常见模组不良分析

MODULE技术部AGING&TESTChangeLifewithHeartFINALINSPECTIONGUIDEBOOK

BOERevisionO2011.12.09目镜用途垂直置于Defect处，头左右轻轻摇动（角度不要太大）。使用方法观察点类，异物类不良。使用时需轻拿轻放，防止造成PolScr注意事项橡胶锤用途使用方法注意事项敲击力度适中，且敲击前确认好Panel在Pallet上倾斜角度及是否与PalletJig保持距离，避免造成Cell破损。使用前橡胶锤上需包裹无尘布，防止敲击力度过大，同时防止造成Panel表面脏污和划伤。检查异物及因接触不良产生的非再现性不良，如Shock亮点，敲击亮线，画面异常，TouchMura等用橡胶锤从15CM的高度适度地敲击GATE向和SOURCE向IC的BEZEL部或PANEL显示区域检查工具比对卡用途测量异物长、宽、大小。测量不良间距。使用方法置于Defect处，用比对的方式进行测量。必要时和目镜搭配使用。注意事项点规：测量圆形(1b:a10:1)不良线规：测线形(b:a<10:1)不良相切圆：测点间距调节笔用途用于模拟式VCOM调解。使用方法食指和拇指握住调节笔身，垂直插入FLICKER调节口，在一个圆周内双向往复旋转调节笔，直至FLICKERPATTERN不再闪烁。注意事项垂直插入,双向旋转,轻微调节。检查画面DelayTime2s▶检查显示灰度级▶实施SHOCKTEST(COFCrack,异常点灯,内部Short等)▶BLOCK,线缺陷检查MainDefectWRGB256H-GRAY

WHITERASTERL255DelayTimeTV：4sMNT：7sMainDefect▶重点检查B/L异物.▶B/L画面品质(B/LScr,B/L白点etc)▶检查暗点个数DelayTime▶X&YLINEDEFECT▶BITLINE▶某种特定的点不良MainDefectX-FILEGRAYSCALE

TV：2sMNT：1sRASTERR/G/BL127(MNT)DelayTime1sMainDefect▶暗点检查▶X,Y薄线缺陷,BLOCK▶色MURA检查▶DATAOPEN检查CROSSTALKDelayTimeMainDefect▶中央部位的CROSSTALK▶四角BLF.M强化检查1sWHITERASTERL0DelayTimeTV：3sMNT：4sMainDefect

▶实施SHOCKTES和指压测试(POL/CELL异物,POL污渍，POL压痕，POL气泡，L0漏光,亮线,C/S,亮点等)▶CELLSCR,ZARATSUKI,C/FALIGNMISS▶白MURA,TOUCHMURADOTFLICKERDelayTime1sMainDefect▶画面中心闪烁GREENMIXGRAYL63(MNT)DelayTime3sMainDefect▶对L63进行局部检查(Cell异物，Cell黑白点，Cell黑白Gap等)WHITERASTERL63▶低亮点检查、SPOT、GAP▶MURA检查(参照LimitSample)DelayTime3sMainDefectWHITERASTERL127DelayTime2sMainDefect▶CELLSTAIN及SPOTBLACKLEFT(TV)DelayTime1sMainDefect▶PIXEL,ZARA,CELL&POLSCR▶SIDEGAP及其他MURANote▶检查LEFT部分RED256GRAY(TV)DelayTime1s▶色MURA▶X&Y薄LINE、BLOCKMainDefectFI不良大全NOCONTENTS1PanelDefect(Mura,Spot,Scratch,Particle)2PixelDefect3LineDefect4Function5POLDefect6BLUDefectPanelDefect(Mura,Spot,Scratch,Particle)不良图片现象描述在L63PATTERN下，Gap部分的颜色与其他位置处相比较黑，按压后产生水波纹现象。判定方法L63+参照限度样本。黑Gap白Gap不良图片现象描述在L63PATTERN下，Gap部分的颜色与其他位置处相比较白，按压后产生水波纹现象。判定方法L63+参照限度样本。不良图片现象描述L63PATTERNPanel边缘泛黑，L0PATTERN下给视角（下视）检查，不良现象明显。判定方法L63+参照限度样本。周边黑Gap周边白Gap不良图片现象描述L63PATTERNPanel边缘泛白，L0PATTERN下给视角（下视）检查，不良现象明显。判定方法L63+参照限度样本。L63+参照限度样本。L63/L127PATTERN周边发白或发黑,或长条状污渍。周边Mura1不良图片现象描述判定方法周边Mura周边Mura2周边Mura3周边Mura4不良图片现象描述L0Pattern可见周边发白或者发黄的漏光现象。判定方法L0+参照限度样本。L0周边漏光水平/垂直黑线不良图片现象描述水平方向/竖直方向发黑或发白的规则条状Mura，

Block边界模糊过渡到正常区域。判定方法L63+参照限度样本。不良图片现象描述L0PATTERN下如上图所示，贯穿全屏的水平/垂直黑线Mura，上下或左右超视角时可看到黑线边缘泛白。(此不良目前只出现在32’’)判定方法L0+规定的检查视角、距离内可见则PL判定。L0水平/垂直黑线RubbingETC不良图片现象描述L63

PATTERN左右倾角45度斜线整齐排列，满屏发生，局部严重。判定方法L63+参照限度样本。L63+参照限度样本。L63/L127PATTERN水平或垂直的黑或白色的Block,Block边界模糊过渡到正常区域。水平白Block不良图片现象描述判定方法Block

Mura水平黑Block垂直白Block垂直黑BlockTouchMura不良图片现象描述判定方法在L0PATTERN下加压后出现的白色面状不良，形状不规则，停止加压后不良现象会逐渐消失。敲击显示区域的左边，右边会出现不良；敲击右边，左边会出现不良现象。在L0下正常敲击，若敲击左侧在Panel右侧出现TouchMura，此时在右侧有TouchMura的位置再敲击一次时现象消失则按PL判定，若敲击后3s内不消失需Q级判定。CrossTalk不良图片现象描述CrossTalkPattern中黑色区域影响周边灰色区域的亮度，造成上下或左右亮度异常。判定方法在CrossTalk画面判定，规定的检查视角、距离内可见则判为Q级。ZaraAlign不良图片L0Pattern下全屏漏光现象，每个SubPixel周边都存在漏光现象，有视角依赖性。现象描述判定方法L0Pattern+规定的检查视角、距离内可见则Q级判定。

ZaraPT不良图片现象描述L0Pattern下目视为团状发白，目镜下可观察到Spacer周边发生漏光，有颜色的星星点点状，有时伴有黑GapMura。判定方法L0Pattern+规定的检查视角、距离内可见则Q级判定。不良图片现象描述判定方法L63+规定的检查视角、距离内可见Q级判定。Cell黑点不良图片现象描述判定方法在L63PATTERN下可见的黑色小斑点，与周边正常区域颜色对比较明显，但边界模糊多为圆形。黑点施压时不发生水波纹现象，且Size一般比Gap小。在L63PATTERN下可见的白色小斑点，与周边正常区域颜色对比较明显，但边界模糊多为圆形。白点施压时不发生水波纹现象，且Size一般比Gap小。Cell白点L63+规定的检查视角、距离内可见Q级判定。不良图片现象描述判定方法L63或L0Pattern下参照Spec判定。多为Q级或NG。CellScratch不良图片现象描述判定方法

L0Pattern下根据Spec判定。Cell异物L0下发亮或L63Pattern下的发黑/白不良，多为线型或具特定方向性，如方向为45°或135°。L0下观察到亮点，用目镜看可见到R、G、B颜色，且不随视角的变化而变化。L63Pattern下参照限度样本判定。不良图片现象描述判定方法CellStain一般现象不规则，有点状，条纹状，面状污痕等，发白或者发黑。常见的现象为满屏不规则横条纹。PixelDefect亮点不良图片RedDotGreenDotBlueDot现象描述不受驱动电路控制，在所有画面下保持常亮且亮度可以通过NDFilter(5%)的不良。如图所示，一个亮点占满一整个亚像素（DOT）。判定方法三种类型：个数、连续、距离。详见FinalSpec。暗点不良图片现象描述不受驱动电路控制，在所有画面下保持常暗的点。如图所示，一个暗点占满一整个亚像素（DOT）。判定方法三种类型：个数、连续、距离。详见FinalSpec。RedDotGreenDotBlueDotRedDot辉点不良图片现象描述不受驱动电路控制，在所有画面下保持常亮，亮度可以通过NDFilter(5%)但面积小于1个DOT的不良。判定方法MNT：辉点面积大于或等于1/2DOT时，判为亮点；面积小于1/2DOT时，判为CELL异物。TV：70cm处辉点面积大于或等于1/3DOT时，判为亮点；面积小于1/3DOT时，判为CELL异物。GreenDot低亮点不良图片现象描述类型一：L0下DOT点显示低亮（比亮点稍暗）；L63&L127等其它Pattern显示暗点。类型二：L0下无不良；L63&L127等PatternDOT显示低亮。判定方法类型一：L0下亮度比限度样本亮的判为亮点，暗的判为暗点。类型二：L127下亮度比限度样本亮的判为亮点，暗的无视。RedDotShock亮点敲击现象描述敲击时出现的亮点。判定方法敲击后出现，若3s内不消失的判为亮点（参照亮点Spec），若3S内消失此不良无视，RevisionCode选择L。不良图片亮点的判定一、1个亮点：按1个亮点Spec表判定。二、多个亮点：亮点点距：横向/纵向/斜向隔一个Dot及一个Dot以上，且亮点之间的间距小于15mm(比对卡测量)。亮点连结：横向/纵向/斜向通过边/点相连接(3个Dot以内)。亮点个数：

N个亮点中有无2S等连续亮点或亮点距离。斜向2S纵向点2S横向2S纵向点点距斜向3S横向点3S纵向点3S横向点点距亮点距离小于15mm根据以上亮点类型，对照相应型号的Spec表，对亮点不良进行判级。注意：需要计算亮暗点总数，并对照Spec表判定。暗点的判定一、1个暗点：按1个暗Spec表判定。二、多个暗点暗点点距：（R、G、B）横向都为点距/纵向隔一个及一个Dot以上，全白画面横向有连结。暗点连结：（R、G、B）横向无连结/纵向相连。暗点个数：

N个亮点中有无2S等连续暗点或暗点距离。根据以上暗点类型，对照相应型号的Spec表，对暗点不良进行判级。暗点3S暗点点距2个暗点LineDefectWRGB/L0PATTERN下发现即NG判定。由Active区域Data方向某一点开始向下的一段亮度均一的亮线。不良图片现象描述判定方法DataOpenWRGB/L0PATTERN下发现即NG判定。不良图片现象描述判定方法GateOpenActive区域Gate方向的一点开始向右的一段亮度均一的白线。L0/L63PATTERN下发现即NG判定。Remark:对于32Inch产品，若亮线贯穿一个暗点，一般需将Flicker画面调节OK后再进行判定，如果亮线消失则不需判定NG。Active区域Data方向的一整条亮度不均一，一般为由上到下渐变的单色亮线；有时亮线上可见一个亮点(或暗点)，也有时为一个发光小异物。不良图片现象描述判定方法DCSL0/L63PATTERN下发现即NG判定。Active区域Gate方向的一整条亮度不均一，一般为由左至右渐变的白线，有时中间贯穿亮点或异物不良图片现象描述判定方法GCSL0/L63PATTERN下发现即NG判定。不良图片现象描述判定方法DGS1.Data向一条两种颜色的线2.Data向的线会闪动3.Gate和Data方向十字交叉不良不良现象机理：---Gate线与Data线发生Short，加在两条线上的信号互相干扰。---Gate线大部分时间电压较低，导致Data线上的电压也较低。

在CellTest的DGSData线应为亮线。---加在Gate线的脉冲也会受到Data信号的影响，但所受影响随位置而变，沿信号加入方向，越靠近Short发生处，受到的影响越大。

所以在CellTest观察应为逐渐变亮的线。L0/L63PATTERN下发现即NG判定。不良图片现象描述判定方法DDS/GGS1.DDS:现象与同X2-Line,为两条相邻亮线。2.GGS:现象为相邻两条较暗的Y白线，相对其他正常像素来说颜色较暗。GGSDDSFunction不良图片现象描述FlickerPattern下画面闪烁不可调节或调节好后不能

保存。判定方法出现即NG。Flicker闪烁Crosstalk不良图片现象描述CrossTalkPattern中黑色区域影响周边灰色区域的亮度，造成上下或左右亮度异常。判定方法出现即判为NG。POLDefectL0Pattern下根据异物大小和个数判定，详见Spec。在L0Pattern下有RGB颜色，用Loupe观察，异物会随视角移动而相对BM移动，异物在网格(BM部)上面相对移动为上POL异物，反之为下POL异物，且异物会有R/G/B颜色变化。Loupe下POL异物不良图片现象描述判定方法POL异物DOT间黑色部分称为BM部L0Pattern下根据大小和个数判定，详见Spec。内POL划伤不良图片现象描述判定方法外POL划伤内POL划伤：在L0Pattern有RGB颜色的划伤，呈线状，Loupe下不良现象同POL异物。外POL划伤：不点灯肉眼明显可见，有明显划伤痕迹。POL划伤L0Pattern下根据气泡大小判定和个数，详见Spec。Loupe下POL气泡不良图片现象描述判定方法POL气泡外POL气泡内POL气泡：L0Pattern可见圈状发白不良(立起Pattern较明显)，分异物和非异物引起气泡。外POL气泡：不点灯肉眼可见Panel表面气泡不良。L0Pattern下根据大小和个数判定，详见Spec。圆形POL压痕不良图片现象描述判定方法POL压痕蝴蝶状压痕圆形压痕：L0Pattern可见圆形发白不良(立起Pattern较明显)，压痕边界清晰无立体感。蝴蝶状压痕：L0Pattern正视可见蝴蝶状轻微发白不良，在L63正视可见轻微发黑。外POL污渍不良图片现象描述判定方法POL污渍内POL污渍内POL污渍：L0Pattern可见局部发黑且无固定形态不可擦拭的污渍。外POL污渍：外观