仪器分析-分子发光

仪器分析6分子发光分析法Molecular杨海Y分子光谱分析法：基于物质分子与光波(电磁作用时，物质可见分光光2荧光分光光度 多标记分析 激光共聚焦显微 小动 成像系 一、荧光及荧光的产二、影响荧光的因三、荧光四、化学发光及分子发光的应4绿色荧光蛋白——2年化学下村修马丁查尔菲钱永健 例如荧光标记——生命科学的“指灯”染色观 荧光标8、荧光的定义9荧光的产基态0荧光的产激发1荧光的产能量转换2荧光的产发射3荧光的产荧光，又作“萤光”，是指一种光致发光的冷光现光能后进入激发态，并且立即退激发并发出比射光的的波长长的发射光；而且一旦停止激光，发光现象也随之立即。具有这种性质发射光就被称之为荧 内转 反系 无辐谢跃迁窜 振动弛豫荧 系 外转移无辐射跃 窜 回到基 内转移能 之间 ST 之间 反系间窜跃由外部 取能量迟 辐谢跃迁 荧光：光 10 外转 迟滞荧光 荧光的产荧光磷光化学发光生物发光散射光荧光的产光致漂白作用荧光的产、荧光光谱☆特点激发光谱与发射光：固定测量波长为荧光最大M：固定激发光波长为其最大激特点：斯托克位移特点：激发光谱特点：激发光谱与吸收光谱形状相似一、荧光四、化学发光及分子发光的应、荧光与分子结构φ=发射的光子数/吸收的光子＝荧光光强吸收的光强I化合化合苯萘蒽 λemmax跃迁类跃迁是产生荧光的主要跃迁一般比n11倍，5—要共轭效应 化合苯苯苯化合苯苯苯苯苯甲λemmax相对荧光强刚性平面多数具有刚性平面结构的有机分子具有荧光。N无荧 偶氮 联N有荧光 偶氮 代基效应—HN2，—NHR，—NR2，—OH，—OR，—p→π—C=O，—COOH，—不产生p→π共 化合萘1-甲基1-氟1-氯1-溴1-碘化合萘1-甲基1-氟1-氯1-溴1-碘λλPmaxτ~空间位阻对荧光发射的影 立体异构体对荧光发射的影 H3CN SO- - H 电离效应对荧光发射的影 pH=1,有荧 pH=13,无荧重原子取代基效应，，的系间窜跃由于重原子含有重原子的溶剂，由于重原子效应荧光减弱、磷光增强、影响荧光强度的因素☆荧光强度与溶液浓度的当入射光强度一定f=Kc即荧光强度与荧光物质的浓度成之正比，但这种线性关系只有在极稀的溶液中时才成立。对于较浓溶液，由于猝灭现象和自吸收等原因，使荧光强度和波长一端有时，当溶液浓度较大时，一部分荧光发射被自身荧光分析法的应 一、荧光四、化学发光及分子发光的应荧光光谱光 结构特点氙 ，荧光的测量通常在 样品 与激发光成直角的 向上进 光 激 数据处 仪器控荧光光谱检测器：荧光光谱仪及应、荧光分析法AlgIt IF2.30kFI0εbIA IFk,F,I0 s直接荧光标准曲荧光熄灭工作荧光分析法的应荧光分析方法的特点灵敏度高。检测限比吸收光谱法低个数量级。通级定量分析：标准曲相对荧光强度 一、荧光二、影响荧光的因三、荧光四、化学发光及分子发光的应化学发光吸收化学能使分子发光的要有有利的化学反应历程，使化学反应的能量至少能被一种物质所接受并生成激发态，（），化光催化酶促化学发 -化学发光免疫分析系中的荧光检测化学发光免疫分析系 拜耳公司化学发光免疫分检标记免疫分析的常见类型直接 间接 竞争$$例小动成像系利用荧光素酶D像机侦测讯号，藉以观察与分析同一动物或植物于特定时间点的反应光xM52气体麻醉系 f/0.95–f/16,50 10个（波长分别为430,465,500,605,640,675,710745nm，带宽 695-770,810-875 时间 43x38x43 20–40 荧光成像 体内分布示踪将巯基丙酸修饰的发射波长为8量子点由于效应靶向到Small2010,6, 可见光+→酶报告系以荧物来检)PP肺癌9、判断、药物、毒性 贝克曼库尔特流式细胞仪w同时多参多色荧速度快 个细胞微粒细胞凋亡研究究细胞凋亡有重要意义。应用可根据细胞在凋亡过程中发生一系 表达该抗原的细胞 光强度 大多数仪器是在3 m大小的孔径中将单细 前向角散射光a侧向角散射a细胞粒度及细胞内相对复杂捕获管分选(Catch电荷式流式细胞仪分 原始数据直方图m二维点图等高线图密度 三维图D单参数直方图每一个细胞单参数的测量数据可整理成分布统计，以分布直方图来显示。横坐标表示荧光信号或散射光信号相对强度，纵坐标一般是细胞数DNA含量直方图和抗原表达直方 ， 外周全血细胞散射光双参数点 双色荧光标记细胞散点 等高 密度A-设分析B对C P%D P%例共聚焦显微镜 84聚焦1购置时间：价值：~￥7分辨共聚焦显微购置时间：价格a（） 88M多色标记成像 Step Step Step CancerRes M的不足普通约2阿贝极限约了解分子发光荧光、磷光、化学发基本原掌握影响荧光强度的主要因素掌握荧光光谱和荧光分析的特点了解荧光光谱仪的基本了解发光分析定性和定SS仪器的重现性。规定，用相对标准偏差来度量。 drs/绝对标准偏 次测量平均(xx