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文档简介

1、实验一组合逻辑电路设计(含门电路功能测试)(总4页)-本页仅作为文档封面，使用时请直接删除即可-内页能够依据需求调整适合字体及大小-实验一组合逻辑电路设计（含门电路功能测试）一、实验目的掌握常用门电路的逻辑功能掌握小规模集成电路设计组合逻辑电路的方法掌握组合逻辑电路的功能测试方法二、实验设施与器械数字电路试验箱双踪示波器稳压电源数字多用表74LS20二4输入与非门74LS00四2输入与非门74LS10三3输入与非门三、实验原理TTL集成逻辑电路种类众多，使用时应付采用的器件做简单逻辑功能检查，保证明验的顺利进行。测试门电路逻辑功能有静态测试和动向测试两种方法。静态测试时，门电路输入端加固定的高

2、（H）、低电平，用示波器、万用表、或发光二极管（LED）测出门电路的输出响应。动向测试时，门电路的输入端加脉冲信号，用示波器观察输入波形与输出波形的同步关系。下边以74LS00为例，简述集成逻辑门功能测试的方法。74LS00为四输入2与非门，电路图如3-1所示。74LS00是将四个二输入与非门封装在一个集成电路芯片中，共有14条外引线。使用时一定保证在第14脚上加+5V电压，第7脚与底线接好。整个测试过程包含静态、动向和主要参数测试三部分。表3-174LS00与非门真值表ABC0010112101110门电路的静态逻辑功能测试静态逻辑功能测试用来检查门电路的真值表，确认门电路的逻辑功能正确与否。实验时，可将74LS00中的一个与非门的输入端A、B分别作为输入逻辑变量，加高、低电平，观察输出电平能否切合74LS00的真值表（表3-1）描绘功能。测试电路如图3-2所示。试验中A、B输入高、低电平，由数字电路实验箱中逻辑电平产生电路产生，输入F可直接插至逻辑电平不过电路的某一路进行显示。仿真表示门电路的动向逻辑功能测试动向测试用于数字系统运转中逻辑功能的检查，测试时，电路输入串行数字信号，用示波器比较输入与输出信号波形，以此来确立电路的功能。实验时，与非门输入端A加一频次为1kHz的脉冲信号Vi，如图3-3所示，另一端加上开关信

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