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文档简介
ABB硅表日常维护和故障排除测量原理Navigator600二氧化硅分析仪是一种高级分析仪,用于测量发电和过程工业中的去离子水的二氧化硅水平对样品中二氧化硅的测量涉及按照特定顺序以及恒定的温度条件,在样品中添加各种化学试剂溶液。结果得到具有特殊颜色的化学络合溶液。这种有色络合物的吸光率与原始样品中的二氧化硅浓度成正比,因此可以通过光学方法进行测量。设备名词解释“Calibration&Maintenance”(校验与维护)“BaselineCalibration”(基线校验)“ReplaceAllReagentSolutions”(更换所有试剂溶液)“ReplaceCleaningSolution”(更换清洗液)“ReplaceSecondaryCal.Solution”(更换辅助校验溶液)“SolutionReplacement”(溶液更换)“ZeroCal.”(零点校验)“DiagnosticInformation”(诊断信息)“ManualTestSettings”(手动测试设定)发生二次校验故障,因为校验斜率小于或大于程序允许极限1.在“Calibration”(校验)页面,检查二次校验值是否输入正确。2.重新制备二次校验标准溶液。如有可能,采用数值更高的溶液,因为这比较容易制备,不易出错。3.用新的一批溶液更换试剂,特别是当更换试剂并首次校验后出现本消息时(仅适用于低校验斜率)上次零点校验时产生的零点偏移参数超出报警极限值。自动开始系统清洗,并再次进行零点校验。如第二次零点校验后仍有本消息:1.检查“AuditLog”(审核日志),查看是否在更换试剂后进行了基线校验。如未进行,则进行基线校验。2.在“CalibrationandMaintenance”(校验与维护)级别,选择“ManualTestSettings”(手动测试设定)、“TestValves”(测试阀),并打开“ZeroCal.”(零点校验)阀(把参数设为“ON”)检查主板上的LED是否亮起,且阀门打开时是否有滴答声。所有样品均用完(单/多流路)分析仪无法检测到有样品流入分析仪1如缺少样品15分钟以上,监视器会自动关机。2恢复提供样品时-如缺少样品不足15分钟,监视器会继续进行测量。3恢复提供样品时-如缺少样品1天以内,监视器会自动重启,并有一个恢复期4恢复提供样品时-如缺少样品1天以上,监视器会在恢复在线状态之前自动进行化学清洗。
清洗液用完清洗液瓶已空。1.更换清洗液。2.在“Calibration&Maintenance”(校验与维护)级别,选择“SolutionReplacement”(更换溶液),并在“ReplaceCleaningSolution(更换清洗液)参数处按键,以确认已更换溶液。缺少样品n1.从采样程序中除去所示的流路,直至分析仪检测到样品被恢复。缺少二次校验溶液二次校验溶液瓶已空。1.更换二次校验溶液。2.在“Calibration&Maintenance”(校验与维护)级别,选择“SolutionReplacement”(更换溶液),并在“ReplaceSec.CalibrationSolution(更换二次校验溶液)参数处按键,以确认已更换溶液缺少零点校验溶液零点校验溶液瓶已空。1.更换零点校验溶液。2.在“Calibration&Maintenance”(校验与维护)级别,选择“SolutionReplacement”(更换溶液),并在“ReplaceZeroCalibrationSolution(更换零点校验溶液)参数处按键,以确认已更换溶液。校验
基线(2点,重设零点偏移):执行零点校验以及二次校验。计算出新的校验斜率,而零点偏移被重设为0.0ppb。之后是恢复期。更换试剂后或执行年度维护后必须进行基线校验。显示一个进度条,说明该操作所需的最长时间。零点(1点)Zero(1point)执行零点校验。测量值达到稳定后,计算出新的零点偏移。之后是恢复期。显示一个进度条,说明该操作所需的最长时间。二次校验点(1点)Secondary(1point)只执行二次校验。测量值达到稳定后,计算出新的校验斜率。之后是恢复期。显示一个进度条,说明该操作所需的最长时间。零点及二次校验点(2点)Zero&Secondary(2point)执行零点校验以及二次点校验。计算出新的零点偏移以及校验斜率。之后是恢复期。显示一个进度条,说明该操作所需的最长时间。自动化学清洗关于如何设定自动清洗日程的持续时间和频率,参见“操作-校验与维护”年度维护:建议在运行1年后更换泵管及泵绞盘(由泵年度整修组件包提供)。这一组件包包括了建议用于年度更换操作的所有部件。本年度整修可以确保分析仪的常年可靠运行。组件包使用后应重新定购,从而在下一年的运行中随时可以使用组件包中的物品。组件包包含:
一组泵管。
一组泵绞盘。
一套过滤器。
定期直观检查用肉眼定期检查分析仪,以确保系统正常运行,并检查读数的完整性:检查泄漏情况,特别是在样品及排放管路接头附近。检查对常压头单元的样水供给以及排放口的流出,以确认样品流动情况。检查试剂瓶、校验溶液瓶及清洗液瓶中的液位。检查所有管路及液体处理部件是否有泄漏及变质。检查分析仪显示屏上的故障指示。2单流路维护模式这一模式用于检查分析仪的基本性能,例如响应或漂移,而不必等待通常的流路更新3断电对分析仪的影响分析仪在突然断电后自动采取的动作取决于断电时间的长短以及断电时正在发生的情况。4简单检查注意:在对多流路型号进行测试前,必须只选择一个流路。4.1读数不稳或跳动检查/症状肉眼检查气泡.检查反应块以及通向光学单元的管道中的气泡,如发现气泡,检查其是否在样品管路中,或来自一种或多种试剂。1.来自样品管路:a.检查常压头单元与泵组件的管道接头-按照需要上紧。b.检查电磁阀,并上紧背面的螺丝。2.来自试剂管路:a.检查泵管接头。b.检查试剂瓶盖。3.在反应块和管道中:a.如反应块和管道中的气泡平稳流动,原因可能是一个或多个管道接头的密封不良。b.按照上述方式上紧管道接头。如问题依然存在,更换受到影响的管道组件。4.如气泡呈现脉动:a.检查是否有堵塞或部分堵塞的情况。堵塞可能是由过度上紧的管道接头所引起的。b.检查受到影响的样品或试剂管路中所有接头的上紧程度。4.4检查光学单元如分析仪不能正确地执行校验及正常测量程序,按照诊断/纠正程序检查光学单元的输出mV值过大措施如需检查mV值过大情况:1.按住并选择“诊断信息”,“测量状态”。显示“测量状态”窗口,并显示比色池和比色池参比传感器的mV信号值。2.如mV值不稳、并在短期内移动超过±10mV,比色池内可能有气泡产生。3.如确认比色池内有气泡,检查管道接头如这一步骤不能解决问题,应进行人工系统清洗光学光电池如没有响应或校验失败,按照下列步骤检查光学光电池的输出:1.清空比色池中已反应的化学物质:a.按键。b.选择“校验与维护”。c.选择“手动测试设定”。d.选择“测试泵”。e.关闭试剂泵,并把样品泵的速度提高到5rpm。f.用提高后的速度使样品泵运行5分钟。g.5分钟后,把样
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