标准解读

《GB/T 13974-1992 半导体管特性图示仪测试方法》是一项由中国发布的国家标准，旨在规定使用半导体管特性图示仪对半导体管各项电气特性进行测量的方法和要求。该标准详细阐述了测试环境、仪器校准、测试步骤以及数据处理等方面的具体规范，以确保测试结果的准确性和可重复性。下面是标准内容的概述：

  1. 范围：本标准适用于使用半导体管特性图示仪对半导体二极管、晶体管（包括双极型晶体管和场效应晶体管）等半导体器件的主要电性能参数进行测试。

  2. 引用标准：列出了实施本标准时需要参考的其他相关国家标准或行业标准，确保测试方法与现有标准体系相协调。

  3. 术语和定义：明确了在标准文本中使用的专业术语及其定义，帮助读者准确理解测试过程中的具体概念。

  4. 测试环境：规定了进行半导体管测试时所需的实验室环境条件，如温度、湿度等，以减小外界因素对测试结果的影响。

  5. 仪器设备：详细描述了半导体管特性图示仪的技术要求和校准方法，确保测试仪器的精度和可靠性。同时，也包括了辅助测试设备的要求。

  6. 测试准备：包括被测半导体管的预处理、安装及接线方式，确保测试前的各项准备工作符合标准要求。

  7. 测试方法：

    • 静态特性测试：详细说明了如何测量半导体管的输入特性曲线、输出特性曲线等，以及如何根据这些曲线分析半导体管的放大系数、饱和电流等关键参数。
    • 动态特性测试（如果适用）：可能包含对频率响应、开关速度等动态性能指标的测试方法。

  8. 数据处理与分析：规定了测试数据的记录格式、计算方法以及如何根据测试结果评估半导体管的性能是否符合规格要求。

  9. 试验报告：要求测试结束后应编制详细的试验报告，记录测试条件、所用仪器、测试结果及结论等信息，以便于追溯和审核。


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  • 被代替
  • 已被新标准代替，建议下载现行标准GB/T 13973-2012
  • 1992-12-17 颁布
  • 1993-07-01 实施
©正版授权
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UDC621.382.3：621.317.75L86中华人民共和国国家标准CB/T13974-92半导体管特性图示仪测试方法Testmethodsforsemiconductordevicecurvetracers1992-12-17发布1993-07-01实施国家技术监督局发布

中华人民共和国国家标准半导体管特性图示仪测试方法CB/T13974-92Testmethodsforsemiconductordevicecurvetracers1主题内容与适用范围本标准规定了半导体管特性图示仪(以下简称图示仪)的测试方法及误差计算等。本标准所用的术语符合GB/T13973《半导体管特性图示仪通用技术条件》中第三章的规定本标准适用干测试GB/T13973中所规定的性能特性2引用标准GB4793：电子测量仪器安全要求GB6587.7电子测量仪器基本安全试验GB6592电子测量仪器误差的一般规定GB6593电子测量仪器质量检验规则GB/T13973半导体管特性图示仪通用技术条件3测试的一般要求3.1」被测图示仪及测试设备均应在各自产品标准中规定的预热时间后进行测试。3.2测试时，观察者应正视被测图示仪屏幕，观察距离一般为25±10cm3.3被测图示仪的插入单元及有关附属装置通常应与主机连接在一起进行测试，3.4产品标准的测试方法中，应规定被测图示仪在测试时面板控制件的合理安放位置，以尽可能地排除机内其他电路对测试造成的影响。3.5本标准规定了图示仪性能特性的基本测试方法，可采用其他更先进的方法测试，若发生异议时，以本测试方法为仲裁4测试仪器、设备与要求4.1测试仪器、设备4.1.1供给量设备标准直流电流源；b.标准电压源；C·可调直流电压源;d.正弦信号发生器;标准脉冲电压发生器。e.4.1.2侧

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