GB/T 16464-1996半导体器件集成电路第1部分：总则

ICS31.200L55中华人民共和国国家标准GB/T16464-1996IEC748-1:1984半导体器件集成电路第1部分:总则SemiconductordevicesIntegratedcircuitsPart:General1996-07-09发布1997-01-01实施国家技术监督局发布

第I篇IEC748号标准的范围和说明范围2说明第篇：IEC748-1号标准的目的和说明总则2目的3：说明第篇IEC748-2号、IEC748-3号等标准的目的、说明和要求第W篇：通用术语………………一般名词术语2集成电路的籍位特性工艺术语5模集成电路和混合膜集成电路器件类型的术语第V篇通用文字符号…1基本文字符号·……2数字集成电路的下标2.1电压和电流·……………2.2开关时间…………3模拟集成电路的下标第篇关于基本额定值和电特性的一般规定2介绍发布资料的标准格式以及描述集成电路基本额定值、电特性和功能规范的方法2.1介绍发布资料的标准格式·…2.2描述集成电路基本额定值、电特性和功能规范的方法3“额定值”的基本定义……………冷却条件的定义……5优选温度一览表6优选电压一览表……6.1用于推荐工作条件的优选标称电压-一览表6.2机械额定值、特性和其他资料…8产品的离散性和一致性：···········99印制线和印制电路）适用于所有种类集成电路的规范格式10610.1总则

10.2相关应用的描述10.3动能规范·…·10.4极限值(绝对最大额定值)10.5工作条件……10.610.7编程（适用时）·..10.8机械和环境额定值，特性和其他资料10.9附加资料·………………·第篇通用测试方法1基本要求………·1.11.2一般注意事项·测试方法的县体要求…….3测试方法的编号体系·3.1编号原则•……·…··3.2集成电路测试方法的编号表?3.3应用表格··.….·….……………·3.4第w篇集成电路的验收和可靠性第1节：溉述……第2节一般原理第3节电耐久性试验1目的和说明………2一般要求……2.1电试验条件…………2.2试验的持续时间…2.3失效判定特性和测试…2.4失失效判据….2.5，注意事项……3特殊要求………3.1耐久性试验表………3.2耐久性试验条件…3.3耐久性试验后，验收的失效判定特性和失效判据3.4可靠性试验的失效判定特性和失效判据·3.5误试时处理程序………18第篇静电敏感器件

中华人民共和国国家标准半导体器件集成电路第1部分：总则GB/T16464-1996IEC748-1:1984SemiconductordevicesIntegratedcircuitsPart1:General本标准等同采用国际电工委员会标准IEC748-1:1984《半导体器件集成电路：第1部分总则》其中包括1991年第1号修改单和1993年第2号修改单的内容第I篇IEC748号标准的范围和说明围IEC748给出了有关集成电路的标准，应与IEC747-1一起使用说明TEC748由分别颁发的IEC748-1号、IEC748-2号等几项标准组成。通过发布补充标准(例如IEC748-2A)来适应发展的需要第工篇IEC748-1号标准的目的和说明1总则1EC748-1号标准是748号标准的通用部分,和IC747-1号标准的有关条款一起构成集成电路的通用规定。因此.IEC747-1号标准的所有条款只要适用于集成电路即可引用日的提供有关IEC748号标准的范围和说明的通用内容(见第1篇)提供适用于IEC748-2号、748-3号等各类或各分类集成电路标准的一般原则或要求。3说明有关一般原则或要求的内容在本标准的第至第W篇中给予说明。注：本标准第口至第W篇的内容：第日篇：关于IEC748-2号、748-3号等标准的日的、说明和要求第N饶：通用术语除了I