标准解读
《GB/T 17541-1998 学习机通用规范》作为一项技术标准,为学习机的产品设计、生产、检验提供了统一的准则。然而,您提到的对比对象未明确给出,我无法直接提供两者之间的具体变更内容。如果想要了解该标准与另一个特定标准或其前一版之间的差异,通常需要详细比对两个标准的具体条款,包括但不限于技术要求、测试方法、安全规范、性能指标等方面的调整和更新。
例如,如果对比的是该标准与一个假想的旧版标准,可能的变更点可能涵盖新技术的纳入(如支持数字化教育资源的新格式)、提升硬件配置要求以适应更复杂的学习软件、增强用户交互体验的设计原则、以及更加严格的数据保护与隐私安全规定等。但请注意,这些仅是假设性示例,并非针对实际的比较结果。
要获得确切的变更信息,需要直接查阅这两个标准文档,逐条分析其异同。
如需获取更多详尽信息,请直接参考下方经官方授权发布的权威标准文档。
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- 现行
- 正在执行有效
- 1998-11-05 颁布
- 1999-06-01 实施
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文档简介
ICS35.160L62中华人民共和国国家标准GB/T17541一1998学习机通用规范Generalspecificationforelementarycomputer1998-11-05发布1999-06-01实施国家质量技术监督局发布
GB/T17541-1998范围引用标准23型号命名要求44.1处理机设计要求4.2外观及结构要求4.3电源适应能力4.4功能4.5性能4.6电磁兼容性4.7安全4.8环境条件4.8.1大大气环境条件4.8.2机械环境条件4.9可靠性和键寿命5试验方法···············5.1试验环境条件5.2外观及结构检查5.3电源适应能力试验5.4功能检查5.5性能检查5.6电磁兼容性试验5.7安全试验5.8环境试验5.8.1一般要求5.8.2温度下限试验5.8.3温度上限试验5.8.4恒定湿热试验5.8.5振动试验5.8.6冲击试验5.8.7运输包装跌落试验5.9可靠性和键寿命试验5.9.1可靠性试验5.9.2键寿命试验
GB/T17541-19986检验规则6.1一一般规定检验分类63定型检验交收检验…6.5例行检验……标志、包装、运输、存7.1标志…7.27.37.4存…·附录A(标准的附录)故障的分类
GB/T17541-1998本标准规定了学习机的通用技术条件,主要内容包括:技术要求、试验方法、检验规则等,本标准的适用对象主要是以通用信息处理用键盘为主机的、配以有关设备(如:电源、软驱等)以及相应的信息处理软件,用于游戏、教育和简单的信息处理的学习机。本标准适用于各种具有上述功能和作用的射频或视、音频输出的学习机类产品。本标准的附录八是标准的附录。本标准由中华人民共和国电子工业部提出本标准起草单位:电子工业部标准化研究所、北京市产品质量监督检验所。本标准主要起草人:武杰、王立建、张振生、陈静、黄一禾、王焕祥、范承斌、唐瑞春。
中华人民共和国国家标准学习机通用规范GB/T17541-1998Generalspeciticationforelementarycomputer范围1.1主题内容本标准规定了学习机通用要求、试验方法、检验规则,以及标志、包装、运输、存等,1.2适用范围本标准适用于各种射频输出或视、音频输出的学习机(以下简称学习机)引用标准下列标准所包含的条文,通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时,所示版本均为有效。所有标准都会被修订,使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。GB191—1990包装储运图示标志GB2312—1980信息交换用汉字编码字符集基本集GB/T2423.1—1989电工电子产品基本环境试验规程试验A:低温试验方法(eqvIEC68-2-1:1974)GB/T2423.2-1989电工电子产品基本环境试验规程试验B:高温试验方法(eqvIEC68-2-2:1974)GB/T2423.3-1993电工电子产品基本环境试验规程试验Ca:恒定湿热试验方法(eqvIEC68-2-3:1984)GB/T2423.5-1995。电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ea和导则:冲击(idtTEC68-2-27:1987)GB/T2423.10-1995电电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fe和导则:振动(正弦)idtIEC68-2-6:1982)GB/T2787-1981信息处理交换用七位编码字符集键盘的字母数字区布局(eqvISO2530:1975)GB/T2828—1987连批检查计数抽样程序及抽样表(适用于连续批的检查)GB/T4837-1984打字机打印键和功能键的布局(idtISO1091:1977)GB4943—1995信息技术设备(包括电气事务设备)的安全(idtIEC950:1991)GB/T5007.1-1985信息交换用汉字24×24点阵字模集GB/T5007.2-1985信息交换用汉字24×24点阵字模数据集GB/T5080.7—1986设备可靠性试验恒定失效率假定下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案(idtIEC605-7:1978)GB/T5199.1-1985信息交换用汉字15×16点阵字模集GB/T5199.2-1985信息交换用汉字15
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