标准解读

GB/T 19501-2004是一项中国国家标准，全称为《电子背散射衍射分析方法通则》。本标准规定了使用电子背散射衍射（EBSD）技术进行材料微结构分析的方法原理、实验条件选择、数据采集与处理以及结果表述的一系列要求和指导原则。下面是对该标准主要内容的展开说明：

1. 范围

该标准适用于利用扫描电子显微镜（SEM）配备的电子背散射衍射系统进行的材料晶体取向、晶粒尺寸、相鉴定、织构分析及缺陷观察等检测项目。它覆盖了从样品制备到数据分析的全过程。

2. 规范性引用文件

列出了实施本标准时所直接引用或参考的其他标准文档，这些文档包含了必要的基础定义、测试设备要求和相关测试方法等信息。

3. 术语和定义

明确了电子背散射衍射分析中的专业术语，如晶粒、取向图、Kikuchi花样、织构系数等，确保了标准使用者对概念有统一的理解。

4. 原理

解释了电子背散射衍射的基本物理原理，即入射电子与样品相互作用后产生的背散射电子携带了样品晶体结构的信息，通过捕获并分析这些电子的衍射图案，可以推断出样品的晶体学特性。

5. 仪器与设备

详细描述了进行EBSD分析所需的仪器配置和技术参数，包括扫描电子显微镜的性能要求、EBSD探测器的类型及其工作原理，以及必要的附件装置，如样品台、减震装置等。

6. 样品制备

阐述了样品制备的具体步骤和要求，包括切割、磨抛、电解抛光或离子减薄等，以确保样品表面满足高分辨率EBSD分析的条件，如平整度、清洁度和导电性。

7. 实验条件与参数设置

提供了实验参数选择的指南，如电子束加速电压、束流强度、工作距离、探测效率调整等，以适应不同材料特性和分析目的的需求。

8. 数据采集

介绍了数据采集的策略，包括扫描模式、步进大小、曝光时间和数据质量控制措施，强调了获取高质量EBSD图谱的关键要素。

9. 数据处理与分析

讲解了数据后期处理流程，包括花样识别、晶格定向确定、晶粒分割、织构参数计算等步骤，并提及了常用的软件工具和算法。

10. 结果表述与解释

规范了如何呈现和解释EBSD分析结果，包括图形展示（如取向图、极图、反空间图）、数据统计分析及结论撰写要求，确保分析结果的准确传达。

11. 精度和准确度

讨论了影响EBSD分析精度的因素，如仪器稳定性、样品制备质量、数据采集参数等，并提出评估和改善措施。

12. 安全

简要提到了在操作高能电子设备时应遵循的安全规程，以保障操作人员和设备安全。


如需获取更多详尽信息，请直接参考下方经官方授权发布的权威标准文档。

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  • 被代替
  • 已被新标准代替，建议下载现行标准GB/T 19501-2013
  • 2004-04-30 颁布
  • 2004-12-01 实施
©正版授权
GB/T 19501-2004电子背散射衍射分析方法通则_第1页
GB/T 19501-2004电子背散射衍射分析方法通则_第2页
GB/T 19501-2004电子背散射衍射分析方法通则_第3页
GB/T 19501-2004电子背散射衍射分析方法通则_第4页
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文档简介

ICS71.040.50G04中华人民共和国国家标准GB/T：19501-一2004电子背散射衍射分析方法通则Generalguideforelectronbackscatterdiffractionanalysis2004-04-30发布2004-12-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局爱布中国国家标准化管理委员会

GB/T19501-2004三次前言范围2规范性引用文件3术语和定义4试验方法5分析结果发布参考文献……

GB/T19501一2004前本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出本标准由全国微束分析标准化技术委员会归口。本标准由宝钢股份公司技术中心起草。本标准主要起草人：陈家光、范朝晖、田青超、李忠.

GB/T19501一2004电子背散射衍射分析方法通则1范围本标准规定了电子背散射衍射分析方法。本标准适用于安装了电子背散射衍射附件的电子束显微分析仪进行物相的鉴定、品体取向、显微织构以及品界特性等方面的分析。2规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勒误的内容)或修订版均不适用于本标准，然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件.其最新版本适用于本标准。GB/T15074电子探针定量分析方法通则GB/T15481检测和校准实验室能力的通用要求(GB/T15481-2000.idtISO/IEC17025:1999)3术语和定义下列术语和定义适用于本标准电子背散射衍射lelectronbackscatterdiffraction（EBSD人射电子束进入试样,由于非弹性散射,在入射点附近发散.在表层几十纳米范围内成为一点源由于其能量损失很少，电子的波长可以认为基本不变。这些电子在反向出射时与品体产生布拉格衔射、称之为电子背散射行射32电子背散射衍射谱（花样）electronbackscatterdiffractionpattern（EBSP)在电子背散射衍射中产生的线状花样，称之为电子背散射衍射菊池线。每一线对即菊池线对,对应品体中的一组品面，所有不同品面产生的背散射衍射菊池线组成的图形称为电子背散射衍射谱(花样)3.3晶体取向Crystallographicorientations晶体点阵相对于试样外部坐标轴的位向关系.及取向分布。3晶粒夹角晶界面两侧位向差(相邻两晶粒间夹角0)可用品粒绕某一晶向轴相对另一品粒旋转·角来表示分为小角度晶界(0<15°)和大角度晶界(0>15°)。3.5重位点阵coincidencesitelattice（CSL)两个互相穿插的平移点阵(点阵1和点阵2)相对作平移、旋转等操作.当到达某一位置时（如旋转到某些特殊角度时)。这两部分点阵中的一些阵点会重合起来（即点阵2中的某一阵点与点阵1中的某一阵点重合）这些重合的阵点称为点阵重合位置。这些重合位置的阵点本身将构成三维空间格子的超点阵,称为重合位置点阵，简称重位点阵"Lattice

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