标准解读
《GB/T 18239-2000 集成电路(IC)卡读写机通用规范》作为一项技术标准,为集成电路卡读写设备的制造商和用户提供了统一的功能要求、性能指标、测试方法及安全要求。然而,您提供的对比参照物未明确给出,这使得直接对比具体变更内容变得不可能。不过,可以一般性地说明当一个标准更新或与另一个相关标准比较时,通常会涉及以下几个方面的变化:
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技术进步的适应性:新标准可能会纳入新技术要求,以适应集成电路卡读写技术的发展,比如支持更高频率的通信协议、增加对新型IC卡标准的兼容性等。
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安全性增强:鉴于信息安全的重要性日益增加,新标准可能会加强关于数据加密、身份验证、防篡改功能等方面的要求,确保交易和数据传输的安全性。
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互操作性提升:为了促进不同厂商设备间的顺畅交互,新标准可能会细化互操作性测试标准,确保不同品牌读写器与IC卡之间的兼容性。
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性能指标调整:可能会根据技术进步和市场需求调整读写速度、错误率、耐用性等性能指标,以提高用户体验和系统效率。
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环境适应性与可靠性:随着应用环境的多样化,新标准可能对设备的工作温度范围、湿度抵抗能力、电磁兼容性等提出更严格的要求。
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测试方法与认证流程:为了确保产品符合新标准,可能会引入新的测试方法和认证程序,包括实验室测试、现场试验等,以验证设备的合规性。
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用户界面与可访问性:考虑到用户体验,新标准可能会包含对用户界面友好度、多语言支持、无障碍设计等方面的指导原则。
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- 现行
- 正在执行有效
- 2000-10-17 颁布
- 2001-08-01 实施
文档简介
ICS.35.240.15L64中华人民共和国国家标准GB/T18239—2000集成电路(IC)卡读写机通用规范Genericspecificationforintegratedcircuitcardreader2000-10-17发布2001-08-01实施国家质量技术监督局发布
GB/T18239-2000目次前言……上范围引用标准定义4要求5试试验方法6检验规则7标志、包装、运输、财存·附录A(标准的附录)故故障分类及判据附录B(标准的附录)集成电路卡读写机检查程序的规定
GB/T18239-2000本标准规定IC卡读写机的技术要求、试验方法和检验规则,以及IC卡读写机的标志和标签。本标准所涉及的IC卡读写机适用于工商、税务、交通及流动人口管理等领域。该机适用的IC卡应符合GB/T16649.1—1993《识别卡带触点的集成电路卡第1部分:物理特性》和GB/T16649.2-1993《识别卡带触点的集成电路卡第2部分:触点的尺寸和位置》和GB/T16649.3—1993《识别卡带触点的集成电路卡第3部分:电信号和传输协议》的规定。本标准的附录A、附录B是标准的附录。本标准由中华人民共和国信息产业部提出本标准由中国电子技术标准化研究所归口本标准主要起草单位:华旭金卡有限责任公司、中国电子技术标准化研究所、中国华大集成电路设计中心、长城计算机软件与系统公司、深圳开发科技股份有限公司、福建实达电脑股份有限公司、上海良标智能终端股份有限公司。本标准主要起草人:丁荣兴、冯树德、王立建、张金霞
中华人民共和国国家标准GB/T18239-2000集成电路(IC)卡读写机通用规范Genericspecificationforintegratedcircuitcardreader1范围本标准规定了集成电路(IC)卡读写机(以下简称产品)的技术要求、试验方法和检验规则,以及标志、包装、运输和贴存要求。本标准适用于IC卡读写机产品、2引用标准下列标准所包含的条文,通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时.所示版本均为有效。所有标准都会被修订,使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性GB191—1990包装储运图示标志GB/T1988—1998信息技术信息交换用七位编码字符集(eqvISO/IEC646:1991)GB2312—1980信息交换用汉字编码字符集基本集GB/T2421—1999电工电子产品环境试验第1部分:总则(idtIEC68-1:1988)GB/T2423.1—1989电工电子产品基本环境试验规程试验A:低温试验方法(eqvIEC68-2-1:1974)GB/T2423.2—1989电工电子产品基本环境试验规程足试验B:高温试验方法(eqvIEC68-2-2:1974)GB/T2423.3-1993电工电子产品基本环境试验规程试验Ca:恒定湿热试验方法(eqvIEC68-2-3:1984)5电工电子产品环境试验第二部分:试验方法GB/T2423.5-1995试验Ea和导则:冲击(idtIEC68-2-27:1987)GB/T2423.6-1995电工电子产品环境试验第二部分:试验方法试验Eb和导则:碰撞(idtIEC68-2-29.1987),电工电子产品环境试验第二部分:试验方法GB/T2423.8-1995试验Ed:自由跌落CidtIEC68-2-32:1990GB/T2423.10—1995电工电子产品环境试验第二部分:试验方法:试验Fe和导则:振动(正弦)idtIEC68-2-6.1982)GB/T2828—1987逐批检查计数抽样程序及抽样表(适用于连续批的检查)GB4943—1995信息技术设备(包括电气事务设备)的安全(idtIEC950:1991)GB/T5007.1—1985信息交换用汉字24×24点阵字模集GB/T5007.2-1985信息交换用汉字24×24点阵字模数据集GB/T5080.7-19
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