承压设备无损检测第二部分射线检测课件

承压设备无损检测

第2局部：射线检测

1范围JB/T4730的本局部规定了承压设备金属材料板和管的熔化焊对接接头的X射线和γ射线检测技术和质量分级要求。本局部适用于承压设备的制造、安装、在用检测中对接焊接接头的射线检测。用于制作焊接接头的金属材料包括碳素钢、低合金钢、不锈钢、铜及铜合金、铝及铝合金和钛及钛合金、镍及镍合金。本局部规定的射线检测技术分为三级：A级——低灵敏度技术；AB级——中灵敏度技术；B级——高灵敏度技术。承压设备的有关支承件和构造件的对接焊接接头的射线检测，也可参照使用。承压设备无损检测

第2局部：射线检测

1范围11、理解：〔1〕适用对象包括承压设备的制造、安装、在用〔2〕检测的金属材料包括；碳素钢、低合金钢、不锈钢、铜及铜合金、铝及铝合金和钛及钛合金、镍及镍合金〔3〕A级AB级B级系指检测技术分级，不是底片质量分级。3、注意：如承压设备的支承件或构造件也采用该标准时应在检测报告中注明?参照?同时应有委托方确实认。1、理解：〔1〕适用对象包括承压设备的制造、安装、在用22标准性引用文件

以下文件中的条款，通过JB/T4730的本局部的引用而成为本局部的条款。但凡注日期的引用文件，其随后所有的修改单〔不包括订正的内容〕或修订版均不适用于本局部。然而，鼓励根据本局部达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。但凡不注日期的引用文件，其最新版本适用于本局部。2标准性引用文件

以下文件中的条款，通过JB/T4733GB11533—1989标准对数视力表GB16357—1996工业Ｘ射线探伤放射卫生防护标准GB18465—2001工业γ射线探伤放射卫生防护要求GB18871—2002电离辐射防护及辐射源平安根本标准GB/T19384.1—2003无损检测工业射线照相胶片第1局部：工业射线胶片系统的分类GB/T19384.2—2003无损检测工业射线照相胶片第2局部：用参考值方法控制胶片处理GB11533—1989标准对数视力表4HB7684—2000射线照相用线型像质计JB4730.1承压设备无损检测第1局部通用要求JB/T7902—1999线型像质计JB/T7903—1999工业射线照相底片观片灯〔共计10个)HB7684—2000射线照相用线型像质计52、应用：〔1〕除JB/T4730外，以上10个标准也是我们编制检测通用工艺和管理规定的主要依据。〔2〕如果这些文件有新的版本鼓励采用，但双方要达成一致意见。3、注意：〔1〕凡从事射线检测的单位或部门应有这10个标准的原件〔2〕当某些条款与JB/T4730不相符时，以JB/T4730规定的内容为准。〔GB标准除外〕例如附录F专用像质计的标识。承压设备无损检测第二部分射线检测课件6一般要求

射线检测的一般要求除应符合JB/T4730.1的有关规定外，还应符合以下规定。一般要求

射线检测的一般要求除应符合JB/T4730.173.1射线检测人员3.1射线检测人员81、理解：取?放射工作人员证?的对象2、应用：〔1〕对已取得国家质检总局或要取得国家质检总局所颁发的无损检测资质单位的射线检测人员均应有?放射工作人员证?〔2〕对其他单位〔制造、安装和检验〕现场操作人员应有?放射工作人员证?3、注意：从事评片人员每年的视力检查情况应存档。1、理解：取?放射工作人员证?的对象93.2射线胶片3.2射线胶片101、理解：〔1〕按胶片系统进展分类，不是按胶片的感光速度分类。胶片系统包括了胶片、增感屏和冲洗条件。〔2〕检测的技术级别与胶片的类别有关。2、应用：选择的原那么〔1〕A级和AB级检测技术不得低于T3类、B级检测技术不得低于T2类〔2〕采用γ射线允许采用T3类胶片，但灵敏度应满足要求。3、注意：〔1〕当对公称厚度或透照厚度较薄的工件进展γ射线照相时应采用高类别的胶片。〔2〕对可焊性差的材料或Rm≥540MPa高强钢，γ射线照相时应选择T2类或更高类别的胶片。1、理解：〔1〕按胶片系统进展分类，不是按胶片的感光速度分类113.3观片灯3.3观片灯121、理解：〔1〕观片灯的主要性能指标除了亮度以外还包括:亮度的均匀性、外壳温度、噪声、绝缘程度等〔2〕观片灯亮度和照度的关系，即140000lx——45000cd/m22、应用：当底片评定范围内的黑度≤2.5时，观片灯的亮度不应低于9400cd/m2、当底片评定范围内的黑度2.5＜D≤4时观片灯的亮度不应低于100000cd/m23、注意：生产观片灯的厂家所提供的亮度指标应用cd/m2表示。1、理解：〔1〕观片灯的主要性能指标除了亮度以外还包括:亮度133.4黑度计〔光学密度计〕3.4黑度计〔光学密度计〕141、理解：在一定情况下底片的黑度允许大于42、应用：黑度计属于自校验仪器，不是强制校验设备，而标准黑度片是要强制检验的。黑度计的校验应有记录并有校验者和审核者签字，保存到下一校验周期。3、注意：校准黑度计用的标准黑度片必须在有效期内，并通过计量部门的鉴定(2年〕新购置的标准黑度片只要在有效期内也允许。1、理解：在一定情况下底片的黑度允许大于4153.5增感屏射线检测一般应使用金属增感屏或不用增感屏。增感屏的选用应符合表1的规定

3.5增感屏射线检测一般应使用金属增感屏或不用增感屏。增161、理解：〔1〕X射线照相，能量在500KV以下增感屏的材料应是铅，铅屏的厚度不涉及技术级别只与射线能量有关〔2〕如采用Se-75或Ir-192，增感屏的厚度与技术级别有关。〔3〕如采用Co-60或高能X射线〔4MeV以下〕选择增感屏所用的材料和厚度均与技术级别有关。2、应用：〔1〕前屏和后屏的厚度可以一样也可以不同〔2〕如采用Se-75和Ir-192射线照相，AB级或B级检测技术，前屏和后屏的厚度均不能小于0.1mm。3、注意：AB级或B级检测技术使用前屏≤0.03mm真空包装胶片时，另有规定。〔仅限于Se-75、Ir-192γ射线〕1、理解：〔1〕X射线照相，能量在500KV以下增感屏的材料173.6像质计3.6像质计182、应用：〔1〕应根据检测技术级别、透照方式和像质计摆放的位置及公称厚度〔T〕透照厚度〔W〕确定像质计灵敏度〔2〕以低原子序数材料制作的像质计可以用于高原子序数材料制成的工件照相。即铁〔Fe〕像质计可以用于镍〔Ni〕、铜〔Cu〕材料的照相，但不能用于钛〔Ti〕、铝〔AI〕材料的照相。承压设备无损检测第二部分射线检测课件193.7外表要求和射线检测时机

3.7外表要求和射线检测时机

201、理解：〔1〕焊缝的外观检查一般由焊工检查员进展。〔2〕除非另有规定系指设计图纸的规定、制造方的规定或焊缝返修后焊接工艺的规定。〔3〕有延迟裂纹的材料一般指低合金高强钢。2、应用：〔1〕射线检测工艺卡中应明确检测时机〔2〕当底片上存在不影响评定的伪缺陷时应在底片评定原始记录中注明。3、注意：所谓适当修整是指打磨或较浅补焊。1、理解：〔1〕焊缝的外观检查一般由焊工检查员进展。〔2〕除213.8射线检测技术等级选择3.8射线检测技术等级选择221、理解：〔1〕承压类设备的制造、安装、在用的检测技术级别一般不应低于AB级〔2〕承压设备在用检测特殊情况下可以采用A级检测技术〔3〕检测方技术负责人系指无损检测单位的技术负责人，如是制造、安装单位或检验单位，检测方技术负责人是指该单位的总工程师或分管技术的领导〔4〕有效措施一般包括：高类别胶片、提高底片黑度、采用最正确透照方式、最大限度的控制散乱射线等措施。2、应用：〔1〕技术负责人要确认是否确实存在“构造、环境、射线设备等方面的限制〞〔2〕技术负责人一般应在专用工艺或工艺卡批准栏中签字。3、注意：底片灵敏度必须到达相应技术级别的规定。对在用设备如采用A级检测技术应补充其他检测方法进展检测。返修焊缝应采用AB级或到达AB级灵敏度1、理解：〔1〕承压类设备的制造、安装、在用的检测技术级别一233.9辐射防护3.9辐射防护241、理解：〔1〕现场进展Ｘ射线检测或进展γ射线检测时对辐射防护提出了不同的要求。〔2〕在两个标准都提出了辐射照射量的新名词?比释动能?和?空气比释动能率?，比释动能是指不带电粒子与物质相互作用，在单位质量的物质中释放出来的所有带电粒子的初始动能的总和。2、应用：〔1〕空气比释动能率用仪器可以测出〔2〕控制区、管理区、监视区范围确实定均根据空气比释动能率量值进展划分的。3、注意：尽管两个标准的某些条款内容一样或相近，但在使用中不能相互代替。1、理解：〔1〕现场进展Ｘ射线检测或进展γ射线检测时对辐射防254具体要求4.1透照布置应根据工件特点和技术条件的要求选择适宜的透照方式。在可以实施的情况下应选用单壁透照方式,在单壁透照不能实施时才允许采用双壁透照方式。典型的透照方式参见附录C〔资料性附录〕。透照时射线束中心一般应垂直指向透照区中心，需要时也可选用有利于发现缺陷的方向透照。一次透照长度应以透照厚度比K进展控制。不同级别射线检测技术和不同类型对接焊接接头的透照厚度比应符合表3的规定。整条环向对接焊接接头所需的透照次数可参照附录D〔资料性附录〕的曲线图确定。4具体要求4.1透照布置261、理解：〔1〕单壁透照最有利于发现缺陷，但并不是最便捷的透照方法。〔2〕对“在单壁透照不能实施时才允许采用双壁透照方式〞要有正确的理解，不能实施时主要针对工况条件和检验检测单位的资源条件而言，不是指最正确的透照方式。〔3〕一次透照长度与检测技术级别有关。2、应用：透照方式不能任意选取，在可以实施的情况下应选用单壁透照方式。〔在用设备〕3、注意：其他方式透照环向对接接头时，有不能实施的部位即阴影区。1、理解：〔1〕单壁透照最有利于发现缺陷，但并不是最便捷的透27小径管采用双壁双影透照布置，当同时满足以下两条件时应采用倾斜透照方式椭圆成像：T〔壁厚〕≤8mm；g〔焊缝宽度〕≤Do/4椭圆成像时，应控制影像的开口宽度〔上下焊缝投影最大间距〕在1倍焊缝宽度左右。不满足上述条件或椭圆成像有困难时可采用垂直透照方式重叠成像。小径管采用双壁双影透照布置，当同时满足以下两条件时应采用倾斜28小径管环向对接焊接接头100%检测的透照次数：采用倾斜透照椭圆成像时，当T/Do≤0.12时,相隔90°透照2次。当T/Do＞0.12时,相隔120°或60°透照3次。垂直透照重叠成像时，一般应相隔120°或60°透照3次。由于构造原因不能进展屡次透照时，可采用椭圆成像或重叠成像方式透照一次。鉴于透照一次不能实现焊缝全长的100%检测，此时应采取有效措施尽量扩大缺陷可检出范围，并保证底片评定范围内黑度和灵敏度满足要求。承压设备无损检测第二部分射线检测课件291、理解：〔1〕双壁双影椭圆成像的实施原那么，即T〔壁厚〕≤8mm、g〔焊缝宽度〕≤Do/4〔Ø60×5mm〕〔2〕椭圆成像有困难一般是指焦距不满足要求。〔3〕小径管的透照次数与管外径和壁厚有关，与检测技术级别无关〔4〕规定小径管的透照次数的主要目的是控制透照厚度比〔5〕构造：一般系指排管或盘管2、应用：〔1〕为控制影像的开口宽度应采用偏心距法〔2〕扩大缺陷可检出范围的有效措施一般包括：双胶片技术、适当提高管电压、窗口加滤波板3、注意：当Do≤20mm、T≥8mm、g＞Do/4重点检查根部裂纹或未焊透时应采用垂直透照1、理解：〔1〕双壁双影椭圆成像的实施原那么，即T〔壁厚〕≤304.2射线能量

对截面厚度变化大的承压设备，在保证灵敏度要求的前提下，允许采用超过图1规定的Ｘ射线管电压。但对钢、铜及铜合金材料，管电压增量不应超过50kV；对钛及钛合金材料，管电压增量不应超过40kV；对铝及铝合金材料，管电压增量不应超过30kV。4.2射线能量

311、理解：〔1〕不同材料、不同透照厚度允许采用的最高Ｘ射线管电压与检测技术级别无关〔2〕控制Ｘ射线管电压的目的是保证底片的比照度，防止影响小缺陷的检出率。〔3〕截面厚度变化大〔以AB级T3类胶片为基准，如较厚部位黑度为2.0，而较薄部位的黑度大于4.0〕2、应用：〔1〕在能穿透工件的前提下，应尽量选择较低的KV值〔2〕对截面厚度变化大的承压设备，适当提高管电压、利用中心指示器使射线束中心对准较厚部位、采用双胶片技术、补偿技术3、注意：选择能量时必须考虑穿透厚度。1、理解：〔1〕不同材料、不同透照厚度允许采用的最高Ｘ射线管321、理解：〔1〕鼓励和提倡采用源在内中心透照方式尽可能实现单壁透照，同时也有利于横向裂纹的检出〔2〕其他透照方式包括：双壁双影、双壁单影、内透法F＞R、F＜R〔3〕经合同各方同意的主要目的是对‘放宽最小透照厚度’要慎重〔4〕其他透照方式‘放宽最小透照厚度’与技术级别有关〔仅限于A级AB级〕2、应用：〔1〕采用Ir-192源中心透照时最小透照厚度可为10mm，且不用合同各方同意。如最小透照厚度小于10mm时，即使合同各方同意也不能实施。采用其他透照方式当透照厚度小20mm时，应经合同各方同意。如最小透照厚度小于10mm时，即使合同各方同意也不能实施。1、理解：〔1〕鼓励和提倡采用源在内中心透照方式尽可能实现单33〔2〕采用Se-75源中心透照时最小透照厚度可为5mm，且不用合同各方同意。如最小透照厚度小于5mm时，即使合同各方同意也不能实施。采用其他透照方式当透照厚度小10mm时，应经合同各方同意。如最小透照厚度小于5mm时，即使合同各方同意也不能实施。〔3〕有效补偿措施包括：高类别的胶片、适当提高底片黑度、提高增感屏的厚度、散射线的屏蔽。3、注意：〔1〕最小透照厚度以公称厚度计算。〔2〕合同各方同意：一般指在施工方案上或工艺文件上有甲方签字认可，并存档。〔2〕采用Se-75源中心透照时最小透照厚度可为5mm，且不344.3射线源至工件外表的最小距离

－A级射线检测技术：f≥7.5d·b2/3－AB级射线检测技术：f≥10d·b2/3－B级射线检测技术：f≥15d·b2/3图2是A级和B级射线检测技术确定f的诺模图，图3是AB级射线检测技术确定f的诺模图。有效焦点尺寸d按附录E〔标准性附录〕的规定计算。4.3射线源至工件外表的最小距离

351、理解：〔1〕确定射线源至工件外表的最小距离与检测技术级别有关。〔2〕鼓励和提倡采用内透法特别是中心内透法。表达了采用单壁透照的原那么。减少透照厚度，有利与检验缺陷；减少照射角，有利裂纹检出。2、应用：〔1〕由诺模图中可直接得出射线源至工件外表最小距离〔2〕工件外表至胶片的距离应根据透照方式确定，同时应考虑焊缝余高和垫板〔双壁单影、单壁单影〕的厚度3、注意：由诺模图中给出的数据是射线源至工件外表的最小距离。1、理解：〔1〕确定射线源至工件外表的最小距离与检测技术级别364.4曝光量

4.4曝光量

371、理解：〔1〕曝光量的大小与焦距有关〔2〕曝光量的选择与检测技术级别有关〔3〕采用γ射线源透照时，在某一时段焦距是在不断变化，为保证底片质量，从而确定了总的曝光时间2、应用：以AB级为例：当焦距700mm时，曝光量应大于或等于15mA·min、当焦距大于700mm时，曝光量应大于15mA·min、当焦距小于700mm时，曝光量可小于或等于15mA·min、焦距改变时按平方反比定律对曝光量的推荐值进展换算。3、注意：对小口径薄壁管采用γ射线源透照时，强度不宜太大1、理解：〔1〕曝光量的大小与焦距有关384.5曝光曲线

4.5曝光曲线

391、理解：〔1〕曝光曲线是针对X射线机〔2〕每台X射线机必须有曝光曲线且不能混用〔3〕射线设备重要部件是指X射线管和高压包2、应用：〔1〕曝光曲线横坐标上的厚度应是穿透厚度〔2〕当实际拍片的条件与制作曝光曲线的条件不一致时，必须对曝光曲线作相应的修正。3、注意：曝光曲线的校验日期〔至少每年一次〕1、理解：〔1〕曝光曲线是针对X射线机404.6无用射线和散射线屏蔽

检查背散射防护的方法是：在暗盒反面贴附“B〞铅字标记，一般B铅字的高度为13mm、厚度为1.6mm,按检测工艺的规定进展透照和暗室处理。假设在底片上出现黑度低于周围背景黑度的“B〞字影像，那么说明背散射防护不够,应增大背散射防护铅板的厚度。假设底片上不出现“B〞字影像或出现黑度高于周围背景黑度的“B〞字影像，那么说明背散射防护符合要求。4.6无用射线和散射线屏蔽

411、理解：〔1〕金属增感屏、铅板、滤波板、准直器等是屏蔽和控制散射线的主要器件〔2〕屏蔽和控制散射线与检测技术级别无关〔3〕背散射检查的前提条件〔初次制定的检测工艺或当在使用中检测工艺的条件、环境发生改变〕2、应用：对不是初次制定的检测工艺或在使用中检测工艺的条件、环境未发生变化时，不用每次都进展背散射检查3、注意：在薄工件或不用增感屏时，有时会出现黑度高于周围背景黑度的“B〞字影像1、理解：〔1〕金属增感屏、铅板、滤波板、准直器等是屏蔽和控424.7像质计的使用

4.7像质计的使用

43a)单壁透照规定像质计放置在源侧。双壁单影透照规定像质计放置在胶片侧。双壁双影透照像质计可放置在源侧，也可放置在胶片侧。b)单壁透照中，如果像质计无法放置在源侧，允许放置在胶片侧。c)单壁透照中像质计放置在胶片侧时，应进展比照试验。比照试验方法是在射源侧和胶片侧各放一个像质计，用与工件一样的条件透照，测定出像质计放置在源侧和胶片侧的灵敏度差异，以此修正像质指数规定，以保证实际透照的底片灵敏度符合要求。d)当像质计放置在胶片侧时，应在像质计上适当位置放置铅字“F〞作为标记，F标记的影像应与像质计的标记同时出现在底片上，且应在检测报告中注明。a)单壁透照规定像质计放置在源侧。双壁单影透照规定像质计放44a)环形对接焊接接头采用源置于中心周向曝光时，至少在圆周上等间隔地放置3个像质计;b)球罐对接焊接接头采用源置于球心的全景曝光时，至少在北极区、赤道区、南极区附近的焊缝上沿纬度等间隔地各放置3个像质计，在南、北极的极板拼缝上各放置1个像质计;c)一次曝光连续排列的多张胶片时，至少在第一张、中间一张和最后一张胶片处各放置一个像质计。承压设备无损检测第二部分射线检测课件451、理解：〔1〕在像质计摆放原那么中对1/4处是一个相对概念〔2〕根据透照方式的不同规定了像质计应的摆放位置〔3〕规定了允许减少的三种情况〔环形焊缝周向曝光：≥3；连续多张一次曝光：≥3；球：≥3×3＋2〕〔4〕小径管即可以选用通用线型像质计也可以选用专用线型像质计〔5〕像质计的观察一般在母材上而不是在焊缝上。〔考虑深槽焊〕〔6〕“F〞标记的影像应与像质计的标记同时出现在底片上〔像质计的标记是指像质计上的标准号〕2、应用：〔1〕只有在单壁透照，象质计放在胶片测时才进展比照试验，其他方式均不用做比照试验。〔2〕像质计可放置在源侧，也可放置在胶片侧仅限于小径管双壁双影时使用〔3〕“F〞标记一般应放置在像质计标识的右上角。〔4〕当焊缝宽度较大时应加长金属丝的长度，或适当移动像质计的位置。〔5〕当象质计放在胶片测时，应在检验报告像质计灵敏度一栏中注明1、理解：〔1〕在像质计摆放原那么中对1/4处是一个相对概念46注意：〔1〕双壁双影最大透照厚度上限；A级为54mm、AB为54mm、B级为56mm〔表6〕〔2〕小径管使用专用像质计时要看到2根注意：〔1〕双壁双影最大透照厚度上限；A级为54mm、AB为474.8标记

4.8标记

481、理解：〔1〕未对返修标记,扩大检测比例的扩大检测标记作出统一规定。〔2〕搭接标记可以用“↑〞表示也可以用其他符号表示〔如1、2、或A、B、C〕〔3〕〔3〕根据射线源、工件、胶片的相互位置按附录G规定放置搭接标记。2、应用：〔1〕应在工艺文件中对返修标记、扩大检测标记以及搭接标记的符号作出明确规定。〔2〕小径管双壁双影或垂直透照不用搭接标记。〔3〕除中心100％透照或连续多张一次曝光外，否那么每张底片上均应有中心标记。〔Ø20mm以下小径管除外〕3、注意：不是100％透照的焊接接头也要放置搭接标记。〔有效区段标记〕1、理解：〔1〕未对返修标记,扩大检测比例的扩大检测标记作出494.9胶片处理

4.9胶片处理

501、理解：〔1〕手工冲洗方式处理是指槽洗不是盘洗〔2〕推荐采用自动冲洗方式处理的目的是尽量防止采用增加或减少显影时间来控制底片的黑度。2、应用：在工艺文件中要明确胶片处理的方式和处理的条件。3、注意：采用自动洗片机时要经常清洗防止产生划伤。1、理解：〔1〕手工冲洗方式处理是指槽洗不是盘洗〔2〕514.10评片要求

当底片评定范围内的黑度D≤2.5时，透过底片评定范围内的亮度应不低于30cd/m2；当底片评定范围内的黑度D＞2.5时,透过底片评定范围内的亮度应不低于10cd/m2。4.10评片要求

521、理解：增加评片暗适应过程规定的目的是光强的突然变化会使人的视觉灵敏度下降从而造成评片时的漏检2、应用：〔1〕评片室不能全黑，一般要等于或略低于透过底片光的亮度。〔2〕观片灯的亮度必须可以调节〔3〕观片灯应有足够的照明区一般是300×80mm〔4〕要用亮度度计测定透过底片后，可见光的强度是否到达标准的要求。3、注意：对低合金高强钢要特别注意热影响区的观察。1、理解：增加评片暗适应过程规定的目的是光强的突然变化会使人534.11底片质量

A级：1.5≤D≤4.0；AB级：2.0≤D≤4.0；B级：2.3≤D≤4.0。用X射线透照小径管或其他截面厚度变化大的工件时，AB级最低黑度允许降至1.5；B级最低黑度可降至2.0。采用多胶片方法时，单片观察的黑度应符合以上要求。双片叠加观察仅限于A级，叠加观察时，单片的黑度应不低于1.3。4.11底片质量

542、应用：〔1〕评片时每张底片均应测定其黑度值〔2〕黑度一般测三点即两搭接标记的焊缝上各测一点，焊缝中心靠近焊缝母材部位测一点。〔3〕小径管无论是双壁双影或垂直透照黑度均可降至1.5〔X射线、AB级〕3、注意：〔1〕AB级、B级不能采用双片观察承压设备无损检测第二部分射线检测课件55〔2〕小径管只有在黑度大于1.5以上的区域是有效评定范围〔X射线、AB级〕〔2〕小径管只有在黑度大于1.5以上的区域是有效评定范围〔X56单壁透照、像质计置于源侧时应符合表5的规定；双壁双影透照、像质计置于源侧时应符合表6的规定；双壁单影或双壁双影透照、像质计置于胶片侧时应符合表7的规定。单壁透照、像质计置于源侧时应符合表5的规定；双壁双影透571、理解：底片的像质计灵敏度不仅与检测技术级别有关，而且还与透照方式、公称厚度、透照厚度有关。2、应用：〔1〕除单壁透照像质计放在胶片侧外，其他形式的底片像质计灵敏度均可从表中查出〔2〕底片评定范围以外的伪缺陷不属于底片质量不合格的依据。3、注意：〔1〕当对接接头两边的公称厚度不等时以较薄为准。〔2〕底片的像质计灵敏度不能按穿透厚度计算。1、理解：底片的像质计灵敏度不仅与检测技术级别有关，而且还与585承压设备熔化焊对接焊接接头射线检测质量分级

5.1钢、镍、铜制承压设备熔化焊对接焊接接头射线检测质量分级本条规定适用于厚度为2mm～400mm，材质为碳素钢、低合金钢、奥氏体不锈钢、镍及镍基合金制承压设备，以及厚度为2mm～80mm铜及铜合金制承压设备的熔化焊对接焊接接头射线检测的质量分级。管子和压力管道环向对接焊接接头射线检测质量分级按照第6条的规定执行

5承压设备熔化焊对接焊接接头射线检测质量分级

5.1591、理解：〔1〕必须是对接接头〔2〕适用范围和厚度〔碳素钢、低合金钢、奥氏体不锈钢、镍及镍基合金、铜和铜合金。厚度2mm～400mm、2mm～80mm。2、应用：凡不在本标准规定的范围之内，均不能按本标准进展质量分级。3、注意：厚度是指母材的公称厚度。1、理解：〔1〕必须是对接接头〔2〕适用范围和厚度〔碳素钢、60对接焊接接头中的缺陷按性质可分为裂纹、未熔合、未焊透、条形缺陷和圆形缺陷五类。根据对接接头中存在的缺陷性质、数量和密集程度，其质量等级可划分为Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ级。承压设备无损检测第二部分射线检测课件611、理解：〔1〕特种设备对接接头内的缺陷分为5种即裂纹、未熔合、未焊透、条形缺陷和圆形缺陷。〔2〕以对接接头中存在缺陷的性质、数量和密集程度进展质量分级与技术级别无关。2、应用：〔1〕圆形缺陷评定区的尺寸要根据公称厚度确定。〔2〕在确定圆形缺陷严重部位的数量时，评定区应与焊缝平行。〔3〕圆形缺陷的长径大于T/2时应注明其尺寸3、注意：必须与圆形缺陷评定区边界限相割的缺陷才能划入评定区内1、理解：〔1〕特种设备对接接头内的缺陷分为5种即裂纹、未熔62T≤5mm的Ⅱ级对接焊接接头，不计点数的缺陷在圆形缺陷评定区内不得多于10个，超过时对接焊接接头质量等级应降低一级。

T≤5mm的Ⅱ级对接焊接接头，不计点数的缺陷在圆形缺陷评定631、理解：〔1〕圆形缺陷放宽的原那么〔2〕致密性要求高的对接焊接接头是指一旦泄漏将会发生起火、爆炸或严重污染环境的焊接接头。〔3〕制造方底片评定人员：〔包括检验检测，设备制造或安装单位的评片人员〕2、应用：〔1〕圆形缺陷的放宽不能是普遍现象只能是个别现象，如果对圆形缺陷放宽应在检测报告的附件中说明圆形缺陷的实际点数，以及放宽的理由和依据。〔2〕只有对薄板焊接接头评定时当圆形缺陷的黑度明显大于母材的黑度时才能定义为深孔〔并在报告中注明〕3、注意：监检人员以及第三方抽检一般不考虑将圆形缺陷的黑度作为评级的依据。1、理解：〔1〕圆形缺陷放宽的原那么〔2〕致密性要求高的对接64条形缺陷按表12的规定进展分级评定。条形缺陷按表12的规定进展分级评定。651、理解：〔1〕条形评定区的宽度与母材的公称厚度有关〔T≤25mm.4mm、100mm≥T＞25mm.6mm、T＞100mm.8mm〔2〕对条形缺陷的累计长度规定了最小值〔3〕T为公称厚度2、应用：〔1〕当测定条形缺陷的累计长度时，条形评定区应与焊缝平行〔２)应用条形评定区的目的是确定当底片上有多处条形缺陷时，根据间距大小确定是否为一组或两组〔3〕凡在同一直线的条状缺陷应根据间距的情况是否按单个条状缺陷处理.〔相邻缺陷的间距大于较短缺陷时除外〕图1、23、注意：当母材公称厚度不等时取薄板的厚度值。1、理解：〔1〕条形评定区的宽度与母材的公称厚度有关〔T≤2661、理解：只有在圆形缺陷评定区内存在条状缺陷时才进展综合评级。2、应用：对缺陷进展综合级，应在检测报告备注栏中注明3、注意：综合评级后只要大于Ⅲ级者均为Ⅳ级1、理解：只有在圆形缺陷评定区内存在条状缺陷时才进展综合评级67

5.2铝制承压设备熔化焊对接焊接接头射线检测质量分级

本条规定适用于厚度为2mm～80mm铝及铝合金承压设备的熔化焊对接焊接接头射线检测的质量分级。

5.2铝制承压设备熔化焊对接焊接接头射线检测质量分685.3钛及钛合金制承压设备熔化焊对接焊接接头射线检测质量分级

本条规定适用于厚度为2mm～50mm，材质为钛及钛合金的熔化焊对接焊接接头射线检测的质量分级。5.3钛及钛合金制承压设备熔化焊对接焊接接头射线检测质量69

6承压设备管子及压力管道熔化焊环向对接焊接接头射线检测质量分级6.1钢、镍、铜承压设备管子及压力管道熔化焊环向对接焊接接头射线检测质量分级本条适用于壁厚T≥2mm碳素钢、低合金钢、奥氏体不锈钢、镍及镍基合金、铜及铜合金承压设备管子及压力管道的熔化焊环向对接焊接接头射线检测的质量分级。

6承压设备管子及压力管道熔化焊环向对接焊接接头射线检测701、理解：〔1〕必须是环向对接接头〔2〕接头的壁厚应大于或等于2mm〔3〕对管子的外径没设上限2、应用：承压设备管子及压力管道系指无纵向焊缝的管道。对于采用钢板卷管制作压力管道纵向焊缝的评定应按5.1条的规定进展3、注意：螺旋管焊缝的质量评级应由合同各方商定。1、理解：〔1〕必须是环向对接接头〔2〕接头的壁厚应71对接焊接接头中的缺陷按性质可分为裂纹、未熔合、未焊透、条形缺陷、圆形缺陷、根部内凹、根部咬边等七类。对接焊接接头中的缺陷按性质可分为裂纹、未熔合、未焊透、721、理解：把根部内凹、根部咬边外观缺陷也纳入评级范围之列。2、应用：要正确判断根部咬边和外咬边，外咬边缺陷不能作为评级的依据3、注意：根部内凹和根部咬边均按累计长度计算，对断续根部内凹和根部咬边，以根部内凹和根部咬边本身的长度累计计算。〔不包括间距长度，也没有间距的概念〕1、理解：把根部内凹、根部咬边外观缺陷也纳入评级范围之列。73根据对接焊接接头中存在的缺陷性质、数量和密集程度，其质量等级可划分为Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ级。根据对接焊接接头中存在的缺陷性质、数量和密集程度，其质74管外径Do＞100mm时，不加垫板单面焊的未焊透缺陷按表21的规定进展质量分级评定。管外径Do≤100mm的小径管不加垫板单面焊的未焊透缺陷按表22的规定进展质量分级评定。管外径Do＞100mm的管子未焊透深度可采用附录H〔标准性附录〕规定的一般比照试块〔Ⅱ型〕进展测定。管外径Do≤100mm的小径管的未焊透深度可采用附录H〔标准性附录〕规定的小径管专用比照试块(ⅠA或ⅠB型)进展测定,测定时，比照试块应置于管的源侧外表、靠近被测未焊透缺陷附近部位。管外径Do＞100mm时，不加垫板单面焊的未焊透缺陷按表21751、理解：〔1〕不加垫板的单面焊允许未焊透〔2〕对小径管和D0＞100mm管所允许未焊透最大深度的规定是一致的，而对长度的规定有较大的差异，即小径管未规定单个未焊透允许的最大长度。对大口径管的质量要求高于小径管2、应用：对管外径Do＞100mm的管子未焊透深度应采用一般试块〔沟槽试块〕进展测定，小径管未焊透深度可采用附录H专用比照试块〔ⅠA或ⅠB型〕进展测定3、注意：〔1〕未焊透与内凹的区别〔2〕断续未焊透，以未焊透本身的长度累计计算1、理解：〔1〕不加垫板的单面焊允许未焊透〔2〕对小径管和76

管外径Do＞100mm时，不加垫板单面焊的根部内凹和根部咬边缺陷按表23的规定进展质量分级评定。管外径Do≤100mm的小径管不加垫板单面焊的根部内凹和根部咬边缺陷按表24的规定进展质量分级评定。管外径Do＞100mm的管子和容器根部内凹和根部咬边深度可采用附录H〔标准性附录〕规定的一般比照试块〔Ⅱ型〕进展测定。管外径Do≤100mm的小径管的根部内凹和根部咬边深度可采用附录H〔标准性附录〕规定的小径管专用比照试块(ⅠA或ⅠB型)进展测定,测定时，比照试块应置于管的源侧外表、靠近被测根部内凹和根部咬边缺陷附近部位。

管外径Do＞100mm时，不加垫板单面焊的根部内凹和根部咬771、理解：把根部内凹和根部咬边视为同一类型缺陷进展分级评定2、应用：根部内凹和根部咬边深度的测定与未焊透测定的方法一样3、注意：对小径管测定时，比照试块应置于管的源侧外表,靠近被测根部内凹和根部咬边缺陷附近部位1、理解：把根部内凹和根部咬边视为同一类型缺陷进展分级评定78

在条形缺陷评定区内同时存在多种缺陷时，应进展综合评级。对各类缺陷分别评定级别，取质量级别最低的级别作为综合评级的级别；当各类缺陷的级别一样时，那么降低一级作为综合评级的级别。

在条形缺陷评定区内同时存在多种缺陷时，应进展综合评级。对各791、理解：在条形缺陷评定区内同时存在多种缺陷时，〔裂纹、未熔合、圆形缺陷除外〕应进展综合评级。〔不是圆形缺陷评定区〕2、应用：例如1：在条形缺陷评定区内未焊透评Ⅲ级、内凹评Ⅱ级、条形缺陷Ⅳ级，综合评级后该底片的最终级别为Ⅳ级例如2：在条形缺陷评定区内未焊透Ⅱ评级、内凹评Ⅱ级、条形缺陷Ⅱ级综合评级后该底片的最终级别为Ⅲ级3、注意：综合评级也应在报告中注明1、理解：在条形缺陷评定区内同时存在多种缺陷时，〔裂纹、未熔80

6.2铝及铝合金制承压设备管子及压力管道熔化焊环形对接接头射线检测质量分级〔略〕

6.3钛制及钛合金制承压设备管子及压力管道熔化焊环向对接焊接接头射线检测质量分级〔略〕

6.2铝及铝合金制承压设备管子及压力817射线检测报告

检测报告至少应包括下述内容：a〕委托单位；b〕被检工件：名称、编号、规格、材质、坡口型式、焊接方法和热处理状况；c〕检测设备：名称、型号和焦点尺寸；d〕检测标准和验收等级：e〕检测标准：技术等级、透照布置、胶片、增感屏、射线能量、曝光量、焦距、暗室处理方式和条件等；f〕工件检测部位及布片草图；g〕检测结果及质量分级；h〕检测人员和责任人员签字及其技术资格；i〕检测日期。7射线检测报告

检测报告至少应包括下述内容：821、理解：标准中规定的九条是最根本的内容，这些内容在报告中必须包括。对检验检测单位，检测报告中还应有工艺卡和原始记录的编号2、应用：但凡检验检测单位编制的检测报告均应包括上述内容，对特种设备制造、安装单位还应按照相关规定执行。3、注意：对甲方或使用方指定用的检测报告应在合同中注明。1、理解：标准中规定的九条是最根本的内容，这些内容在报告中必83谢谢各位承压设备无损检测第二部分射线检测课件84承压设备无损检测

第2局部：射线检测

1范围JB/T4730的本局部规定了承压设备金属材料板和管的熔化焊对接接头的X射线和γ射线检测技术和质量分级要求。本局部适用于承压设备的制造、安装、在用检测中对接焊接接头的射线检测。用于制作焊接接头的金属材料包括碳素钢、低合金钢、不锈钢、铜及铜合金、铝及铝合金和钛及钛合金、镍及镍合金。本局部规定的射线检测技术分为三级：A级——低灵敏度技术；AB级——中灵敏度技术；B级——高灵敏度技术。承压设备的有关支承件和构造件的对接焊接接头的射线检测，也可参照使用。承压设备无损检测

第2局部：射线检测

1范围851、理解：〔1〕适用对象包括承压设备的制造、安装、在用〔2〕检测的金属材料包括；碳素钢、低合金钢、不锈钢、铜及铜合金、铝及铝合金和钛及钛合金、镍及镍合金〔3〕A级AB级B级系指检测技术分级，不是底片质量分级。3、注意：如承压设备的支承件或构造件也采用该标准时应在检测报告中注明?参照?同时应有委托方确实认。1、理解：〔1〕适用对象包括承压设备的制造、安装、在用862标准性引用文件

以下文件中的条款，通过JB/T4730的本局部的引用而成为本局部的条款。但凡注日期的引用文件，其随后所有的修改单〔不包括订正的内容〕或修订版均不适用于本局部。然而，鼓励根据本局部达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。但凡不注日期的引用文件，其最新版本适用于本局部。2标准性引用文件

以下文件中的条款，通过JB/T47387GB11533—1989标准对数视力表GB16357—1996工业Ｘ射线探伤放射卫生防护标准GB18465—2001工业γ射线探伤放射卫生防护要求GB18871—2002电离辐射防护及辐射源平安根本标准GB/T19384.1—2003无损检测工业射线照相胶片第1局部：工业射线胶片系统的分类GB/T19384.2—2003无损检测工业射线照相胶片第2局部：用参考值方法控制胶片处理GB11533—1989标准对数视力表88HB7684—2000射线照相用线型像质计JB4730.1承压设备无损检测第1局部通用要求JB/T7902—1999线型像质计JB/T7903—1999工业射线照相底片观片灯〔共计10个)HB7684—2000射线照相用线型像质计892、应用：〔1〕除JB/T4730外，以上10个标准也是我们编制检测通用工艺和管理规定的主要依据。〔2〕如果这些文件有新的版本鼓励采用，但双方要达成一致意见。3、注意：〔1〕凡从事射线检测的单位或部门应有这10个标准的原件〔2〕当某些条款与JB/T4730不相符时，以JB/T4730规定的内容为准。〔GB标准除外〕例如附录F专用像质计的标识。承压设备无损检测第二部分射线检测课件90一般要求

射线检测的一般要求除应符合JB/T4730.1的有关规定外，还应符合以下规定。一般要求

射线检测的一般要求除应符合JB/T4730.1913.1射线检测人员3.1射线检测人员921、理解：取?放射工作人员证?的对象2、应用：〔1〕对已取得国家质检总局或要取得国家质检总局所颁发的无损检测资质单位的射线检测人员均应有?放射工作人员证?〔2〕对其他单位〔制造、安装和检验〕现场操作人员应有?放射工作人员证?3、注意：从事评片人员每年的视力检查情况应存档。1、理解：取?放射工作人员证?的对象933.2射线胶片3.2射线胶片941、理解：〔1〕按胶片系统进展分类，不是按胶片的感光速度分类。胶片系统包括了胶片、增感屏和冲洗条件。〔2〕检测的技术级别与胶片的类别有关。2、应用：选择的原那么〔1〕A级和AB级检测技术不得低于T3类、B级检测技术不得低于T2类〔2〕采用γ射线允许采用T3类胶片，但灵敏度应满足要求。3、注意：〔1〕当对公称厚度或透照厚度较薄的工件进展γ射线照相时应采用高类别的胶片。〔2〕对可焊性差的材料或Rm≥540MPa高强钢，γ射线照相时应选择T2类或更高类别的胶片。1、理解：〔1〕按胶片系统进展分类，不是按胶片的感光速度分类953.3观片灯3.3观片灯961、理解：〔1〕观片灯的主要性能指标除了亮度以外还包括:亮度的均匀性、外壳温度、噪声、绝缘程度等〔2〕观片灯亮度和照度的关系，即140000lx——45000cd/m22、应用：当底片评定范围内的黑度≤2.5时，观片灯的亮度不应低于9400cd/m2、当底片评定范围内的黑度2.5＜D≤4时观片灯的亮度不应低于100000cd/m23、注意：生产观片灯的厂家所提供的亮度指标应用cd/m2表示。1、理解：〔1〕观片灯的主要性能指标除了亮度以外还包括:亮度973.4黑度计〔光学密度计〕3.4黑度计〔光学密度计〕981、理解：在一定情况下底片的黑度允许大于42、应用：黑度计属于自校验仪器，不是强制校验设备，而标准黑度片是要强制检验的。黑度计的校验应有记录并有校验者和审核者签字，保存到下一校验周期。3、注意：校准黑度计用的标准黑度片必须在有效期内，并通过计量部门的鉴定(2年〕新购置的标准黑度片只要在有效期内也允许。1、理解：在一定情况下底片的黑度允许大于4993.5增感屏射线检测一般应使用金属增感屏或不用增感屏。增感屏的选用应符合表1的规定

3.5增感屏射线检测一般应使用金属增感屏或不用增感屏。增1001、理解：〔1〕X射线照相，能量在500KV以下增感屏的材料应是铅，铅屏的厚度不涉及技术级别只与射线能量有关〔2〕如采用Se-75或Ir-192，增感屏的厚度与技术级别有关。〔3〕如采用Co-60或高能X射线〔4MeV以下〕选择增感屏所用的材料和厚度均与技术级别有关。2、应用：〔1〕前屏和后屏的厚度可以一样也可以不同〔2〕如采用Se-75和Ir-192射线照相，AB级或B级检测技术，前屏和后屏的厚度均不能小于0.1mm。3、注意：AB级或B级检测技术使用前屏≤0.03mm真空包装胶片时，另有规定。〔仅限于Se-75、Ir-192γ射线〕1、理解：〔1〕X射线照相，能量在500KV以下增感屏的材料1013.6像质计3.6像质计1022、应用：〔1〕应根据检测技术级别、透照方式和像质计摆放的位置及公称厚度〔T〕透照厚度〔W〕确定像质计灵敏度〔2〕以低原子序数材料制作的像质计可以用于高原子序数材料制成的工件照相。即铁〔Fe〕像质计可以用于镍〔Ni〕、铜〔Cu〕材料的照相，但不能用于钛〔Ti〕、铝〔AI〕材料的照相。承压设备无损检测第二部分射线检测课件1033.7外表要求和射线检测时机

3.7外表要求和射线检测时机

1041、理解：〔1〕焊缝的外观检查一般由焊工检查员进展。〔2〕除非另有规定系指设计图纸的规定、制造方的规定或焊缝返修后焊接工艺的规定。〔3〕有延迟裂纹的材料一般指低合金高强钢。2、应用：〔1〕射线检测工艺卡中应明确检测时机〔2〕当底片上存在不影响评定的伪缺陷时应在底片评定原始记录中注明。3、注意：所谓适当修整是指打磨或较浅补焊。1、理解：〔1〕焊缝的外观检查一般由焊工检查员进展。〔2〕除1053.8射线检测技术等级选择3.8射线检测技术等级选择1061、理解：〔1〕承压类设备的制造、安装、在用的检测技术级别一般不应低于AB级〔2〕承压设备在用检测特殊情况下可以采用A级检测技术〔3〕检测方技术负责人系指无损检测单位的技术负责人，如是制造、安装单位或检验单位，检测方技术负责人是指该单位的总工程师或分管技术的领导〔4〕有效措施一般包括：高类别胶片、提高底片黑度、采用最正确透照方式、最大限度的控制散乱射线等措施。2、应用：〔1〕技术负责人要确认是否确实存在“构造、环境、射线设备等方面的限制〞〔2〕技术负责人一般应在专用工艺或工艺卡批准栏中签字。3、注意：底片灵敏度必须到达相应技术级别的规定。对在用设备如采用A级检测技术应补充其他检测方法进展检测。返修焊缝应采用AB级或到达AB级灵敏度1、理解：〔1〕承压类设备的制造、安装、在用的检测技术级别一1073.9辐射防护3.9辐射防护1081、理解：〔1〕现场进展Ｘ射线检测或进展γ射线检测时对辐射防护提出了不同的要求。〔2〕在两个标准都提出了辐射照射量的新名词?比释动能?和?空气比释动能率?，比释动能是指不带电粒子与物质相互作用，在单位质量的物质中释放出来的所有带电粒子的初始动能的总和。2、应用：〔1〕空气比释动能率用仪器可以测出〔2〕控制区、管理区、监视区范围确实定均根据空气比释动能率量值进展划分的。3、注意：尽管两个标准的某些条款内容一样或相近，但在使用中不能相互代替。1、理解：〔1〕现场进展Ｘ射线检测或进展γ射线检测时对辐射防1094具体要求4.1透照布置应根据工件特点和技术条件的要求选择适宜的透照方式。在可以实施的情况下应选用单壁透照方式,在单壁透照不能实施时才允许采用双壁透照方式。典型的透照方式参见附录C〔资料性附录〕。透照时射线束中心一般应垂直指向透照区中心，需要时也可选用有利于发现缺陷的方向透照。一次透照长度应以透照厚度比K进展控制。不同级别射线检测技术和不同类型对接焊接接头的透照厚度比应符合表3的规定。整条环向对接焊接接头所需的透照次数可参照附录D〔资料性附录〕的曲线图确定。4具体要求4.1透照布置1101、理解：〔1〕单壁透照最有利于发现缺陷，但并不是最便捷的透照方法。〔2〕对“在单壁透照不能实施时才允许采用双壁透照方式〞要有正确的理解，不能实施时主要针对工况条件和检验检测单位的资源条件而言，不是指最正确的透照方式。〔3〕一次透照长度与检测技术级别有关。2、应用：透照方式不能任意选取，在可以实施的情况下应选用单壁透照方式。〔在用设备〕3、注意：其他方式透照环向对接接头时，有不能实施的部位即阴影区。1、理解：〔1〕单壁透照最有利于发现缺陷，但并不是最便捷的透111小径管采用双壁双影透照布置，当同时满足以下两条件时应采用倾斜透照方式椭圆成像：T〔壁厚〕≤8mm；g〔焊缝宽度〕≤Do/4椭圆成像时，应控制影像的开口宽度〔上下焊缝投影最大间距〕在1倍焊缝宽度左右。不满足上述条件或椭圆成像有困难时可采用垂直透照方式重叠成像。小径管采用双壁双影透照布置，当同时满足以下两条件时应采用倾斜112小径管环向对接焊接接头100%检测的透照次数：采用倾斜透照椭圆成像时，当T/Do≤0.12时,相隔90°透照2次。当T/Do＞0.12时,相隔120°或60°透照3次。垂直透照重叠成像时，一般应相隔120°或60°透照3次。由于构造原因不能进展屡次透照时，可采用椭圆成像或重叠成像方式透照一次。鉴于透照一次不能实现焊缝全长的100%检测，此时应采取有效措施尽量扩大缺陷可检出范围，并保证底片评定范围内黑度和灵敏度满足要求。承压设备无损检测第二部分射线检测课件1131、理解：〔1〕双壁双影椭圆成像的实施原那么，即T〔壁厚〕≤8mm、g〔焊缝宽度〕≤Do/4〔Ø60×5mm〕〔2〕椭圆成像有困难一般是指焦距不满足要求。〔3〕小径管的透照次数与管外径和壁厚有关，与检测技术级别无关〔4〕规定小径管的透照次数的主要目的是控制透照厚度比〔5〕构造：一般系指排管或盘管2、应用：〔1〕为控制影像的开口宽度应采用偏心距法〔2〕扩大缺陷可检出范围的有效措施一般包括：双胶片技术、适当提高管电压、窗口加滤波板3、注意：当Do≤20mm、T≥8mm、g＞Do/4重点检查根部裂纹或未焊透时应采用垂直透照1、理解：〔1〕双壁双影椭圆成像的实施原那么，即T〔壁厚〕≤1144.2射线能量

对截面厚度变化大的承压设备，在保证灵敏度要求的前提下，允许采用超过图1规定的Ｘ射线管电压。但对钢、铜及铜合金材料，管电压增量不应超过50kV；对钛及钛合金材料，管电压增量不应超过40kV；对铝及铝合金材料，管电压增量不应超过30kV。4.2射线能量

1151、理解：〔1〕不同材料、不同透照厚度允许采用的最高Ｘ射线管电压与检测技术级别无关〔2〕控制Ｘ射线管电压的目的是保证底片的比照度，防止影响小缺陷的检出率。〔3〕截面厚度变化大〔以AB级T3类胶片为基准，如较厚部位黑度为2.0，而较薄部位的黑度大于4.0〕2、应用：〔1〕在能穿透工件的前提下，应尽量选择较低的KV值〔2〕对截面厚度变化大的承压设备，适当提高管电压、利用中心指示器使射线束中心对准较厚部位、采用双胶片技术、补偿技术3、注意：选择能量时必须考虑穿透厚度。1、理解：〔1〕不同材料、不同透照厚度允许采用的最高Ｘ射线管1161、理解：〔1〕鼓励和提倡采用源在内中心透照方式尽可能实现单壁透照，同时也有利于横向裂纹的检出〔2〕其他透照方式包括：双壁双影、双壁单影、内透法F＞R、F＜R〔3〕经合同各方同意的主要目的是对‘放宽最小透照厚度’要慎重〔4〕其他透照方式‘放宽最小透照厚度’与技术级别有关〔仅限于A级AB级〕2、应用：〔1〕采用Ir-192源中心透照时最小透照厚度可为10mm，且不用合同各方同意。如最小透照厚度小于10mm时，即使合同各方同意也不能实施。采用其他透照方式当透照厚度小20mm时，应经合同各方同意。如最小透照厚度小于10mm时，即使合同各方同意也不能实施。1、理解：〔1〕鼓励和提倡采用源在内中心透照方式尽可能实现单117〔2〕采用Se-75源中心透照时最小透照厚度可为5mm，且不用合同各方同意。如最小透照厚度小于5mm时，即使合同各方同意也不能实施。采用其他透照方式当透照厚度小10mm时，应经合同各方同意。如最小透照厚度小于5mm时，即使合同各方同意也不能实施。〔3〕有效补偿措施包括：高类别的胶片、适当提高底片黑度、提高增感屏的厚度、散射线的屏蔽。3、注意：〔1〕最小透照厚度以公称厚度计算。〔2〕合同各方同意：一般指在施工方案上或工艺文件上有甲方签字认可，并存档。〔2〕采用Se-75源中心透照时最小透照厚度可为5mm，且不1184.3射线源至工件外表的最小距离

－A级射线检测技术：f≥7.5d·b2/3－AB级射线检测技术：f≥10d·b2/3－B级射线检测技术：f≥15d·b2/3图2是A级和B级射线检测技术确定f的诺模图，图3是AB级射线检测技术确定f的诺模图。有效焦点尺寸d按附录E〔标准性附录〕的规定计算。4.3射线源至工件外表的最小距离

1191、理解：〔1〕确定射线源至工件外表的最小距离与检测技术级别有关。〔2〕鼓励和提倡采用内透法特别是中心内透法。表达了采用单壁透照的原那么。减少透照厚度，有利与检验缺陷；减少照射角，有利裂纹检出。2、应用：〔1〕由诺模图中可直接得出射线源至工件外表最小距离〔2〕工件外表至胶片的距离应根据透照方式确定，同时应考虑焊缝余高和垫板〔双壁单影、单壁单影〕的厚度3、注意：由诺模图中给出的数据是射线源至工件外表的最小距离。1、理解：〔1〕确定射线源至工件外表的最小距离与检测技术级别1204.4曝光量

4.4曝光量

1211、理解：〔1〕曝光量的大小与焦距有关〔2〕曝光量的选择与检测技术级别有关〔3〕采用γ射线源透照时，在某一时段焦距是在不断变化，为保证底片质量，从而确定了总的曝光时间2、应用：以AB级为例：当焦距700mm时，曝光量应大于或等于15mA·min、当焦距大于700mm时，曝光量应大于15mA·min、当焦距小于700mm时，曝光量可小于或等于15mA·min、焦距改变时按平方反比定律对曝光量的推荐值进展换算。3、注意：对小口径薄壁管采用γ射线源透照时，强度不宜太大1、理解：〔1〕曝光量的大小与焦距有关1224.5曝光曲线

4.5曝光曲线

1231、理解：〔1〕曝光曲线是针对X射线机〔2〕每台X射线机必须有曝光曲线且不能混用〔3〕射线设备重要部件是指X射线管和高压包2、应用：〔1〕曝光曲线横坐标上的厚度应是穿透厚度〔2〕当实际拍片的条件与制作曝光曲线的条件不一致时，必须对曝光曲线作相应的修正。3、注意：曝光曲线的校验日期〔至少每年一次〕1、理解：〔1〕曝光曲线是针对X射线机1244.6无用射线和散射线屏蔽

检查背散射防护的方法是：在暗盒反面贴附“B〞铅字标记，一般B铅字的高度为13mm、厚度为1.6mm,按检测工艺的规定进展透照和暗室处理。假设在底片上出现黑度低于周围背景黑度的“B〞字影像，那么说明背散射防护不够,应增大背散射防护铅板的厚度。假设底片上不出现“B〞字影像或出现黑度高于周围背景黑度的“B〞字影像，那么说明背散射防护符合要求。4.6无用射线和散射线屏蔽

1251、理解：〔1〕金属增感屏、铅板、滤波板、准直器等是屏蔽和控制散射线的主要器件〔2〕屏蔽和控制散射线与检测技术级别无关〔3〕背散射检查的前提条件〔初次制定的检测工艺或当在使用中检测工艺的条件、环境发生改变〕2、应用：对不是初次制定的检测工艺或在使用中检测工艺的条件、环境未发生变化时，不用每次都进展背散射检查3、注意：在薄工件或不用增感屏时，有时会出现黑度高于周围背景黑度的“B〞字影像1、理解：〔1〕金属增感屏、铅板、滤波板、准直器等是屏蔽和控1264.7像质计的使用

4.7像质计的使用

127a)单壁透照规定像质计放置在源侧。双壁单影透照规定像质计放置在胶片侧。双壁双影透照像质计可放置在源侧，也可放置在胶片侧。b)单壁透照中，如果像质计无法放置在源侧，允许放置在胶片侧。c)单壁透照中像质计放置在胶片侧时，应进展比照试验。比照试验方法是在射源侧和胶片侧各放一个像质计，用与工件一样的条件透照，测定出像质计放置在源侧和胶片侧的灵敏度差异，以此修正像质指数规定，以保证实际透照的底片灵敏度符合要求。d)当像质计放置在胶片侧时，应在像质计上适当位置放置铅字“F〞作为标记，F标记的影像应与像质计的标记同时出现在底片上，且应在检测报告中注明。a)单壁透照规定像质计放置在源侧。双壁单影透照规定像质计放128a)环形对接焊接接头采用源置于中心周向曝光时，至少在圆周上等间隔地放置3个像质计;b)球罐对接焊接接头采用源置于球心的全景曝光时，至少在北极区、赤道区、南极区附近的焊缝上沿纬度等间隔地各放置3个像质计，在南、北极的极板拼缝上各放置1个像质计;c)一次曝光连续排列的多张胶片时，至少在第一张、中间一张和最后一张胶片处各放置一个像质计。承压设备无损检测第二部分射线检测课件1291、理解：〔1〕在像质计摆放原那么中对1/4处是一个相对概念〔2〕根据透照方式的不同规定了像质计应的摆放位置〔3〕规定了允许减少的三种情况〔环形焊缝周向曝光：≥3；连续多张一次曝光：≥3；球：≥3×3＋2〕〔4〕小径管即可以选用通用线型像质计也可以选用专用线型像质计〔5〕像质计的观察一般在母材上而不是在焊缝上。〔考虑深槽焊〕〔6〕“F〞标记的影像应与像质计的标记同时出现在底片上〔像质计的标记是指像质计上的标准号〕2、应用：〔1〕只有在单壁透照，象质计放在胶片测时才进展比照试验，其他方式均不用做比照试验。〔2〕像质计可放置在源侧，也可放置在胶片侧仅限于小径管双壁双影时使用〔3〕“F〞标记一般应放置在像质计标识的右上角。〔4〕当焊缝宽度较大时应加长金属丝的长度，或适当移动像质计的位置。〔5〕当象质计放在胶片测时，应在检验报告像质计灵敏度一栏中注明1、理解：〔1〕在像质计摆放原那么中对1/4处是一个相对概念130注意：〔1〕双壁双影最大透照厚度上限；A级为54mm、AB为54mm、B级为56mm〔表6〕〔2〕小径管使用专用像质计时要看到2根注意：〔1〕双壁双影最大透照厚度上限；A级为54mm、AB为1314.8标记

4.8标记

1321、理解：〔1〕未对返修标记,扩大检测比例的扩大检测标记作出统一规定。〔2〕搭接标记可以用“↑〞表示也可以用其他符号表示〔如1、2、或A、B、C〕〔3〕〔3〕根据射线源、工件、胶片的相互位置按附录G规定放置搭接标记。2、应用：〔1〕应在工艺文件中对返修标记、扩大检测标记以及搭接标记的符号作出明确规定。〔2〕小径管双壁双影或垂直透照不用搭接标记。〔3〕除中心100％透照或连续多张一次曝光外，否那么每张底片上均应有中心标记。〔Ø20mm以下小径管除外〕3、注意：不是100％透照的焊接接头也要放置搭接标记。〔有效区段标记〕1、理解：〔1〕未对返修标记,扩大检测比例的扩大检测标记作出1334.9胶片处理

4.9胶片处理

1341、理解：〔1〕手工冲洗方式处理是指槽洗不是盘洗〔2〕推荐采用自动冲洗方式处理的目的是尽量防止采用增加或减少显影时间来控制底片的黑度。2、应用：在工艺文件中要明确胶片处理的方式和处理的条件。3、注意：采用自动洗片机时要经常清洗防止产生划伤。1、理解：〔1〕手工冲洗方式处理是指槽洗不是盘洗〔2〕1354.10评片要求

当底片评定范围内的黑度D≤2.5时，透过底片评定范围内的亮度应不低于30cd/m2；当底片评定范围内的黑度D＞2.5时,透过底片评定范围内的亮度应不低于10cd/m2。4.10评片要求

1361、理解：增加评片暗适应过程规定的目的是光强的突然变化会使人的视觉灵敏度下降从而造成评片时的漏检2、应用：〔1〕评片室不能全黑，一般要等于或略低于透过底片光的亮度。〔2〕观片灯的亮度必须可以调节〔3〕观片灯应有足够的照明区一般是300×80mm〔4〕要用亮度度计测定透过底片后，可见光的强度是否到达标准的要求。3、注意：对低合金高强钢要特别注意热影响区的观察。1、理解：增加评片暗适应过程规定的目的是光强的突然变化会使人1374.11底片质量

A级：1.5≤D≤4.0；AB级：2.0≤D≤4.0；B级：2.3≤D≤4.0。用X射线透照小径管或其他截面厚度变化大的工件时，AB级最低黑度允许降至1.5；B级最低黑度可降至2.0。采用多胶片方法时，单片观察的黑度应符合以上要求。双片叠加观察仅限于A级，叠加观察时，单片的黑度应不低于1.3。4.11底片质量

1382、应用：〔1〕评片时每张底片均应测定其黑度值〔2〕黑度一般测三点即两搭接标记的焊缝上各测一点，焊缝中心靠近焊缝母材部位测一点。〔3〕小径管无论是双壁双影或垂直透照黑度均可降至1.5〔X射线、AB级〕3、注意：〔1〕AB级、B级不能采用双片观察承压设备无损检测第二部分射线检测课件139〔2〕小径管只有在黑度大于1.5以上的区域是有效评定范围〔X射线、AB级〕〔2〕小径管只有在黑度大于1.5以上的区域是有效评定范围〔X140单壁透照、像质计置于源侧时应符合表5的规定；双壁双影透照、像质计置于源侧时应符合表6的规定；双壁单影或双壁双影透照、像质计置于胶片侧时应符合表7的规定。单壁透照、像质计置于源侧时应符合表5的规定；双壁双影透1411、理解：底片的像质计灵敏度不仅与检测技术级别有关，而且还与透照方式、公称厚度、透照厚度有关。2、应用：〔1〕除单壁透照像质计放在胶片侧外，其他形式的底片像质计灵敏度均可从表中查出〔2〕底片评定范围以外的伪缺陷不属于底片质量不合格的依据。3、注意：〔1〕当对接接头两边的公称厚度不等时以较薄为准。〔2〕底片的像质计灵敏度不能按穿透厚度计算。1、理解：底片的像质计灵敏度不仅与检测技术级别有关，而且还与1425承压设备熔化焊对接焊接接头射线检测质量分级

5.1钢、镍、铜制承压设备熔化焊对接焊接接头射线检测质量分级本条规定适用于厚度为2mm～400mm，材质为碳素钢、低合金钢、奥氏体不锈钢、镍及镍基合金制承压设备，以及厚度为2mm～80mm铜及铜合金制承压设备的熔化焊对接焊接接头射线检测的质量分级。管子和压力管道环向对接焊接接头射线检测质量分级按照第6条的规定执行

5承压设备熔化焊对接焊接接头射线检测质量分级

5.11431、理解：〔1〕必须是对接接头〔2〕适用范围和厚度〔碳素钢、低合金钢、奥氏体不锈钢、镍及镍基合金、铜和铜合金。厚度2mm～400mm、2mm～80mm。2、应用：凡不在本标准规定的范围之内，均不能按本标准进展质量分级。3、注意：厚度是指母材的公称厚度。1、理解：〔1〕必须是对接接头〔2〕适用范围和厚度〔碳素钢、144对接焊接接头中的缺陷按性质可分为裂纹、未熔合、未焊透、条形缺陷和圆形缺陷五类。根据对接接头中存在的缺陷性质、数量和密集程度，其质量等级可划分为Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ级。承压设备无损检测第二部分射线检测课件1451、理解：〔1〕特种设备对接接头内的缺陷分为5种即裂纹、未熔合、未焊透、条形缺陷和圆形缺陷。〔2〕以对接接头中存在缺陷的性质、数量和密集程度进展质量分级与技术级别无关。2、应用：〔1〕圆形缺陷评定区的尺寸要根据公称厚度确定。〔2〕在确定圆形缺陷严重部位的数量时，评定区应与焊缝平行。〔3〕圆形缺陷的长径大于T/2时应注明其尺寸3、注意：必须与圆形缺陷评定区边界限相割的缺陷才能划入评定区内1、理解：〔1〕特种设备对接接头内的缺陷分为5种即裂纹、未熔146T≤5mm的Ⅱ级对接焊接接头，不计点数的缺陷在圆形缺陷评定区内不得多于10个，超过时对接焊接接头质量等级应降低一级。

T≤5mm的Ⅱ级对接焊接接头，不计点数的缺陷在圆形缺陷评定1471、理解：〔1〕圆形缺陷放宽的原那么〔2〕致密性要求高的对接焊接接头是指一旦泄漏将会发生起火、爆炸或严重污染环境的焊接接头。〔3〕制造方底片评定人员：〔包括检验检测，设备制造或安装单位的评片人员〕2、应用：〔1〕圆形缺陷的放宽不能是普遍现象只能是个别现象，如果对圆形缺陷放宽应在检测报告的附件中说明圆形缺陷的实际点数，以及放宽的理由和依据。〔2〕只有对薄板焊接接头评定时当圆形缺陷的黑度明显大于母材的黑度时才能定义为深孔〔并在报告中注明〕3、注意：监检人员以及第三方抽检一般不考虑将圆形缺陷的黑度作为评级的依据。1、理解：〔1〕圆形缺陷放宽的原那么〔2〕致密性要求高的对接148条形缺陷按表12的规定进展分级评定。条形缺陷按表12的规定进展分级评定。1491、理解：〔1〕条形评定区的宽度与母材的公称厚度有关〔T≤25mm.4mm、100mm≥T＞25mm.6mm、T＞100mm.8mm〔2〕对条形缺陷的累计长度规定了最小值〔3〕T为公称厚度2、应用：〔1〕当测定条形缺陷的累计长度时，条形评定区应与焊缝平行〔２)应用条形评定区的目的是确定当底片上有多处条形缺陷时，根据间距大小确定是否为一组或两组〔3〕凡在同一直线的条状缺陷应根据间距的情况是否按单个条状缺陷处理.〔相邻缺陷的间距大于较短缺陷时除外〕图1、23、注意：当母材公称厚度不等时取薄板的厚度值。1、理解：〔1〕条形评定区的宽度与母材的公称厚度有关〔T≤21501、理解：只有在圆形缺陷评定区内存在条状缺陷时才进展综合评级。2、应用