JJF 1682-2017光栅式测微仪校准规范

中华人民共和国国家计量技术规范

JJF1682—2017

光栅式测微仪校准规范

CalibrationSpecificationforGratingMicrometers

2017-11-20发布2018-05-20实施

国家质量监督检验检疫总局发布

JJF1682—2017

光栅式测微仪校准规范ৣॣ

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ॣ代替JJG989—2004ॣ

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GratingMicrometers

归口单位全国几何量工程参量计量技术委员会

:

主要起草单位中国科学院光电技术研究所

:

中国测试技术研究院

参加起草单位安徽省计量科学研究院

:

本规范委托全国几何量工程参量计量技术委员会负责解释

JJF1682—2017

本规范主要起草人

:

曹学东中国科学院光电技术研究所

()

匡龙中国科学院光电技术研究所

()

冉庆中国测试技术研究院

()

参加起草人

:

范天泉中国科学院光电技术研究所

()

马琳安徽省计量科学研究院

()

胡琦中国科学院光电技术研究所

()

JJF1682—2017

目录

引言

………………………(Ⅱ)

范围

1……………………(1)

引用文件

2………………(1)

术语

3……………………(1)

示值误差范围

3.1………………………(1)

概述

4……………………(1)

计量特性

5………………(1)

测力

5.1…………………(1)

测杆受径向力引起的示值变化

5.2……………………(1)

重复性

5.3………………(1)

示值误差范围

5.4………………………(3)

漂移

5.5…………………(3)

校准条件

6………………(3)

环境条件

6.1……………(3)

校准项目和校准用标准器

6.2…………(4)

校准方法

7………………(5)

测力

7.1…………………(5)

测杆受径向力引起的示值变化

7.2……………………(5)

重复性

7.3………………(5)

示值误差范围

7.4………………………(5)

漂移

7.5…………………(8)

校准结果表达

8…………(8)

复校时间间隔

9…………(8)

附录示值误差范围校准不确定度评定测长装置法

A()…………(9)

附录示值误差范围校准不确定度评定量块测微仪检定器组合法

B(-)…………(13)

附录示值误差范围校准不确定度评定量块测量法

C()…………(16)

附录校准证书内容及内页格式

D……………………(19)

Ⅰ

JJF1682—2017

引言

本规范的编写以国家计量校准规范编写规则

JJF1071—2010《》、JJF1001—2011

通用计量术语及定义和测量不确定度评定与表示为基础和

《》JJF1059.1—2012《》

依据

。

本规范替代光栅式测微仪

JJG989—2004《》。

与相比除编辑性修改外本规范主要技术变化如下

JJG989—2004,,:

本规范取消了外观各部分相互作用及抗干扰性三项通用技术要求

———“”“”“”;

本规范将准确度级别由级改为级的形式并增加了

———“××”“××μm”,

级及级两种准确度级别

“0.1μm”“0.2μm”;

本规范将示值误差的校准改为示值误差范围的校准

———;

本规范将示值误差的测量方法由固定零点改为浮动零点形式

———;

本规范在示值误差范围校准方法中增加了量块测量法

———“”。

本规范的历次版本发布情况

:

———JJG989—2004。

Ⅱ

JJF1682—2017

光栅式测微仪校准规范

1范围

本规范适用于级行程为级行程为

0.1μm0~10mm、0.2μm0~25mm、0.5μm

级行程为级级行程为的光栅式测微仪校准

0~50mm、1μm~10μm0~100mm。

2引用文件

本规范引用下列文件

:

光栅线位移测量装置

JB/T10030—2012

光栅线位移测量系统第部分光栅线位移传感器

JB/T10080.2—20112:

凡是注日期的引用文件仅注日期的版本适用于本规范凡是不注日期的引用文

,;

件其最新版本包括所有的修改单适用本规范

,()。

3术语

示值误差范围

3.1rangeofindicationerror

指示值误差中最大者与最小者之差

。

4概述

光栅式测微仪以下简称测微仪也称光栅测微仪光栅长度计或光电测长仪是

()、,

以光栅副作为测量元件将线位移量转换为光电信号经电路处理并以数字显示位移量

,