拉扎维模拟CMOS集成电路设计第二章作业答案详解完整版复习过程_第1页
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第二章作业(zuòyè)答案Copyrightforzhouqn第一页,共38页。2.1、W/L=50/0.5,假设|VDS|=3V,当|VGS|从0上升到3V时,画出NFET和PFET的漏电流VGS变化(biànhuà)曲线解:NMOS管:假设阈值电压VTH=0.7V,不考虑亚阈值导电当VGS<0.7V时,NMOS管工作在截止(jiézhǐ)区,则ID=0当VGS>0.7V时,NMOS管工作在饱和区,NMOS管的有效沟道长度Leff=0.5-2LD,则Copyrightforzhouqn第二页,共38页。PMOS管:假设阈值电压VTH=-0.8V,不考虑亚阈值导电当|VGS|<0.8V时,PMOS管工作在截止区,则ID=0当|VGS|≥0.8V时,PMOS管工作在饱和(bǎohé)区,PMOS管的有效沟道长度Leff=0.5-2LD,则Copyrightforzhouqn第三页,共38页。2.2W/L=50/0.5,|ID|=0.5mA,计算(jìsuàn)NMOS和PMOS的跨导和输出阻抗,以及本证增益gmro解:本题忽略侧向扩散LD1)NMOS2)PMOSCopyrightforzhouqn第四页,共38页。2.3导出用ID和W/L表示(biǎoshì)的gmro的表达式。画出以L为参数的gmro~ID的曲线。注意λ∝L解:Copyrightforzhouqn第五页,共38页。2.4分别画出MOS晶体管的ID~VGS曲线。a)以VDS作为(zuòwéi)参数;b)以VBS为参数,并在特性曲线中标出夹断点解:以NMOS为例当VGS<VTH时,MOS截止(jiézhǐ),则ID=0当VTH<VGS<VDS+VTH时,MOS工作(gōngzuò)在饱和区当VGS>VDS+VTH时,MOS工作在三极管区(线性区)Copyrightforzhouqn第六页,共38页。2.5对于图2.42的每个电路,画出IX和晶体管跨导关于(guānyú)VX的函数曲线草图,VX从0变化到VDD。在(a)中,假设Vx从0变化到1.5V。(VDD=3V)(a)上式有效(yǒuxiào)的条件为即Copyrightforzhouqn第七页,共38页。(a)综合(zōnghé)以上分析VX>1.97V时,M1工作(gōngzuò)在截止区,则IX=0,gm=0VX<1.97V时,M1工作(gōngzuò)饱和区,则Copyrightforzhouqn第八页,共38页。(b)λ=γ=0,VTH=0.7V当0<VX<1V时,MOS管的源-漏交换(jiāohuàn)工作(gōngzuò)在线性区,则当1V<VX<1.2V时,MOS管工作(gōngzuò)在线性区Copyrightforzhouqn第九页,共38页。当VX≥1.2V时,MOS管工作(gōngzuò)在饱和区Copyrightforzhouqn第十页,共38页。(C)λ=γ=0,VTH=0.7V当VX<0.3V时,MOS管的源-漏交换,工作(gōngzuò)在饱和区当VX≥0.3V时,MOS管工作(gōngzuò)截止区Copyrightforzhouqn第十一页,共38页。(d)λ=γ=0,VTH=-0.8V当0<VX≤1.8V时,MOS管上端为漏极,下端为源极,MOS管工作(gōngzuò)在饱和区当1.8V<VX≤1.9V时,MOS管工作(gōngzuò)在线性区Copyrightforzhouqn第十二页,共38页。当VX>1.9V时,MOS管S与D交换(jiāohuàn)MOS管工作(gōngzuò)线性区Copyrightforzhouqn第十三页,共38页。(e)λ=0,当VX=0时,VTH=0.893V,此时(cǐshí)MOS工作在饱和区随着VX增加,VSB降低,VTH降低,此时MOS管的过驱动电压增加,MOS管工作(gōngzuò)在饱和区;直到过驱动VDSAT上升到等于0.5V时,MOS管将进入线性区,则有Copyrightforzhouqn第十四页,共38页。当VX>1.82V时,MOS管工作(gōngzuò)在线性区????Copyrightforzhouqn第十五页,共38页。2.7对于图2.44的每个电路,画出Vout关于Vin的函数曲线(qūxiàn)草图。Vin从0变化到VDD=3V。解:(a)λ=γ=0,VTH=0.7V右图中,MOS管源-漏极交换(jiāohuàn)当Vin<0.7V时,M1工作(gōngzuò)在截止区,Vout=0当0.7<Vin≤1.7V时,M1工作在饱和区,则当1.7V<Vin<3V时,M1工作在线性区,则Copyrightforzhouqn第十六页,共38页。2.7(b)

λ=γ=0,VTH=0.7V当0<Vin<1.3V时,M1工作(gōngzuò)在线性区,则当Vin≥1.3V时,M1工作(gōngzuò)在饱和区,则Copyrightforzhouqn第十七页,共38页。2.7(c)λ=γ=0,VTH=0.7V当0<Vin<2.3V时,M1工作(gōngzuò)在线性区,则当Vin≥2.3V时,M1工作(gōngzuò)在饱和区,则Copyrightforzhouqn第十八页,共38页。2.7(d)λ=γ=0,VTH=-0.8V当0<Vin<1.8V时,M1工作(gōngzuò)在截止区,则M1工作(gōngzuò)在饱和区边缘的条件为Vout=1.8V,此时假设Vin=Vin1,因而当1.8V<Vin<Vin1时,M1工作(gōngzuò)在饱和区当Vin1<Vin时,M1工作在线性区Copyrightforzhouqn第十九页,共38页。2.9对于图2.46的每个电路(diànlù),画出IX和VX关于时间的函数曲线图。C1的初始电压等于3V。(a)λ=γ=0,VTH=0.7V,Vb>VTH当Vb-0.7≤VX≤3V时,M1工作(gōngzuò)在饱和区当VX<Vb-0.7时,M1工作(gōngzuò)在线性区,则Copyrightforzhouqn第二十页,共38页。当VX<Vb-0.7时,M1工作(gōngzuò)在线性区,则KCopyrightforzhouqn第二十一页,共38页。2.9(b)λ=γ=0,VTH=0.7V当VX初始电压(diànyā)为3V,M1工作在饱和区t=0时,VX=3V,Copyrightforzhouqn第二十二页,共38页。2.9(c)λ=γ=0,VTH=0.7V当VX初始电压(diànyā)为3V,VDS=0V,M1工作在深线性区Copyrightforzhouqn第二十三页,共38页。2.9(d)λ=γ=0,VTH=0.7VIX=I1Copyrightforzhouqn第二十四页,共38页。2.9(e)λ=γ=0,VTH=0.7V电容C1的初始(chūshǐ)电压为3V初始状态(时间t=0),如右图所示,电容C1的充电电流(diànliú)IC1=0,此时M1的漏电流(diànliú)IX=I1;同时VX=Vb-VGS1+3当时间t=0+时,如右图所示,M1的一部分漏电流(diànliú)将对电容C1的进行充电,此时IX-IC1=I1=>当IX=IC1时,I1=0若电流源I1为理想电流源,则VN-∞,实际上VN不可能低于0.6V,若低于0.6V,则PN结正向导通若电流源I1不是理想电流源,则VN0,电容C1开始放电Copyrightforzhouqn第二十五页,共38页。2.13MOSFET的特征频率(transitfrequency)fT,定义为源和漏端交流接地时,器件的小信号增益下降为1的频率。证明注意(zhùyì):fT不包含S/D结电容的影响节点(jiédiǎn)1,有输出(shūchū):Copyrightforzhouqn第二十六页,共38页。2.13(b)假设栅电阻(diànzǔ)RG比较大,且器件等效为n个晶体管的排列,其中每个晶体管的栅电阻(diànzǔ)等于RG/n。证明器件的fT与RG无关,其特征频率仍为Copyrightforzhouqn第二十七页,共38页。Copyrightforzhouqn第二十八页,共38页。2.13(c)对于给定的偏置电流,同过增加(zēngjiā)晶体管的宽度(因此晶体管的电容也增加(zēngjiā))使工作在饱和区所需的漏-源电压最小。利用平方率特性证明这个(zhège)关系表明:当所设计的器件工作于较低时,速度是如何被限制的。Copyrightforzhouqn第二十九页,共38页。2.16考虑如图2.50所示的结构,求ID关于VGS和VDS的函数(hánshù)关系,并证明这一结构可看作宽长比等于W/(2L)的晶体管。假设λ=γ=0第一种情况(qíngkuàng):M1、M2均工作在线性区相当于W/(2L)工作(gōngzuò)在线性区Copyrightforzhouqn第三十页,共38页。2.16第二种情况(qíngkuàng):M1工作在线性区,M2工作在饱和区相当于W/(2L)工作(gōngzuò)在饱和区注意:M1始终工作在线性区,因为(yīnwèi)M2的过驱动电压大于0线性区Copyrightforzhouqn第三十一页,共38页。2.16上面讨论,可知:(1)M2工作在饱和(bǎohé)区,则电流满足平方关系(2)M2工作在线性区,则电流满足线性关系Copyrightforzhouqn第三十二页,共38页。2.17已知NMOS器件工作在饱和区。如果(rúguǒ)(a)ID恒定,(b)gm恒定,画出W/L对于VGS-VTH的函数曲线。饱和(bǎohé)区:Copyrightforzhouqn第三十三页,共38页。2.18如图2.15所示的晶体管,尽管处在在饱和区,解释不能作为(zuòwéi)电流源使用的原因。以上电路的电流(diànliú)与MOS管的源极电压VS有关,而电流(diànliú)源的电流(diànliú)是与其源极电压VS无关的。Copyrightforzhouqn第三十四页,共38页。2.27已知NMOS器件工作(gōngzuò)于亚阈值区,ξ为1.5,求引起ID变化一个数量级所需的VGS的变化量。如果ID=10μA,求gm的值Copyrightforzhouqn第三十五页,共38页。2.28考虑VG=1.5V且VS=0的NMOS器件。解释如果将VD不断(bùduàn)减小到低于0V或者将Vsub不断(bùduàn)增大到0V以上,将会发

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