标准解读

《JJF 1092-2002 光切显微镜校准规范》与《JJG 76-1980》相比，在多个方面进行了更新和完善，以适应技术进步和实际应用需求。主要变化体现在以下几个方面：

  1. 适用范围的明确：新标准更加明确了其适用的对象，即光切显微镜及其相关附件，而不仅仅是针对某一特定类型的设备。

  2. 术语定义的更新：对于关键术语如“分辨率”、“放大率”等给出了更为准确或详细的定义，有助于减少理解上的歧义。

  3. 校准条件的变化：规定了更为严格的环境控制要求（如温度、湿度），以及对光源稳定性的要求，确保测量结果的一致性和可靠性。

  4. 校准项目及方法的细化：增加了新的校准项目，并对原有项目的校准方法进行了优化。例如，增加了关于图像质量评估的具体步骤；对于某些参数，则引入了更先进的测试手段。

  5. 不确定度评定的要求：强调了在校准过程中需要进行不确定度分析，并给出了具体的操作指南，这是旧版标准中所缺乏的内容。

  6. 报告格式的规定：提出了统一的校准证书模板，包括必须包含的信息项，以便于用户理解和使用校准结果。


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....

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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 2002-11-04 颁布
  • 2003-05-04 实施
©正版授权
JJF 1092-2002光切显微镜校准规范_第1页
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文档简介

中华人民共和国国家计量技术规范

JJF1092—2002

光切显微镜校准规范

CalibrationSpecificationforLight-SectionMicroscopes

2002-11-04发布2003-05-04实施

国家质量监督检验检疫总局发布

JJF1092—2002

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光切显微镜校准规范췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍

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CalibrationSecificationfor代替JJG76—1980췍

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Light-SectionMicroscopes

本校准规范经国家质量监督检验检疫总局于年月日批准

2002114,

并自年月日起施行

200354。

归口单位:全国几何量工程参量计量技术委员会

主要起草单位:广西计量测试研究所

陕西省计量测试研究所

上海光学仪器研究所

本规范委托归口单位负责解释

JJF1092—2002

本规范主要起草人:

全贻智广西计量测试研究所

()

张磊陕西省计量测试研究所

()

张兴德上海光学仪器研究所

()

JJF1092—2002

目录

范围……………………

1(1)

引用文献………………

2(1)

概述……………………

3(1)

计量特性………………

4(1)

测微目镜视场及示值误差…………

4.1(1)

狭缝像两边缘的直线度和平行度…………………

4.2(2)

工作台纵横向导轨移动平面对工作台表面的平行度……………

4.3(2)

狭缝像在垂直方向的弯曲度………

4.4(2)

托架受侧向力时引起物方像的位移…………

4.520N(2)

仪器示值误差………………………

4.6(2)

校准条件………………

5(3)

环境条件……………

5.1(3)

测量标准器及其他设备……………

5.2(3)

校准项目和校准方法…………………

6(3)

测微目镜视场及示值误差…………

6.1(3)

狭缝像两边缘的直线度和平行度…………………

6.2(4)

工作台纵横向导轨移动平面对工作台表面的平行度……………

6.3(4)

狭缝像在垂直方向上的弯曲度……………………

6.4(4)

托架受侧向力时引起物方像的位移…………

6.520N(4)

仪器示值误差………………………

6.6(4)

校准结果的表达………………………

7(6)

复校时间间隔…………

8(6)

附录仪器示值误差校准结果的测量不确定度评定………………

A(7)

附录校准证书内容……………………

B(9)

JJF1092—2002

光切显微镜校准规范

1范围

本规范适用于光切显微镜的校准

。

2引用文献

本规范引用下列文献

:

通用计量术语及定义

JJF1001—1998

测量不确定度评定与表示

JJF1059—1999

表面粗糙度参数及其数值

GB/T1031—1995

使用本规范时应注意使用上述引用文献的现行有效版本

,。

3概述

光切显微镜外形结构如图所示它以光切法测量原理图测量表面粗糙度的

1,(2)

轮廓峰高和谷深其测量范围

,(1.0~80)μm。

图

1

4计量特性

测微目镜视场及示值误差

4.1

测微目镜鼓轮指示零位时测微目镜分划板的毫米刻线应套在双刻线指标内

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