲周期的方法，将周期转换为频率，并将秒换算成分钟，再除以每一圈测速码盘中霍尔IC的个数（1），就得到了直流电机每分钟的转速5ICJ401ICOUT脚为测速信号，即将其连接至ELVISAI0+AI0-通6启动实验用的计算机主机，成功安装NIELVISmx4.4.x软件（LabVIEW+ELVISmx）将NIELVIS工作所需的电源线正确可靠连接，将NIELVIS与计算机之间用随机USB线将位于ELVIS面板右上方的PrototyBoardingPower电源开关关闭，将位于2、设置实验设备名称（默认Dev1）、物理通道（默认AI1差分方式）3、点击【

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