LED芯片进料检验标准

仅供个人参考useandnotcommercialuse修记日期

版次

修订条款

修订内容简

修订人

备注编期：

审/日期：

批/日期：会签□总经办□财务心□销中心□市部□研发□资材中□采购□仓库□体系课□项目办□力资源□行政□事业部□品□工程设处□OJT□运营中心

□照明（SMD）

□灯丝□插件□COB□工□设备□IE本资料为源科技有限司之所有产，未经书面许可——不准透露或用本资料亦不准复、复制或变成其它形式使用。不得用于商业用途

仅供个人参考的规范公司内LED正装芯片验判定标准避免不合原材料流产线，提高生产良率。围适用于公司LED正装芯片产品义CR：功不正常﹑严重影响信赖性或严重影响成品规格严重影响户作业等MA成品质有明显性或潜在性的影而不能正使用。：使用上有一定的影响，但不是功上的影响责品保部：品标准的建、修改、行及相关品质记录。容5.1样依：依照《MIL-STD-105E》并结合际情况。5.2须是格供应商，承认书和环资料齐全才可进行一步，否拒绝检验。5.3验标:检项

检内及准

不图及明

抽水

检方工

缺资料检查

1.型号、量、参数送货单据一致1.包装完，纸盒整、芯片静电袋膜完好

无

目视全检CR送货单包装全检，包装标识

破损，无受现象

无

蓝膜抽10

目视CR2.可使用期限须在保质期内一半以上

张检查电极变色

芯片正负极化变色允收标准：可有

10张蓝膜批

显微镜*

MA外观检测

电极色差

同一片中不芯片间和一颗芯片正电极间颜色差异大

10张蓝膜批

显微镜*

MA允收标准：可有电极上探针迹不得超探针痕迹

过电极面积1/3，可露底材不可偏移超过电

10张蓝膜批

显微镜*

MA极范围检项

检内及准

不图及明

抽水

检方工

缺不得用于商业用途

仅供个人参考芯片破损、生、形状小不规则、纹，切割不良

允收标准：芯片破损（生）面积

10张蓝膜批

显微镜*

MA芯片面,裂纹不可有芯片表面的极区域有刮伤的痕迹允收标准：电极刮花

电极区芯片任一电极刮伤面积＜该极面积的

10张蓝膜批

显微镜*

MA外观检

非电极区非电极区刮面积＜该芯面积的且不可损伤结。芯片表面有染痕迹允收标准：测

芯片表面脏污

电极区污染面积＜该电极面积的

10张蓝膜批

显微镜*

MA非电极区污染面积＜芯片面积的1/41.电极脱，有缺口允收标准：掉电极

不可有2.金手指落

10张蓝膜批

显微镜*

CR允收标准：离电极以内脱落不接受排列方向错误检项

芯片中有一（列）或排（列）与他多数材排列方向相排不整齐检内及准

不图及明

10张蓝膜批抽水

显微镜*检方工

CR缺外观检测

表面多金

芯片表面任地方有多出的残金允收标准：可有

10张蓝膜批

显微镜*

CR不得用于商业用途

仅供个人参考尺寸检测

外表漏洞芯片尺寸

芯片任何部有漏洞黑或其他疑击穿现象允收标准：可有每批抽检验芯片的长、宽，电极正负尺寸是否在格范围内

10张蓝膜批无10PCS

显微镜45CR二次元CR校正过的厂芯片每批抽测试DVF，VFM11和VFM12置1uA设置为格DVF

电流，时间置为5ms，

无0.5K

裸晶测试仪CR性能

未校正的厂芯片暂无法测试。允收标准：-0.1V<DVF<0.1V校正过的厂芯片每批进料抽0.5K测VFD2，未校正的厂芯片暂无检测

闸流体

法测试允收标准：流5mA时

无

0.5K

裸晶测试仪CR3V芯片9V芯片VFD2<0.1V18V档芯片VFD2<0.15V校正过的厂芯片每批进料抽0.5K测试；未正向电压

正的厂商芯每批进料抽10PCS测试。允收标准：签电压±

无0.5K/10PCS

裸晶测试仪积分球/机

CR0.1V且平值在标签围内；检项

检内及准

不图及明

抽水

检方工

缺校正过的厂芯片每批反向电流

进料抽0.5K测试；未正的厂商芯每批进料抽10PCS测试条件

无

裸晶测试仪积分球/机

CR和判定按规书标准。校正过的厂芯片每批进料抽0.5K测试；未波长

正的厂商芯每批进料抽10PCS测试。允收标准：签波长

无

裸晶测试仪积分球/机

CR±1nm，且均值在标签范围内不得用于商业用途

仅供个人参考正装双电极片每批进料抽测试值（），其类型的芯片暂无法测亮度检测

允收标准实测平均值标签范围内小值不

无

0.5K

裸晶测试仪MA静电检测

于芯片标签限的，且低于标签限的数量占测试数量例不得超过，管控上限。每批进料抽10PCS反向2000V击后测试IR允收标准按承认书标判定IR2，通过率不低于静电检测后芯片用小电流再测试动电压中档档和9V芯片用1uA测VF5，18V档和24V档芯片用

静电测试仪无10PCS/裸晶测试仪启动电压

测试VF4允收标准：

无

裸晶测试仪CR3V芯片6V芯片9V芯片：：6-8V18V档片VF424V档片VF46参文《产品检验制程序》YL-QA-003、《MIL-STD-105E》、《不格品控制程序》YL-QA-0017附：关单《正装芯片料检验报》RF-QA-013、《原料MRB评单》FR-QIP-1558流无不得用于商业用途

仅供个人参考仅供个用学习、究不得用商业用。Forpersonaluseonlyinstudyandresearch;notforcommercialuse.NurfürdenpersönlichenfürStudien,Forschung,zukommerziellenZweckenverwendetwerden.Pourl'étudeetrechercheuniquementàdesfinspersonnelles;pasàdesfinscomme