标准解读

《GB/T 8758-2006 砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法》与《GB/T 8758-1988 砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法》相比,在多个方面进行了更新和完善。这些变化旨在提高测量的准确性和可靠性,同时适应技术进步和行业需求的变化。

首先,2006版标准对术语和定义部分做了更为详细的阐述,增加了对于关键概念如“外延层”、“干涉条纹”的明确解释,有助于减少理解上的歧义。此外,还引入了新的术语以涵盖近年来发展起来的技术或方法。

其次,在测量原理方面,虽然基本原理保持不变,但2006版增加了更多关于如何选择合适的光源波长、探测器类型以及光学系统配置的具体指导信息,从而使得实验设置更加灵活,并能够针对不同应用场景做出最佳选择。

再者,对于样品准备及处理过程,新版本提供了更详尽的操作指南,包括但不限于清洁步骤、表面状态要求等,确保了测试前样品处于理想条件下,减少了外部因素对结果的影响。

另外,《GB/T 8758-2006》中也加强了数据处理环节的规定,比如明确了如何校正由于温度变化引起的折射率变动、提出了使用软件自动分析的方法来提高效率并降低人为误差的可能性。

最后,在质量控制与保证方面,2006年修订版增加了定期验证设备性能的要求,并建议实验室建立内部比对机制以持续监控测量系统的稳定性与准确性。这不仅提升了单次测量结果的质量,也有利于长期跟踪研究过程中可能存在的系统性偏差问题。


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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 2006-07-18 颁布
  • 2006-11-01 实施
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GB/T 8758-2006砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法_第1页
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ICS77.040.01H17中华人民共和国国家标准GB/T8758—2006代替GB/T8758-1988砷化家外延层厚度红外干涉测量方法Measuringthicknessofepitaxiallayersofgalliumarsenidebyinfraredinterference2006-07-18发布2006-11-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局爱布中国国家标准化管理委员会

中华人民共和国国国家标准神化镶外延层厚度红外干涉测量方法GB/T8758-2006中国标准出版社出版发行北京西城区复兴门外三里河北街16号邮政编码:100045电话:010)51299090、685220062006年10月第一版书号:155066·1-28139版权专有侵权必究举报电话:(010)68522006

GB/T8758—2006本标准是对GB/T8758—1988《砷化镖外延层厚度红外干涉测量方法》的修订。本标准自实施之日起代替GB/T8758-1988本标准与GB/T8758—1988相比主要变动如下-原标准表述仪器要求的3.1.3条使用了波数表示法,为了和其他条款的表述一致,改为波长表示法。原标准规定,为测定仪器的波长精度和重复性,要测量聚苯乙烯膜的吸收带十次。但未规定是按固定周期还是在每次测量前做这项工作,也没有规定如果在这十次测量结果中出现一次或几次不符合要求时应如何处理,不便于实际操作。修改后规定为每次打开仪器按仪器说明书的要求预热一定时间后,在正式测量前进行一次测量聚苯乙烯膜的吸收带的校准,本标准的附录A为资料性附录。本标准由中国有色金属工业协会提出本标准由全国有色金属标准化技术委员会归口。本标准起草单位:北京有色金属研究总院。本标准主要起草人:王彤涵。本标准由全国有色金属标准化技术委员会负责解释本标准所代替标准的历次版本发布情况为:-GB/T8758-1988。

GB/T8758-2006砷化家外延层厚度红外干涉测量方法范围本标准适用于砷化镖外延片外延层厚度的测量.测量厚度大于2m。要求衬底材料的电阻率小于0.02·cm.外延层的电阻率大于0.1·cm.2原理衬底材料与外延层的光学常数差别较大.当红外光入射到外延片表面时.在反射光谱中产生干涉条纹。根据干涉条纹的极大值或极小值的波长位置、衬底材料和外延层的光学常数以及光束的入射角,可计算出外延层的厚度仪器3.1双双光束红外分光光度计或傅立叶红外光谱仪,波长范围为2.5m~50m.或波数范围为4000cm-1~200cm-!。3.2仪器的波长和波长重复性误差不大于0.05gm。在10m处光谱分辨率为0.02m或更好。3.3仪器应配有反射附件,入射角不大于30°。仪器应配有黑体材料制成的多种孔径的光阑。样品4.1用于测量的样品应具有良好的光学表面,不应有大面积的钝化层.4.2衬底和外延层的导电类型及衬底的电阻率应是已知的。5测量过程5.1仪器校准5.1.1打开仪器,按说明书的要求进行预热。测量厚度为300m~500m的聚苯乙烯膜的吸收光谱,核对3.303m吸收带,其结果应满足3.2的要求。5.1.2安装反射附件后测量100%线,其峰谷值差应小于8%5.2选择扫描速度安装反射附件。选择衬底和外延层电阻率分别为0.008·cm和0.12㎡·cm并且在波长大于25m处仍能观察到极值的外延片,使用最慢的扫描速度记录大于25m处的极小值的波长位置。逐步提高扫描速度,观察极小值波长位置的变化,允许使用的最快扫描速度与最慢扫描速度得到的相应极小值波长之差应小于±0.12m.5.3测量5.3.1把待测样品放置于反射附件的窗口上,测量点对准窗口,记录反射光谱。扫描速度满足5.2的要求。5.3.2在低于极大值或高于极小值满刻度的约3%处作水平线,该线与反射光谱线两焦点的中点位置即为极值的波长位置。5.

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