标准解读

《GB/T 16864-1997 低温下晶体透射率的试验方法》这一标准详细规定了在低温环境下测量晶体材料透射率的具体操作步骤、设备要求、样品制备以及数据处理方法。然而，您提供的对比信息不完整，没有明确指出与哪个具体的标准或版本进行比较。因此，我无法直接列出与某个特定前版或后续标准之间的具体变更点。

若要一般性地讨论此类标准可能的更新方向，通常涉及以下几个方面：

  1. 试验条件的细化或调整：新标准可能会对测试温度范围、温度控制精度、样品环境（如真空度）等方面提出更严格或更明确的要求。
  2. 测量技术与设备的进步：随着科技发展，新的测量技术和设备会被引入，旧标准中关于仪器的描述可能被更新为采用更精确、更高效的仪器。
  3. 数据处理方法的优化：新标准可能会采用更先进的数据分析技术，提供更准确的数据处理流程和公式，以减少误差并提高测试结果的可比性和重复性。
  4. 样品准备指导的完善：为了确保测试结果的一致性和可靠性，新标准可能会加强对样品尺寸、形状、表面处理等方面的指导。
  5. 术语与定义的统一：随着科学认知的发展，相关术语的定义可能会得到更新或标准化，以保持与国际标准的一致性。
  6. 安全与环保要求的增强：新标准可能会增加关于实验操作安全及环境保护的规定，确保实验过程符合最新的法规要求。


如需获取更多详尽信息，请直接参考下方经官方授权发布的权威标准文档。

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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 1997-06-16 颁布
  • 1997-12-01 实施
©正版授权
GB/T 16864-1997低温下晶体透射率的试验方法_第1页
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文档简介

ICS.17.180.01N05中华人民共和国国家标准CB/T16864-1997低温下晶体透射率的试验方法Methodfortestingcryogenictransmissivityofcrystals1997-06-16发布1997-12-01实施国家技术监督局发布

CB/T16864-1997前本标准根据GB/T1.1标准化工作导则，表述了在低温下测试品体的透射率的试验方法。本方法的特点是在低温下采用分光光度计测遥过率的方法，获得晶体在300～20K温度范围、波长为紫外至近红外范围内的透射率。本标准由中国科学院提出。本标准由中国科学院物理研究所归口。本标准起草单位：中国科学院物理研究所本标准主要起草人：周紫、张道范、杨华光。

中华人民共和国国家标准低温下晶体透射率的试验方法GB/T16864-1997Methodfortestingcryogenictransmissivityofcrystals1范园本标准规定了低温下(300K～20K)，波长在紫外-近红外的品体透射率的试验方法。本标准适用于品体透射率的测试。试验方法2.1原理当一束单色平面波垂直入射到厚度为的各向同性的晶体平面平行板上时，光束的能量一部分被反射，一部分被吸收，另一部分透射过去，在略去晶体对光散射时，有式(1)和式(2)关系：1a=1十1A十IT：·······（1）式中：1。——入射光强度,W/m²；-反射光强度，W/m²一-吸收光强度，W/m²i-透射光强度，W/mn²；R-反射率；-吸收率+T—一透射率。假设K"<m,d>A条件下，有式(3)关系;"（3)式中：K--晶体的消光系数：-真空中光的波长，nmi晶体样品的厚度，cmi九-晶体的折射率：Q-晶体的吸收系数，cm-。通过透射率的测量，可以推算出晶体的吸收系数。当R"e-<1时,式(3)简化为：T一（1-R)"e"··。···（4）：0（5）透射率是波长的函数，通常测量透射

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