标准解读
《GB/T 14056.1-2008 表面污染测定 第1部分:β发射体(Eβmax>0.15 MeV)和α发射体》相比于其前身《GB/T 14056-1993 表面污染测定 第一部分:β发射体(最大β能量大于0.15MeV)和α发射体》,主要在以下几个方面进行了调整和更新:
-
标准编号与结构变化:新标准采用了更加国际化的编号体系,由原先的四位数字年份后缀改为点号分隔的多位数字,同时明确分为不同部分,便于未来扩展和修订。这反映了标准体系向国际标准接轨的努力。
-
技术内容更新:虽然基本测量对象——β发射体(Eβmax>0.15 MeV)和α发射体保持一致,但2008版标准可能纳入了近年来在放射性测量技术、安全标准及环境保护要求方面的最新研究成果,提高了检测精度和安全性要求。具体可能包括更先进的检测方法、更严格的限量标准或是对测量不确定度评估的详细指导。
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术语和定义:随着科学进步,相关专业术语可能有所更新或增补,以更好地适应行业实践和国际交流。新版标准中可能会对一些关键概念给出更准确、清晰的定义,减少理解歧义。
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测试方法与仪器:考虑到科技进步,2008版标准可能推荐或规定了新的测量技术和仪器设备,这些新技术可能提高了检测效率,降低了操作复杂度,或者增强了对环境因素的抗干扰能力。
-
质量控制与质量保证:为了确保测量结果的可靠性和可比性,新标准可能强化了质量控制措施和实验室间比对的要求,包括但不限于校准程序、数据处理规则及实验室资质认证等方面的规定。
-
安全与防护:鉴于对人员健康和环境安全的更高重视,新标准可能加强了在样品处理、废弃物处置及个人防护装备使用方面的指导原则,确保检测活动符合最新的安全标准。
如需获取更多详尽信息,请直接参考下方经官方授权发布的权威标准文档。
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- 现行
- 正在执行有效
- 2008-07-02 颁布
- 2009-04-01 实施



文档简介
犐犆犛17.240
犉74
中华人民共和国国家标准
犌犅/犜14056.1—2008
代替GB/T14056—1993
表面污染测定
第1部分:β发射体(犈β犿犪狓>0.15犕犲犞)
和α发射体
犈狏犪犾狌犪狋犻狅狀狅犳狊狌狉犳犪犮犲犮狅狀狋犪犿犻狀犪狋犻狅狀—
犘犪狉狋1:犅犲狋犪犲犿犻狋狋犲狉狊(犿犪狓犻犿狌犿犫犲狋犪犲狀犲狉犵狔犵狉犲犪狋犲狉狋犺犪狀0.15犕犲犞)
犪狀犱犪犾狆犺犪犲犿犻狋狋犲狉狊
(ISO7503.1:1988,MOD)
20080702发布20090401实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
发布
中国国家标准化管理委员会
书
犌犅/犜14056.1—2008
前言
GB/T14056《表面污染测定》包括下列3个部分:
———第部分:发射体()和发射体;
1β犈βmax>0.15MeVα
———第2部分:氚表面污染;
———第部分:同质异能跃迁和电子俘获发射体、低能发射体()。
3β犈βmax<0.15MeV
本部分是GB/T14056的第1部分,本部分修改采用国际标准ISO7503.1:1988《表面污染测
定———第1部分:β发射体(最大β能量大于0.15MeV)和α发射体》。
本部分与ISO7503.1:1988主要技术性差异如下:
———ISO7503.1:1988引用的其他国际标准中由相应的我国标准代替(见第2章);
———增加了我国标准中关于表面污染控制水平的规定(4.2.1)。
为便于使用,本部分做了下列修改:
———“ISO7503的本部分”改为“GB/T14056的本部分”;
———用小数点“.”代替作为小数点的逗号“,”;
———有的条款的段落增加了条的编号。
本部分代替GB/T14056—1993《表面污染测定第1部分:β发射体(最大β能量大于0.15MeV)
和α发射体》,本部分与GB/T14056—1993相比主要变化如下:
———对原文中少数条款的表述进行了修改;
———恢复了GB/T14056—1993相对于ISO7503.1:1988删去的部分,包括4.2.3.6的注,5.6的
注3、注4、注5,A.2的最后一款。
本部分的附录A为规范性附录。
本部分由中国核工业集团公司提出。
本部分由全国核能标准化技术委员会(SAC/TC58)归口。
本部分起草单位:核工业标准化研究所。
本部分主要起草人:高米力,张立波。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
———GB/T14056—1993。
Ⅰ
书
犌犅/犜14056.1—2008
表面污染测定
第1部分:β发射体(犈β犿犪狓>0.15犕犲犞)
和α发射体
1范围
GB/T14056的本部分规定了测定β发射体(最大β能量大于0.15MeV)和α发射体表面污染
的方法。
本部分适用于以单位面积放射性活度表示的设备、设施、放射性物质的容器以及密封源的表面污染
测定。
本部分仅限于符合下述条件的β发射体和α发射体:
a)β粒子加单能电子的粒子产生率为每100次衰变发射出接近100个粒子;
b)α粒子的粒子产生率为每100次衰变发射出接近100个粒子。
β发射体详见附录A中表A.3。
本部分不适用于皮肤和工作服的污染测定。
2规范性引用文件
下列文件中的条款通过GB/T14056的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文
件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成
协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本
部分。
GB/T5202辐射防护仪器α、β和α/β(β能量大于60keV)污染测量仪与监测仪(GB/T5202—
2008,IEC60325:2002,IDT)
GB/T12128用于校准表面污染监测仪的参考源β发射体和α发射体(GB/T12128—1989,
neqISO8769:1986)
GB18871电离辐射防护与辐射源安全基本标准
3术语和定义
下列术语和定义适用于GB/T14056的本部分。
3.1
表面污染狊狌狉犳犪犮犲犮狅狀狋犪犿犻狀犪狋犻狅狀
表面具有放射性物质的污染。
3.2
固定的表面污染犳犻狓犲犱狊狌狉犳犪犮犲犮狅狀狋犪犿犻狀犪狋犻狅狀
在正常工作条件下以不可转移的方式附着在表面的污染。
注:“
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