标准解读
《GB/T 30704-2014 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南》是针对X射线光电子能谱(XPS)技术在表面化学分析中的应用而制定的一项国家标准。该标准旨在为使用XPS进行材料表面成分及化学状态分析提供指导性意见,确保测试过程的规范性和结果的一致性、准确性。
标准首先介绍了XPS的基本原理及其在科学研究和工业生产中的重要地位。接着详细描述了仪器设备的要求,包括对光源、能量分析器、检测系统等关键部件性能参数的规定,以保证数据采集的质量。同时,对于样品准备也给出了具体建议,强调了样品清洁度、均匀性等因素对最终结果的影响,并列举了几种常见类型的样品处理方法。
在实验操作部分,《GB/T 30704-2014》规定了一系列标准化流程,涵盖从开机前检查到数据分析报告编写整个过程。它不仅明确了不同条件下应选择何种扫描模式或设置哪些参数,还特别指出如何通过调整实验条件来优化信号强度与分辨率之间的平衡。此外,对于可能出现的数据偏差或异常情况,该标准也提供了相应的解决策略。
关于数据分析,《GB/T 30704-2014》深入探讨了峰位校正、背景扣除、谱峰拟合等多个环节的技术细节。其中,尤其重视元素定量分析时需考虑的因素,如相对灵敏度因子的选择、多重散射效应的修正等。通过这些内容的学习,使用者能够更加准确地解析复杂谱图,从而获得可靠的物质组成信息。
最后,该标准还提到了质量控制的重要性,建议实验室建立完善的内部审核机制,定期参加能力验证活动,以此持续提升技术水平和服务质量。
如需获取更多详尽信息,请直接参考下方经官方授权发布的权威标准文档。
....
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- 现行
- 正在执行有效
- 2014-06-09 颁布
- 2014-12-01 实施





文档简介
ICS7104040
G04..
中华人民共和国国家标准
GB/T30704—2014/ISO108102010
:
表面化学分析
X射线光电子能谱分析指南
Surfacechemicalanalysis—X-rayphotoelectronspectroscopy—
Guidelinesforanalysis
(ISO10810:2010,IDT)
2014-06-09发布2014-12-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布
中国国家标准化管理委员会
GB/T30704—2014/ISO108102010
:
目次
前言
…………………………Ⅰ
引言
…………………………Ⅱ
范围
1………………………1
规范性引用文件
2…………………………1
术语和定义
3………………1
符号和缩略语
4……………1
样品分析概述
5……………2
样品表征
6…………………3
概述
6.1…………………3
样品形态
6.2……………4
材料类型
6.3……………5
样品处理和安装
6.4……………………6
样品处理
6.5……………6
仪器核查
7…………………7
概述
7.1…………………7
仪器检查
7.2……………7
仪器校准
7.3……………8
仪器设定
7.4……………12
宽扫描谱
8…………………13
数据采集
8.1……………13
数据分析
8.2……………14
窄扫描
9……………………15
概述
9.1…………………15
数据采集
9.2……………15
数据分析
9.3……………15
测试报告
10………………18
参考文献
……………………20
GB/T30704—2014/ISO108102010
:
前言
本标准按照给出的规则起草
GB/T1.1—2009。
本标准使用翻译法等同采用表面化学分析射线光电子能谱分析指南
ISO10810:2010《X》。
与本标准中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下
:
检测和校准实验室能力的通用要求
———GB/T27025—2008(ISO/IEC17025:2005,IDT)
表面化学分析词汇
———GB/T22461—2008(ISO18115:2001,IDT)
本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出并归口
(SAC/TC38)。
本标准起草单位中国科学院化学研究所
:。
本标准起草人赵志娟刘芬赵良仲章小余
:、、、。
Ⅰ
GB/T30704—2014/ISO108102010
:
引言
射线光电子能谱被广泛用于材料的表面分析将所测芯能级结合能与各种元素的结合能
X(XPS)。
表对照来识别样品中的元素除之外与纯元素态的数据比较其化学态可以根据谱峰位移以
(H、He)。,
及其他参数的变化来确定元素的定量信息从所测光电子峰的强度中得到利用公式和仪器厂商提供
。。
的或本仪器测量的相对灵敏度因子以及合适的软件可以计算所测表面层中各化学成分的含量
。
本标准是为了帮助射线光电子能谱仪的操作者进行典型样品的有效和有意义的分析
X。
Ⅱ
GB/T30704—2014/ISO108102010
:
表面化学分析
X射线光电子能谱分析指南
1范围
本标准适用于射线光电子能谱仪的操作者分析典型样品本标准帮助操作者完成整个分析过
X。
程包括样品处理谱仪校准和设定以及宽扫描谱和窄扫描谱的采集并给出了定量和准备最终报告的
,,,
建议
。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的凡是注日期的引用文件仅注日期的版本适用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于本文件
。,()。
检测和校准实验室能力的通用要求
ISO/IEC17025(Generalrequirementsforthecompetenceof
testingandcalibrationlaboratories)
表面化学分析词汇第一部分通用术语和谱学术语
ISO18115-1——:(Surfacechemical
analysis—Vocabulary—Part1:Generaltermsandtermsusedinspectroscopy)
3术语和定义
界定的术语和定义适用于本文件
ISO18115-1。
4符号和缩略语
下列符号和缩略语适用于本文件
。
俄歇电子能谱
AES(Augerelectronspectroscopy)
变角射线光电子能谱
ARXPSX(Angle-resolvedX-rayphotoelectronspectroscopy)
物质的量咨询委员会
CCQM(Consultativecommitteeforamountofsubstance)
有证标准参考物质
CRM()(Certifiedreferencematerial)
有效衰减长度
EAL(Effectiveattenuationlength)
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