标准解读
《GB/T 28894-2012 表面化学分析 分析前样品的处理》是一项国家标准,主要针对表面化学分析领域中样品在进行正式分析之前所需经历的一系列预处理步骤。该标准旨在通过规范样品处理流程,确保分析结果的准确性和可比性。具体内容涵盖了从样品采集到最终用于分析前的所有准备阶段。
首先,在样品收集方面,标准强调了正确选择和使用采样工具的重要性,以及如何根据不同的材料特性采取适当的采集方法。对于易挥发、易氧化或对环境敏感的样品,特别指出需要采取特殊措施来保护其原始状态不受破坏。
接着是关于样品清洁的部分,这里详细描述了多种物理与化学清洗技术的应用条件及其优缺点。例如,超声波清洗适用于去除微小颗粒污染物;而溶剂清洗则更多地应用于有机物污染较重的情况。此外,还提到了电化学抛光等更为专业的清洁手段。
再者,标准也涉及到了样品切割与研磨的过程指导。为了保证截面平整度及避免引入额外污染,规定了不同硬度材料适用的具体操作方式和技术参数。同时,对于某些特定类型的样品(如薄膜),提出了采用离子束蚀刻等先进技术来进行精确加工的要求。
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....
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- 现行
- 正在执行有效
- 2012-11-05 颁布
- 2013-06-01 实施
文档简介
ICS7104040
G04..
中华人民共和国国家标准
GB/T28894—2012/ISO181172009
:
表面化学分析分析前样品的处理
Surfacechemicalanalysis—Handlingofspecimenspriortoanalysis
(ISO18117:2009,IDT)
2012-11-05发布2013-06-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布
中国国家标准化管理委员会
GB/T28894—2012/ISO181172009
:
前言
本标准按照给出的规则起草
GB/T1.1—2009。
本标准使用翻译法等同采用表面化学分析分析前样品的处理
ISO18117:2009《》。
为了方便使用本标准做了下列编辑性修改
,:
用本标准代替本国际标准
———“”“”。
本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出并归口
(SAC/TC38)。
本标准负责起草单位厦门爱劳德光电有限公司厦门大学化学化工学院
:、。
本标准起草人王水菊岑丹霞时海燕姚文清刘芬沈电洪
:、、、、、。
Ⅰ
GB/T28894—2012/ISO181172009
:
引言
本标准对于提交表面化学分析样品的人们在样品处理和把样品递送给分析人员方面提供指导尽
。
管主要是为俄歇电子能谱射线光电子能谱和二次离子质谱而写但这些方法
(AES)、X(XPS)(SIMS),
也能用于其他表面敏感的分析测量和通常对几纳米厚度的表面层敏感这样
。AES、XPSSIMS(nm)。
的薄层会由于不正确的样品处理而受到严重影响[1,2]样品的正确处理和制备对于分析是极为重要
。
的不正确的处理会导致表面组成改变和数据不可信
,。
本标准是供给样品提供者或表面分析设备的购买者以及表面分析人员使用的最佳处理方法取决
。
于特定的样品和所需的信息并且本标准为每一种样品类型提供了说明性的例子这些样品类型是样品
,,
所有者和表面分析人员通常遇到的本标准建议样品供应者就有关样品的来历需要解决的具体问题
。、
或所需要的信息以及任何特殊的样品制备所需的处理或运送方法尽可能快地和表面分析人员商量
,、,。
本标准可以不依赖于而独立使用[4]该标准用于指导分析人员进行表面分析的样品制
ISO18116,
备和安装
。
Ⅱ
GB/T28894—2012/ISO181172009
:
表面化学分析分析前样品的处理
1范围
本标准规定了表面化学分析样品的处理和存放容器的要求本标准适用于表面化学分析设备的用
。
户了解表面化学分析技术的特殊样品处理要求特别是俄歇电子能谱二次离子质谱和
,(AES)、(SIMS)
射线光电子能谱或本标准也适用于对表面组成敏感的其他分析技术如对
X(XPSESCA)。,TXRF。
于特定的实例特定的样品需要更加注意
,,。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的凡是注日期的引用文件仅注日期的版本适用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于本文件
。,()。
表面化学分析词汇
GB/T22461—2008,(ISO18115:2001,IDT)
表面化学分析表面分析样品的制备和固定方法指南
ISO18116:2005,(Surfacechemical
analysis—Guidelinesforpreparationandmountingofspecimensforanalysis)
3术语和定义
界定的术语和定义适用于本文件
GB/T22461—2008。
4符号和缩略词
俄歇电子能谱
AES
原子力显微镜
AFM
化学分析电子能谱
ESCA
聚四氟乙烯
PTFE
扫描电子显微镜
SEM
二次离子质谱
SIMS
全反射射线荧光光谱
TXRFX
射线光电子能谱
XPSX
5本标准结构的说明
第章讨论了要考虑的会影响表面组成的附加事项如样品来历和样品先前的分析这些影响的
7,。
文件要随同小心处理和包装的样品一并交付第章提供了使样品表面污染最小所需的样品处理方法
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