标准解读

《GB/T 13973-2012 半导体管特性图示仪通用规范》相比于《GB/T 13973-1992, GB/T 13974-1992》,主要在以下几个方面进行了更新与调整:

  1. 技术内容的合并与更新:2012版标准将原有两个独立的标准(GB/T 13973-1992和GB/T 13974-1992)合并为一个,以提供一个统一且更为全面的半导体管特性图示仪的技术规范。这一改变旨在简化标准体系,提高使用的便捷性和一致性。

  2. 测量精度要求提升:新标准对半导体管特性图示仪的测量精度提出了更严格的要求,反映了技术进步带来的测量能力的提升,确保测试结果更加准确可靠。

  3. 适用范围扩展:随着半导体技术的发展,2012版标准扩大了适用的半导体器件类型,涵盖了更广泛的新型半导体管,包括但不限于功率晶体管、场效应晶体管等,以适应行业发展的需要。

  4. 性能指标新增与细化:增加了多项新的性能指标和测试方法,对原有指标也进行了细化,例如增加了关于温度稳定性、频率响应范围等方面的规定,为产品性能评估提供了更具体的依据。

  5. 安全与电磁兼容性要求:根据国际上对电子设备安全及电磁兼容性的最新要求,新标准加入了相关条款,确保半导体管特性图示仪在使用过程中既安全又不会对周围环境造成干扰。

  6. 术语与定义的更新:对一些关键术语和定义进行了修订或新增,以便更准确地反映当前技术状况,增强标准的可理解和操作性。

  7. 检验规则与试验方法改进:为了保证检验结果的一致性和可重复性,2012版标准对检验规则和试验方法进行了优化,明确了检验项目、抽样方案以及合格判定准则。


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....

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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 2012-12-31 颁布
  • 2013-06-01 实施
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GB/T 13973-2012半导体管特性图示仪通用规范_第1页
GB/T 13973-2012半导体管特性图示仪通用规范_第2页
GB/T 13973-2012半导体管特性图示仪通用规范_第3页
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文档简介

ICS17220

L85.

中华人民共和国国家标准

GB/T13973—2012

代替

GB/T13973—1992、GB/T13974—1992

半导体管特性图示仪通用规范

Generalspecificationtestmethods

forsemiconductordevicecurvetracers

2012-12-31发布2013-06-01实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布

中国国家标准化管理委员会

GB/T13973—2012

目次

前言…………………………

范围………………………

11

规范性引用文件…………………………

21

术语和定义………………

31

通用…………………

3.11

显示部分……………

3.22

Y轴及X轴偏转部分……………

3.32

阶梯部分……………

3.43

集电极扫描部分……………………

3.53

其他…………………

3.64

要求………………………

44

外观与结构…………………………

4.14

尺寸和重量…………………………

4.24

功能正常性…………………………

4.34

性能特性……………

4.44

功率…………………

4.58

安全…………………

4.68

环境适应性…………………………

4.78

包装运输……………

4.810

电磁兼容性…………………………

4.910

电源适应性………………………

4.1010

可靠性……………

4.1110

测试方法…………………

510

基准工作条件………………………

5.110

检验条件……………

5.211

测试要求……………

5.311

外观与结构…………………………

5.412

尺寸和重量…………………………

5.512

功能正常性…………………………

5.612

性能特性……………

5.712

安全…………………

5.828

环境适应性…………………………

5.929

包装运输…………………………

5.1029

电磁兼容性………………………

5.1130

电源适应性………………………

5.1230

可靠性……………

5.1330

质量检验规则……………

630

GB/T13973—2012

检验分类……………

6.130

检验项目……………

6.230

检验方法……………

6.330

鉴定检验……………

6.430

质量一致性检验……………………

6.532

标志包装运输贮存…………………

7、、、34

标志…………………

7.134

包装…………………

7.234

运输…………………

7.334

贮存…………………

7.434

随机文件和备附件………………………

835

GB/T13973—2012

前言

本标准按照给出的规则起草

GB/T1.1—2009。

本标准代替半导体管特性图示仪通用技术条件半导体

GB/T13973—1992《》、GB/T13974—1992《

管特性图示仪测试方法

》。

本标准纳入并调整了中适用的内容在环境适应性中各

GB/T13973—1992、GB/T13974—1992。

试验项目按照电子测量仪器通用规范中的有关规定主要变化如下

GB/T6587—2012《》。:

增加了术语和定义见第章

———“”(3);

增加了基准工作条件见

———“”(5.1);

增加了检验条件见

———“”(5.2);

增加了集电极大电流偏转系数见

———“”(5.7.2.1.3);

增加了精密电阻器参考值见表

———“”(3);

增加了阶梯电流偏移和阶梯电压偏移见

———“”(5.7.4.6、5.7.4.7)。

本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出

本标准由全国电子测量仪器标准化技术委员会归口

(SAC/TC153)。

本标准起草单位上海新建仪器设备有限公司

:。

本标准主要起草人吴宗苏徐正江朱佩华徐长风俞见逸

:、、、、。

本标准所代替标准的历次版本发布情况为

:

———GB/T13973—1992;

———GB/T13974—1992。

GB/T13973—2012

半导体管特性图示仪通用规范

1范围

本标准规定了半导体管特性图示仪以下简称图示仪的术语和定义要求测试方法质量检验规

()、、、

则标识包装运输贮存等

、、、、。

本标准适用于测试半导体管特性曲线和直流参数的半导体管特性图示仪也适用于具有插入单元

,

或附属装置的半导体管特性图示仪

图示仪的产品标准应满足本标准的要求当图示仪的产品标准要求超出本标准要求时应以产品标

,,

准为准

2规范性引用文件

下列文件对本文件的应用是必不可少的凡是注明日期的引用文件仅注日期的版本适用于本文

,,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于本文件

。,()。

测量控制和试验室用电气设备的安全要求第部分通用要求

GB4793.1—2007、1:

工业科学和医疗射频设备电磁骚扰特性限值和测量方法

GB4824、(ISM)

电子测量仪器通用规范

GB/T6587—2012

电工和电子测量设备性能表示

GB/T6592—2010

工业产品使用说明书总则

GB/T9969

电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验

GB/T17626.2

电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验

GB/T17626.3

电磁兼容试验和测量技术电快速瞬变脉冲群抗扰度试验

GB/T17626.4

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