- 现行
- 正在执行有效
- 1997-05-28 颁布
- 1998-02-01 实施
![GB/T 16822-1997介电晶体介电性能的试验方法_第1页](http://file4.renrendoc.com/view/d2a42ed1f544524400816bb5f33ebb49/d2a42ed1f544524400816bb5f33ebb491.gif)
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![GB/T 16822-1997介电晶体介电性能的试验方法_第3页](http://file4.renrendoc.com/view/d2a42ed1f544524400816bb5f33ebb49/d2a42ed1f544524400816bb5f33ebb493.gif)
![GB/T 16822-1997介电晶体介电性能的试验方法_第4页](http://file4.renrendoc.com/view/d2a42ed1f544524400816bb5f33ebb49/d2a42ed1f544524400816bb5f33ebb494.gif)
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文档简介
ICS.31.020L90中华人民共和国国家标准GB/T16822-—1997介电品体介电性能的试验方法Testmethodfordielectricpropertiesofdielectriccrystal1997-05-28发布1998-02-01实施国家技术监督局发布
中华人民共和国国家标准介电品体介电性能的试验方法GB/T16822-1997中国标准出版社出版发行北京西城区复兴门外三里河北街16号邮政编码:100045电话:63787337、637874471997年10月第一版2005年1月电子版制作书号:155066·1-14147版权专有侵权必究举报电话:(010)68533533
GB/T16822-1997本标准根据GB/T1.1一1993《标准化工作导则第1单元;标准的起草与表述规则第1部分:标淮编写的基本规定》表达了介电品体介电性能的试验方法。本标准参考了GB11297.11-89《热释电材料介电常数的测试方法》GB11297.9-89《热释电材料介质损耗角正切tan8的测试方法》及GB11294—89《红外探测材料半导体光电材料和热释电材料常用名词术语》三个标准。本标准的特点是针对介电品体的介电性能与其结品学对称性有关,采用介电系数张量来描述其介电性能。本标准讨论了各种晶系品体的介电系数张量的独立分量数目及其介电主轴的取法,同时给出了低频下其介电系数及介电损耗的测量方法本标准由中国科学院物理研究所提出、本标准由中国科学院归口。本标准起草单位:中国科学院物理研究所。本标准主要起草人:张道范、朱铺
中华人民共和国国家标准介电晶体介电性能的试验方法GB/T16822-1997Testmethodfordielectricpropertiesofdielectriccrystal本标准规定了介电品体的低频(10MHz以下)介电系数及介电损耗的试验方法本标准适用于介电品体的介电性能的测定。2试验方法2.1介电系数2.1.1定义介电系数dielectriccoefficient将原来不带电的介电品体置于电场中,在其内部和表面上会感生出一定的电荷即产生电极化现象用电极化强度矢量P描述。当电场强度E不太强时,介质中的电极化强度P和电场强度E成线性关系在一般情况下,晶体中的电极化强皮失量P与电场强度矢量E有不同的方向,使得品体内的电位移失量D和E有不同的方向,在直角坐标系中,晶体内这三者的关系可用式(1)表示:D=eoE,+P,=eoe%E,:·········(1>(i=1,2,3)152i········(2式中:s—真空介电系数,1,2,3分别代表直角坐标轴X,Y,Z;晶体的介电系数张量,该张量为二阶对称极张量,即,=ea。描述二阶张量可选用三个相互垂直的主轴为坐标轴(称主轴坐标系)在主轴坐标系中可将二阶介电系数张址简化为只含对角项,称主介电系数。晶体的介电系数张量的独立分量数目与其对称性有关:对于立方品系只有一个独立的介电系数m一m=m.对于三方,四方,六方晶系有两个独立的介电系数=·ea。取晶体的高次对称轴(e轴)为一介电主轴,另两个介电主轴在垂直。轴的平面内,取结晶轴“轴为另一介电主轴。对于正交品系有三个独立的介电系数..ez.s。取品体的结晶轴(a、、轴)为三个介电主轴对于单斜品系有四个独立的介电系数.z.ea.a。取晶体的二次对称轴(轴)为一介电主轴。另两个介电主轴在垂直6轴的平面内,通过实验测量位于这平面内的三个独立的介电系数,可以确定这两个介电主轴的方向和大小。对于三斜晶系有六个独立的介电系数,a:eas,ei:6z·a。可任意选一直角坐标系,通过实验测量六个独立的介电系数,经过数学运算可以确定三个介电主轴的方向和大小。2.
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