《数字电子技术实验》

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《数字电子技术实验》第1-1页下一页上一页退出实验一TTL各种门电路功能测试

一、实验目的1、熟悉TTL各种门电路的逻辑功能及测试方法。

2、熟悉万用表的使用方法。

二、实验设备

1、SAC-DS4数字逻辑实验箱

2、数字万用表

《数字电子技术实验》第1-2页下一页上一页退出三、实验内容及步骤1、与非门逻辑功能测试用7420双四输入与非门进行实验：图1-1

与非门仿真实验双击引脚图

功能表

《数字电子技术实验》第1-3页下一页上一页退出三、实验内容及步骤2、或非门逻辑功能测试

用74LS02二输入四或非门进行实验：图1-2

或非门仿真实验双击引脚图

功能表

《数字电子技术实验》第1-4页下一页上一页退出三、实验内容及步骤3、与或非门逻辑功能测试

用7451双2–3输入与或非门进行实验：图1-3

或非门仿真实验双击引脚图

功能表

《数字电子技术实验》第1-5页下一页上一页退出三、实验内容及步骤4、异或门逻辑功能测试

用74LS86二输入四异或进行实验：图1-4

或非门仿真实验双击引脚图

功能表

《数字电子技术实验》第1-6页下一页上一页退出5、利用74LS00与非

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