基于RCS测量的涂料测量仪-设计应用

精品文档-下载后可编辑基于RCS测量的涂料测量仪-设计应用现代装备，如各种飞机、军舰等，为减小敌方雷达的发现概率，采用了不同程度的隐身措施。在装备表面涂覆雷达吸波涂料RAC来减小雷达散射截面已成为一种重要的方法。通常表征吸波涂料隐身特性的基本参量是其对电磁波的反射率，表达式为：

式中V反是涂料的反射电压，V入是涂料上的入射电压，P反是涂料的反射功率，P入是涂料的入射功率。上式也可以理解为在给定的波长和极化的条件下，电磁波从同一方向、以同一功率密度入射到雷达吸波涂料平面和良导体平面，雷达吸波涂料平面与同尺寸良导体平面两者镜面方向反射功率之比。

1扫频测量原理

扫频RCS系统也称线性调频系统，其结构如图1和图2所示。其中fi是发射频率，fr是回波频率，f0是中频信号频率，τ是延迟时间，B是扫频信号带宽，T是扫频信号持续时间，c是光速，R是目标到混频器信号端口的距离。

根据扫频RCS系统原理，混频器输出的中频信号中包含有与目标距离成线性关系的频率分量：

由式（3）可以看出：

（1）其频率f0正比于发射带宽B及延迟时间τ，反比于扫频时间T，即f0=Bτ/T。假如目标区有多个反射回波源，中频信号应包含所有反射信号的矢量和。

（2）基于频率与f0目标的距离R呈fc=2BR/cT的正比关系，对频率的分辨率也是对距离的分辨率。其幅度E0（t）反映了目标在t时刻对雷达波的反射强度；由扫频测量体制中微波扫频频率fi[f0-B/2，f0+B/2]与信号持续时间t[0，T]的相关性可知，信号幅度随时间的变化规律E0（t）也是其随发射频率的关系曲线E0（fi）。

获取目标反射率随扫频频率变化的曲线图的过程简述如下：

（1）首先对采样数据作背景对消处理，然后做N点FFT处理实现距离向分辨；这里N为序列字长。然后采用硬件或软件门将一维成像非目标区内的杂散噪声信号频率进一步滤除，从而只保留目标区频带内的数据。

（2）对保留数据作IFFF，得到目标区相应的时域波形，记为Si（t），由于线性扫频体制中时域回波信号亦是扫频发射频率的函数，所以Si（t）可以用Si（fi）表示。

（3）对电压信号Si（fi）取平方，得到回波信号的瞬时功率P（t）或P（fi）的波形，其包络就是目标RCS随频率的幅度分布。

（4）为获得P（fi）包络，再FFT得到P（fi）的功率谱分布，该谱中低频区的谱线代表包络，高频谱是载波fc。

（5）用数字滤波将低频区的包络谱滤出。再对包络谱作IFFT便可恢复反射功率的包络波形，也即RCS和扫频发射频率的关系曲线。

2系统结构分析和实现过程

本测试仪用于对平板型吸波涂料进行快速性能检测。频率特性采用分波段控制，可覆盖2GHz～18GHz范围。对反射率测量的动态范围大于40dB。图3给出了本系统的框图。

中频信号由放大器经过USB芯片采集后传输到嵌入式工控机，在计算机内部进行数据处理。其关键和难点是USB芯片的固件和驱动程序的编写。当芯片上电时，首先由缺省USB设备进行枚举。此款USB芯片具有软配置的特点。枚举完成以后，就可以通过USB的连接线将固件代码到芯片的RAM内。之后8051就会脱离复位并开始运行这些代码，并且再进行枚举，这个过程叫做重枚举。

CYPRESS公司为用户提供了固件程序框架和固件函数库，根据外设功能的具体要求，在相应的函数中填写函数体，就可以完成自定义功能。固件函数框架包含初始化、处理标准USB设备请求以及USB挂起时的电源管理等。框架完成了一个简单的任务循环，其任务调度的步骤如下：

（1）调用用户函数TD_Poll（）。这部分程序由开发者填写，以实现USB外设的主要功能。

（2）判断是否有标准设备请求等待处理。如果有，则分析该请求并响应。

（3）判断USB内核是否收到USB挂起信号。如果收到，则调用用户函数TD_Suspend（）。从该函数成功返回以后，再检测是否发生USB唤醒事件。如果未检测到，则处理器进入挂起方式；如果检测到，则调用用户函数TD_Resume（），程序继续运行。如果从TD_Suspend函数返回FALSE，则程序继续运行。流程图如图4。

这个框架包含以下函数挂钩：voidTD_Init；voidTD_Poll；BOOLTD_Suspend；voidTD_Resume。

以上为任务分配器，分别在框架初始化、设备工作期间、框架进入挂起状态之前、被外部的唤醒事件唤醒且恢复处理之后调用。此外还有9个设备请求函数和8个USB中断函数需要用户自己设置。

驱动程序采用的是CYPRESS提供的通用驱动程序，这是一个可以使用应用程序通过I/O控制来访问的通用驱动程序。用户使用Win32函数DeviceIoControl（）来提交I/O控制码，并且为CreateFile（）函数返回的设备句柄设置I/O缓冲区。DeviceIoControl（）的函数原型为：

BOOLDeviceIoControl（）{

HANDLEhDevice，//设备句柄

DWORDdwIoControlCode，//I/O操作控制代码

LPVOIDlpInBuffer，//输入缓冲区指针

DWORDnInBufferSize，//输入缓冲区大小

LPVOIDlpOutBufferSize，//输出缓冲区指针

DWORDnOutBufferSize，//输出缓冲区大小

LPDWORDlpBytesReturned，//实际返回的字节数

LPOVRLAPPERlpOverLapper，//用于异步操作的重叠指针

}；

IOCTL和相应的输入、输出结构在开发软件包的ezusbsys.h中作出了定义。

为了便于程序维护，扫频测量条件下目标RCS计算所需的函数均被封装在名为CDataProcess的数据处理类中。CDataProcess类的成员变量包括待处理数据的指针、定标数据的指针以及处理过程中必需的参数信息。用户可通过调用该类的成员函数进行RCS的计算。

USB芯片内部集成有8051内核，控制16bitD/A输出锯齿波扫描电压，该电压经过低通滤波器平滑，作为恒温VCO的扫频控制电压。扫频信号经过定向耦合器主路作为混频器的本振信号，耦合器支路输出信号经微波放大器达到18dBm左右的功率值，该信号经环形器、4m同轴电缆到达测试探头。探头的反射波经环形器的另一端口到达混频器的信号端口。

虽然发射信号通过环形器对混频器信号口的直漏功率比目标回波功率大10dB左右，但由于4m延时电缆相当于自由空间5m，故两者频率相差较大，通过带通滤波并放大后，可保证计算机采集到比较理想的目标回波。为限制泄漏信号过大而使混频器饱和，在混频器信号口加一个衰减器，控制泄漏信号电平小于0dBm。当然衰减器的引入使混频器动态范围减少了10dB左右，但还可保证混频器至少有40dB以上的测量动态范围。而其他的便携式测量方案采用检波方法，动态范围也很难做到40dB。这是采用扫频系统的优点。

3实验结果与结论

在扫频测量体系中，误差的主要是混频器的线性度不够，为了使测量更加准确，测量系统先对短路终端进行扫频测量及信号采集，将对短路板的采样信号作为对比标准存起来。然后在同样条件下对被测目标体进行扫频测量，对2组数据进行上述信号处理，然后将2组数据对应相减，即是目标反射率随频率变化的数据。

对某吸波涂料样板进行测试，将实测数据与厂家标准数据进行对比，见表1。

由表1数据可以看出，在反射率比较小时，实测数据与标准数据相差较大，在反射率比较大时，误差较小，处于要求的误差范围内，能够反映吸波涂料的吸波性能。

本系统