标准解读

《GB/T 14032-1992 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理》作为一项技术标准，为半导体集成电路数字锁相环（PLL）的性能评估和测试提供了一套基本的指导原则。然而，您提供的对比要求中，《》部分似乎是空白，未指定与哪个具体的标准或版本进行比较。因此，直接对比该标准与其他特定标准的变更内容无法完成。

若旨在理解《GB/T 14032-1992》本身的核心内容和重要性，可以概述该标准涵盖的关键点，但具体变更分析需要有明确的参照物。此标准详细介绍了测试数字锁相环时所应遵循的方法论，包括但不限于测试环境的设置、测试信号的要求、关键参数的测量方法（如锁定时间、相位噪声、频率稳定性等），以及如何评估PLL的动态响应和稳定性等。


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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 1992-12-18 颁布
  • 1993-08-01 实施
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JDg621.382L55中华人民共和国国家标准GB/T14032-92半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理Ceneralprinciplesofmeasuringmethodsofdigitalphase-lockedloopforsemiconductorintegratedcircuits1992-12-18发布1993-08-01实施国家技术监督局发布

中华人民共和国国家标准半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理GB/T14032-92Ceneralprinciplesofmeasuringmethodsofdigitalphase-lockedloopforsemiconductorintegratedcircuits本标准规定了半导体集成电路数字锁相环(以下简称器件或数字锁相环)电参数测试方法的基本原数字锁相环与数字电路相同的静态和动态参数测试可参照GB3834《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》。总要求若无特殊说明.测试期间，环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合器件详细规范的规定1.2测试期间，施于被测器件的电参量应符合器件详细规范的规定1.3试期间，应避免外界干扰对测试精度的影响.测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范的规定14被测器件与测试系统连接或断开时，不应超过器件的使用极限条件。1.5若有要求时,应按器件详细规范规定的顺序接通电源1.6；测试期间，被测器件应连接器件详细规范规定的外围电路和补偿网络。17若电参数值是由几步测试的结果经计算而确定时，这些测试的时间间隔应尽可能短.1.8测试期间应避免因静电感应而引起器件失效。2参数测试2.1动态功耗厂.。2.1.1目的测试器件动态工作时的功率。2.1.2测试原理图P.测

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