标准解读
《YS/T 229.4-2013 高纯铅化学分析方法 第4部分:痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法》是一项针对高纯度铅中微量杂质元素进行检测的标准。该标准详细规定了使用辉光放电质谱(GDMS)技术来定量分析高纯铅样品中的痕量杂质元素的方法。适用于对纯度要求极高的铅材料进行质量控制和科学研究。
标准首先介绍了试验原理,即利用辉光放电产生的等离子体将固体样品转化为气态原子或离子,然后通过质谱仪分离并检测这些离子,从而实现对样品中各种元素的定性和定量分析。接下来,标准列出了所需的主要仪器设备及其工作条件,包括辉光放电源、质谱仪以及相关辅助装置的具体要求。
对于样品准备,《YS/T 229.4-2013》给出了详细的指导步骤,强调了如何正确地处理和制备待测样品以保证测试结果的准确性。此外,还提供了校准曲线建立的方法,这是基于已知浓度的标准溶液来进行的,用以确定未知样品中目标元素的实际含量。
在数据处理方面,本标准明确了从原始信号到最终报告值转换过程中涉及的所有计算公式与修正因子,并且指出了如何评估测量不确定度。同时,也提到了重复性限值和再现性限值的概念,用来评价不同实验室间或同一实验室内部多次实验之间结果的一致性程度。
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....
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- 现行
- 正在执行有效
- 2013-10-17 颁布
- 2014-03-01 实施




文档简介
ICS7712060
H13..
中华人民共和国有色金属行业标准
YS/T2294—2013
.
高纯铅化学分析方法
第4部分痕量杂质元素含量的测定
:
辉光放电质谱法
Chemicalanalysismethodsforhighpuritylead—
Part4Determinationoftraceimuritelementscontent—
:py
Glowdischargemassspectrometry
2013-10-17发布2014-03-01实施
中华人民共和国工业和信息化部发布
中华人民共和国有色金属
行业标准
高纯铅化学分析方法
第4部分痕量杂质元素含量的测定
:
辉光放电质谱法
YS/T229.4—2013
*
中国标准出版社出版发行
北京市朝阳区和平里西街甲号
2(100013)
北京市西城区三里河北街号
16(100045)
网址
:
服务热线
:400-168-0010
年月第一版
20144
*
书号
:155066·2-26706
版权专有侵权必究
YS/T2294—2013
.
前言
高纯铅化学分析方法共分为个部分
YS/T229—2013《》4:
第部分银铜铋铝镍锡镁和铁量的测定化学光谱法
———1:、、、、、、;
第部分砷量的测定原子荧光光谱法
———2:;
第部分锑量的测定原子荧光光谱法
———3:;
第部分痕量杂质元素含量的测定辉光放电质谱法
———4:。
本部分为的第部分
YS/T2294。
本部分按照给出的规则起草
GB/T1.1—2009。
本标准由全国有色金属标准化技术委员会归口
(SAC/TC243)。
本部分负责起草单位东方电气集团峨嵋半导体材料研究所
:。
本部分参加起草单位北京有色金属研究总院金川新材料科技股份有限公司
:、。
本部分主要起草人王攀峰文英孙平刘红邱平徐顺波
:、、、、、。
Ⅰ
YS/T2294—2013
.
高纯铅化学分析方法
第4部分痕量杂质元素含量的测定
:
辉光放电质谱法
1范围
的本部分规定了高纯铅中痕量杂质元素含量的测定方法测定元素见表
YS/T229,1。
本部分适用于高纯铅中痕量杂质元素含量的测定各元素测定范围如下硫硒元素的测定范围为
。:、
其余元素的测定范围为
100μg/kg~5000μg/kg,1μg/kg~5000μg/kg。
2方法原理
试样作为阴极进行辉光放电其表面原子被溅射而脱离试样进入辉光放电等离子体中在等离子体
,,
中离子化后被导入质谱仪在每一元素同位素质量数处以预设的扫描点数和积分时间对相应谱峰积
。
分所得面积即为谱峰强度进行半定量分析时计算机根据仪器软件中的典型相对灵敏度因子自动
,。,“”
计算出各元素的质量含量进行定量分析时需通过在与被测样品相同的分析条件离子源结构以及测
;,、
试条件下对标准样品进行独立测定获得相对灵敏度因子应用该相对灵敏度因子计算出各元素的质量
,
含量
。
3试剂与材料
除非另有说明试验中所用的试剂均为优级纯所用的水为去离子水其电阻率要求达到
,;,
18.2MΩ/cm。
31氮气φ
.(≥99.99%)。
32硝酸
.(1+1)。
33铅标准样品被测元素质量含量在之间
.,50μg/kg~500μg/kg。
34铅空白样品要求被测元素含量低于被测试样中元素含量倍以上
.,10。
4仪器
41高质量分辨率辉光放电质谱仪中分辨率模式下分辨率可达高分辨率模式下分辨
.,3000~4000,
率可达
9000~10000。
42机械加工设备能够将样品制备成所需的几何形状块状或棒状试样待分析面应平坦光滑
.,(),。
43测定元素同位素及分辨率见表
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