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文档简介

1、XX/840-00后4B日 期:实施人:评价人:仪器名称:仪器编号:分析结论:审 核:批 准:计量型MS的析报告2017年2月23日陈秋凤、雷丽花、欧阳丽敏张志超数显卡尺(中间检验)XXX合格不合格计量型MS的析报告目录 TOC o 1-5 h z 稳定性1偏倚4线性7重复性和9再现性备注:对于有条件接收的项目应阐述接受原因第一节稳定性分析稳定性概述在经过一段长时间下,用相同的测量系统对同一基准或零件的同一特性进行测量所获得的总变差,即稳定性是整个时间的偏倚变化。试验方案2017年02月份,随机抽取一常见印制板样品,让中间检验员工每天的早上及晚上分别使用数显卡尺对样品外形尺寸测量5次/组,共测

2、量25组数据,并将每次测量的数据记录在表1。数据收集表1稳定性分析数据收集记录表操作者陈秋凤测量日期2017-02-042017-02-20测量时间测量结果/单位:_mm_第1次第2次第3次第4次第5次时段165.2365.2365.2365.2465.23时段265.2365.2365.2365.2365.23时段365.2465.2365.2365.2465.24时段465.2465.2465.2465.2365.24时段565.2365.2465.2365.2365.23时段665.2465.2465.2465.2465.24时段765.2465.2365.2465.2465.24时段8

3、65.2465.2365.2365.2465.23时段965.2365.2465.2365.2365.23时段1065.2365.2365.2365.2365.23时段1165.2465.2365.2365.2465.24操作者陈秋凤测量日期2017-02-042017-02-20测量时间测量结果/单位:mm_第1次第2次第3次第4次第5次时段1265.2465.2465.2465.2465.23时段1365.2465.2365.2365.2465.23时段1465.2365.2365.2365.2365.23时段1565.2465.2465.2365.2365.24时段1665.2365.2

4、365.2465.2365.23时段1765.2365.2465.2365.2365.23时段1865.2465.2465.2465.2465.23时段1965.2465.2365.2365.2365.23时段2065.2465.2465.2465.2465.24时段2165.2365.2365.2465.2365.23时段2265.2465.2465.2365.2465.24时段2365.2365.2465.2465.2365.23时段2465.2365.2465.2465.2465.24时段2565.2365.2365.2365.2365.23测量系统稳定性可接受判定标准不允许有超出控制限

5、的点;连续7点位于中心线同一侧;连续6点上升或下降;连续3点有2点距中心的距离大于两个标准差;连续5点中有4点距离中心线的距离大于一个标准差;连续15点排列在中心线的一个标准差范围内;连续8点距中心线的距离大于一个标准差。数据分析图1中间检验数显卡尺Xbar-R控制图从图1Minitab生成Xbar-R控制图可知,没有控制点超出稳定性可接受判定标准,表明该测量系统稳定性可接受。测量系统稳定性分析结果判定对中间检验数显卡尺进行稳定性分析、分析结果表明该测量系统稳定性可接受。第二节偏倚分析偏倚分析概述对相同零件上同一特性的观测值与真值(参考值)的差异。试样方案选择一个被测样品,确定样品的外形尺寸一

6、基准佰x、样品外形尺寸.基准佰通过铳边工序所使用的泛用型尺寸测量机重复测量10次取测量均值获得。让经常使用该量具的检验员测量样品15次,每次读数记为Xi(i为第i次测量)。数据收集表2偏倚分析数据收集记录表操作者陈秋凤测量时间2017-01-21单位mm测量次数测量结果测量次数测量结果197.02997.02297.021097.02397.011197.02497.021297.01597.021397.02697.021497.02797.011597.02897.02/2.4测量系统偏倚可接受判定标准若0在偏倚95%T信度的置信区间范围内,可以在统计上判定测量系统的偏倚等于零,而这种判定

7、犯错的可能性为5%此时可判定测量系统偏倚可接受数据分析根据测量所得数据,将数据记录于表3,并计算测量结果的平均值xnxii1rX=n计算偏倚BoB=x-x计算重复性标准差ro计算均值x的标准差b。偏倚95%T信度的置信区间上限及下限计算方式。上限:B生btv,i/2d2下限:Bbtv,1/2d2表3偏倚分析记录表评价人张志超分析时间2017-01-21测量次数单位:mm测量次数单位:mm读数偏倚读数偏倚197.020.002997.020.002297.020.0021097.020.002397.01-0.0081197.020.002497.020.0021297.01-0.008597.

8、020.0021397.020.002697.020.0021497.020.002797.01-0.0081597.020.002897.020.002”,*_-*,K=r1.11.*.m*i-a.基准值X,测量次数n平均值X偏倚B复性标准差r均值X的标准差b97.0181597.0170.0010.00280.0007d2自由度v偏倚95%勺置信区问下限上限3.471913.553310.82.206-0.00060.0026汪:d2、d2、v、tv,i/2可查表获得,具体参考ZW4DD-034B0MSAftJ量系统分析管理办法。从表3数据分析,数显卡尺测量偏倚为0.001mm,偏倚值95

9、%勺置信区间为-0.0006,0.0026,因为0在上述偏倚值的95胡信区间范围内,所以该测量系统偏倚可接受。2.6测量系统偏倚分析结果判定对中间检验数显卡尺进行偏倚分析,分析结果表明该测量系统偏倚可接受。第三节线性分析在测量设备预期的工作(测量)量程内,偏倚值的差异,线性可被视为偏倚对于量程大小不同所发生的变化。3.2试验方案选才?5个样品,且这5个样品外形尺寸涵盖量具的整个工作量程。确定每个样品的外形尺寸Xi,各样品外形尺寸通过铳边工序所使用的泛用型尺寸测量机重复测量10次取测量均值获得。让经常使用该测量工具的检验员分别对每个样品测量12次,并将对应测量结果Xj记录在表4中,其中i为样品编

10、号,j为测量次数。3.3数据收集表4线性分析数据收集记录表操作者陈秋凤测量时间2017-01-22单位mm7,编号i测量次数j12345i17.8939.9766.78105.02146.62217.8939.9766.78105.02146.61317.8939.9766.78105.01146.62417.8939.9766.78105.02146.62517.9039.9766.78105.02146.62617.8939.9866.78105.02146.62717.8939.9766.78105.01146.61817.9039.9766.78105.02146.62917.8939

11、.9766.78105.02146.621017.8939.9766.78105.02146.621117.8939.9766.78105.02146.621217.8939.9766.78105.02146.62基准值17.89039.96766.790104.971146.644“偏倚二0”的整条直线都在置信区间范围内,则判定测量系统的线性可接受,否则需要分析原因改善。数据分析图2中间检验数显卡尺线性分析图从图2Minitab生成的线性图分析,“偏倚=0”的整条直线在置信区间内,表明该测量系统线性可接受。测量系统线性分析结果判定对中间检验数显卡尺进行线性分析,分析结果表明该测量系统线性可接

12、受。第四节重复性、再现性分析重复性、再现性概述重复性:由一个被评价人使用同一测量仪器,多次测量同一零件同一特性值时获得的测量变差。再现性:由不同的评价人采用相同的测量仪器,测得同一零件同一特性的测量平均值之问的变差。试验方案挑出10个样品,样品外形尺寸涵盖整个过程变差(一般为样品尺寸公差),然后找3个人分别在不同的时间段测量这10块样品的外形尺寸,测试前,测试人员不知道样品的测试顺序,每个人分别在3个时间段分别测量每块样品的外形尺寸1次,并将每次的测量结果记录在表4。数据收集表4重复性、再现性分析数据记录表操作者测量测量数据/单位:.mm时间12345678910陈秋凤时段170.5170.4

13、470.3470.5970.4970.5670.3770.3270.2970.41时段270.5270.4470.3370.5970.4770.5570.3770.3170.2870.40时段370.5170.4470.3370.6070.4870.5570.3770.3270.2870.40雷丽花时段170.5170.4370.3170.5870.4770.5470.3670.3170.2970.41时段270.5070.4370.3270.5870.4770.5470.3570.3170.2870.40时段370.5170.4370.3270.5970.4770.5470.3570.317

14、0.2870.40欧阳丽敏时段170.5270.4470.3370.5970.4870.5670.3770.3270.2970.41时段270.5370.4670.3470.6170.4970.5670.3870.3270.3070.42时段370.5270.4470.3370.5970.4870.5670.3770.3270.2970.41测量系统重复性、再现性分析可接受判定标准量具重复性和再现性(R&R的可接受性准则重复性、再现性、GR&FK于10%勺误差一一测量系统良好,可以接受;重复性、再现性、GR&陈10至30%问根据应用的重要性,量具成本,维修的费用等,可以是可接受的。当判定是可以

15、接受时应在分析报告中阐述接受理由,比如通过对比法、枚举法等方法进行分析,明确是从重要性、量具成本、维修费用等因素的哪些因素说明该测量系统可以接受;重复性、再现性、GR&欢于30%勺误差一一测量系统不可接受。需分析各种问题加以改进,或更换新的量具。有效分辨率ndc数据分级数为1时,对过程参数及指数估计不可接受;数据分级为2至4时,一般来讲对过程参数及指数的估计不可接受,只提供粗劣估计;数据分级数5或更大时,可用于过程控制或过程分析。数据分析图3中间检验数显卡尺重复性、再现性分析图量具R&R研究-方差分析法测试数据的量具R&R量具名称:数显卡尺(中间检验0-150mnj)研究日期:2017-02-23报表人:张志超公差:由15mm其他:ZEA-2014-H070量具R&R方差分量来源方差分量贡献率合计量具R&R0.00008650.78重复性0.00003280.30再现性0.00005360.48操作者0.00005360.48 TOC o 1-5 h z 部件间0.010979399.22合计变异0.0110657100.00研究变异研究变来源标准差(SD)(6*SD)异(SV)合计量具R&R0.0092980.0557908.84重复性0.0057310.0343885.45再现性

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