矿石学第五篇

第五篇

矿石工艺矿相考查前言矿石工艺性质的研究内容应是广泛深入的，随着科技的进步，对矿物原料需求的不断增长和综合利用水平的不断提高，研究领域也在不断的拓展和延伸。但就目前来说，它的最基本的研究内容包括以下几个方面：研究矿石的矿物组成查清矿石中元素的赋存状态研究矿石中矿物的嵌布特征查明矿石中矿物的工艺性质与元素组成和微构造的关系研究改变矿石中矿物的工艺性质对选矿的影响查清选矿流程中各级产品的的工艺性质选矿产品一般包括磨矿产物、中矿、尾矿和精矿。对选矿产品的检查，常用方法是化学分析，以发现异常情况，但不能反映有用矿物的单体解离情况、各级产品的磨矿粒度以及有用元素的分布等情况。而这些又是查找原因解决问题的关键，这时就要将各种选矿产品磨制成光片，在矿相显微镜下分析。因此，显微镜分析仍是选矿产品工艺性质研究的主要方法。对选矿产品的工艺性质研究，包括以下几个方面：粒度分析矿物含量测定元素含量测定单体解离度和连生体分析第一章矿石组成矿物

的定量测定§1矿物定量测定的基本方法一、分离矿物定量法根据矿石中组成矿物的物性差或化学性质的差异，对需测定的矿物进行分离后进行测量。

测定矿物的含量＝W1：样品总重量，W2：测定矿物的重量缺点：受组成矿物的嵌布粒度特征和物理化学性质等条件的控制。二、矿物组成元素定量法如果已查明某一元素在矿石中只存在于单一被测矿物中时，可利用化学分析法测定该元素在矿石中的含量，然后再根据被测矿物所含该元素的比例就可以计算出欲测矿物在矿石中的含量。如果有几种矿物都含有该元素，则可以用组成矿物的差别溶解特性，获取单矿物相中某组成元素的百分含量。缺点：受组成矿物之间的溶解性的限制。三、矿物体积含量几何测定法通过测算矿石中各矿物的相对体积含量，然后计算矿物重量的一种方法。常用的测算方法有：面积法线段法点数法§2体积含量几何测定法的基本原理一、面积含量等于体积含量的原理面积含量等于体积含量的概念是对矿石整体而言的，只有平均的截面积含量才与该矿石块的矿物体积含量相等。因此需要根据抽样原理从矿石中选出一部分代表性的截面进行系统测量。面积比与体积比的关系示意图二、线段含量等于体积含量原理三、点数含量等于体积含量原理§3体积含量的测量方法一、面积法在矿相显微镜下借助目镜测微网进行测量时根据矿物颗粒大小选用合适的物镜和目镜组合，一般使被测量的颗粒不小于测微网的半个方格为宜。测量视域要均匀分布在矿石光片上二、线段法在矿相显微镜下借助目镜测微尺进行。沿测线逐个视域进行，先后两个视域首尾相连。测量时读取所测矿物在测微尺上所占的格数。三、点数法借助显微镜点法求积台进行。累计出现在视域中心交点的矿物。§4测量误差及代表性样品的选取一、测量误差产生的原因由于测量是从代表性样品中测得的矿物含量来推断整个矿石的矿物含量，因此测量结果必然存在一定的误差。引起误差的原因有：抽样引起的误差，如样品的代表性、样品数量的多少、测量时测量视域、测线、测点的分布等；人为引起的误差，如误认矿物、漏数或多数矿物、矿物边界的确定等。二、代表性样品的选取对原矿石根据矿石类型及矿物含量的多少进行分类；对不同类型矿石破碎、拌匀之后进行缩分；将缩分后的样品磨制成光片，从中按代表性比例选出供测量用的最终样品。§5自动显微图像分析仪简介基本原理：根据不同矿物光学性质(颜色、反射率)的差异区分不同矿物，分别累计不同矿物在图像中的含量。根据不同矿物化学组成的差异，利用X射线或电子探针区别不同种类的矿物，然后对不同矿物进行几何参数测定。§6矿石元素含量的计算一、矿物重量百分含量的计算矿石组成矿物的种类不多时：根据各组成矿物的体积含量及其比重计算。矿石中组成矿物较多时：通过测定矿石比重方法计算。二、矿物元素组分含量的计算矿石中只含有一种待测金属元素时：矿石中同时有几种矿物含有同种元素时：第二章元素在矿石中存在状态的考查考查内容包括：查明矿石中含有哪些有用元素和有害元素；查明有用、有害元素主要分子在哪些矿物中，及在这些矿物中的含量、配分量和配分比。考查有用、有害元素在矿物中的赋存状态根据元素赋存状态的研究资料，确定哪些矿物应进入精矿予以回收，哪些矿物应进入尾矿予以抛弃，并确定合理的选矿方法和工艺流程，预测选矿效果。§1元素在矿石中的存在状态从矿石技术加工的角度考虑，金属元素在矿石中的赋存状态主要有集中和分散两大类。第一类元素在矿石中集中存在于个别或少数组成矿物中，有三种情况，即分别作为：矿石的基本组成元素；矿物中的杂质元素；呈细粒机械包裹体存在于主矿物中。第二类元素呈分散状态存在于矿石的各组成矿物或大多数组成矿物中。作为矿物的基本组成元素集中存在于矿石的个别矿物中。作为矿物的杂质元素存在于矿石的个别矿物中。作为细粒机械包裹体集中存在于矿石的个别矿物中。元素呈分散状态存在于矿石的各组成矿物中。§2考查元素存在形式的基本方法一、元素在矿石中赋存状态考查的一般程序：光谱分析化学定量分析分选考查祥查元素赋存状态考查配分计算和分析检查二、元素的配分计算元素的配分计算，是根据原矿定量分析结果、矿石中被测元素的化学分析品位、单矿物化学分析结果等数据，计算被测元素在矿石各矿物中的含量分布(配分量)和分配比例(配分比)的一种计算方法。计算结果能定量地说明被测元素在矿石中集中或分散的情况，能预测选矿效果和检查元素赋存状态的考查结果。计算内容如下：1.被测元素在矿石各矿物中的配分量计算：2.被测元素在矿石各矿物中的配分比计算：3.被测元素的配分平衡系数计算：(配分相对误差）4.被测元素的集中系数计算：5.元素的配分计算结果分析，根据元素的配分计算结果，可进行下述内容的分析：分析元素集中与分散的情况预测选矿的最大回收率预测精矿的最高品位预测尾矿的合理流失量去除有害杂质的可能性等三、元素赋存状态考查举例：以某铜矿石中Co的赋存状态考查为例：(1)取矿石样品作光谱半定量分析。结果发现除Cu外，Co的含量较高。于是决定查明Co的存在形式。(2)取矿石样品作化学定量分析，得矿石中的品位为0.032％，可以综合利用。(3)进一步考查Co在各种矿物中的含量分布，进行了原矿定量测定，其结果见表5-4。(4)对Co元素的赋存状态进行考查，Co在黄铁矿、黄铜矿、斑铜矿中呈类质同象混入物和呈独立的Co矿物以微细包裹体形式赋存。(5)根据分析结果，进行了Co的配分计算，结果见表5-4Co的平衡系数=0.31%Co的集中系数×100％＝85.63％矿物重量％钴含量％钴的配分量％()钴的配分比％()Co的配分相对误差：K＝0.31%黄铁矿4.880.5120.025078.37黄铜矿2.250.0580.00134.07斑铜矿2.640.0430.00113.45Co的集中系数：RCo＝85.63％其他90.230.0050.004514.11总量100∑=0.0319100.0(6)成果分析。从表中可以看出：Co元素主要分布在黄铁矿中(占78.37)，其次分布在黄铜矿(占4.07％)和斑铜矿(占3.45％)中，一共占85.63％；分布在脉石中的Co只有14.11％。显然，应把黄铁矿、黄铜矿和斑铜矿作为回收Co的对象，其中85.63％的Co将得到综合利用；14.37％的Co随脉石矿物进入尾矿。钴硫精矿(黄铁矿精矿)中，Co的最高品位不会超过0.512％，Co的最大回收率不会超过78.37％；若黄铁矿的最大回收率在90％以上，则钴精矿的预计品位应达0.46％以上(0.512％×90％)，Co的预计回收率应达70.53％以上(78.37％×90％)若铜精矿中黄铜矿和斑铜矿的回收率也在90％以上，则尾矿中的Co品位在0.00589％以下较为合理[(0.025+0.0013＋0.0011)×10％＋0.0045×70%](7)检查:Co的平衡系数＝0.31％，已达精度要求(<10%)。这说明矿物定量、原矿化学分析的Co品位、单矿物的Co含量等数据可靠，该矿石中Co的赋存状态已查清。四、矿石中元素的赋存状态与选矿的关系：对矿床经济价值的影响查清有用元素的赋存状态，会把无经济价值的“矿床”，认为是矿床而盲目建矿建厂，带来巨大经济损失。对选择选矿方法的影响查清元素的赋存状态，是选择选矿方法的前提；对确定选冶工艺流程的影响查清元素的赋存状态，能帮助确定选冶等工艺流程。§3考查微细矿物颗粒中元素含量的方法考查元素在矿物中赋存状态的方法，除了常规的显微镜法、化学物相分析法（选择性溶解和化学分析法）、X射线研究法以外，还有激光显微光谱仪、电子探针、和电渗析等方法。（P270）第三章矿石组成矿物的解离性为了把矿石中的有用矿物富集起来，首先要把有用矿物从矿石中解离出来，只有将有用矿物的单体解离后，才有可能使之分选富集起来。因此矿物解离性的好坏，在很大程度上影响了矿石的可选性和选矿工艺。§1影响矿物解离性的因素在碎矿和磨矿过程中，矿物单体解离的难易主要取决于矿物的嵌布特征和连生矿物之间的关系。这些因素比较集中地体现了矿物形态对选矿，特别是矿物单体解离性的影响。一、矿物的嵌布特征是指该矿物的嵌布粒度和嵌布均匀性。其中又以有用矿物的嵌布粒度对选矿，特别是矿物单体解离性的影响最大。嵌布粒度是指矿物颗粒的粒度范围及其大小颗粒的含量分布；嵌布均匀性则是指矿物在矿石中的空间分布均匀性。矿物粒度的概念与粒度单元的划分矿物的粒度根据分析的不同目的，一般区分为矿物晶粒粒度和嵌布粒度。矿物晶粒粒度是按矿物结晶颗粒的大小来划分粒度单元，一般用于矿石成因和矿石结构分析。嵌布粒度又称工艺粒度，分为两种：矿物颗粒粒度和复矿物颗粒粒度。矿物颗粒粒度是按单一种矿物组成的颗粒（包括单晶颗粒及集合体颗粒）划分粒度单元。复矿物颗粒粒度是按复合矿物所组成的颗粒划分粒度单元。嵌布粒度的划分与命名为了反映矿物嵌布粒度这一特征，简化观测工作，便于清晰明确地指明不同粒度的数量特征，因此要根据矿石中有用矿物粒度的粗细情况，由大到小划分为若干级别，这些级别叫粒级。对于矿物嵌布粒级的划分和命名，有影响的常用的有四种。根据标准筛网目16目、60目、100目和2微米划分为粗、中、细、微、极微五个粒级。缺点：有的粒级过宽，有的过窄；按分选效果与入选粒度范围确定（＋40微米为易选、－40＋10微米为难选、－10微米难分选）。缺点：同上按粒径比4划分。缺点：划分太细，不易命名。按粒级比10、并以0.2mm为基准划分。优点：较客观。嵌布粒度累计曲线图以各粒级的累计百分含量作纵坐标（等间距），以粒径作横坐标（对数值坐标），标上各粒级的累计百分含量的相对位置，联上各点即成。累计含量%粒径矿物在矿石中分布的均匀性矿物的嵌布均匀性是指矿石中有用矿物在空间分布的均匀程度。矿物在矿石中的分布情况，大致分为两种情况：均匀嵌布矿石矿物均匀分散在矿石的各个部分；不均匀嵌布矿石中有用矿物呈局部富集产出。从矿石选矿工艺性角度来考虑，矿物在矿石中的嵌布均匀性可用矿物嵌布均匀度来表示：矿物嵌布均匀度＝含矿单元数/测量单元数×100%二、连生矿物的镶嵌关系矿物的镶嵌关系是指：矿物在矿石中与连生矿物之间的相对空间关系；矿物与其连生矿物之间接触界面的形态与解离性关系；连生矿物的物性差与解离性的关系。连生矿物的相对空间关系：通常可粗略地分为下列四类：毗连关系：几种不同的矿物颗粒连生在一起，相互彼此镶嵌。包裹连接：某种矿物呈包裹体镶嵌在其他矿物中。脉状连接：一种矿物呈细脉状或网脉状穿插在另一种矿物中的连接方式。皮壳状镶嵌关系：一种矿物表面被其他矿物所交代，在表层形成皮壳状的包裹物。

毗连关系包裹关系脉状连接皮壳状镶嵌关系

连生矿物连生界面的关系不同成因和条件形成的连生矿物具有不同的连生边界，有些从溶液中或熔融体中结晶出来的矿物，结晶完好，因此矿物之间以平坦的结晶面与其他矿物相镶嵌。有一些由溶蚀交代形成的矿物则常形成不规则的颗粒，与连生矿物的接触界面参差不齐或是呈港湾状镶嵌。这两种连生体在同样的磨矿碎矿条件下，以平坦接触界面连生的矿物的解离度较参差不齐的无疑会高一些。连生矿物的物性差关系：连生矿物之间的物性差，会影响连生矿物结合的牢固程度，进而影响矿物单体解离性。一般有两种情况：连生矿物的物性差大，特别是矿物颗粒的表面性质有显著不同，结果造成它们接触面间的结合力就比矿物内部分子间的结合力弱很多。所以这种矿物的连生体在破碎时，一般都沿接触面破碎，因此矿物单体的解离度在这种情况下就会很大。反之，如果矿物接触面间的附着力大于或稍大于矿物内部分子间的内聚力，破碎时的解离度就会较小。因为矿块或矿石的破碎并不只是沿着接触面，而且还沿着与接触面成不同角度的断面，这样的破碎不但不能使矿物的单体解离，只会使连生体变得更细些。§2矿物嵌布粒度的测定矿物嵌布粒度的测定是测定矿石中有用矿物的粒度及其在各粒级中的含量分布（粒度组成），是为确定合理的磨矿细度和磨矿工艺流程提供依据的工作，又称粒度分析。粒度分析的主要内容是：粒级划分；显微镜下的粒度测量、统计和计算；绘制粒度特征曲线和粒度频率曲线；在以上工作基础上，最后对矿物的嵌布特征进行综合性分析。一、显微镜下矿物粒径的测定矿物的嵌布粒径和嵌布粒度是两个不同的概念。嵌布粒径，简称粒径，是指每一个具体矿物颗粒的大小，是肯定值；嵌布粒度，简称粒度，是指矿石中所有有用矿物颗粒的大小及其由大到小的相应百分含量，是一个统计值，具有统计学的含义。显微镜下矿物粒度的测量工作分为两步：第一步，测量每一个有用矿物的粒径；第二步，在测量成百上千个有用矿物颗粒粒径的基础上，经过统计、计算和分析，最终得出矿石中有用矿物的嵌布粒度特征。1.矿物粒径的测量规则：由于测量是在矿石光片上进行的，而颗粒在光片上的截面形态是多种多样的，有粒状、非粒状即各种不规则的形状等。对具体的一个矿物颗粒，从不同的方向测量，就会得到不同的尺寸。d1d2d3d4矿物粒径的测量规则：根据目前显微镜测量的实际情况，有如下测量规则：若矿物颗粒为粒状，测其“定向最大截距”（即矿物颗粒截面在某一固定方向上所能截取的最大长度）作为粒径。由于矿石光片上矿物颗粒截面的分布是随机的，可以认定矿物颗粒不同方向在矿石光片上出现的几率是相同的，因此只要测量足够多的颗粒，其结果和颗粒的实际粒度是很接近的。矿物粒径的测量规则：若矿物颗粒是不规则状的，测其“定向随遇截距”（即矿物颗粒在某一固定方向上虽与截取的长度作为粒径。）d1d3d5d6d8d2d4d7矿物粒径的测量规则：若矿物呈脉状，且脉的宽度变化较为均匀者，测其脉宽作为粒径。因为矿石只有破碎到脉宽尺寸那样大小时，有用矿物才能单体解离出来。若为片状矿物，如辉钼矿、石墨，应测其解理面上的长轴为粒径若为延展性很好的矿物，破碎时受力的作用后将会变形，这是选矿实际中存在的形态。因此在原矿中测量它们的原始状态粒径是没有意义的。一般测量它们破碎之后的颗粒粒径。2.借助目镜测微尺测量矿物的粒径在显微镜下测量长度通常使用目镜测微尺。1）目镜测微尺刻度值的测算：2）借助测微目镜进行长度计算：显微镜下物体长度的测量可以先用目镜测微尺量度物体放大了的物象，然后根据所量得的刻度数乘上刻度值便可算出实物的长度。3.借助移动尺测算假如待测物的长度较大且测量精度要求不高时，可借助附加在显微镜载物台上的移动尺（或称机械台）来测量。借助移动被测物并根据移动的距离来确定物体的长度。测量时，先将起始点置于十字丝交点下，记下移动尺的刻度值，然后沿测量方向移动，直到待测长度终点到达十字丝交点下时再读出移动尺的刻度值，前后两次读数之差即为所测物体的长度。应用普通显微镜坐标移动尺测量长度可获得0.1mm的精度值。二、矿石中组成矿物的粒度测量进行粒度测量时，首先要划分一系列粒度测量区间（测量粒级），其次是系统地测数各粒度区间内的颗粒数，最后根据各粒度区间的颗粒频率，计算出各粒度区间的粒级含量。测量粒级的划分：一般采用等比级数划分较为简便合理，粒级比随测量粒度要求不同而采用不同的数值，通常情况下采用2的等比级数较为合适。这样各粒级平均粒径之间的比例也成简单的等比级数。粒度测量的基本原理：对于松散的砂矿，可以直接测量其中粗、细粒各粒级的颗粒频率，并根据下式计算各粒级颗粒的体积含量比：V1:V2:V3……＝n1d13:n2d23:n3d33:……式中n1、n2、n3……——各粒级的颗粒数d13、d23、d33……——各粒级单个颗粒的平均体积V1、V2、V3……——各粒级的体积含量。对于块状矿石在测定其组成矿物的粒度特征时，由于我们不能直接测定单位体积内各粒级的颗粒数量或颗粒频率，只能在矿石的光片上进行对比测量，根据测得的各粒级的颗粒数量，然后换算成单位体积内的各粒级的颗粒的实际频率或颗粒数比。测量各粒级的比例，可分别采用下列不同的测量方法：面测法：在一定截面积范围内，测数各粒级的颗粒数比或颗粒频率，测得的结果为面测频率。线测法：在若干测线上，测数各粒级的颗粒数比或颗粒频率，测得的结果为线测频率。点测法：在若干测点上，测数各粒级的颗粒数比或颗粒频率，测得的结果为点测频率。由于面测频率、线测频率和点测频率各有不同的含义，因此用不同测量方法得到的颗粒频率是不一致的，而且都不等于单位体积内各粒级的颗粒实际频率。各种测量频率与矿石各粒级实际频率之间的关系，可以借助一个立方体积木模型来加以说明。P279图5－19，从模型中可以得出实际频率与各测量频率的关系如表5－8。面测法：根据面测法对矿石截面进行粒度测量时，粒径大小不同的颗粒出露在光片上的几率是不等的。各粒级颗粒出露在光片是的概率与颗粒的粒径成正比。因此在截面上的面测频率与立方体中颗粒的实际频率存在如下关系：Page280。最后可得面测法的粒级含量＝n′d2％n′：截面上测得的某一粒级的矿物颗粒数；d：所测粒级的粒径。面测法按测算级数的不同分为视域面测法和过尺面测法两种。视域法：也就是利用目镜测微尺和显微镜机械台、分类计数器对整个视域内的矿物颗粒进行测量。视域法缺点：这种方法由于观察者在测量时候无法观察到颗粒在视域外面的情况，所以对于一些颗粒较大的矿物，或跨在视域边界上的矿物颗粒，难以判断它究竟属于哪一粒级的颗粒；如果凡是跨在视域边界上的矿物颗粒都不计数的话，则会引起粗粒级含量的偏低，细粒级含量偏高的误差，而且当视域内矿物颗粒较多时，容易产生重数和漏数的现象，引起认为误差。过尺面测法的测量工作原理实际上和视域法相同，但与视域法不同的是测量时，先要在视域内确定一定的测量范围，测数的时候，只测数确定的视域范围内的矿物颗粒，根据定向最大截距属于那一粒级范围，用分类计数器记录下来。过尺面测法的具体测量方法与程序：挑选样品——粒度范围的普查——选择合适的物镜和目镜组合——选定目镜测微尺刻度数——确定视域中的测量范围——测数各粒级矿物颗粒——计算各粒级中的矿物含量——绘制粒度特征曲线。线测法：利用线测法在矿石截面上进行粒级频率测定时，粒径大小不同的颗粒出现在测线上的几率也是不等的。截面上线测频率与立体内的实际频率有如下关系：（Page282）矿石截面上线测法的粒级含量＝n″d％n″：测线上出现的某一粒级的颗粒数比；d：各粒级的粒径。粒度测量的线测法，目前较多采用直线线测法和过尺线测法，借助的工具也是目镜测微尺、机械台（移动尺）和分类计数器。直线线测法适用于非粒状矿物的粒度测量，过尺线测法适用于呈稠密嵌布的矿物。a)直线线测法：将目镜测微尺的放置方向与显微镜机械台移动尺的移动方向一致，光片随机械台沿测线移动。测量是从测线的一端开始，利用测微尺度量通过尺上该矿物的截距长度，顺次测量测微尺上各粒级的颗粒数。判断颗粒属于哪一粒级是按测微尺上矿物颗粒的随遇截距决定的。用直线线测法测量粒状矿物颗粒时，由于测线不一定在颗粒的直径位置上通过，因此量得的粒径常较矿物颗粒的实际粒径要小一些，使测量结果产生系统的误差b)过尺线测法与过尺面测法近似，不同的是当矿物颗粒经过目镜测微尺时，只去测数经过测微尺中点上的矿物颗粒，而不是整个纵行的全部各粒级颗粒。当矿物颗粒通过目镜测微尺时，观测者可以选取颗粒的定向最大截距代替直线线测法所采用的随遇截距，因此测量结果较直线法更接近各粒级的实际情况。点测法：从立方积木模型可以看出，各粒级颗粒出现在截面测点上的相对概率与颗粒粒径的立方呈正比。矿石截面上点测法的粒级含量＝截面测点上出现各粒级的颗粒数比n,,,％。点测法的测量工作须借助显微镜点法求积台与目镜测微尺配合进行的。首先要在光片上确定测线的间距，然后确定测量的点距。测量时观测落在视域中测点上的是什么矿物，如果是待测矿物，则根据测微尺判断应属于哪一粒级，按动求积台上代表该粒级的相应按钮，便累加了该粒级的一个颗粒数，同时使光片向前移动一定的间距。点测法主要用于粒状矿物的测量，优点是测算简便迅速，但受设备条件的限制。粒度测量的误差及其修正1.样品代表性的影响：大部分的矿石中，待测矿物的各粒级颗粒在不同的矿石中的含量比例并不一致，所以在不同矿石光片所测得的矿物粒度各不相同。因此粒度测量时选取有足够代表性的矿石样品极为重要。对粒度嵌布不均匀的矿石，就需要进行不同矿石类型、同一矿石类型多块矿石的测量工作。这时可通过分类加权取样或碎矿拌匀缩分方法来选取测量样品。2.截面粒径递减的影响：对于球粒状矿物，在光片上出露的粒径往往比它的实际的粒径要小。对于其他形状的矿物颗粒，在光片截面上出露的粒径有可能大于、也有可能小于矿物颗粒的实际粒径，这时以实际测得的粒径为准。对于球粒状矿物颗粒，各粒级颗粒出露在磨光截面时，其中将有部分颗粒的截面粒径被下降为较细粒径的颗粒，它们下降的比率如表5－14。根据这一规律，我们可以对偏低了的测量结果进行误差校正。截线粒径递降的影响：采用直线线测法来测量颗粒的粒径时，由于测线不一定恰好通过截面颗粒的直径位置，因此测线上的截距（截线粒径）通常也较颗粒的截面粒径要小一些。在光片上球状颗粒的截线粒径比截面粒径的粒级递降率，恰好和截面粒径与实际粒径的粒级递降率相一致。因此可用上述方法可降直线线测法所测得的粒级频率修正为过尺面测法的粒级频率。§3矿物单体解离度及其测定矿石经过破碎和磨矿后，形成一些粒径不等的矿石或矿物碎屑颗粒。它可分为两大类：单体：同一种矿物组成的碎屑颗粒，实际上就是单矿物碎屑颗粒。用组成矿物的名称来命名，如黄铜矿单体、闪锌矿单体、脉石单体；连生体：由两种或以上的矿物连接在一起组成的矿物碎屑颗粒。由组成矿物的名称联合命名，主要矿物写在前面，如黄铜矿－黄铁矿连生体、黄铜矿－石英连生体。一、单体解离度的概念单体解离度：矿物经破碎磨矿后解离为单体的程度称为单体解离度，用来表示某矿物解离为单体颗粒的重量或体积百分含量。即：某矿物的解离度＝矿物单体的含量/矿物的总含量×100％。

矿物的总含量也就是矿物单体和在连生体中的含量之和，因此单体解离度二、矿物连生体的特征在测定有用矿物的单体解离度时，还要分别测定各类连生体的数量及其在各粒级中的含量分布。对连生体主要是研究连生体的质量特征和结构特征。1.质量特征连生体的矿物组成:几种有用矿物连生在一起，如黄铜矿－斑铜矿连生体；有用矿物和脉石矿物连生在一起，如黄铜矿－脉石连生体；有用矿物和脉石矿物连生，如黄铜矿－斑铜矿－脉石连生体等。后两种连生体往往是精矿品位偏低、尾矿品位偏高、回收率不高的原因。连生体中有用矿物的相对含量通常用有用矿物在每一个连生体颗粒中所占的面积分数来表示。一般采用四分法，即将1个连生体颗粒的截面积分为4份，视有用矿物大致所占的份额，而有1/4、2/4、3/4等3种连生体颗粒。测定有用矿物在连生体中的含量，也就是将有用矿物在连生体中所占的份额，折算成单体颗粒数。各类连生体的数量：选矿产品中，各类连生体的数量在各个粒级中的含量分布是不相同的，是重要的数据。因此在测定有用矿物的单体解离度时，还要分别测定各类连生体的数量及其在各粒级中的含量分布。连生体的结构特征：连生体的结构特征，其实是原矿石结构和构造的一部分。大体有三种类型：包裹连生型穿插连生型毗邻连生型连生体的基本类型三、矿物单体解离度的测算根据所采样品及其相应测算方法的不同，矿物单体解离度的测定分为全样测算法及分级样品测算法两类。分级样品测算法：仅适用于能用化学定量分析，计算被测矿物在各粒级中的含量分布的情况。全样测算法：适用于样品中具有各种矿物组成的情况，方法较为简便且不必另作化学分析。1、分级样品测算法：方法和步骤如下：根据样品粒度情况先筛分或水析成若干粒级，对各粒级样品分别进行称重和制定元素的化学定量分析。将筛分后的样品用树脂胶结后磨制成光片，在显微镜下分别统计各粒级样品中待测矿物的单体颗粒数和各类连生体的颗粒，根据各粒级的产率（在矿石中的重量百分含量）和品位计算整个样品的单体解离度。矿物的单体解离度＝Σ(αiγiсi)/100A2、全样测算法方法和步骤如下：取没有经过分级的样品，用树脂胶结磨制成光片；在显微镜下用过尺面测法或过尺线测法，分别累计各测量粒级的被测矿物单体及各类连生体颗粒数；按过尺面测法或过尺线测法计算单体颗粒及连生体颗粒中被测矿物的体积含量；分别根据被测矿物在整个样品在单体和连生体中的总含量，