GBT3323与JBT 4730的对比解析课件

1、GB/T33232005 与JB/T 4730.2005的对比解析强天鹏 江苏省特种设备安全监督检验研究院20081、名称、性质1、名称及内容2、标准的性质与地位说明：推荐性标准与强制性标准背景资料：2006年3月27日，国家质检总局质检办特函（2006）144号关于锅炉压力容器安全监察工作有关问题的意见中规定：承压设备无损检测执行JB/T47302005，因此在承压设备领域，JB/T4730实质上变为强制性标准。3、标准体系和技术路线GB/T33232005等同采用欧洲标准EN1435:1997焊接接头的射线检测修改:增加焊接接头质量分级；删除了“采用相同的透照和技术方法能保证射线底片像质数

2、值一样，不必每张底片放置像质计”；增加了“对有延迟裂纹倾向的材料，至少应在焊后24h以后进行射线照相检测。”的规定。3、标准体系和技术路线JB/T 4730.2005依据欧洲，参考美国，兼顾JB/T473094。协调性：以欧洲标准EN1435:1997（ISO5579）为主线，解决了与GB/T3323协调问题。适用性：在继承、改进、完善的基础上，保持与JB/T473094的连贯性。特殊性：满足承压设备的一些限制和要求。4、标准适用范围在检测对象结构、材质，检测使用的设备、器材等方面，GB/T3323的限制性规定更少一些，给出的种类和参数更多一些，其适用性也更广一些。JB/T4730只针对承压设

3、备所使用的材料；GB/T3323应可用于各种金属材料。JB 4730.2适用的厚度范围：在评级条款中规定了适用的厚度范围。GB/T3323未规定适用的厚度范围，由像质计适用范围看，其适用厚度下限可小于1.2mm，适用厚度上限可大于375mm，6、射线照相技术适用的焊接接头GB/T3323规定：适用于熔化焊焊接接头JB/T4730.2规定：适用于熔化焊对接接头说明：按照JB /T 4708的定义，焊接接头有8种型式，分别是：对接接头对接焊缝；T形接头对接焊缝；角接接头对接焊缝；锁底接头对接焊缝；角接接头角焊缝；T形接头角焊缝；搭接接头角焊缝；对接接头角焊缝。GB/T3323对焊接接头的8种型式全

4、部适用。JB/T4730.2只适用于全焊透的对接接头对接接头对接焊缝（双面焊、单面焊）锁底接头对接焊缝（加垫板单面焊）。6、射线照相技术适用的焊接接头其他各种角接接头对接焊缝，各种型接头对接焊缝，各种角焊缝均不适用JB/T4730.2。为什么JB/T4730 不包括角接接头、型接头和角焊缝？因为编写组认为：对角接接头和型接头的工艺和评级技术准备不足。不包括不焊透的角焊缝则是因为承压设备不允许采用。8、射线胶片胶片系统分级GB/T33232005分为C1 、C2、C3、C4、C5、C6，六个级别。JB/T4730.22005 分为T1、 T2、 T3、T4，四个级别。GB/T3323附录给出了C

5、系列和T系列对应关系：C1 、C2T1；C3、C4T2；C5T3；C6T4。8、射线胶片胶片系统分级关于各种标准胶片系统分级情况：EN584-1：1995分级：C1,C2,C3,C4,C5,C6；GB/T 19348:1- 2003分级：T1,T2,T3,T4ISO 11699-1：1998分级：T1,T2,T3,T4ASME SE-1815（1996）分级：特,W-A,W-B,W-C JIS K7627-1997分级：T1,T2,T3,T4,W-A,W-B,W-8、射线胶片胶片系统分级胶片分类规定的演变按粒度分级：二十世纪7080年代【DIN 54111-1:1977（G1,G2,G3）】；

6、按粒度和感光速度分级：二十世纪8090年代【ISO 5579:1985（G,G,G,G）】； 按梯度、颗粒度、梯噪比分级：二十世纪90年代中期至今【EN584-1：1995；ASME SE-1815（1996）；ISO 11699-1：1998；JIS K7627-1997】。9、射线胶片胶片使用：为什么在使用胶片方面JB/T4730.2未采用与GB/T3323相同的规定？1、GB/T3323的规定太复杂；2、国内胶片产品品种不多；3、JB/T4730.2编写组认为：胶片选择的重要依据应是射源种类和材料种类4、JB/T4730编写组认为：对低能X射线胶片选择可不作细分。9、射线胶片胶片使用：为

7、什么JB/T4730.2规定：使用射线对裂纹敏感性大的材料进行射线检测，应采用T2类或更高类别的胶片？使用梯噪比等级更高的胶片是提高射线照相灵敏度最有效措施实践证明，以Ir192或Se75射线源与T3类型胶片（天津）配合使用，裂纹检出率很低。如以配合使用T2类型胶片（天津）可以明显提高裂纹检出率 。10、增感屏GB/T3323关于增感屏使用厚度的划分比JB/T4730细，此外还有以下不同点：（1）GB/T3323规定的增感屏使用厚度与胶片有关，而JB/T4730规定的增感屏使用厚度与胶片基本无关。（2）按GB/T3323规定：Co 60和1MeV以上X射线，一般不使用铅增感屏。国内1MeV以上

8、X射线照相仍用铅增感屏，上海锅炉厂等单位试制过钢、铜、钽金属屏，用于加速器高能射线照相。 11、像质计GB/T3323采用线型像质计和阶梯孔型像质计JB/T4730.2采用线型像质计，有普通和专用（等径金属丝）像质计两种。JB/T4730.2未采用孔型像质计。GB/T3323有可使用“射线吸收系数小于被检材料”的像质计，ASME也有“可使用比被透照材料射线吸 收性能低的合金材料制作的像质计”，但JB/T4730.2无类似规定。实际使用时，铁（Fe）像质计可用于镍（Ni）、铜（Cu）材料的照相；不可用于钛（Ti）、铝（Al）材料的照相。11、像质计新JB/T7902-2006无损检测 射线照相检

9、测用线型像质计：参照:ISO 19232-1:2004 ；EN 462-1:1994制订。金属丝直径扩展到：119号。材料：钢、铝、钛、铜以及其他金属。 组号：1号像质计1 7号金属丝（3.20.8mm）；6号像质计6 12号金属丝（1.00.25mm）；10号像质计10 16号金属丝（0.40.1mm ）；13号像质计13 19号金属丝（0.20.05mm ； 浙江缙云像质计厂开发的多种像质计，精度满足要求，其丝径从0.05mm至3.2mm；材质包括碳钢、不锈钢、铝、铜、钛、镍、鋯等。12、检测时机 GB/T3323：除非另有规定，射线检测应在制造完工后进行。对有延迟裂纹倾向的材料，至少应在

10、焊后24h以后进行射线照相检测。 JB/T4730.2 ：除非另有规定，射线检测应在焊后进行。有延迟裂纹倾向的材料，至少应在焊接完成24h后进行射线检测。说明：GB/T3323射线检测应在“制造完工后进行”的规定是参照EN1435的描述。EN1435规定的全文是：除非另有规定，射线照相应在制造完工后进行，例如在抛光后或热处理后进行。JB/T4730编写组认为：射线检测是针对焊接接头的，因此，用“焊后”比“制造完工后”清晰。 13、射线检测技术等级选择GB/T3323：射线透照技术等级的选择，应按相关规程及设计要求由合同各方商定当A级灵敏度不能满足检测要求时，应采用B级透照技术。当需要采用优于B

11、级的透照技术时，相应的检测参数可由合同各方商定。13、射线检测技术等级选择GB/T3323检测技术等级的选择的其它规定：当B级规定的透照条件（例如射源种类或射源-工件表面距离f）无法实现时，经合同各方商定，也可选用A级规定的条件，此时灵敏度的损失可通过将底片黑度增高至3.0，或选用较高对比度的胶片系统来补偿，因所得灵敏度优于A级，工件可认为是按B级技术透照的。但对6.1.4和6.1.5所规定的透照布置，要按6.6所述缩短fmin时，上述灵敏度补偿法不适用。13、射线检测技术等级选择承压设备在用检测中，由于结构、环境、射线设备等方面限制,检测的某些条件不能满足AB级射线检测技术的要求时, 经检测

12、方技术负责人批准,在采取有效补偿措施（例如选用更高类别的胶片）后可采用A级技术进行射线检测，但应同时采用其他无损检测方法进行补充检测。13、射线检测技术等级选择GB/T3323的射线透照技术等级除A级、B级外，还可采用优于B级的透照技术。JB/T4730.2对承压设备射线透照技术等级应采用AB级的强制规定，是国家特种设备安全监察法规的规定。GB/T3323规定，如透照条件需要缩短fmin，则灵敏度补偿法不适用。JB/T4730.2未做此规定。对承压设备在用检测，在特殊情况下，JB/T4730.2中允许采用A级技术进行射线检测， 但必须经检测方技术负责人批准；要求采取有效补偿措施；同时要求采用其

13、他无损检测方法进行补充检测。14、辐射防护 GB/T3323：射线照相的辐射防护应遵循GB4792、GB 16357和GB 18465。 JB/T4730.2：放射卫生防护应符合GB18871、GB 16357和GB 18465的有关规定。 说明：GB 4792放射卫生防护基本标准已被GB 188712002电离辐射防护及辐射源安全基本标准取代。15、透照布置 GB/T3323：列出19种透照布置，包括插入式管座填角焊缝的4种透 照方法（单壁外透法 单壁内透法 单壁内透偏心法 双壁单影法）；和骑座式管座填角焊缝的3种透照方法：（单壁外透法 单壁内透法 单壁内透偏心法）。 JB/T4730.2：

14、附录C（资料性附录），列出了8种透照布置。说明：角接接头对接焊缝是承压设备采用的，而JB/T4730.2 比GB/T3323少列了此类焊接接头，今后应考虑增补。JB/T4730没有列入的几种透照布置插入式管座填角焊缝（4种）1、单壁外透法 2、单壁内透法3、单壁内透偏心法 4、双壁单影法 骑座式管座填角焊缝（3种） 1 单壁外透法2单壁内透法 3 单壁内透偏心法16、透照方式中单壁透照优先的基本原则 GB/T3323：未规定透照方式中单壁透照优先的基本原则。 JB/T4730.2-2005：“在可以实施的情况下应选用单壁透照方式,在单壁透照不能实施时才允许采用双壁透照方式”背景资料： ASME

15、：在任何可以实施的情况下，应当采用单壁透照技术。当单壁透照技术无法实施时，应采用双壁透照技术。17、环焊缝最少曝光次数和K值GB/T3323：外径大于100的对接环焊缝100%透照的最少曝光次数可参阅图A.1至图A.4。当壁厚增加量与公称厚度之比t/t小于等于20%（等级A）时，最少曝光次数可参阅图A.3至图A.4。当壁厚增加量与公称厚度之比t/t小于等于10%（等级B）时，最少曝光次数可参阅图A.1至图A.2。 JB/T4730：一次透照长度应以透照厚度比K进行控制。不同级别射线检测技术和不同类型对接焊接接头的透照厚度比应符合表3的规定。整条环向对接焊接接头所需的透照次数可参照附录D（资料性

16、附录）的曲线图确定。18、小径管环向对接焊接接头的透照 GB/T3323与JB/T4730规定基本相同：（1）适合双壁双影透照布置的小径管直径为100 mm以下；（2）椭圆成像时，应控制影像的开口宽度为一个焊缝宽；（3）倾斜透照方式椭圆成像和垂直透照重叠成像的选择依据是 “满足两条件：T（壁厚）8mm； g（焊缝宽度）De /4应采用倾斜透照方式椭圆成像，不满足上述条件或椭圆成像困难时可采用垂直透照方式重叠成像；（4）要求100%检测时，采用倾斜透照方式椭圆成像，对t8mm的管子，若t/De0.12，相隔900透照2次；若t/De0.12，相隔1200或600透照3次；采用垂直透照重叠成像，要

17、求透照3次。19、最高X 射线管电压的限制 GB/T3323与JB/T4730规定基本相同：（1）使用同样的最高管电压限制的曲线图；（2）对厚度变化较大的工件，允许使用更高的管电压，对钢、钛、铝的管电压增量相同。背景资料：ASME对辐射能量几乎不作控制，在96版即取消了透照不同厚度材料时允许使用的最高X 射线管电压的规定内容。20、射线源及透照厚度范围的限制射线源品种: JB/T4730列入三种射线源：Co- 60 、Ir-192、Se-75。GB/T3323比JB/T4730多两种射线源，Tm170、Yb169；射线适用穿透厚度范围下限：GB/T3323与JB/T4730基本一致，JB/T4

18、730的A、AB级与GB/T3323A级相同。但GB/T3323规定了Se75和Yb169透照铝和钛的穿透厚度。 JB/T4730未规定Se75透照铝和钛的穿透厚度。两个标准均规定：在特定条件和前提下，穿透厚度范围下限可进一步降低，Ir-192源的最小透照厚度可降至10mm, Se-75源的最小透照厚度可降至5mm。21、高能X射线（1MeV以上射线设备）的透照厚度范围GB/T3323 A级与JB/T4730A级和AB级一致；GB/T3323 B级与JB/T4730 B级一致。22、射线源至工件表面的最小距离 GB/T3323与JB/T4730规定基本相同：A 级检测技术：f 7.5db 2/

19、3 ；B 级检测技术： f 15db 2/3；JB/T4730 比GB/T3323 多一项AB级规定: AB级检测技术： f 10db 2/3GB/T3323比JB/T4730多一项对裂纹检出的规定: 用A级技术时，若须检出平面型缺陷，则最小距离fmin应与B级同，以使Ug减半。对裂纹敏感性大的材料有更为严格的技术要求的，应使用灵敏度比B级更优的技术进行透照。焦距F和工件表面至胶片距离b对小缺陷对比度的影响欧洲学者描述几何因素对小缺陷对比度的影响当缺陷宽度W小于几何不清晰度Ug，缺陷对比度将减少：C=C0 UgW（3-13a）C=C0W/Ug UgW（3-13b）式中：C0影像初始对比度； W

20、缺陷宽度。焦距F和工件表面至胶片距离b对小缺陷对比度的影响W为到达胶片P点的射线在缺陷位置平面上的截距，W=dfL2/（L1+L2) 当缺陷宽度W W时，缺陷本影消失。 =0 WW =0 W / W WWUg是W 的近似图3-18 W的几何意义缺陷的本影消失，影像只由半影构成，对比度将显著下降。 图3-2 射线照相几何条件对小缺陷对比度的影响23、射线照相曝光量JB/T4730规定了各技术级别射线照相曝光量：当焦距为700mm时，曝光量的推荐值为：A级和AB级射线检测技术不小于15mAmin；B级射线检测技术不小于20mAmin。当焦距改变时可按平方反比定律对曝光量的推荐值进行换算。GB/T3

21、323未规定射线照相曝光量。24、射线照相曝光量GB/T3323与JB/T4730基本一致：GB/T3323：用射线照相时，射源到位的往返传送时间应不超过总的曝光时间的10%。JB/T4730：采用射线源透照时, 总的曝光时间应不少于输送源往返所需时间的10倍。25、散射线控制GB/T3323提出使用铅光阑和滤板。为减少散射线的影响，应利用铅光阑等将照射线尽量限制在被检区段；采用Ir 192和 Co 60射源或有边缘散射时，可将铅箔或薄铅板插在工件与暗袋之间，作为低能散射线的滤板。按透照厚度的不同，此滤板厚度可为0.52。JB/T4730：应采用金属增感屏、铅板、滤波、准直器等适当措施，屏蔽散

22、射线和无用射线，限制照射场范围。背散射监控背散射监控GB/T3323与JB/T4730规定基本一致。 对背散射监控采用ASME在暗盒背面贴附“B”铅字标记方法。若在底片上出现黑度低于周围背景黑度的“B”字影象，则说明背散射防护不够；若底片上不出现 “B”字影象或出现黑度高于周围背景黑度的“B”字影象，则说明背散射防护符合要求。GB/T3323每当采用新的透照布置时，应在每个暗袋后背贴上铅标记“B”,以此验证背散射的存在与否。 JB/T4730对初次制定的检验工艺或检验工艺的条件、环境发生改变时, 应进行背散射防护检查。 26、像质计的使用像质计放置原则、各种透照方式像质计放置位置、数量、单壁透

23、照中像质计放置在胶片侧要进行对比试验、像质计放置在胶片侧时应放置铅字“F” 标记，以及像质计的识别等方面，GB/T3323与JB/T4730基本一致。GB/T3323与JB/T4730在像质计的使用方面存在的差异：（1）GB/T3323有孔型像质计使用的规定，JB/T4730没有；（2）JB/T4730规定：小径管可选用专用（等径金属丝）像质计， GB/T3323没有采用等径像质计；（3）JB/T4730规定：小径管照相，无论通用型像质计还是专用（等径金属丝）像质计，金属丝都应横跨焊缝放置。而GB/T3323的规定是：小径管照相，金属丝应平行焊缝放置。（4）JB/T4730对球罐焊缝全景曝光允

24、许减少使用象质计数量作出规定：球罐焊缝采用源置于球心全景曝光时，至少在北极区、赤道区、南极区附近的焊缝上沿纬度等间隔地各放置3个象质计，在南北极板拼缝上各放置1个象质计。GB/T3323未作规定。27、标记GB/T3323规定：为保证底片可准确定位工件表面应作出永久性标记，为保证相邻区域搭接，射线底片应能出现搭接标记。JB/T4730规定：透照部位的标记由识别标记和定位标记组成。识别标记一般包括：产品编号、焊缝编号、部位编号和透照日期。返修后的透照还应有返修标记,扩大检验比例的透照还应有扩大检验标记。定位标记主要是搭接标记,需要时还可采用中心标记。搭接标记是连续检验时的透照分段标记，可用符号“

25、”或其他能显示搭接情况的方法表示。中心标记指示透照部位区段的中心位置和分段编号的方向,一般用十字箭头“ ”表示。JB/T4730与GB/T3323关于标记的规定的主要差别（1） JB/T4730明确了识别标记和定位标记，具体要求了识别标记和定位标记的内容，GB/T3323只笼统要求底片的标记和搭接标记。（2） JB/T4730规定了扩大检测比例的透照标记，GB/T3323没有。（3）JB/T4730规定中心标记用十字箭头表示。搭接标记用符号“” 表示，GB/T3323没有。28、透过底片的亮度GB/T3323规定：观片灯亮度应保证底片透过亮度不低于30cd/m2，尽量达到100cd/m2JB/

26、T4730规定： 底片黑度 D2.5时，透过底片评定范围内的亮度应不低于30cd/m2；底片黑度 D2.5时,透过底片评定范围内的亮度应不低于10cd/m2。GB/T3323规定不符合实际人眼影像识别能力试验表明：透过底片的光亮度超过30cd/m2时，人眼对底片上影像有很好的识别能力；当透过底片的光亮度低于10cd/m2时，人眼对底片上影像识别能力随着透过底片的光亮度减弱急剧下降。观察高黑度底片，要求透过底片评定范围内的亮度不低于30cd/m2，观片灯亮度达不到，例如黑度 D=4.0底片就要求观片灯亮度达到300000cd/m2，而目前国内外的各种观片灯亮度都达不到30万cd/m2这样的水平，

27、最亮的观片灯其亮度大致在7万至8万cd/m2之间。国内人眼影像识别能力试验数据：人眼底片影像最佳识别感觉是透过底片亮度在6070cd/m2。透过底片的亮度要求的背景资料各种标准对透过底片的亮度要求（1）IIS/IIW-335-69、ISO 2504:1973：30cd/m2，尽量达到 100cd/m2 或更高。（2）BS 2600-1:1983 30cd/m2。（3）DIN 54116-1:1973、ISO 5580:1985、EN 25580:1992、ASTM E1390-2000： D2.5时，30cd/m2 ； D 2.5时，10cd/m2； 尽量达到 100cd/m2 或更高。一组试

28、验结果最佳亮度：透过光强在30cd/m2以上评片灵敏度较高,对缺陷的敏感性较强,当透过光强达到60-75cd/m2时多数评片人员感觉最佳;评片效果：透过底片的亮度为2 cd/m2时,对于B25底片,裂纹漏评9条次;对于B28底片,裂纹漏评12条次;透过底片的亮度为10 cd/m2时,对于B25底片,裂纹漏评2条次;对于B28底片,裂纹漏评4条次;透过底片的亮度为30 cd/m2时,对于B25底片,裂纹漏评0条次;对于B28底片,裂纹漏评3条次;29、底片评定范围内的黑度底片评定范围内的黑度GB/T3323： A 级：2.0；B 级：2.3；（经合同各方商定，可降为1.5和2.0）JB/T473

29、0：A 级：1.5D4.0；AB级：2.0D4.0 ；B 级：2.3D4.0。（用X射线透照小径管或其他截面厚度变化大的工件时，AB级最低黑度允许降至1.5；B级最低黑度可降至2.0。对黑度D4.0的底片，如观片灯能保证底片亮度满足要求，允许进行评定。 ）29、底片评定范围内的黑度JB/T4730A级黑度允许值低于GB/T3323A级；JB/T4730AB级与GB/T3323A级黑度允许值比较：JB/T4730规定：只有在使用X射线，透照小径管或其他截面厚度变化大的工件时，AB级最低黑度允许降至1.5。而GB/T3323规定是：经合同各方商定，A级可降为1.5。应该说JB/T4730规定更严一

30、些。GB/T3323未规定底片黑度上限，JB/T4730规定底片黑度上限为4.0，从当前国内外各种观片灯亮度来看，底片黑度超过4.0是有问题的。30、关于多胶片技术GB/T3323规定：对截面厚度均匀的工件，不得用多胶片法来减少曝光时间。用多胶片透照，而用单张底片观察评定时，每张底片的黑度应满足表4规定。用多胶片透照，且用两张底片重迭观察评定时，单张底片的黑度应1.3。 JB/T4730.2规定：用多胶片方法时，单片观察的黑度应符合以上要求。双片叠加观察仅限于A级，叠加观察时，单片的黑度应不低于1.3。30、关于多胶片技术说明：GB/T3323与JB/T4730规定基本一致 （1）单片观察和双片叠加观察的底片黑度值两标准规定一致。（2）JB/T4730规定：“双