无损检测通用工艺规程

无损检测通用工艺规程无损检测通用工艺规程无损检测通用工艺规程xxx公司无损检测通用工艺规程文件编号：文件日期：修订次数：第1.0次更改批准审核制定方案设计，管理制度无损检测通用工艺规程编制：审核：批准：日期：目录第1章编制说明…………...3第2章射线检测通用工艺规程………..….5第3章超声波检测通用工艺规程………….21第1节承压设备对接焊接接头超声检测及质量分级…….24第2节承压设备钢板超声检测及质量分级……………….29第3节承压设备用钢锻件超声检测及质量分级………….32第4章磁粉检测通用工艺规程…………….35第5章渗透检测通用工艺规程……………39第6章工艺卡附表………….44第1节射线检测工艺卡…………………….44第2节超声检测工艺卡……………………45第3节磁粉检测工艺卡……………………46第4节渗透检测工艺卡……………………47第一章编制说明范围本规程规定了对金属原材料、零部件和焊接接头进行射线检测、超声检测、磁粉检测、渗透检测的基本要求。本规程适用于本公司钢制压力容器产品的无损检测工作。引用标准和编制依据下列标准包含的条文，通过在本规程中引用而构成本规程的条文，在规程出版时，所有版本均为有效。所有标准都会被修订，使用本规程的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。压力容器安全技术监察规程（1999年版）GB150-1998《钢制压力容器》GB151-1999《管壳式换热器》JB/～《承压设备无损检测》《特种设备无损检测人员资格考核实施细则》《放射卫生防护基本标准》Q/《质量保证手册》人员资格及职责从事无损检测的人员必须持有国家质量监察机构颁发的并与其工作相适应的资格等级证书。从事无损检测的人员校正视力不得低于,从事磁粉、渗透检测工作人员，不得有色盲、色弱。检测人员严格执行有关条例、规程、标准和技术规范，保证工作质量。评片人员的视力应每年检查一次,要求距离400mm能读出的一组印刷体字母。检测操作人员必须按委托单要求并同时根据检测工艺规程进行操作，做好检测记录及签发检测报告。无损检测责任工程师的职责见《岗位职责》。无损检测方法使用原则射线和超声检测主要用于承压设备的内部缺陷的检测；磁粉检测主要用于铁磁性材料制承压设备的表面和近表面缺陷的检测；渗透检测主要用于非多孔性金属材料和非金属材料制承压设备的表面开口缺陷的检测。铁磁性材料表面检测时，宜采用磁粉检测。当采用两种或两种以上的检测方法对承压设备的同一部位进行检测时，应按各自的方法评定级别。采用同种检测方法按不同检测工艺检测时，如果检测结果不一致，应以危险度大的评定级别为准。第2章射线检测通用工艺规程适用范围本规程适用于母材厚度2-400mm碳素钢、低合金钢、不锈钢材料等制成的承压设备焊缝及钢管对接环焊缝的射线检测。射线检测技术等级选择应符合制造、安装的有关标准及设计图样规定。当技术条件没有注明时，承压设备及受压元件焊接接头的射线检测，一般采用NB/标准AB级射线检测技术。其它零部件的射线检测可参照本规程进行。检测时机当被探工件表面温度＞40℃有延迟裂纹倾向的材料至少应在焊接完成24小时后才能进行检测。表面要求焊缝及离其边缘30mm范围内不能有掩盖缺陷或与之相混淆的表面缺陷,如弧坑、凹陷、焊瘤、高度突变的焊波、飞溅、溶渣，严重的机械损伤。否则检测人员有权要求委托单位作适当的修整。焊接接头须经焊接检查员检查合格，并在检测委托单上签名确认。检测设备及仪器一般情况下尽量选用χ射线探伤机透照，且至少应有10%的管电压余量,当χ射线探伤机穿透力难以达到要求或摆放有困难时，可选用γ射线探伤机透照。观片灯的最大亮度应能满足评片的要求。黑度计可测的最大黑度应不小于，测量值的误差应不超过±。每一班工作前应进行验证，每6个月参照NB/附录B的规定校验一次，并作好记录。胶片和增感屏的准备A级和AB级射线检测技术应采用T3类或更高类别的胶片，B级射线检测技术应采用T2类或更高类别的胶片。用X射线探伤机透照时，一般采用前屏为,后屏为的铅箔增感屏,增感屏表面应平滑清洁、无灰尘、无污染、无划伤。切片时把胶片与夹纸一起取出放在切片板上量好尺寸进行切片。将去掉夹纸的胶片放在两增感屏之间一起插入暗袋（注意前后屏），套好袋盖。像质计的选用及放置线型像质计的型号和规格应符合JB/T7902的规定，JB/T7902中未包含的丝号、线径等内容，应符合HB7684的有关规定。像质计按透照厚度选用NB/表1、表2、表3选用表1像质计灵敏度值单壁透照、像质计置于源测应识别丝号（丝径，mm）公称厚度（T）范围，mmA级AB级B级18≤17≤＞－16≤＞－＞4－615＞＞－＞6－814＞＞－7＞8－1213＞~7＞7－10＞12－2012＞710＞10－15＞20－3011＞1015＞15－25＞30－3510＞1525＞25－32＞35－459＞2532＞32－40＞45－658＞32－40＞40－55＞65－1207＞40－55＞55－85＞120－2006＞55－85＞85－150＞200－3505＞85－150＞150－250＞3504＞150－250＞250－3503＞250－350＞3502＞350表2像质计灵敏度值双壁双影透照、像质计置于源测应识别丝号（丝径，mm）透照厚度（W）范围，mmA级AB级B级18≤17≤＞－16≤＞－＞4－615＞－＞－＞6－914＞－＞－7＞9－1513＞－7＞7－11＞15－2212＞7－11＞11－15＞22－3111＞11－15＞15－22＞31－4010＞15－22＞22－32＞40－489＞22－32＞32－44＞48－568＞32－44＞44－547＞44－54表3像质计灵敏度值双壁单影或双壁双影透照、像质计置于胶片测应识别丝号（丝径，mm）透照厚度（W）范围，mmA级AB级B级16≤＞－＞4－615＞－＞－＞6－1214＞－＞－11＞12－1813＞－11＞11－17＞18－3012＞11－17＞17－26＞30－4211＞17－26＞26－39＞42－5510＞26－39＞39－51＞55－709＞39－51＞51－64＞70－1008＞51－64＞64－85＞100－1807＞64－85＞85－125＞180－3006＞85－125＞125－225＞3005＞125－225＞225－3754＞225－375＞3753＞375不同材料的像质计适用的工件材料范围应符合下表的规定像质计材料代号FeNiAl像质计材料碳钢或奥氏体不锈钢镍-铬合金工业纯铝适用材料范围碳钢、低合金钢、不锈钢镍及镍合金铝及铝合金像质计一般应放置在射源一侧被检焊接接头的一端（被检区长度的1/4部位），金属丝应横跨焊缝并与焊缝方向垂直，细丝置于外侧。一张胶片同时透照多条焊接接头时，像质计应放置在透照区最边缘的焊缝处。单壁透照规定像质计放置在源侧。双壁单影透照规定像质计放置在胶片侧。双壁双影透照规定像质计可放置在源侧，也可放置在胶片侧。单壁透照中，如果像质计无法放置在源侧，允许放置在胶片侧，但应进行对比试验，以保证实际使实际的底片灵敏度符合要求。像质计放在胶片侧时，应附加“F”标记以示区别。像质计的数量a.平直纵缝透照每张片至少一个。b.弧形纵缝透照每段至少三个（分别置于二端及中部）。c.环缝中心法透照，至少在内壁上等间隔放置三个。d.环缝偏心法透照，每段至少三个（分别置于二端及中部）。、射线能量、根据被检工件的厚度、材质选用不同的曝光参数，曝光参数应参照本机的曝光曲线选取，不允许用提高管电压缩短曝光时间的方法照相，或凭经验任意选取曝光参数。χ射线照相应尽量选用较低的管电压。在采用较高管电压时，应保证适当的曝光量，应符合本规程的规定。NB/中规定了不同透照厚度允许的χ射线最高透照管电压.。对截面厚度变化大的承压设备，在保证灵敏度要求的前提下，允许采用超过规定的χ射线管电压，但对钢管电压增量不应超过50KV。、射线源至工件表面的最小距离、所选用的射线源至工件表面的距离f应满足下述要求：AB级射线检测技术：f≥10d·b2/3B级射线检测技术：f≥15d·b2/3、采用源在内中心透照方式周向曝光时，只要得到的底片质量符合NB/的要求,f值可以减小,但AB级：f≥5d·b2/3,B级：f≥·b2/3。、采用源在内单壁透照方式曝光时，只要得到的底片质量符合NB/的要求，f值可以减小,但AB级：f≥8d·b2/3,B级：f≥12d·b2/3。、曝光量、χ射线照相，当焦距为700mm时，曝光量的推荐值为：AB级不小于15mA·min；B级不小于20mA·min。当焦距改变时可按平方反比定律对曝光量的推荐值进行换算。但曝光时间不小于2min。、采用γ射线源透照时，总的曝光时间应不少于3min。、曝光曲线、对每台在用射线设备均应作出经常检测的曝光曲线，依据曝光曲线确定曝光参数。、制作曝光曲线所采用的胶片、增感屏、焦距、射线能量等条件以及底片应达到的灵敏度、黑度等参数均应符合NB/的规定。、对使用中的曝光曲线，每年至少应校验一次。射线设备更换重要部件或经较大修理后应及时对曝光曲线进行校验或重新制作。标记定位标记a.包括中心标记（）和搭接标记（）。当抽查时搭接标记称为有效区段标记。b.检测范围标记(-)，当焊缝余高为零或平板状零件时使用。识别标记包括产品编号、检测编号、透照日期。其中检测编号由以下标记组成：a.焊缝编号标记用焊缝号表示。例如焊缝号为A8，则检测用A8表示。b.底片序号标记以每条焊缝为单位用阿拉伯数字表示，排在焊缝编号之后。c.扩检标记用Z表示，排在焊缝片号之后,用A8-3Z表示。d.返修标记用R及阿拉伯数字表示，数字指返修次数，排在底片序号之后。例如A8-3片位返修二次，检测编号用A8-3R2表示。背散射线确定标记“B”一般“B”铅字高度为13mm、厚度。标记放置与追踪a.透照小径管对接接头在焊缝旁放置出厂编号、检测编号、中心标记。见图a所示。产品编号像质计××××××××××检测编号中心标记焊缝图ab.透照其它焊接接头在焊缝旁放置出厂编号、试件编号（透照试件时）、检测编号、中心标记、搭接标记、每条焊缝第1号片或所有片上还须放置透照日期。见图b所示。拍片日期焊工代号像质计××××年×月×日×××××↑××××××××××↑搭接标记产品编号中心标记检测编号搭接标记图bc.对于纵焊缝，搭接标记及中心标记均应位于射线源侧的工件表面上，对于环焊缝，采用周向曝光时，搭接标记和中心标记既可置于工件内侧，也可置于工件外侧，当采用外透法，搭接标记和中心标记应放在射线源一侧，当采用双壁双影法时，搭接标记和标记应放在胶片一侧。d.“B”铅字在嚗光时贴到每个胶片暗盒的背面。e.上述标记均应落在底片上的适当位置，并离焊缝边缘至少5mm。搭接标记的摆放位置见NB/附录G。f.应在工件表面用钢印打上中心标记及底片序号，以作为对每张底片定位的追踪依据。不适合打钢印时，用详细透照部位图标注。贴片、屏蔽、对位用磁性贴片架或其它工具贴片,尽量保证整个暗盒与被检焊缝紧贴(但不得使用胶片因受压受折而损伤)。应使铅中心标记与容器上的划线中心符号在同一侧重叠，也应使胶片暗盒中心对准容器壁上的中心符号放置。必要时暗袋背面衬以1mm为限制射线束照射范围，在射线窗口应用铅光阑套屏蔽多余射线，并注意铅窗口的方向与被检焊缝平行。射线束中心应对准焊缝透照区中心并尽可能使焦点，透照区中心和容器圆心在一直线上（双壁单影法除外）。周向机中心内透照一次成像时，X射线机的焦点应置于筒体的中心轴线上。射线束应指向被检部位的中心，并在该点与被检区平面或曲面的切面相垂直。检测比例及部位检测比例按委托单位要求进行，并满足相应技术要求。局部检测的焊缝，检测部位由焊接检查员指定，若无指定则由检测人员根据实际情况选定。但对所有的交叉部位，以及拼接封头（管板）的对接接头，必须百分百检测。压力容器局部检测的焊缝，发现有超标缺陷时，应在该缺陷的延伸部位进行扩检，扩检长度为该焊缝长度的10%，且不小于250mm，如仍不合格，则对该焊缝进行100%检测。压力容器壁厚大于38mm(或≤38mm，但＞20mm且使用材料抗拉强度规定值下限≥540MPa布片规则透照方式根据工件尺寸、射线设备情况及现场条件，射线检测透照方式可在下列方式中选取：a.纵、环向焊接接头源在外单壁透照方式b.纵、环向焊接接头源在内单壁透照方式c.环向焊接接头源在中心周向透照方式d.环向焊接接头源在外双壁单影透照方式e.纵向焊接接头源在外双壁单影透照方式f.小径管环向焊接接头倾斜透照方式（椭圆成像）g.小径管环向焊接接头垂直透照方式（重叠成像）透照方法的选择应首先考虑缺陷的检出率，其次要考虑到工作效率，并应结合现场条件的可能而选用行之有效的透照方法。有条件许可的情况下，应首先考虑采用周向曝光，其次采用单壁单影法，对于射线源既可置于容器内，又可置于容器外的情况下，应优先采用内透法，在工件无法满足上述条件时，方可采用双壁透照技术。中心标记的方位同一部件所有纵缝及环缝在拍照时中心标记均应放置在同一方位的同一侧。全检焊缝布片a.全检纵缝的第1号片应从焊缝端头开始，从左到右按流水号布片（即中心标记纵向箭头指向焊缝，横向箭头指向右端，下同）。b.全检环缝的第1号片从交叉部位开始（没有交叉部位时应选焊缝旁有特别附件处，下同），顺时针方向按流水号布片；同一部件各条环缝的第1号片应尽量靠近同一直线。局部检测焊缝布片a.局部检测的纵缝必须拍到左右两端，并以左端为第1号片。b.局部检测的环缝应以交叉部位为第1号片，顺时针方向按流水号布片，并拍齐全部交叉部位；同一部件各条环缝的第1号片应尽量靠近同一直线。c.扩检时应在缺陷延伸部位（返修位置附近未拍片的部位）布片。当一次透照长度确定后依次划线,当最后一张底片长度不足时,拍片时应将最后一张底片的贴片位置紧接其前面的一张底片位置移动,重合一定区域,以确保最后一张底片仍出现整张底片的焊缝影像。不论检查比例如何，均应按100%检查划线，对直径较大或壁厚较厚的容器环焊缝划线时，应注意限制累积误差和内外中心线位置的重叠的准确性。一次透照长度L3一次透照长度应以透照厚度比K进行控制，透照厚度比应符合下表的规定。射线检测技术级别A级、AB级B级纵向焊接接头K≤K≤环向焊接接头K≤*K≤*对100mm＜D0≤400mm的环向焊接接头（包括曲率相同的曲面焊接接头），A级、AB级允许采用K≤。L3根据不同透照方式按以下公式计算（或根据NB/附录D）确定：a）纵缝一次透照长度的确定（K=）。一次透照长度L3=°即L3≤L1(应同时满足L1≥10dfL22/3,ug≤1/10L21/3);b)环缝单壁一次透照长度的规定：L3=πD0｛cos-1k-1-sin-1D0sin（cos-1k-1）/D0+2L1｝/180c）环缝双壁单影透照长度的规定：L3=πD0｛（cos-1k-1+sin-1D0sin（cos-1k-1）/2F-D0｝/180d)中心透照法时:等份环焊缝，一次透照长度为整条环焊缝长度。注：1、D0—————圆筒件外径2、L1—————焦点至工件的距离3、F—————焦点至胶片的距离4、L2—————工件表面至胶片的距离5、L3—————一次透照长度6、K—————焊缝透照厚度比（NB/要求）7、df—————焦点尺寸8、ug—————几何不清晰度透照条件满足时，应选用360×80mm胶片，L3取300mm。环缝透照尽量采用中心法。管子（筒体环焊缝）透照DN≤100以下管焊缝透照a）小径管（D0≤100mm）环向焊接接头同时满足壁厚T≤8mm及焊缝宽度g≤D04时应采用双壁双影法透照（椭圆成像），椭圆开口度应控制在1倍焊缝宽度左右；不满足上述条件或椭圆成像有困难时,可做垂直透照,此时可适当提高管电压。b）小径管（D0≤100mm）环向焊接接头100%检测，采用椭圆成像时,当T/D0≤时，相隔90°透照2次。当T/D0＞时，相隔120°或60°透照3次。重叠成像时，一般应相隔120°或60°透照3次。DN＞100管对接焊缝及环向焊接接头100%焊缝透照。透照几何参数见下对照表序号直径有效长度透照方式100%张数序号直径有效长度透照方式100%张数110850双壁单影7301800320单壁单影18213363双壁单影7311900320单壁单影19315977双壁单影7322000320单壁单影204219111双壁单影7332100320单壁单影215273145双壁单影6342200320单壁单影226325180双壁单影6352300320单壁单影237377220双壁单影6362400320单壁单影248426261双壁单影6372500320单壁单影259500322双壁单影5382600320单壁单影2610550172单壁单影10392700320单壁单影2711600183单壁单影11402800320单壁单影2812650193单壁单影11412900320单壁单影2913700203单壁单影11423000320单壁单影3014750213单壁单影11433100320单壁单影3115800222单壁单影12443200320单壁单影3216850231单壁单影12453300320单壁单影3317900239单壁单影12463400320单壁单影3418950247单壁单影12473500320单壁单影35191000255单壁单壁单影36201050263单壁单壁单影37211100267单壁单壁单影38221150277单壁单壁单影39231200283单壁单壁单影40241250290单壁单壁单影41251300296单壁单壁单影42261400308单壁单壁单影43271500319单壁单壁单影44281600320单壁单影16574500320单壁单影45291700320单壁单影17注：1）以上透照参数值是以F=700焦距透照作出。2）单壁单影未考虑壁厚。曝光操作和安全防护χ射线探伤机开机前应检查冷却系统,各电缆接头和接地状态是否良好,然后按使用说明书方法进行操作。曝光条件应根据透照几何参数参考设备的实测曝光曲线进行选择,χ射线照相应尽量选用较低的管电压。操作人员应填写好当班工作日记、设备运转记录、签上名字及注明日期安全防护a)凡是能在探伤室拍片的工件，一律要进入探伤室。b)需要在车间或室外拍片的较大工件，操作时应在射线源20米外进行，射线源方向30米以内禁止有人进入，并悬挂醒目的警告标志。c)操作人员工作时应佩带个人剂量报警仪和个人剂量计,应定期检查身体，若发现由射线源原因而引起的异常现象，应暂时脱离该工作岗位。检验程序(见流程图1)焊缝外观经焊接检验员检验合格后,由焊接检验员开出焊缝探伤委托单,送交探伤室。探伤室收到委托单后,对照工件是否相符,确认后方可探伤。、对下列情况应拒绝探伤1)、无申请书或申请书未经焊接检验员签字认可者；2)、返修无返修申请书，对于3次及以上返修无技术总工程师签字的批准手续者；3)、虽有焊接检验员签字手续，但在探伤进程中发现有超标外观缺陷影响正确评定底片者；4)、酸洗后或维修后容器内有介质未清洗排放干净者。每台产品的探伤底片均有初评、复评，对底片评定工作的质量，无损探伤责任工程师应进行抽查。对需要进行返修的焊缝由评片人员开出返修通知单送焊接检验员。暗室处理显影液、定影液配制应存放24小时后方可使用。显影液、定影液、停影液按胶片说明书配方配制。标准显影温度20±2℃标准显影时间5分钟，不得用短时显影，以免产生花纹，也不得用高温显影，以免药膜皱折、脱落、影纹粗糙。

显影过程中，洗片架应是上、下或前后经常移动，以保证显影作用均匀，特别是开始显影的一分钟内更需频繁移动。

在红灯下观察显影程度的次数应尽量减少（至多二次）距离不能过近，以免增加灰雾。

胶片显影完毕，应先作短时间的中间水洗（10秒），再放入停影液中20∽胶片在定影液中亦需经常晃动，定影时间为15分钟，未到通透时间不得开白灯。胶片在定影后应放入流动的清水冲洗30分钟。胶片冲洗完毕，应放在润湿105%脱水剂中润湿3秒，然后放入烘片箱进行烘片，注意烘片箱应从室温开始加热。底片烘干后，按产品编号，片号排列装袋。所有暗室处理直至干燥、排号装袋均须细心，谨慎操作台面器具应保持清洁，防止污染、擦伤，室内应保持通风良好。在洗片和分片装袋过程中，如发现有不符质量要求的底片，应及时通知摄片人员重照。暗室操作人员工作完毕后，应做好记录，签名，最后将底片等资料整理好，一起交初评人员。图1RT操作流程图推荐标准显影液配方水（40∽50℃）800毫升对甲氨基酚硫酸（米吐尔）4克无水硫酸钠（硫氧）65克对苯二酚（海得尔）10克无水碳酸钠（炭氧）45克溴化钾5克水加至（1000毫升）停显液配方冰醋酸98%15毫升

水加至1000毫升推荐定影液配方水（35∽50℃）600毫升硫代硫酸钠(即海波)240克冰醋酸98%15毫升硼酸克硫酸钾铝(明矾)15克水加至1000毫升配制显定影时,各种药品按配方顺序依次加入,前一种药液完全溶化后再加入后一种药品。底片质量底片评定范围内不应存在干扰缺陷影像识别的水迹、划痕、斑纹等伪缺陷影像。底片评定范围内的黑度D应符合下列规定：A级照相：≤D≤AB级照相：≤D≤B级照相：≤D≤用χ射线透照小径管或其它截面厚度变化大的工件时，AB级最低黑度可降至；B级最低黑度可降至。像质计像质计的选用及摆放正确。根据不同的透照方式，像质计灵敏度应符合NB/表5或表6或表7的规定。标记齐全每张底片上须有出厂编号或试件编号、检测编号、中心标记、搭接标记。每条焊缝第1号片还须有透照日期。焊缝余高为零时，还须有检测位置指示标记。以上标记放置离焊缝边缘至少5mm，且不应干扰有效评定范围内的影像。背散射B字的影像符合NB/标准第条要求。底片评定评定环境评片应在较暗的环境下进行,室内照明用光不得在底片表面产生反射。评定焊接质量前应按第条要求进行检查,凡不符合要求的底片均作废片,应及时通知重照。评片前，评片人的眼睛进行暗适应，从日光下进入评片室内至少适应10分钟，从普通室内进入评片室时，至少适应半分钟，若因更换评定的底片偶尔受到强光刺激，则需重新适应半分钟。评片前，评片人员应了解焊缝的坡口型式及尺寸、材质、热处理情况、焊接方法、产品结构、透照方式等情况。对超标缺陷应予“四定”：定性、定量、定级、定位，对不超标缺陷也应定性、定量和定级。当发生难以确定缺陷的真伪或对缺陷性质判断有困难时，评片人应依照底片对照该片容器相应部位仔细观察，必要时到透照现场观察，否则应重新拍片。对底片上线性影象应特别注意，即使其影像黑度较低，也不应轻易放过，应通过适当方法加以确认。缺陷等级评定对接焊缝的缺陷质量分级根据缺陷的性质和数量，将焊缝缺陷分为四个等级：Ⅰ级焊缝内不允许裂纹、未熔合、未焊透和条形缺陷存在。Ⅱ、Ⅲ级焊缝内不允许裂纹、未熔合、未焊透存在。焊缝缺陷超过Ⅲ级者为Ⅳ级。圆形缺陷的质量分级长宽比≤3的气孔、夹渣、夹钨为圆形缺陷。b)用评定区进行评定，评定区域的大小见表5，评定区选在缺陷最严重的部位，当缺陷在评定区边界线上时应把它划在评定区内计算点数。c)圆形缺陷分级见表5。表5圆形缺陷的质量分级评定mm×mm10×1010×20母材厚度T（mm）≤10＞10~15＞15~25＞25~50＞25~100等级Ⅰ12345Ⅱ3691215Ⅲ612182430Ⅳ缺陷点数大于Ⅲ级或缺陷长径大于1/2T注：当母材公称厚度不同时，取较薄板的厚度。d)缺陷尺寸按表6换成缺陷点数，如缺陷尺寸小于表7规定则该缺陷不参加缺陷评级。表6缺陷点数换算表缺陷长径mm＜1＞1~2＞2~3＞3~4＞4~6＞6~8＞8点数1236101525表7不计点数的缺陷尺寸母材厚度T缺陷长径≤25≤＞25-50≤＞50%Te）不计点数的缺陷在圆形缺陷评定区内不得多于10点，超过时对接焊接接头质量等级降低一级。f）对致密性要求高的对接焊接接头，应考虑将圆形缺陷的黑度作为评级的依据，当对接接头存在深孔缺陷时，其质量级别应评为Ⅳ级。条状缺陷的分级a)长宽比大于3的气孔、夹渣和夹钨定义为条形缺陷。b）条形缺陷分级见表8表8条形缺陷的质量分级级别单个条形缺陷最大长度一组条形缺陷累计最大长度Ⅰ不允许Ⅱ≤T/3（最小可为4）且≤20在长度为12T的任意选定条形缺陷评定区内，相邻缺陷间距不超过6L的任一组条形缺陷的累计长度应不超过T，但最小可为4。Ⅲ≤2T/3（最小可为6）且≤30在长度为6T的任意选定条形缺陷评定区内，相邻缺陷间距不超过3L的任一组条形缺陷的累计长度应不超过T，但最小可为6。Ⅳ大于Ⅲ级者注：1）“L”为该组条形缺陷中最长缺陷的长度，“T”为母材公称厚度，当母材公称厚度不同时取较薄板的厚度值。2）条形缺陷评定区是指与焊缝方向平行的、具有一定宽度的矩形区，T≤25mm，宽度为4mm；25mm＜T≤100m，宽度为6mm；T＞100mm，宽度为8mm。3）当两个或两个以上条形缺陷处于同一直线上、且相邻缺陷的间距小于或等于较短缺陷长度时，应作为1个缺陷处理，且间距也应计入缺陷的长度之中。综合评级在圆形缺陷评定区内，同时存在圆形和条形缺陷应各自评级，将级别之和减1作为最终级别。钢管环缝的缺陷等级评定根据缺陷性质和数量，将焊缝缺陷分为四个等级：a）Ⅰ级焊缝应无裂纹、未熔合、未焊透、条形缺陷、根部内凹、根部咬边。b）Ⅱ、Ⅲ级焊缝应无裂纹、未熔合、双面焊以及加垫板单面焊中的未焊透。圆形缺陷的评级a）长宽比≤3的气孔、夹渣和夹钨，为圆形缺陷；b）评定区10mm×10mmc）缺陷分级见表5条形缺陷的评级长宽比大于3的气孔、夹渣和夹钨，定义为条形缺陷，条形缺陷的分级见表8的规定。不加垫板单面焊的未焊透缺陷的分级评定。管外径D0＞100mm时，不加垫板单面焊未焊透缺陷按表9规定：表9级别未焊透最大深度，mm单个未焊透最大长度，mm（T为壁厚）未焊透累计长度mm与壁厚的比最大值Ⅰ不允许Ⅱ≤10%≤≤T/3(最小可为4)且≤20在任意6T长度区内应不大于T(最小可为4),且任意300长度范围内总长度不大于30Ⅲ≤15%≤≤2T/3(最小可为6)且≤30在任意3T长度区内应不大于T(最小可为6),且任意300长度范围内总长度不大于40Ⅳ大于Ⅲ级者注:对断续未焊透,以未焊透本身的长度累计计算总长度。管外径D0≤100mm时，不加垫板单面焊未焊透缺陷按表10规定表10级别未焊透最大深度，mm未焊透总长度与焊缝总长度的比与壁厚的比最大值Ⅰ不允许Ⅱ≤10%≤≤10%Ⅲ≤15%≤≤15%Ⅳ大于Ⅲ级者注:对断续未焊透,以未焊透本身的长度累计计算总长度。根部内凹各和根部咬边的分级管外径D0＞100mm时，不加垫板单向焊的根部内凹和根部咬边缺陷按表11规定表11外径D0＞100mm时根部内凹和根部咬边分级级别根部内凹和根部咬边最大深度，mm根部内凹和根部咬边累计长度，mm与壁厚的比最大值Ⅰ不允许Ⅱ≤15%≤在任意3T长度区内不大于T总长度不大于100Ⅲ≤20%≤Ⅳ大于Ⅲ级者注:对断续根部内凹和根部咬边,以根部内凹和根部咬边本身的长度累计计算总长度。管外径D0≤100mm时，不加垫板单向焊的根部内凹和根部咬边缺陷按表12规定表12外径D0≤100mm时根部内凹和根部咬边分级级别根部内凹和根部咬边最大深度，mm根部内凹和根部咬边最大总长度与焊缝总长度的比与壁厚的比最大值Ⅰ不允许Ⅱ≤15%≤≤30%Ⅲ≤20%≤≤30%Ⅳ大于Ⅲ级者注:对断续根部内凹和根部咬边,以根部内凹和根部咬边本身的长度累加计算总长度。综合评级在条形缺陷评定区内同时存在多种缺陷时，应进行综合评级。对各类缺陷分别评定级别，取质量级别最低的级别作为综合评级的级别；当各类缺陷的级别相同时，则降低一级作为综合评级的级别。资料整理和归档每台产品焊缝检验合格后，评片人员应按焊缝布片图整理该台产品的所有底片，底片应按顺序号摆放，当有返修时，返修片应与原片放在一起，相邻两片之间应用纸隔开。报告的内容应包括：产品名称、检验部位、检验方法、透照规范、缺陷名称、评定级别、返修情况、透照日期、探伤人员签名。整台压力容器检测合格后，由无损检测责任工程师审核签发“无损检测报告”和“无损检测焊缝布片图”。资料员负责整理每台产品全部检测资料，装订成册后移交公司档案室保存7年，不得外借。关于执行探伤比例的补充规定除了《容规》和GB150标准中规定100%RT探伤或UT探伤以外的容器，允许对其A类及B类焊接接头进行局部RT或UT检测，检测方法按图样规定，检测长度不得少于各条焊接接头长度的20%，且不小于250mm，焊缝交叉部位及以下部位应全部检测，其检测长度可计入局部检测长度之内。下述接头，必须进行100%射线检查。a)先拼板后成型凸形封头上的所有拼接接头。b)凡被补强圈、支座、垫板、内件等所覆盖的焊接接头。c)以开孔中心为圆心，倍开孔直径为半径的圆中所包含的焊接接头。d)嵌入式接管与圆筒或封头对接连接的焊接接头。e)拼接管板的对接接头。在压力容器中经RT或UT检测的焊接接头，如有不允许的缺陷，应在缺陷清除干净后，进行补焊，并对该部位采用原检测方法重新检测，直至合格，进行局部探伤的焊接接头，发现有不允许的缺陷时，应在该缺陷两端的延伸部位增加检查长度，增加的长度为该接接头的10%，且不小于250mm。若仍有不允许的缺陷时，则该焊接接头做100%检测。第3章超声检测通用工艺规程适用范围本规程适用于采用A型脉冲反射式超声波探伤仪，对金属原材料、零部件和焊接接头进行超声波检测。检测时机有延迟裂纹倾向的材料其焊接接头应在焊接完成24小时后才能进行检测。锻件检测原则上应在热处理后，槽孔、台阶加工前进行。表面粗糙度Ra≤μm。工件要求焊接接头探头移动区应由送检单位清除焊接飞溅、铁屑、油垢及其它杂质，对咬边、较大的隆起和凹陷等应作适当的修磨至圆滑过渡。原材料及零件部、锻件应由送检单位打磨清除铁屑、锈蚀、油垢等其它杂质。检测表面应平整光滑、便于探头自由扫查，表面粗糙度Ra应为μm。探伤仪、探头和系统性能探伤仪采用A型脉冲反射式超声波探伤仪，其工作频率范围为1～5MHz，仪器至少在荧光屏满刻度的80%范围内呈线性显示。探伤仪具有80dB以上的连续可调的衰减器，步进级每档不大于2dB，其精度为任意相邻12dB误差在±1dB以内，最大累计误差不超过1dB。水平线性误差不大于1%，垂直线性误差不大于5%。探头a.超声检测常用单直探头、单斜探头、双晶探头和聚焦探头等。b.晶片有效面积一般不应大于500mm2，且任一边长不应大于25mm。c.单斜探头声束轴线水平偏离角不应大于2°，主声束垂直方向不应有明显的双峰。d.双晶直探头性能应符合JB/附录A的要求。超声探伤仪和探头的系统性能。a.在达到所探工件的最大检测声程时，其有效灵敏度余量应不小于10dB。b.仪器和直探头组合的始脉冲宽度：对于频率为5MHz的探头，宽度不大于10mm；对于频率为的探头，宽度不大于15mm。c.直探头的远场分辨力应不小于30dB，斜探头的远场分辨力应不小于6dB。d.仪器和探头的系统性能应按JB/T9214和JB/T10062的规定进行测试。超声检测一般方法检测覆盖率检测时，应尽量扫查到整个被检区域，探头的每次扫查覆盖率应大于探头直径的15%。所确定检测面应保证工件被检部分均能得到充分检查。探头的移动速度。探头的扫查速度不应超过150mm/S。当采用自动报警装置扫查时，不受此限。扫查灵敏度不得低于基准灵敏度。耦合剂采用机油、浆糊、水等透声性好且不损伤检测表面的耦合剂。灵敏度补偿耦合补偿在检测和缺陷定量时，应对由表面粗糙度引起的能量损耗进行补偿。b.衰减补偿在检测和缺陷定量时，应对材质衰减引起的检测灵敏度下降和缺陷定量误差进行补偿。c.曲面补偿对于检测面是曲面的工件，应采用曲率半径与工件相同或相近（～）的参考试块，对比进行曲率补偿。系统校准和复核一般要求系统校准应在基准试块上进行，校准中应使超声波主声束垂直对准反射体的轴线，以获得稳定的和最大的反射信号。仪器校准在仪器开始使用时，应对仪器的水平线性按JB/T10061的规定进行测定。在使用过程中，每隔3个月至少对仪器的水平线性和垂直线性进行一次测，定并作好记录（表29－24）。探头测定新探头使用前应按JB/T10062的有关规定进行前沿距离、K值、主声束偏离、灵敏度余量和分辨力的测定。仪器和斜探头系统，检测前应测定前沿距离、K值、主声束偏离，调节或复核扫描量程和扫查灵敏度。仪器和直探头系统，检测前应测定始脉冲宽度、灵敏度余量和分辨力，调节或复核扫描量程和扫查灵敏度。使用过程中遇有下述情况应对仪器和探头系统进行复核：校准后的探头、耦合剂和仪器调节旋纽发生改变时；检测人员怀疑扫描量程或扫查灵敏度有变化时；连续工作4小时以上时；工作结束时。、检测结束前仪器和探头系统的复核⑴每次检测结束前，应对扫描量程进行复核。如果任意一点在扫描线上的偏移超过扫描线读数的10%，则扫描量程应重新调整，并对上一次复核以来所有的检测部位进行复核。⑵.每次检测结束前，应对扫查灵敏度进行复核。一般对距离－波幅曲线的校核不应少于3点。如曲线上一点幅度下降2db，则应对上一次复核以来所有的检测部位进行复核；如幅度上升2db，则应对所有的记录信号进行重新评定。、校准、复核的有关注意事项校准、复核和对仪器进行线性检测时，任何影响仪器线性的控制器都应放在“关”的位置或处于最低水平上。扫描量程的复核如果距离——波幅曲线上任意一点在扫描线上的偏移超过扫描读数的10%。则扫描量程应予以修正，并在检测记录中加以标明。距离——波幅曲线的复核复核时，校核应不少于3点。如曲线上任何一点幅度下降2dB，则应对上一次以来所有的检测结果进行复检；如幅度上升2dB，则应对所有的记录信号进行重新评定。注意事项校准、复核和线性检验时，任何影响仪器线性的控制器（如抑制或滤波开关等）都应放在“关”的位置或处于最低水平上。试块试块应采用与被检工件相同或相近似声学性能的材料制成。该材料用直探头检测时，不得有大于φ2mm平底孔当量直径的缺陷。根据不同的被检工件采用下列标准试块:a.钢板用标准试块:CBⅠ、CBⅡ；b.锻件用标准试块:CSⅠ、CSⅡ；c.焊接接头用标准试块:CSK-ⅠA、CSK-ⅡA、CSK-ⅢA。对比试块的外形尺寸应能代表被检工件特征，试块厚度应与被检工件的厚度相对应。如果涉及到两种或两种以上不同厚度部件焊接接头的检测，试块的厚度应由其最大厚度来确定。第一节承压设备对接焊接接头超声检测和质量分级.适用范围本工艺适用于使用A型脉冲反射式超声波探伤仪,以单斜探头接触法为主进行探伤。焊接件对接处厚度8－400mm的钢制承压设备对接焊缝的超声波探伤。探伤流程图见图2图2UT操作流程图本工艺规程不适用于铸钢对接焊接接头、外径小于159mm的钢管环向对接焊接接头、内径小于或等于200mm的管座角焊缝的超声检测，也不适用于外径小于250mm或内外径之比小于80%的纵向对接焊接接头超声检测。A级仅适用母材厚度为8mm－46mm的对接焊接接头。可用一种K值探头采用直射波法和一次反射波法在对接焊接接头的单面单侧进行检测。B级检测：母材厚度为8mm－46mm时，一般用一种K值探头采用直射波法和一次反射波法在对接焊接接头的单面双侧进行检测。母材厚度大于46mm－120mm时，一般用一种K值探头采用直射波法在焊接接头的双面双侧进行检测，如受几何条件限制，也可要焊接接头的双面单侧采用两种K值探头进行检测。母材厚度大于120mm－400mm时，一般用两种K值探头采用直射波法在焊接接头的双面双侧进行检测。两种探头的折射角相差应不小于10°。应进行横向缺陷的检测。检测时，可在焊接接头两侧边缘使探头与焊接接头中心线成10°－20°作两个方向的斜平行扫查。如焊接接头余高磨平，探头应在焊接接头及热影响区上作两个方向的平行扫查。C级检测：采用C级检测时应将焊接接头的余高磨平，对焊接接头两侧斜探头扫查经过的母材区域要有直探头进行检测a）母材厚度为8mm－46mm时，一般用两种K值探头采用直射波法和一次反射波法在焊接接头单面双侧进行检测。两种探头的折射角相差应不小于10°，其中一个折射角为45°。b）母材厚度大于46mm－400mm时，一般用两种K值探头采用直射波法在焊接接头的双面双侧进行检测。两种探头的折射角相差应不小于10°。对于单侧坡口角度小于5°的窄间隙焊缝，如有可能应增加对检测与坡口表面平行缺陷的有效检测方法。c）应进行横向缺陷的检测。检测时，将探头放在焊缝及热影响区上作两个方向的平行扫查。仪器、探头仪器和探头性能符合和规定探头K值选取符合表16要求表16推荐采用的斜探头K值板厚T，mmK值6～25～(72°～60°)＞25～46～(68°～56°)＞46～120～(60°～45°)＞120～400～(60°～45°)试块采用的标准试块为CSK-ⅠA、ⅡA、ⅢA。CSK-ⅠA、CSK-ⅢA适用于壁厚8-120mm焊接接头探伤。在满足灵敏度要求的情况下,也可采用其它形式的等效试块。检验表面准备母材金属焊缝两侧的母材表面移动区域不应有干扰检验的飞溅、锈蚀和油垢等外来杂物，表面粗糙时，应打磨平滑。焊缝金属对于能干扰检验的焊缝表面应按照检验所需的要求进行制备。耦合剂及耦合剂补偿检验和校验时所用的耦合剂要一致，可使用机油、浆糊或甘油。耦合补偿可实测或按表17的经验数据。表17表面状况致密氧化皮微米表面粗砂轮打磨补偿值（dB）026扫查要求斜射波扫查a）采用一次反射法检测时,探头移动区应不小于;b）采用直射法检测时，探头移动区应不小于;直射波扫查时邻近母材时,以找出影响评定斜射波扫查结果的分层或其它种类缺陷,但这个扫查不能作为验收或拒收检验,检测要点是:采用2MHz-5MHz、晶片直径10mm-25mm的直探头，将母材无缺陷处二次底波100%波幅高作为灵敏度，每个超过20%波幅高的缺陷反射体，均应在工件表面作出标记，并记录下来。距离——波幅曲线的绘制距离——波幅曲线按所用探头和仪器在试块上实测的数据绘制而成。距离——波幅曲线的复核复核时,校准应不少于3点,如果曲线上任何一点幅度下降2dB,则应对上一次以来所有的检测结果进行复核;如果幅度上升2dB,则应对所有的记录信号进行重新评定。注意事项校准、复核和对仪器线性检验时，任何影响仪器线性的控制器（如抑制或滤波开关等）都应放在”关”的位置或最低水平上。灵敏度按表18的规定表18试块型式板厚mm评定线定量线判废线CSK-ⅡA6－46φ2×40-18dBφ2×40-12dBφ2×40-4dB＞46－120φ2×40-14dBφ2×40-8dBφ2×40+2dBCSK-ⅢA8－15φ1×6-12dBφ1×6-6dBφ1×6+2dB＞15－46φ1×6-9dBφ1×6-3dBφ1×6+5dB＞46－100φ1×6-6dBφ1×6φ1×6+10dB检测方法平板对接焊缝根据不同检测技术等级选用一种K值接头或两种K值接头为检测焊缝及热影响区的横向缺陷，应进行平行和斜平行扫查。为确定缺陷的位置、方向和形状等，可采用前后、左右、转角和环绕四种探头扫查方式。曲面工件对接焊缝可尽量按平板对接焊缝的检测方法进行检测。纵缝检测时，对比试块的曲率半径与检测面曲率半径之差应不小于10%探头修磨后，用曲率试块实测探头入射点和K值；选择探头K值时，要确保声束能扫查到整个焊缝；曲面半径大于W2/4时，可采用平面对比试块调节仪器，但要注意指示荧屏指示的缺陷深度或小于距离与缺陷实际的径向埋藏深度或水平距离弧长的误差，必要时应进行修正。环缝检测时,对比试块的曲率半径应为检测面曲率半径的~倍。缺陷的定量检测灵敏度应调到定量线灵敏度。对所有波幅超过定量线的缺陷，应确定其位置、最大反射波幅、缺陷当量和指示长度△L。当用直探头检测时，缺陷当量直径以平底孔直径表示可采用公式计算，用斜探头检测时，用距离——波幅曲线和对比试块来确定当量尺寸。缺陷指示长度△L的测定采用端点6dB。缺陷的评定应注意超过评定线的信号是否具有裂纹等危害性缺陷特征，如有怀疑时，应改变探头角度，增加检测面，观察动态波形并结合结构工艺特点作出判定，如不能判断时，应辅以其它检测方法作出综合判定。缺陷指示长度小于10mm时按5mm计。相邻两缺陷在同一直线上，其间距小于其中较小的缺陷长度时，应作为一条缺陷处理，以两缺陷长度之和作为指示长度。缺陷等级的评定不允许存在下列缺陷：a)反射波幅位于判为线及Ⅲ区的缺陷。b)检测人员判定为裂纹等危害性缺陷。最大反射波幅低于定量线的非裂纹类缺陷，均评为Ⅰ级。不合格的缺陷应予以返修，返修后仍按本规程进行检测和评定。报告检测报告应至少包括以下内容:委托单位、报告编号；工件名称、编号、材质、热处理状态、检测表面的粗糙度；探伤仪、探头、试块和检测灵敏度；超声检测区域应在草图上予以标明，如有因几何形状限制而检测不到的部位、也应加以说明；缺陷的类型、缺陷等级评定及检测标准名称；检测人员和责任工程师签字及其技术资格；检测日期；第2节承压设备钢板超声检测及质量分级适用范围本条适用于板厚为6－160mm碳素钢、低合金钢制承压设备用板材的超声检测的质量分级。奥氏体钢板材超声检测也可参照本规程进行。探头探头的选用应符合表19表19承压设备用板材超声检测探头选用板厚，mm采用探头公称频率，MHz探头晶片尺寸6-20双晶直探头5晶片面积不小于150mm2＞20-40单晶直探头5φ14mm-φ20mm＞40-250单晶直探头φ20mm-φ25mm试块试块应用与被检工件相同或近似声学性能的材料制成检测时机板板表面应磨光滑，当钢板表面的氧化层呈致密光滑不影响检测效果时，可不打磨。检测应在划定剖口预定线后进行。、探头选用、探头选用1）、板厚为6~20mm时采用双晶直探头，公称频率5MHz，晶片面积不小于150m㎡。2）、板厚＞20~40mm时，采用单晶直探头，公称频率5MHz，圆晶片直径为φ14~φ20mm。3）、板厚＞40~250mm时，采用单晶直探头，公称频率，圆晶片直径为φ20~φ25mm。、双晶直探头性能应符合JB/附录A的要求。、标准试块1)、采用双晶直探头时，采用CBⅠ标准试块。2)、采用单晶直探头时，采用CBⅡ标准试块。试块厚度应与被检钢板厚度相近。、基准灵敏度1)、超声检测人员收到无损检测申请书后，根据所探钢板厚度确定探头和试块，并调试检测灵敏度。2)、板厚为6~20mm时，用CBⅠ试块将工件等厚部位第一次底波高度调整到满刻度的50%，再提高10dB作为基准灵敏度。3)、板厚＞20~250mm时，用CBⅡ试块将φ5平底孔第一次反射波高调整到满刻度的50%作为基准灵敏度。4）、板厚＞3倍探头的近场区时，也可取钢板无缺陷完好部位的第一次底面反射波高调整到满刻度的50%作为基准灵敏度。、检测方法、检测面钢板的任一轧制面均可作为检测面进行检测。若检测人员认为需要或设计上要求时，也可选钢板的上、下两轧制面分别进行检测。、扫查方式1)、检测仪和探头调试合格后，按JB/中图3探头扫查示意图规定，对钢板进行扫查，要求探头沿垂直于钢板压延方向，间距为100mm平行线进行扫查，在钢板剖口预定线两侧各50mm（当板厚超过100mm时，以板厚的一半为准）内应作100%扫查，扫查时若发现缺陷反射波，则应在它的周围继续进行检测，以确定缺陷的延伸。2)、在钢板剖口预定线两侧各50mm（当板厚超过100mm时，以板厚的一半为准）内应作100%扫查。缺陷的指示长度大于或等于50mm时，应评为Ⅴ级。当合同、技术协议书或设计图样有特殊要求时，应根据特殊要求进行其它型式的扫查。、缺陷的测定与记录扫查过程中，按JB/规定判断缺陷并测定缺陷的边界范围或指示长度，做好原始记录。原始记录应记录下缺陷的位置及长度或面积。、缺陷的评定1)、缺陷的评定方法和评定规则按JB/中条规定，钢板缺陷等级评定按JB/中条规定。2)根据检测结果出具超声波探伤检查报告，报告内容和要求应符合JB/中8条规定。、横波检测在检测过程中对缺陷有疑问或合同双方技术协议中有规定时，可采用横波检测。检测方法按JB/附录B。检测方法可选钢板的任一轧制面进行检测，若需要或有要求时，也可对钢板的两面分别进行检测。检测覆盖率需100%检测的区域，探头的每次覆盖率应大于探头直径的15%。探头的移动速度探头的扫查速度不应超过150mm/s。双晶探头的检测灵敏度：用阶梯试块将工件等厚度部位第一次反射波交调整到满刻度的50%，再提高10dB。单直探头的检测灵敏度：用φ5平底孔试块上φ5孔第一次反射波高调整到满刻度的50%作为灵敏度。扫查方式:a）探头沿垂直于钢板压延方向，间距不100mm的平行线进行扫查，在钢板坡口预定线两侧各50mm内应作100%扫查。b）根据合同、技术协议或图样的要求，也可进行其它形式的扫查。缺陷记录要检测过程中,发现下列三种情况之一都即作为缺陷：a）缺陷第一次反射波（F1）波高大于或等于满刻度的50%，即F1≥50%。b）当底面第一次反射波（B1）波高未达到满刻度，此时，缺陷第一次反射波（F1）波高与底面第一次反射波（B1）波高三比大于或等于50%者。c）当底面第一次反射波（B）＜50%满刻度者。缺陷的边界或指示长度的测定方法a）检出缺陷后，应在它的周围继续进行检测，以确定缺陷的延伸。b）用双晶直探头确定缺陷的边界或指示长度，探头的移动方向应与探头的隔声层相垂直，并使缺陷波下降到检测灵敏度条件下荧光屏满刻度的25%或使缺陷第一次反射波高与底面第一次反射波高之比为50%。此时，探头中心的移动距离即为缺陷的指示长度，探头中心即为缺陷的边界点，两种方法测得的结果以较严重者为准。c）用单直探头确定缺陷的边界或指示长度时，移动探头，使缺陷波第一次反射波高下降到检测灵敏度条件下荧光屏满刻度的25%或使缺陷第一次反射波与底面第一次反射波高之比为50%。此时，探头中心移动距离即为缺陷的指示长度，探头中心即为缺陷和边界，两种方法测得的结果以较严重者为准。d）确定条缺陷的边界或指示长度时，移动探头点，使底面第一次反射升高到荧光屏满刻度的50%，此时，探头中心移动距离即为缺陷的指示长度，探头中心点即为缺陷的边界点。e）当采用第二次缺陷波和第二缺陷波和第二次底波来评定缺陷时，检测灵敏度应以相应的第二次反向波来核准。缺陷评定缺陷指示长度的评定规则一个缺陷按其指示的最大长度作为该缺陷的指示长度。单个缺陷批示面积的评定规则一个缺陷按其指示的最大面积作为该缺陷的单个指示面积，当其小于表17的规定时，可不作记录。多个缺陷其相邻间距小于100mm或间距小于相邻缺陷的指示长度（取其较大值）时其各块缺陷面积之和作为单个缺陷指示面积。缺陷面积占有率和评定规则在任一1m×1m检测面积内，按缺陷面积所占的百分比不确定。缺陷等级评定钢板缺陷条块等级划分见表20表20序号单个缺陷指示长度mm单个缺陷指示面积mm在任一1m×1m检测面积内存在的缺陷百分比%以下单个缺陷批示面积不计cm2Ⅰ＜80＜25≤3＜9Ⅱ＜100＜50≤5＜15Ⅲ＜120＜100≤10＜25Ⅳ＜150＜100≤10＜25在坡口预定线两侧各50mm(板厚大于100mm时,以板厚的一半为准)内,缺陷的指示长度大于或等于50mm时,则应判废,不作评级。在检测过程中，检测人员如确认钢板中有白点、裂纹等危害性缺陷存在时，则应判废，不作评级。横波检测在检测过程中对缺陷有疑问或需要时，可采用横波检测。报告及验收标记检测报告至少应包含以下内容:a)委托单位、报告编号b)钢板编号、炉批号、材质、热处理状态、表面状态。c)探伤仪、探头、试块和检测标准名称。d)检测区域应在草图上予以标记。e)缺陷的类型、尺寸、位置和分布。f)检测结果、缺陷等级评定及检测标准名称。g)检测人员和责任工程师签字及其技术资格。h)检测日期。i)验收标记检测合格后,应在钢板适合位置标上醒目的标记，其有效性应使下道工序或最后的检验人员能够辩明。第3节承压设备备用钢锻件超声检测及质量分级适用范围本条适用于承压设备用碳钢和低合金钢锻件的超声检测和质量分级。本条不适用于奥氏体钢等粗晶材料锻件的超声检测，也不适用于内外半径之比小于80%的球形和筒形锻件的周向横波检测。探头双晶直探头的公称频率应选用5MHz。探头晶片面积不小于150mm2；单晶直探头的公称频率应选用2MHz-5MHz，探头晶片一般为φ14mm-φ25mm。试块试块尖采用与被检工件相同或近似声学性能的材料制成，该材料用直探头探测时，不得有大于φ2平底孔当量直径的缺陷。单直探头选用CSⅠ试块,其形状和尺寸符合JB/表4、表5规定。如确有需要可采用其它对比试块。双晶直探头选用CSⅡ试块。检测面是曲面时，应采用CSⅢ标准试块来测定由于曲率不同而引起的声能损失。检测时机、检测方法、一般原则锻件应进行纵波检测，对筒形和环形锻件还应增加横波检测。、纵波检测1）、原则上应从两个相互垂直的方向进行检测，尽可能地检测到锻件的全体积。主要检测方向如JB/图7所示。2）、锻件厚度超过400mm时应从相对两端面进行100%的扫查。、横波检测钢锻件横波检测应按JB/附录C的要求进行。检测方法检测覆盖率检测时,应尽量扫查到工件的整个被检区域,探头的每次覆盖率应大于探头直径的15%。探头的移动速度探头扫查速度不应超过150mm/s。扫查灵敏度扫查灵敏度至少应比基准灵敏度高6dB。耦合剂采用机油、浆糊。探头选择工件检测距离小于45mm时，采用双晶直探头。工件检测距离大于45mm时，采用单直探头。对筒形锻件，附加采用单斜探头进行横波检测。纵波检测应尽量从两个相互垂直的方向进行检测，尽可能地检测到锻件的全体积。检测灵敏度的确定纵波直探头检测灵敏度的确定当被检部位珠厚度大于或等于探头的三倍近场区时,原则可选用底波计算法确定检测灵敏度,对于由于几何形状所限,不能获得底波或壁厚小于探头的三倍近场区时,可直接采用试块法确定检测灵敏度。纵波双晶直探头检测灵敏度的确定使用CSⅡ试块依次测试一组不同检测距离φ3mm平底孔（至少三个）。调节衰减器，使其中最高的回波幅度达到满刻度的80%，为改变仪器的参数，测出其它平底回波的最高点，将其标在荧光屏上，连接这些点，即是对应于不同直径平底孔的纵波双晶直探头的距离波幅曲线，并以此作为检测灵敏度。检测灵敏度不得低于最大检测距离的φ2平底孔当量直径。工件材质衰减系数的测定在工件无缺陷完好区域，选取三处检测面与底面平行且有代表性的部位，调节仪器第一次和第二次底面回波幅度均不满刻度的50%，分别记录衰减器读数，两次衰减器读数之差即为（B1-B2）的dB差值。衰减系数的计算公式为：a=【（B1-B2）-6dB】/2T式中：a——衰减系数；dB/mm（单位）；（B1-B2）——两次衰减器的读数之差，dB；T——工件检测厚度，mm。工件上三处衰减系数的平均值即作为该工件的衰减系数。缺陷当量的确定对于远场处缺陷，采用计算法确定缺陷当量，对于三倍近场区内的缺陷，采用单探头或双晶探头的距离一波幅曲线确定缺陷当量。计算缺陷当量时，应材质衰减系数超过4dB/m，应进行修正。缺陷记录记录当量值径超过φ4mm平底孔的单个缺陷位置的波幅和位置。密集性缺陷：记录密集性缺陷中最大当量缺陷的位置和分布，饼形锻件应记录大于或等于φ4mm当量的缺陷密集区，缺陷密集区面积以50×50mm的方法作为最小量单位，其边界由6dB法确定，应按表3要求记录底波降低量。衰减系数若有规定时，应记录衰减系数。缺陷等级评定单个缺陷的等级评定见表21。表21mm等级ⅠⅡⅢⅣⅤ缺陷当量直径≤φ4φ4+(＞0－8dB)φ4+(＞8－12dB)φ4+(＞12－16dB)＞φ4+16dB)底波降低量的等级评定见表22。表22dB等级ⅠⅡⅢⅣⅤ底波降低量BG/BF≤8＞8－14＞14－20＞20－26＞26密集区缺陷的等级评级评定见表23。表23等级ⅠⅡⅢⅣⅤ密集区缺陷占检测面积的百分比%0＞0－5＞5－10＞10－20＞20表21、表22和表23的等级作为独立的等级分别使用。如果被检测人员判定为裂纹白点等危害性缺陷时，可以不受上述条件的限制。锻件修补后应按本守则的要求进行检测和评定。、压力容器用复合板的超声检测和质量分级按JB/标准条规定进行。、压力容器用钢螺栓坯件超声波检测和质量分级按JB/标准条规定进行、压力容器用奥氏体不锈钢钢锻件的超声检测和质量分级按JB/标准条规定进行报告及验收标记检测报告至少应有以下内容：委托单位、报告编号。工件名称、编号、材质、热处理状态、检测面的粗糙度。探伤仪、探头、试块和检测灵敏度。检测区域应在草图上予以标记，如有因几何条件限制而检测不到的部位，也应予以说明。缺陷的类型、尺寸、位置和分布。检测结果、缺陷等级评定及检测标准名称。检测人员和责任工程师签字及其技术资格。验收标记检测合格后在工件上适合位置作醒目标记，其有效性应在下道工序或最后的检验人员能辨明。第4章磁粉检测通用工艺规程焊接接头磁粉检测通用工艺规程适用范围本部分适用于铁磁性材料制承压设备的原材料、零部件和焊接接头表面，近表面缺陷的检测，不适用于奥氏体不锈钢和其它非铁磁性材料的检测。其检测程序见流程图。MT操作流程图磁化方法磁轭法本规程用磁轭法。、设备要求、磁粉检测设备应符合JB/T8290标准的要求。、当使用磁轭最大间距时，交流电磁轭至少应有45N的提升力，交叉磁轭至少应有118N的提升力。、辅助器材一般应包括下列器材：a)A1型、C型、D型和M1型试片和磁场指示器；b)磁悬液浓度沉淀管；c)2~10倍放大镜；d)白光照度计；e）磁场强度计。、磁粉、载体及磁悬液、磁粉应具有高磁导率、低矫顽力和低剩磁，并应与被检工件表面颜色有较高的对比度。磁粉粒度和性能的其他要求应符合JB/T6063的规定。、湿法采用水或低粘度油基载体作为分散媒介。若以水为载体时，应加入适当的防锈剂和表面活性剂，必要时添加消泡剂。油基载体的运动粘度在38℃时小于或等于s，使用温度下小于或等于s，闪点不低于94、磁悬液浓度应根据磁粉种类、粒度、施加方法和被检工件表面状态等因素来确定。一般情况下，非荧光磁粉的磁悬液浓度范围：配制浓度：10-25g/L；沉淀浓度（含固体量）：。测定前应对磁悬液进行充分的搅拌。、标准试件、标准试片主要用于检验磁粉检测设备、磁粉和磁悬液的综合性能，了解被检工件表面有效磁场强度和方向、有效检测区以及磁化方法是否正确。标准试片有A1型、C型、D型和M1型，其规格、尺寸和图形应符合JB/的要求。A1型、C型和D型标准试片应符合JB/T6065的规定。、磁粉检测时一般应选用A1-30/100型标准试片。当检测焊缝坡口等狭小部位，由于尺寸关系，A1型标准试片使用不便时，一般可选用C-15/50型标准试片。为了更准确的推断出被检工件表面的磁化状态，当用户需要或技术文件有规定时，可选用D型或M1型标准试片。、标准试片使用方法：a)标准试片适用于连续磁化法，使用时，应将试片无人工缺陷的面朝外。为使试片与被检面接触良好，可用透明胶带将其平整粘贴在被检面上，并注意胶带不能覆盖试片上的人工缺陷。b)标准试片表面有锈蚀、褶折或磁特性发生改变时不得继续使用。、磁场指示器是一种用于表示被检工件表面磁场方向、有效检测区以及磁化方法是否正确的一种粗略的校验工具，但不能作为磁场强度及其分布的定量指示。通电方法磁悬液必须在通电时间(1－3秒)内施加完毕,为保证磁化效果,应至少反复磁化二次,停施磁悬液至少1s后方可停止磁化。磁化方向第一区域应至少分别进行两次检验，在第二次检验中，磁通线的方向应大致与第一次检验区域所采用的方向垂直。电流类型采用交流电。表面制备零件表面状态：磁粉检验之前应对受检零件进行外观检查，受检表面及其相邻至少25毫米的区域内不应有松散的锈蚀、氧化皮、焊渣、飞溅物或油污等妨碍检验的物质，如有这类物质，应打磨清理干净后再作磁粉检验。在磁粉检验之前，被检验的表面扩所有邻近至少25mm的区域内应是干的，并且没有任何污垢、油脂、纤维屑、锈皮、焊剂和焊接飞溅，或其它能防碍检验的外来物。可使用去污剂、有机溶剂、除锈剂、去漆剂、蒸汽除油、喷砂或超声波清洗等方法达到清洗的目的。检测时机通常焊缝的检测安排在焊接工序完成后进行，对于有延迟裂纹倾向的材料，磁粉检测应安排在焊后24小时进行。除非图纸或其它技术文件中另有规定,任何零件均应在精加工表面状态,或最终机加工表面状态和最终热处理状态后进行磁粉探伤。磁粉的施加湿粉法采用湿粉法时,应确认整个检测面能被磁悬液良好的湿润后,再施加磁悬液。磁悬液的施加可采用喷浇等方法，不可采用刷涂法，无论采用哪种方法均不应使检测面上磁悬液的流速过快。磁悬液的施加必须在磁化过程中完成，必须注意，已形成的磁痕不要被流动的悬浮液破坏。灵敏度试片及使用方法A型灵敏度试片用于对被检工件表面有效磁场强度和方向,有效检测区及磁化方法是否正确的测定,磁化电流应能使试片显示清晰的磁痕,使用时应将试片无人工缺陷的面朝外,并紧贴被检面。C型灵敏度试片的作用和用法与A型相同，但当检测焊缝坡口等狭小部位，使用A型灵敏度试片不便时，可用C型灵敏度试片。磁场指示器（八角试块）可用于测试被检工作表面磁场方法检测区以及磁化方法是否正确的一种粗略的校验工具，不可作为磁场其分布的定量指示。使用时，将其平放在被检面上，与工件同时磁化其表面施加磁悬液，以是否出现“*”形磁痕来判定工件是否适当磁化。磁轭法磁化电流应根据灵敏度试片或提升力校验来确定。磁轭的磁极间距应控制在75~200mm之间，检测的有效区域为两极连线两侧各50mm的范围内，磁化区域每次应有不少于15mm的重叠。磁痕评定与记录除能确认磁痕是由于工件材料局部磁性不均或操作不当造成外,其它一切磁痕显示均作为缺陷磁痕处理.长度与宽度之比大于3的缺陷磁痕,按线性缺陷处理;长度与宽度之比小于或等于3的缺陷磁痕按圆形处理。缺陷磁痕长轴方向与工件轴线或母线的夹角大于或等于30°时作横向缺陷处理，其它按纵向缺陷处理。两条或两条以上缺陷磁痕在同一直线上且间距小于或等于2mm时，按一条缺陷处理，其长度为两条缺陷之和加间距。长度小于的缺陷磁痕不计。所有磁痕的尺寸、数量和产生部位均应记录并图示。磁痕的永久性应在可见采用胶带法、照相法以及其它适当方法。磁痕的评定应在可见光下进行，工件被检表面处可见光照度不小于500LX。当辨认细小缺陷磁痕时，应用2~10倍放大镜进行观察。复验当出现以下情况时,必须进行复验:a）检测结束时,用灵敏度试片检证检测灵敏度不符合要求;b）发现检测过程中,操作方法有误或技术条件改变时;c）供需双方有争议,认为其它需要时;d）经返修后的部位。缺陷等级的评定下列缺陷不允许存在任何裂纹和白点；紧固件和轴类零件不允许任何横向缺陷显示。缺陷显示累积长度的等级评定按下表：等级线性缺陷磁痕圆形缺陷磁痕(评定框尺寸为35mm×100mm)Ⅰ不允许d≤,且在评定框内不大于1个Ⅱ不允许d≤,且在评定框内不大于2个Ⅲl≤d≤,且在评定框内不大于4个Ⅳ大于Ⅲ级注：l表示线性缺陷磁痕长度，mm；d表示圆形缺陷磁痕长径，m