材料分析题库含

资料剖析试题库选择题：一、1.M层电子回迁到K层后，剩余的能量放出的特色X射线称（A.Kα；B.Kβ；C.Kγ；D.Lα。2.当X射线发生装置是Cu靶，滤波片应选（C）A．Cu；B.Fe；C.Ni；D.Mo。3.当电子把全部能量都变换为X射线时，该X射线波长称（

B）A）短波限λ0；B.激发限λk；C.汲取限；D.特色X射线4.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁电子打出核外，这整个过程将产生（D）

K层，剩余能量将另一个

L层光电子；B.二次荧光；C.俄歇电子；D.（A+C）二、1.最常用的X射线衍射方法是（B）。A.劳厄法；B.粉末法；C.周转晶体法；D.德拜法。2.射线衍射方法中，试样为单晶体的是（D）A、劳埃法B、周转晶体法C、平面底片照相法D、A和B3.晶体属于立方晶系，一晶面截x轴于a/2、y轴于b/3、z轴于c/4，则该晶面的指标为（B）A、(364)B、(234)C、(213)D、(468)4.立方晶系中，指数相同的晶面和晶向（B）A、互相平行B、互相垂直C、成必定角度范围D、无必定联系5.晶面指数（111）与晶向指数（111）的关系是（C）。A.垂直；B.平行；C.不必定。6.在正方晶系中，晶面指数{100}包含几个晶面（B）。A.6；B.4；C.2D.1；。7.用来进行晶体构造剖析的X射线学分支是（B）射线透射学；射线衍射学；射线光谱学；D.其他三、1、对于简单点阵构造的晶体，系统消光的条件是（A）A、不存在系统消光B、h+k为奇数C、h+k+l为奇数D、h、k、l为异性数2、立方晶系{100}晶面的多重性因子为（D）A、2B、3C、4D、63、洛伦兹因子中，第一几何因子反应的是（A）A、晶粒大小对衍射强度的影响B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响C、衍射线地点对衍射强度的影响D、试样形状对衍射强度的影响4、洛伦兹因子中，第二几何因子反应的是（B）A、晶粒大小对衍射强度的影响B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响C、衍射线地点对衍射强度的影响D、试样形状对衍射强度的影响5、洛伦兹因子中，第三几何因子反应的是（C）A、晶粒大小对衍射强度的影响B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响C、衍射线地点对衍射强度的影响D、试样形状对衍射强度的影响6、对于底心斜方晶体，产生系统消光的晶面有（C）A、112B、113C、101D、1117、对于面心立方晶体，产生系统消光的晶面有（C）A、200

B、220

C、112

D、1118、热振动对x-ray衍射的影响中不正确的选项是（E）A、温度高升惹起晶胞膨胀B、使衍射线强度减小C、产生热漫散射格角E、热振动在高衍射角所降低的衍射强度较低角下小9、将等同晶面个数对衍射强度的影响因子称为（C）A、构造因子B、角因子C、多重性因子D、汲取因子

D、改变布拉四、1、衍射仪的测角仪在工作时，少度角（B）A.30度；B.60度；

如试样表面转到与入射线成C.90度。

30度角时，计数管与入射线成多2、不利于提升德拜相机的分辨率的是（A.采纳大的相机半径；B.采纳

D）。X射线较长的波长；

C.采纳大的衍射角；

D.采纳面间距较大的衍射面。3、德拜法中有益于提升丈量精度的底片安装方法是（A、正装法B、反装法C、偏装法

C）D、以上均可4、样品台和测角仪机械连动时，计数器与试样的转速关系是（A、1﹕1B、2﹕1C、1﹕2D、没有确立比率5、对于相机分辨率的影响要素表达错误的选项是（C）

B）A、相机半径越大，分辨率越高C、X射线波长越小，分辨率越高

B、θ角越大，分辨率越高D、晶面间距越大，分辨率越低6、粉末照相法所用的试样形状为（C）A、块状B、分别C、圆柱形

D、随意形状7、低角的弧线凑近中心孔，高角线凑近端部的底片安装方法为（A）A、正装法B、反装法C、偏装法D、随意安装都可8、以气体电离为基础制造的计数器是（D）A、正比计数器B、盖革计数器C、闪耀计数器D、A和B9、利用X射线激发某种物质会产生可见的荧光，并且荧光的多少与X射线强度成正比的特性而制造的计数器为（C）A、正比计数器B、盖革计数器C、闪耀计数器D、锂漂移硅检测器五、1、测定钢中的奥氏体含量，若采纳定量X射线物相剖析，常用方法是（

C）。外标法；B.内标法；C.直接比较法；D.K值法。2、X射线物相定性剖析时，若已知资料的物相能够查（A.哈氏无机数值索引；B.芬克无机数值索引；3、PDF卡片中，数据最靠谱的用（B）表示A、iB、★C、○D、C

C）进行查对。C.戴维无机字母索引；

D.A或

B。4、PDF卡片中，数据靠谱程度最低的用（A、iB、★C、○D、C

C）表示5、将所需物相的纯物质此外独自标定，而后与多项混淆物中待测相的相应衍射线强度对比较而进行的定量剖析方法称为（A、外标法B、内标法

A）C、直接比较法

D、K值法6、在待测试样中掺入必定含量的标准物质，把试样中待测相的某根衍射线条强度与掺入试样中含量已知的标准物质的某根衍射线条对比较，进而获取待测相含量的定量剖析方法称为（B）A、外标法B、内标法C、直接比较法九、1、透射电子显微镜中能够除去的像差是（B）。A．球差；B.像散；C.色差。

D、K值法2、因为电磁透镜中心地区和边沿地区对电子折射能力不一样而造成的像差称为（

A）A、球差B、像散C、色差D、背散3、因为透镜磁场非旋转对称而惹起的像差称为（B）A、球差B、像散C、色差D、背散4、因为入射电子波长的非单调性造成的像差称为（C）A、球差B、像散C、色差D、背散5、制造出生界上第一台透射电子显微镜的是（B）A、德布罗意B、鲁斯卡C、德拜D、布拉格十、1、透射电镜中电子枪的作用是（A）A、电子源B、汇聚电子束C、形成第一副高分辨率电子显微图像D、进一步放大物镜像2、透射电镜中聚光镜的作用是（B）A、电子源B、汇聚电子束C、形成第一副高分辨率电子显微图像D、进一步放大物镜像3、透射电镜中物镜的作用是（C）A、电子源B、汇聚电子束C、形成第一副高分辨率电子显微图像D、进一步放大物镜像4、透射电镜中电中间镜的作用是（D）A、电子源B、汇聚电子束C、形成第一副高分辨率电子显微图像D、进一步放大物镜像5、能提升透射电镜成像衬度的光阑是（B）A、第二聚光镜光阑B、物镜光阑C、选区光阑D、索拉光阑6、物镜光阑安置在（C）A、物镜的物平面B、物镜的像平面C、物镜的背焦面D、物镜的前焦面7、选区光阑在TEM镜筒中的地点是（B）A、物镜的物平面B、物镜的像平面C、物镜的背焦面D、物镜的前焦面8、电子衍射成像时是将（A）A、中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合B、中间镜的物平面与与物镜的像平面重合C、封闭中间镜D、封闭物镜9、透射电镜成容貌像时是将（B）A、中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合B、中间镜的物平面与与物镜的像平面重合C、封闭中间镜D、封闭物镜10、为了减小物镜的球差，常常在物镜的背焦面上安置一个（B）A、第二聚光镜光阑B、物镜光阑C、选区光阑D、索拉光阑11、若H-800电镜的最高分辨率是，那么这台电镜的有效放大倍数是（C）。1000；B.10000；C.40000；。十二、1、单晶体电子衍射花式是（A）。A.规则的平行四边形斑点；B.齐心圆环；C.晕环；D.不规则斑点。2、薄片状晶体的倒易点形状是（C）。A.尺寸很小的倒易点；B.尺寸很大的球；C.有必定长度的倒易杆；3、当偏离矢量S<0时，倒易点是在厄瓦尔德球的（A）。

D.倒易圆盘。球面外；B.球面上；C.球面内；D.B+C。4、能帮助除去180o不独一性的复杂衍射花式是（A）。A.高阶劳厄斑；B.超构造斑点；C.二次衍射斑；D.孪晶斑点。5、菊池线能够帮助（D）。A.预计样品的厚度；B.确立180o不独一性；C.鉴识有序固溶体；D.精准测定晶体取向。6、假如单晶体衍射花式是正六边形，那么晶体构造是（D）。A.六方构造；B.立方构造；C.四方构造；D.A或B。7、有一倒易矢量为g2a2bc，与它对应的正空间晶面是（C）。（210）；B.（220）；C.（221）；D.（110）；。十三、1、将某一衍射斑点移到荧光屏中心并用物镜光栏套住该衍射斑点成像，这是（C）。A.明场像；B.暗场像；C.中心暗场像；D.弱束暗场像。2、当t=5s/2时，衍射强度为（D）。=0；B.Ig<0；C.Ig>0；D.Ig=Imax。3、已知一位错线在选择操作反射g1=（110）和g2=（111）时，位错不行见，那么它的布氏矢量是（B）。A.b=（0-10）；B.b=（1-10）；C.b=（0-11）；D.b=（010）。4、当第二相粒子与基体呈共格关系时，此时的成像衬度是（C）。A.质厚衬度；B.衍衬衬度；C.应变场衬度；D.相位衬度。5、当第二相粒子与基体呈共格关系时，此时所看到的粒子大小（B）。A.小于真切粒子大小；B.是应变场大小；C.与真切粒子相同大小；D.远远大于真切粒子。6、中心暗场像的成像操作方法是（C）。A．以物镜光栏套住透射斑；B．以物镜光栏套住衍射斑；C．将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑。十四、1、不过反应固体样品表面容貌信息的物理信号是（B）。A.背散射电子；B.二次电子；C.汲取电子；D.透射电子。2、在扫描电子显微镜中，以下二次电子像衬度最亮的地区是（B）。A.和电子束垂直的表面；B.和电子束成30o的表面；C.和电子束成45o的表面；D.和电子束成60o的表面。3、能够探测表面1nm层厚的样品成分信息的物理信号是（D）。A.背散射电子；B.汲取电子；C.特色X射线；D.俄歇电子。十五、1、扫描电子显微镜装备的成分剖析附件中最常有的仪器是（B）。A.波谱仪；B.能谱仪；C.俄歇电子谱仪；D.特色电子能量损失谱。2、波谱仪与能谱仪对比，能谱仪最大的长处是（A）。A.迅速高效；B.精度高；C.没有机械传动零件；D.价钱廉价。3、要剖析基体中碳含量，一般应采纳（A）电子探针仪，A.波谱仪型B、能谱仪型填空：一、1.当X射线管电压超出临界电压就能够产生连续X射线和表记X射线。2.当X射线管电压低于临界电压仅产生连续X射线；当X射线管电压超出临界电压就能够产生连续X射线和特色X射线。3.特色X射线的产生过程中，若K层产生空位，由L层和M层电子向K层跃迁产生的K系特色辐射按次序称K射线和K射线。αβ4.X射线的实质既拥有颠簸性也拥有粒子性，拥有波粒二象性。5.短波长的X射线称硬X射线，常用于金属零件的无损探伤；长波长的X射线称软X射线，常用于医学透视上。6.连续谱短波限只与管电压相关。7.特色X射线谱的频次或波长只取决于阳极靶物质的原子能级构造。二、1.实质上说，X射线的衍射是由大批原子参加的一种散射现象。2.布拉格方程在实验上的两种用途是构造剖析和X射线光谱学。3.粉末法中晶体为多晶体，不变化，变化。4.平面底片照相法能够分为透射和背射两种方法。5.平面底片照相方法合用于研究晶粒大小、择优取向以及点阵常数精准测定方面。三、1、原子序数Z越小，非相关散射越强。2、构造因子与晶胞的形状和大小没关。3、热振动给X射线的衍射带来很多影响有：温度高升惹起晶胞膨胀、衍射线强度减小、产生向各个方向散射的非相关散射。4、衍射强度公式不合用于存在织构组织。5、构造因子=0时，没有衍射我们称系统消光或构造消光。对于有序固溶体，本来消光的地方会出现弱衍射。6、影响衍射强度的要素除构造因子外还有角因子，多重性因子，汲取因子，温度因子。四、1.在Δθ必定的状况下，θ→90度，sinθ→0；所以精准测定点阵常数应选择高角度衍射线。2.德拜照相法中的底片安装方法有:正装法,反装法和偏装法三种。3.在粉末多晶衍射的照相法中包含德拜-谢乐法、聚焦照相法和针孔法。4.德拜相机有两种，直径分别是和。丈量θ角时，底片上每毫米对应2o和1o。5.衍射仪的核心是测角仪圆，它由辐射源、试样台和探测器共同构成。6.能够用作X射线探测器的有正比计数器、盖革计数器和闪耀计数器等。7.影响衍射仪实验结果的参数有狭缝光阑、时间常数和扫面速度等。五、1、X射线物相剖析包含定性剖析和定量剖析，而定性剖析2、X射线物相定量剖析方法有外标法、内标法、直接比较法3、定量剖析的基本任务是确立混淆物中各相的相对含量。

更常用更宽泛。等。4、内标法仅限于粉末试样。九、1、电磁透镜的像差包含球差、像散和色差。2、透射电子显微镜的分辨率主要受衍射效应和球面像差两要素影响。3、透射电子显微镜顶用磁场来使电子聚焦成像的装置是电磁透镜。4、像差分为两类，即几何像差和色差。十、1、TEM中的透镜有两种，分别是静电透镜和电磁透镜。2、TEM中的三个可动光栏分别是聚光镜光栏位于第二聚光镜焦点上，物镜光栏位于物镜的背焦面上，选区光栏位于物镜的像平面上。3、TEM成像系统由物镜、中间镜和投影镜构成。4、透射电镜主要由电子光学系统,电源与控制系统和真空系统三部分构成。5、透射电镜的电子光学系统分为三部分，即照明系统、成像系统和察看记录系统。十一、1、限制复型样品的分辨率的主要要素是复型资料的粒子尺寸大小。2、今日复型技术主要应用于萃取复型来揭取第二相细小颗粒进行剖析。3、质厚衬度是成立在非晶体样品中原子对入射电子的散射和透射电子显微镜成像基础上的成像原理，是解说非晶态样品电子显微图像衬度的理论依照。

小孔径角4、粉末样品制备方法有胶粉混淆法

和支持膜分别粉末法

。5、透射电镜的复型技术主要有一级复型、二级复型和萃取复型三种方法。十二、1、电子衍射和X射线衍射的不一样之处在于入射波长不一样、试样尺寸形状不一样，以及样品对电子和X射线的散射能力不一样。2、电子衍射产生的复杂衍射花式是高阶劳厄斑、超构造斑点、二次衍射、孪晶斑点和菊池花式。3、偏离矢量S的最大值对应倒易杆的长度，它反应的是θ角偏离布拉格方程的程度。4、单晶体衍射花式标定中最重要的一步是确立晶体构造。5、二次衍射能够使密排六方、金刚石构造的花式中在本该消光的地点产生衍射花式，但体心立方和面心立方构造的花式中不会产生剩余衍射。6、倒易矢量的方向是对应正空间晶面的法线；倒易矢量的长度等于对应晶面间距的倒数。7、只需倒易阵点落在厄瓦尔德球面上，就表示该晶面知足布拉格条件，能产生衍射。十三、1、运动学理论的两个基本假定是双光束近似和柱体近似。2、对于理想晶体，当样品厚度或偏离矢量连续改变时衬度像中会出现等厚消光条纹或等倾消光条纹。3、对于缺点晶体，缺点衬度是由缺点惹起的位移矢量致使衍射波振幅增添了一个附加位相角，可是若附带的位相角α=2π的整数倍时，缺点也不产生衬度。4、一般状况下，孪晶与层错的衬度像都是平行直线，但孪晶的平行线间距不等，而层错的平行线是等间距的。5、实质的位错线在位错线像的一侧，其宽度也大大小于位错线像的宽度，这是因为位错线像的宽度是应变场宽度。十四、1、电子束与固体样品互相作用能够产生背散射电子、二次电子、透射电子、特色X射线、俄歇电子、汲取电子等物理信号。2、扫描电子显微镜的放大倍数是阴极射线电子束在荧光屏上的扫描宽度与电子枪电子束在样品表面的扫描宽度的比值。在衬度像上颗粒、突出的棱角是亮衬度，而裂纹、凹坑则是暗衬度。3、分辨率最高的物理信号是征X射线为100nm4、扫描电镜的分辨率是指5、扫描电子显微镜能够代替

俄歇电子或二次电子为5nm，分辨率最低的物理信号是特以上。二次电子信号成像时的分辨率金相显微镜进行资料金相察看，也能够对断口进行分析察看。6、扫描电子显微镜常用的信号是

二次电子

和

背散射电子

。7、扫描电子显微镜是电子光学系统，信号采集办理、图像显示和记录系统，真空系统三个基本部分构成。8、电子光学系统包含电子枪、电磁透镜、扫描线圈和样品室。十五、1、电子探针的功能主假如进行微区成分剖析。2、电子探针的信号检测系统是X射线谱仪，用来测定特色波长的谱仪叫做波谱仪。用来测定射线特色能量的谱仪叫做能量分别谱仪。3、电子探针仪的剖析方法有定性剖析和定量剖析。此中定性剖析包含定点剖析、线剖析、面剖析。4、电子探针包含能谱仪和波谱仪两种仪器。判断题：一、1.激发限与汲取限是一回事，不过从不一样角度看问题。（√）2.经滤波后的X射线是相对的单色光。（√）3.产生特色X射线的前提是原子内层电子被打出核外，原子处于激发状态。（√）4.选择滤波片只需依据汲取曲线选择资料，而不需要考虑厚度。（×）二、射线衍射与光的反射相同，只需知足入射角等于反射角就行。（×）2.干预晶面与实质晶面的差异在于：干预晶面是虚构的，指数间存在条约数n。（√）3.布拉格方程只波及X射线衍射方向，不可以反应衍射强度。（√）三、1、衍射方向在X射线波长必定的状况下取决与晶面间距（√）2、在一个晶面族中，等同晶面越多，参加衍射的概率就越大（√）3、X射线衍射线的峰宽能够反应出很多晶体信息，峰越宽说明晶粒越大（×）4、原子的热振动可使X射线衍射强度增大（×）5、温度一准时，衍射角越大，温度因子越小，衍射强度随之减小（√）6、布拉格方程只波及X射线衍射方向，不可以反应衍射强度（√）7、衍射角一准时，温度越高，温度因子越小，衍射强度随之减小（√）8、原子的热振动会产生各个方向散射的相关散射（×）四、1、大直径德拜相机能够提升衍射线接受分辨率，缩短嚗光时间。（×）2、在衍射仪法中，衍射几何包含二个圆。一个是测角仪圆，另一个是辐射源、探测器与试样三者还一定位于同一聚焦圆。（√）3、德拜法比衍射仪法丈量衍射强度更精准。（×）4、衍射仪法和德拜法相同，对试样粉末的要求是粒度均匀、大小适中，没有应力。（√）5、要精准丈量点阵常数。一定第一尽量减少系统偏差，其次选高角度θ角，最后还要用直线外推法或柯亨法进行数据办理。（√）6、粉末照相法所用的粉末试样颗粒越细越好（×）7、德拜相机的底片安装方式中，正装法多用于点阵常数确实定（×）8、依据不用光晶面的N值比值能够确立晶体构造（√）9、为了提升德拜相机的分辨率，在条件同意的状况下，应尽量采纳波长较长的x-ray源（√）10、在剖析大晶胞的试样时，应尽可能采纳波长较长的x-ray源，以便赔偿因为晶胞过大对分辨率的不良影响（√）11、选择小的接受光阑狭缝宽度，能够提升接受分辨率，但会降低接受强度（√）五、1、X射线衍射之所以能够进行物相定性剖析，是因为没有两种物相的衍射花式是完好相同的。（√）2、理论上X射线物相定性剖析能够告诉我们被测资猜中有哪些物相，而定量剖析能够告诉我们这些物相的含量有多少。（√）3、各相的衍射线条的强度跟着该相在混淆物中的相对含量的增添而加强（√）4、内标法仅限于粉末试样（√）5、哈氏索引和芬克索引均属于数值索引（√）6、PDF索引中晶面间距数值下脚标的x表示该线条的衍射强度待定（×）7、PDF卡片的右上角标有★说明数据靠谱性高（√）8、多相物质的衍射花式互相独立，互不扰乱（×）9、物相定性剖析时的试样制备，一定将择优取向减至最小（√）九、1、TEM的分辨率既受衍射效应影响，也受透镜的像差影响。（√）2、孔径半角α是影响分辨率的重要要素，TEM中的α角越小越好。（×）3、TEM中主假如电磁透镜，因为电磁透镜不存在凹面镜，所以不可以象光学显微镜那样经过凹凸镜的组合设计来减小或除去像差，故TEM中的像差都是不行除去的。（×）4、TEM的景深和焦长随分辨率r0的数值减小而减小；随孔径半角α的减小而增添；随放大倍数的提升而减小。（×）5、电磁透镜的景深和焦长随分辨率r0的数值减小而减小；随孔径半角α的减小而增添（√）6、光学显微镜的分辨率取决与照明光源的波长，波长越短，分辨率越高（√）7、波长越短，显微镜的分辨率越高，所以能够采纳波长较短的γ射线作为照明光源。（×）8、用小孔径角成像时可使球差显然减小。（√）9、限制电磁透镜分辨率的最主要要素是色差。（×）10、电磁透镜的景深越大，对聚焦操作越有益。（√）十、1、有效放大倍数与仪器能够达到的放大倍数不一样，前者取决于仪器分辨率和人眼分辨率，后者不过是仪器的制造水平。（√）2、物镜的分辨率主要决定于极靴的形状和加工精度（√）3、物镜光阑能够减小像差但不可以提升图像的衬度（×）4、物镜光阑孔越小，被挡去的电子越多，图像的衬度越大（√）5、物镜光阑能使物镜孔径角减小，能减小像差，获取质量较高的图像（6、物镜光阑是没有磁性的（√）7、利用电子显微镜进行图像剖析时，物镜和样品之间的距离是固定不变的（十二、

√）√）1、多晶衍射环和粉末德拜衍射花式相同，跟着环直径增大，衍射晶面指数也由低到高。（√）2、单晶衍射花式中的全部斑点同属于一个晶带。（×）3、偏离矢量S=0时，衍射斑点最亮。这是因为S=0时是精准知足布拉格方程，所以衍射强度最大。（√）4、对于未知晶体构造，仅凭一张衍射花式是不可以确立其晶体构造的。还要从不一样位向拍摄多幅衍射花式，并依据资料成分、加工历史等或联合其他方法综合判断晶体构造。（√）5、电子衍射和X射线衍射相同一定严格切合布拉格方程。（×）6、倒易矢量能独一地代表对应的正空间晶面。（√）十三、1、实质电镜样品的厚度很小时,能近似知足衍衬运动学理论的条件,这时运动学理论能很好地解说衬度像。（√）2、厚样品中存在消光距离ξg，薄样品中则不存在消光距离ξg。（×）3、明场像是质厚衬度，暗场像是衍衬衬度。（×）4、晶体中只需出缺点，用透射电镜就能够察看到这个缺点。（×）5、等厚消光条纹和等倾消光条纹往常是容貌察看中的扰乱，应当经过更好的制样来防止它们的出现。（×）十四、1、扫描电子显微镜中的物镜与透射电子显微镜的物镜相同。（×）2、扫描电子显微镜的分辨率主要取决于物理信号而不是衍射效应和球差。（√）3、扫描电子显微镜的衬度和透射电镜相同取决于质厚衬度和衍射衬度。（×）4、扫描电子显微镜拥有大的景深，所以它能够用来进行断口容貌的剖析察看。（√）十五、1、波谱仪是逐个接收元素的特色波进步行成分剖析；能谱仪是同时接收全部元素的特色射线进行成分剖析的。（√）

X名词解说：0、系统消光：因原子在晶体中地点不一样或原子种类不一样而惹起的某些方向上衍射线消逝的现象。1、构造因子：定量表征原子排布以及原子种类对衍射强度影响规律的参数。索引：数字索引的一种，每种物质的全部衍射峰之中，必定有三个峰的强度最大(而非面网间距最大)。把这三个强度最大的峰，按必定的规律排序，就构成了Hanawalt排序和索引方法。排序时，考虑到影响强度的要素比较复杂，为了减少因强度丈量的差异而带来的查找困难，索引中将每种物质列出三次。数据检索时，按实质衍射图谱中的3强峰进行数据检索，即可找到对应的衍射卡片。3.直接比较法：将试样中待测相某跟衍射线的强度与另一相的某根衍射线强度对比较的定量金相剖析方法。4.球差：即球面像差，是因为电磁透镜的中心地区和边沿地区对电子的折射能力不一样造成的。轴上物点发出的光束，经电子光学系统此后，与光轴成不一样角度的光芒交光轴于不一样地点，所以，在像面上形成一个圆形弥散斑，这就是球差。像散：由透镜磁场的非旋转对称惹起的像差。色差：因为电子的波长或能量非单调性所惹起的像差，它与多色光相像，所以叫做色差。5.景深：透镜物平面同意的轴向偏差。焦长：透镜像平面同意的轴向偏差。在成一幅清楚像的前提下，像平面不变，光景沿光轴前后挪动的距离称“景深”；光景不动，像平面沿光轴前后挪动的距离称“焦长”。斑：物体上的物点经过透镜成像时，因为衍射效应，在像平面上获取的其实不是一个点，而是一此中心最亮、四周带有明暗相间齐心圆环的圆斑，即所谓Airy斑。7.孔径半角：孔径半角是物镜孔径角的一半，而物镜孔径角是物镜光轴上的物体点与物镜前透镜的有效直径所形成的角度。所以，孔径半角是物镜光轴上的物体点与物镜前透镜的有效直径所形成的角度的一半。8.点分辨率与晶格分辨率：点分辨率是电镜能够分辨的两个物点间的最小间距；晶格分辨率是能够分辨的拥有最小面间距的晶格像的晶面间距。9.选区衍射：为了剖析样品上的一个细小地区，在样品上放一个选区光阑，使电子束只好经过光阑孔限制的微区，对这个微区进行衍射剖析。10.有效放大倍数：把显微镜最大分辨率放大到人眼的分辨本事（），让人眼能分辨的放大倍数，即眼睛分辨率/显微镜分辨率。11.质厚衬度：因为试样的质量和厚度不一样，各部分对入射电子发生互相作用，产生的汲取与散射程度不一样，而使得透射电子束的强度散布不一样，形成反差，称为质-厚衬度。12.偏离矢量s：倒易杆中心至与爱瓦尔德球面交截点的距离可用矢量s表示，s就是偏离矢量。晶带定律：凡是属于[uvw]晶带的晶面，它的晶面指数(hkl)都一定切合hu+kv+lw=0，往常把这类关系式称为晶带定律。14.相机常数：定义K=Lλ，称相机常数，此中L为镜筒长度，λ为电子波长。15.明场像：让透射束经过物镜光阑而把衍射束挡掉获取图像衬度的方法，叫明场成像，所获取的像叫明场像。16.暗场像：用物镜光阑挡住透射束及其他衍射束，而只让一束强衍射束经过光阑参加成像的方法，称为暗场成像，所得图象为暗场像。17.中心暗场像：用物镜光阑挡住透射束及其他衍射束，而只让一束强衍射束通过光阑参加成像的方法，称为暗场成像，所得图象为暗场像。假如物镜光阑处于光轴地点，所得图象为中心暗场像。18.消光距离ξg：晶体内透射波与衍射颠簸力学互相作用，使其强度在晶体深度方向上发生周期性振荡，振荡的深度周期叫消光距离。19.衍射衬度：入射电子束和薄晶体样品之间互相作用后，样品内不一样部位组织的成像电子束在像平面上存在强度差其他反应。衍射衬度主假如因为晶体试样知足布拉格反射条件程度差异以及构造振幅不一样而形成电子图象反差。20.背散射电子：入射电子被样品原子散射回来的部分；它包含弹性散射和非弹性散射部分；背散射电子的作用深度大，产额大小取决于样品原子种类和样品形状。21.汲取电子：入射电子进入样品后，经多次非弹性散射，能量损失殆尽（假定样品有足够厚度，没有透射电子产生），最后被样品汲取。汲取电流像能够反应原子序数衬度，相同也能够用来进行定性的微区成分剖析。22.特色X射线：原子的内层电子遇到激发此后，在能级跃迁过程中直接开释的拥有特色能量和波长的一种电磁波辐射。利用特色X射线能够进行成分剖析。23.二次电子：二次电子是指被入射电子轰击出来的核外电子。二次电子来自表面50-100的地区，能量为0-50eV。它对试样表面状态特别敏感，能有效地显示试样表面的微观容貌。24.俄歇电子：假如原子内层电子能级跃迁过程中开释出来的能量不以X射线的形式开释，而是用该能量将核外另一电子打出，离开原子变为二次电子，这类二次电子叫做俄歇电子。俄歇电子信号合用于表层化学成分剖析。25.波谱仪：电子探针的信号检测系统是X射线谱仪，用来测定X射线特色波长的谱仪叫做波长分别谱仪。26.能谱仪：电子探针的信号检测系统是X射线谱仪，用来测定X射线特色能量的谱仪叫做能量分别谱仪。问答题：1.什么叫“相关散射”、“短波限”、汲取限答：相关散射，物质中的电子在X射线电场的作用下，产生逼迫振动。这样每个电子在各方向产生与入射X射线同频次的电磁波。新的散射波之间发生的干预现象称为相关散射。短波限，连续X射线谱在短波方向有一个波长极限，称为短波限λ0.它是由光子一次碰撞就耗尽能量所产生的X射线。汲取限：主要因为光电效应惹起的汲取忽然增添所对应的X射线的波长。2.剖析以下荧光辐射产生的可能性，为何1）用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射；2）用CuKβX射线激发CuKα荧光辐射；3）用CuKαX射线激发CuLα荧光辐射。解：假定EK为K壳层的能量，EL为L壳层的能量，EM为M壳层的能量，CuKαX射线的能量为EK-EL，CuKβX射线的能量为EK-EM，CuKα荧光辐射的能量为EK-EL，CuLα荧光辐射的能量为EL-EM，1）不行能，用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射，需要EK的能量；2）不行能，用CuKβX射线激发CuKα荧光辐射，需要EK的能量；3）有可能，用CuKαX射线激发CuLα荧光辐射，需要EL的能量，详细能不可以还要比较EK-EL和EL的大小。3.特色x射线谱的产活力理。答：高速运动的粒子（电子或光子）将靶材原子核外电子击出去，或击到原子系统外，或填到未满的高能级上，原子的系统能量高升，处于激发态。为趋于稳固，原子系统自觉向低能态转变：较高能级上的电子向低能级上的空位跃迁，这一降低的能量以一个光子的形式辐射出来变为光子能量，且这降低能量为固定值（因原子序数固定），因此λ固定，所以辐射出特色X射线谱。4.布拉格方程2dsinθ=λ中的d、θ、λ分别表示什么布拉格方程式有何用途答：dHKL表示HKL晶面的面网间距，θ角表示掠过角或布拉格角，即入射X射线或衍射线与面网间的夹角，λ表示入射X射线的波长。该公式有二个方面用途：（1）已知晶体的d值。经过丈量θ，求特色X射线的λ，并经过λ判断产生特色X射线的元素。这主要应用于X射线荧光光谱仪和电子探针中。（2）已知入射X射线的波长，经过丈量θ，求晶面间距。并经过晶面间距，测定晶体构造或进行物相剖析。5.给出简单立方、面心立方、体心立方、密排六方以及体心四方晶体构造X衍射发生消光的晶面指数规律。答：常有晶体的构造消光规律简单立方对指数没有限制（不会产生构造消光）；面心立方h，k，l奇偶混淆；体心立方h+k+l=奇数；密排六方h+2k=3n,同时l=奇数；体心四方h+k+l=奇数。6.决定X射线强度的关系式是，试说明式中各参数的物理意义答：X射线衍射强度的公式试中各参数的含义是：I0为入射X射线的强度；λ为入射X射线的波长；

，为试样到观察点之间的距离；V为被照耀晶体的体积；Vc为单位晶胞体积；P为多重性因子，表示等晶面个数对衍射强度的影响因子；F为构造因子，反应晶体构造中原子地点、种类和个数对晶面的影响因子；A(θ)为汲取因子，圆筒状试样的汲取因子与布拉格角、试样的线汲取系数μl和试样圆柱体的半径相关；平板状试样汲取因子与μ相关，而与θ角没关；(θ)为角因子，反应样品中参加衍射的晶粒大小，晶粒数目和衍射线地点对衍射强度的影响；e-2M为温度因子=有热振动影响时的衍射强度无热振动理想状况下的衍射强度7.罗伦兹因数是表示什么对衍射强度的影响其表达式是综合了哪几方面考虑而得出的答：罗仑兹因数是三种几何因子对衍射强度的影响，第一种几何因子表示衍射的晶粒大小对衍射强度的影响，罗仑兹第二种几何因子表示晶粒数目对衍射强度的影响，罗仑兹第三种几何因子表示衍射线地点对衍射强度的影响。8.试比较衍射仪法与德拜法的优弊端1）简易迅速（2）分辨能力强（3）直接获取强度数据（4）低角度区的2θ丈量范围大（5）样品用量大（6）设施较复杂，成本高。9.试总结德拜法衍射花式的背底根源，并提出一些防备和减少背底的举措。答：德拜法衍射花式的背底根源是入射波的非单色光、进入试样后出生的非相关散射、空气对X射线的散射、温度颠簸惹起的热散射等。采纳的举措有尽量使用单色光、缩短曝光时间、恒温试验等。10.粉末样品颗粒过大或过小对德拜花式影响如何为何板状多晶体样品晶粒过大或过小对衍射峰形影响又如何答.粉末样品颗粒过大会使德拜花式不连续，或过小，德拜宽度增大，不利于分析工作的进行。因为当粉末颗粒过大（大于10-3cm）时，参加衍射的晶粒数减少，会使衍射线条不连续；可是粉末颗粒过细（小于10-5cm）时，会使衍射线条变宽，这些都不利于剖析工作。多晶体的块状试样，假如晶粒足够细将获取与粉末试样相像的结果，即衍射峰宽化。但晶粒粗大时参加反射的晶面数目有限，所以发生反射的概率变小，这样会使得某些衍射峰强度变小或不出现。11.实验中选择X射线管以及滤波片的原则是什么已知一个以Fe为主要成分的样品，试选择适合的X射线管和适合的滤波片答：实验中选择X射线管的原则是为防止或减少产生荧光辐射，应当防止使用比样品中主元素的原子序数大2~6（特别是2）的资料作靶材的X射线管。选择滤波片的原则是X射线剖析中，在X射线管与样品之间一个滤波片，以滤掉Kβ线。滤波片的资料依靶的资料而定，一般采纳比靶材的原子序数小1或2的资料。剖析以铁为主的样品，应当采纳Co或Fe靶的X射线管，它们的分别相应选择Fe和Mn为滤波片。12.电子波有何特色与可见光有何异同答：电子波的波长较短，轴对称非均匀磁场能使电子波聚焦。其波长取决于电子运动的速度和质量，电子波的波长要比可见光小5个数目级。二者都是波，拥有波粒二象性，波的大小、产生方式、聚焦方式等不一样。13.电磁透镜的像差是如何产生的，如何来除去或减小像差答：电磁透镜的像差能够分为两类：几何像差和色差。几何像差是因为投射磁场几何形状上的缺点造成的，色差是因为电子波的波长或能量发生必定幅度的改变而造成的。几何像差主要指球差和像散。球差是因为电磁透镜的中心地区和边沿地区对电子的折射能力不切合预约的规律造成的，像散是由透镜磁场的非旋转对称惹起的。除去或减小的方法：球差：减小孔径半角或减小焦距均可减小球差，特别小孔径半角可使球差显然减小。像散：引入一个强度和方向都能够调理的改正磁场即消像散器予以赔偿。色差：采纳稳固加快电压的方法有效地较小色差。14.说明影响光学显微镜和电磁透镜分辨率的重点要素是什么如何提升电磁透镜的分辨率答：光学显微镜的分辨本事取决于照明光源的波长。电磁透镜的分辨率由衍射效应和球面像差来决定，球差是限制电磁透镜分辨本事的主要要素。若只考虑衍射效应，在照明光源和介质必定的条件下，孔径角α越大，透镜的分辨本事越高。若同时考虑衍射和球差对分辨率的影响，重点在确立电磁透镜的最正确孔径半角，使衍射效应斑和球差散焦斑的尺寸大小相等。15.电磁透镜景深和焦长主要受哪些要素影响说明电磁透镜的景深大、焦长长，是什么要素影响的结果假定电磁透镜没有像差，也没有衍射Airy斑，即分辨率极高，此时景深和焦长如何r0Df2r02r0.答：电磁透镜景深与分辨本事、孔径半角之间关系：tg表明孔径半角越小、景深越大。透镜集长DL与分辨本事r0，像点所张孔径半角2r0M2r0MDL2r0M2DLM，，M为透镜放大的关系：tan，倍数。当电磁透镜放大倍数和分辨本事一准时，透镜焦长随孔径半角减小而增大。电磁透镜的景深长、焦长长，是因为小孔径半角影响的结果。假如电磁透镜没有像差，也没有衍射Airy斑，即分辨率极高，此时没有景深和焦长。16、消像散器的作用和原理是什么答：消像散器的作用就是用来除去像散的。其原理就利用外加的磁场把固有的椭圆形磁场校订成凑近旋转对称的磁场。机械式的消像散器式在电磁透镜的磁场四周搁置几块地点能够调理的导磁体来吸引一部分磁场进而校订固有的椭圆形磁场。而电磁式的是经过电磁板间的吸引和排挤来校订椭圆形磁场的。17.分别说明成像操作与衍射操作时各级透镜（像平面与物平面）之间的相对地点关系，并画出光路图。答：假如把中间镜的物平面和物镜的像平面重合，则在荧光屏上获取一幅放大像，这就是电子显微镜中的成像操作，如图（a）所示。假如把中间镜的物平面和物镜的后焦面重合，则在荧光屏上获取一幅电子衍射花式，这就是电子显微镜中的电子衍射操作，如图（b）所示。18.什么是衍射衬度它与质厚衬度有什么差异答：因为样品中不一样位相的衍射条件不一样而造成的衬度差异叫衍射衬度。它与质厚衬度的差异：质厚衬度是成立在原子对电子散射的理论基础上的，而衍射衬度则是成立在晶体对电子衍射基础之上。质厚衬度利用样品薄膜厚度的差异和均匀原子序数的差异来获取衬度，而衍射衬度则是利用不一样晶粒的晶体学位相不一样来获取衬度。质厚衬度应用于非晶体复型样品成像中，而衍射衬度则应用于晶体薄膜样品成像中。19.制备复型的资料应具备什么条件1）复型资料自己一定是非晶态资料。2）复型资料的粒子尺寸一定很小。3）复型资料应具备耐电子轰击的性能，即在电子束照耀下能保持稳固，不发生疏解和损坏。20.剖析电子衍射与X衍射有何异同答：相同点：都是以知足布拉格方程作为产生衍射的必需条件。两种衍射技术所获取的衍射花式在几何特色上大概相像。不一样点：电子波的波长比x射线短的多，在相同知足布拉格条件时，它的衍射角很小，约2为10-2rad。而X射线产生衍射时，其衍射角最大可凑近。在进行电子衍射操作时采纳薄晶样品，增添了倒易阵点和爱瓦尔德球订交截的时机，使衍射条件变宽。因为电子波的波长短，采纳爱瓦尔德球图解时，反射球的半径很大，在衍射角θ较小的范围内反射球的球面能够近似地当作是一个平面，进而也