扫描电子显微镜在材料学科中的运用

1、课程（论文）成绩:课程（论文）评分依据（必填）:任课教师签字:日期：年月曰课程（论文）题目扫描电子显微镜在材料学科中的运用内容：摘要随着科学技术的发展进步，我们不在局限于观察宏观的物质或者结构，而电子显微镜的发明足以让我们观察到更细致的微观世界。在研究材料领域中，电子显微镜起着举足轻重的作用，而电子显微镜分为透射电子显微镜（TEM）和扫描电子显微镜（SEM）。扫描电镜主要运用材料科学的表面结构研究，共混物的分相，各种复合材料的应力缺陷，物质晶体结构及其应力变化等。所以说扫描电镜在材料性能研究与应用中扮演着的非常重要的角色。关键词：电子显微镜；透射电镜；扫描电镜；材料；应用前言自从1965年第一

2、台商品扫描电镜问世以来，经过40多年的不断改进，扫描电镜的分辨率从第一台的25nm提高到现在的0.01nm，而且大多数扫描电镜都能通X射线波谱仪、X射线能谱仪等组合，成为一种对表面微观世界能过经行全面分析的多功能电子显微仪器。近年来，随着现代科学技术的不断发展，相继开发了环境扫描电子显微镜、扫描隧道显微镜、原子力显微镜等其它一些新的电子显微技术。这些技术的出现，显示了电子显微技术近年来自身得到了巨大的发展，尤其是大大扩展了电子显微技术的使用范围和应用领域。在材料科学中的应用使材料科学研究得到了快速发展，取得了许多新的研究成果。扫描电镜已成为各种科学领域和工业部门广泛应用的有力工具。从地学、生物

3、学、医学、冶金、机械加工、材料、半导体制造、陶瓷品的检验等均大量应用扫描电镜作为研究手段。在材料领域中，扫描电镜技术发挥着极其重要的作用，被广泛应用于各种材料的形态结构、界面状况、损伤机制及材料性能预测等方面的研究。利用扫描电镜可以直接研究晶体缺陷及其生产过程，可以观察金属材料内部原子的集结方式和它们的真实边界，也可以观察在不同条件下边界移动的方式，还可以检查晶体在表面机械加工中引起的损伤和辐射损伤等。1扫描电镜11扫描电镜的发展扫描电镜的设计思想早在1935年便已提出，1942年在实验室制成第一台扫描电镜，但因受各种技术条件的限制，进展一直很慢。1965年，在各项基础技术有了很大进展的前提下

4、才在英国诞生了第一台实用化的商品仪器。此后，荷兰、美国、西德也相继研制出各种型号的扫描电镜，日本二战后在美国的支持下生产出扫描电镜，中国则在20世纪70年代生产出自己的扫描电镜。前期近20年，扫描电镜主要是在提高分辨率方面取得了较大进展。80年代末期，各厂家的扫描电镜的二次电子像分辨率均已达到4.5nm。在提高分辨率方面各厂家主要采取了如下措施：(1)降低透镜球像差系数，以获得小束斑；(2)增强照明源即提高电子枪亮度(如采用LaB6或场发射电子枪)；(3)提高真空度和检测系统的接收效率；(4)尽可能减小外界振动干扰。目前，采用钨灯丝电子枪扫描电镜的分辨率最高可以达到3.0nm；采用场发射电子枪

5、扫描电镜的分辨率可达1nm。12扫描电子显微镜的组成部分扫描电子显微镜由三大部分组成：真空系统，电子束系统以及成像系统。每个部分都有其相应的作用。真空系统真空系统主要包括真空泵和真空柱两部分。其中真空柱是一个密封的柱形容器，而真空泵用来在真空柱内产生真空。真空泵有机械泵、油扩散泵以及涡轮分子泵三大类，机械泵加油扩散泵的组合可以满足配置钨枪的SEM的真空要求，但对于装置了场致发射枪或六硼化镧枪的SEM,则需要机械泵加涡轮分子泵的组合。成像系统和电子束系统均内置在真空柱中。真空柱底端即为密封室，用于放置样品。之所以要用真空，主要基于以下两点原因：电子束系统中的灯丝在普通大气中会迅速氧化而失效，所以

6、除了在使用SEM时需要用真空以外，平时还需要以纯氮气或惰性气体充满整个真空柱。2）电子束系统电子束系统由电子枪和电磁透镜两部分组成，主要用于产生一束能量分布极窄的、电子能量确定的电子束用以扫描成像。电子枪用于产生电子，主要有两大类，共三种。一类是利用场致发射效应产生电子，称为场致发射电子枪。这种电子枪极其昂贵，在十万美元以上，且需要极高真空。另一类则是利用热发射效应产生电子，有钨枪和六硼化镧枪两种。热发射电子需要电磁透镜来成束，所以在用热发射电子枪的SEM上,电磁透镜必不可少。通常会装配两组汇聚透镜：顾名思义，汇聚透镜用汇聚电子束，装配在真空柱中，位于电子枪之下。通常不止一个，并有一组汇聚光圈

7、与之相配。但汇聚透镜仅仅用于汇聚电子束，与成像会焦无关。物镜为真空柱中最下方的一个电磁透镜，它负责将电子束的焦点汇聚到样品表面。3）成像系统电子经过一系列电磁透镜成束后，打到样品上与样品相互作用，会产生次级电子、背散射电子、欧革电子以及X射线等一系列信号。所以需要不同的探测器譬如次级电子探测器、X射线能谱分析仪等来区分这些信号以获得所需要的信息。虽然X射线信号不能用于成像，但习惯上，仍然将X射线分析系统划分到成像系统中。13扫描电镜的工作原理扫描电镜的工作原理如图1所示。图1扫描电镜原理图扫描电镜由电子枪发射出来的电子束，在加速电压的作用下，经过磁透镜系统汇聚，形成直径为5nm，经过二至三个电

8、磁透镜所组成的电子光学系统，电子束会聚成一个细的电子束聚焦在样品表面。在末级透镜上边装有扫描线圈，在它的作用下使电子束在样品表面扫描。由于高能电子束与样品物质的交互作用，结果产生了各种信息：二次电子、背反射电子、吸收电子、X射线、俄歇电子、阴极发光和透射电子等。这些信号被相应的接收器接收，经放大后送到显像管的栅极上，调制显像管的亮度。由于经过扫描线圈上的电流是与显像管相应的亮度一一对应，也就是说，电子束打到样品上一点时，在显像管荧光屏上就出现一个亮点。扫描电镜就是这样采用逐点成像的方法，把样品表面不同的特征，按顺序，成比例地转换为视频信号，完成一帧图像，从而使我们在荧光屏上观察到样品表面的各种

9、特征图像。1.4扫描电镜的附件扫描电镜一般都配有波谱仪或者能谱仪。波谱仪是利用布拉格方程2dsin9=X，从试样激发出了X射线经适当的晶体分光，波长不同的特征X射线将有不同的衍射角20。波谱仪是微区成分分析的有力工具。波谱仪的波长分辨率是很高的，但是由于X射线的利用率很低，所以它使用范围有限。能谱仪是利用X光量子的能量不同来进行元素分析的方法，对于某一种元素的X光量子从主量子数胃n的层跃迁到主量子数为n的层上时，有12特定的能量E=E-E。能谱仪的分辨率高，分析速度快，但分辨本领差，n1n2经常有谱线重叠现象，而且对于低含量的元素分析准确度很差。波谱仪和能谱仪是不能互相取代的，只能是互相补充。

10、2扫描电镜的应用21扫描电镜在纳米材料方面的运用纳米材料是纳米科学技术最基本的组成部分。现在可以用物理、化学及生物学的方法制备出只有几个纳米的“颗粒”由于纳米材料表面上的原子只受到来自内部一侧的原子的作用，十分活泼，所以使用纳米金属颗粒粉作催化剂，可加快化学反应过程。纳米材料的应用非常广泛，比如通常陶瓷材料具有高硬度、耐磨、抗腐蚀等优点，但又具有脆性和难以加工等缺点，纳米陶瓷在一定的程度上却可增加韧性，改善脆性。复合纳米固体材料亦是一个重要的应用领域。例如含有20%超微钻颗粒的金属陶瓷是火箭喷气口的耐高温材料；金属铝中含进少量的陶瓷超微颗粒，可制成重量轻、强度高、韧性好、耐热性强的新型结构材料

11、。纳米材料的一切独特性能主要源于它的超微尺寸，因此必须首先切确地知道其尺寸，否则对纳米材料的研究及应用便失去了基础。目前该领域的检测手段和表征方法可以使用透射电子显微镜、扫描隧道显微镜、原子力显微镜等技术，但高分辨率的扫描电镜在纳米级别材料的形貌观察和尺寸检测方面因具有简便、可操作性强的优势，也被大量采用。另外如果将扫描电子显微镜与扫描隧道显微镜结合起来，还可使普通的扫描电子显微镜升级改造为超高分辨率的扫描电子显微镜。2.2观察材料的表面形貌观察材料的表面形貌图2热轧态Mg侧剥离面SEM形貌热轧包铝镁板（轧制温度400C、压下率45%）Mg侧剥离面SEM形貌如图2所示。由图可清楚的观察到在剥离

12、面上存在大量撕裂棱、撕裂平台，在撕裂平台上还存在许多放射状小条纹和韧窝。2.3观察材料第二相从图3中可以清楚的观察到破碎后的第二相MgAl尺寸约为4um，在DigitalME为曲1巧向迪宓“大块”MgAl附近有许多弥散分布的的小颗粒，尺寸在0.5um左右，此1712为热轧后冷却过程中由a-Mg基过饱和固溶体中析出的二次MgAl相，呈1712这种形态分布的细小第二相MgAl能有效的阻碍位错运动，提高材料强度,1712起到弥散强化的作用，而不会明显降低镁合金的塑性。2.4观察材料界面ft.-AlOKa,15Al图4Mg/Al轧制界面线扫描图4是Mg/Al轧制复合界面的线扫描图像，从图中我们可以看到

13、，穿过Mg和Al的界面进行线扫描，可以得到，在Al的一侧，Mg含量低，在Mg一侧，Al几乎为零；但在界面处，Mg和Al各大约占一半，说明在界面处发生了扩散，形成了Mg和Al的扩散层。2.5观察材料断口(a)铸态(b)热轧态图5镁合金拉伸断口形貌镁合金铸态试样拉伸断口SEM扫描形貌如图5所示。从图5(a)可以观察到明显的解理断裂平台，在最后撕裂处也存在少量韧窝，基本上属于准解理断裂，塑性较差。这是因为铸态镁合金晶界处存在粗大的脆性第2相MgAl,在拉伸变形过程中容易破碎形成裂纹源。热轧态镁合金拉伸试1712样断口处有明显的缩颈现象，其宏观断口SEM扫描形貌如图5（b）所示，呈现出以韧窝为主的延性

14、断口形貌特征，韧窝大小为520um。2.6镀层表面形貌分析和深度检测金属材料零件在使用过程中不可避免地会遭受环境的侵蚀，容易发生腐蚀现象。为保护母材、成品件，常常需要进行诸如磷化、达克罗等表面防腐处理。有时为利于机械加工，在工序之间也进行镀膜处理。由于镀膜的表面形貌和深度对使用性能具有重要影响，所以常常被作为研究的技术指标。镀膜的深度很薄，由于光学显微镜放大倍数的局限性，使用金相方法检测镀膜的深度和镀层与母材的结合情况比较困难，而扫描电镜却可以很容易完成。使用扫描电镜观察分析镀层表面形貌是方便、易行的最有效的方法，样品无需制备，只需直接放入样品室内即可放大观察。2.7微区化学成分分析在样品的处

15、理过程中，有时需要提供包括形貌、成分、晶体结构或位向在内的丰富资料，以便能够更全面、客观地进行判断分析为此，相继出现了扫描电子显微镜一电子探针多种分析功能的组合型仪器。扫描电子显微镜如配有X射线能谱（EDS）和X射线波谱成分分析等电子探针附件，可分析样品微区的化学成分等信息材料。内部的夹杂物等，由于它们的体积细小，因此，无法采用常规的化学方法进行定位鉴定扫描电镜可以提供重要的线索和数据工程材料失效分析常用的电子探针的基本工作方式为：（1）对样品表面选定微区作定点的全谱扫描定性；（2）电子束沿样品表面选定的直线轨迹作所含元素浓度的线扫描分析；（3）电子束在样品表面作面扫描，以特定元素的射线讯号调

16、制阴极射线管荧光屏亮度，给出该元素浓度分布的扫描图像。一般而言，常用的X射线能谱仪能检测到的成分含量下限为0.1%（质量分数）可以应用在判定合金中析出相或固溶体的组成、测定金属及合金中各种元素的偏析、研究电镀等工艺过程形成的异种金属的结合状态、研究摩擦和磨损过程中的金属转移现象以及失效件表面的析出物或腐蚀产物的鉴别等方面。2.8铁电畴的观测压电陶瓷由于具有较大的力电功能转换率及良好的性能可调控性等特点在多层陶瓷驱动器、微位移器、换能器以及机敏材料与器件等领域获得了广泛的应用。随着现代技术的发展，铁电和压电陶瓷材料与器件正向小型化、集成化、多功能化、智能化、高性能和复合结构发展，并在新型陶瓷材料

17、的开发和研究中发挥重要作用。铁电畴（简称电畴）是其物理基础，电畴的结构及畴变规律直接决定了铁电体物理性质和应用方向。电子显微术是目前观测电畴的主要方法，其优点在于分辨率高，可直接观察电畴和畴壁的显微结构及相变的动态原位观察（电畴壁的迁移）。扫描电子显微镜观测电畴是通过对样品表面预先进行化学腐蚀来实现的，由于不同极性的畴被腐蚀的程度不一样，利用腐蚀剂可在铁电体表面形成凹凸不平的区域从而可在显微镜中进行观察。因此，可以将样品表面预先进行化学腐蚀后，利用扫描电子显微镜图像中的黑白衬度来判断不同取向的电畴结构。对不同的铁电晶体选择合适的腐蚀剂种类、浓度、腐蚀时间和温度都能显示良好的畴图样。在实际分析工

18、作中，往往在获得形貌放大像后，希望能在同一台仪器上进行原位化学成分或晶体结构分析，提供包括形貌、成分、晶体结构或位向在内的丰富资料，以便能够更全面、客观地进行判断分析。为了适应不同分析目的的要求，在扫描电子显微镜上相继安装了许多附件，实现了一机多用，成为一种快速、直观、综合性分析仪器。把扫描电子显微镜应用范围扩大到各种显微或微区分析方面，充分显示了扫描电镜的多种性能及广泛的应用前景。3扫描电镜在宝石学中的应用扫描电镜在宝石学中的主要用途就是对样品进行细微结构的观察，从而鉴别宝玉石。特别是在区别贝壳与珍珠结构，鉴定镀膜处理的珍贵宝石,分析软玉的结构以及鉴别天然翡翠与其优化处理品等方面的应用尤为广

19、阔。以下特别介绍扫描电镜在这几方面的研究。3.1贝壳与珍珠的研究应用扫描电镜对蚌科贝壳的细微结构进行观察，从而与珍珠的珍珠层结构进行对比。利用原子力显微镜（AFM）结合传统的扫描电镜（SEM）观察不同质量的珍珠表面，在微米级至纳米级的范围内对珍珠表面进行了全面的超显微结构特征分析，探讨SEM下无法涉及的珍珠纳米级表面结构与珍珠物理特性（光泽度、粗糙度、伴色）之间的相关性。研究显示，珍珠等级与文石层、文石微层、文石板块及其内部文石集合体的有序度、致密度等均呈正相关关系。本文还提出在珍珠养殖与交易的珍珠分级中可利用微形貌数据如平均粗糙度（Ra）增加定量化标准。32镀膜黄玉的鉴定现阶段，镀膜黄玉的技

20、术日臻完善，普通的鉴定手段已不再适用，如第三代镀膜黄玉只有在扫描电镜的观察下才能很清楚其结构特征，并能够估算其膜层厚度。根据研究分析结果表明第三代新技术镀膜样品的膜层致密,不易脱落，划痕较少；而第一代和第二代样品膜层脱落处表面凹凸不平膜层比较容易脱落。还有比较长的划痕，说明这两代镀膜样品的膜层粘附力较第三代差。根据膜层和黄玉表面之间的明暗高度差估算出第一代镀膜样品的膜层厚度约为0.300um，第二代镀膜样品的膜层厚度约为0.500一I.OOOum，第三代镀膜样品的膜层厚度约为0.123一0.220um。第二代镀膜样品可能为多层镀膜。33软玉结构的分析利用扫描电镜与电子探针对四川软玉猫眼纤维状结构和成分进行分析，我们可以得出这样的结论：透闪石主要呈近于平行定向排列的显微纤维状，显微纤维变晶结构是软玉呈现猫眼效应的根本原因。透闪石的形成有不同的期次：早期为短柱状，呈斑状变晶；中期为片状，呈集合体对短柱状交代。晚期为近于平行定向排列的纤维状。扫描电镜分析表明透闪石纤维相互穿插绞合是玉石表现出高韧性和较强抗断裂性能的主要因素。通过对软玉结构的分析，可以