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文档简介
1、1 半导体的基本知识 1.1 PN结 导电能力介于导体和绝缘体之间的物质称为半导体,半导体器件中用的最多的是硅和锗。半导体的特点: 当受外界热和光的作用时,它的导电能 力明显变化。 往纯净的半导体中掺入某些杂质,会使 它的导电能力明显改变。1 本征半导体化学成分纯净的半导体。 制造半导体器件的半导体材料的纯度要达到99.9999999%,常称为“九个9”。 它在物理结构上呈单晶体形态。2二、本征半导体的导电机理在绝对0度(T=0K)和没有外界激发时,价电子完全被共价键束缚着,本征半导体中没有可以运动的带电粒子(即载流子),它的导电能力为 0,相当于绝缘体。在常温下,使一些价电子获得足够的能量而
2、脱离共价键的束缚,成为自由电子,同时共价键上留下一个空位,称为空穴。1.载流子、自由电子和空穴 这一现象称为本征激发,也称热激发。3温度越高,载流子的浓度越高。因此本征半导体的导电能力越强,温度是影响半导体性能的一个重要的外部因素,这是半导体的一大特点。本征半导体的导电能力取决于载流子的浓度。本征半导体中电流由两部分组成: 1. 自由电子移动产生的电流。 2. 空穴移动产生的电流。4 1.1.2 杂质半导体在本征半导体中掺入某些微量的杂质,就会使半导体的导电性能发生显著变化。其原因是掺杂半导体的某种载流子浓度大大增加。P 型半导体:空穴浓度大大增加的杂质半导体,也称为(空穴半导体)。N 型半导
3、体:自由电子浓度大大增加的杂质半导体,也称为(电子半导体)。5一、N 型半导体在硅或锗晶体中掺入少量的五价元素磷(或锑),晶体点阵中的某些半导体原子被杂质取代,磷原子的最外层有五个价电子,其中四个与相邻的半导体原子形成共价键,必定多出一个电子,这个电子几乎不受束缚,很容易被激发而成为自由电子,这样磷原子就成了不能移动的带正电的离子。每个磷原子给出一个电子,称为施主原子。6+4+4+5+4多余电子磷原子N 型半导体中的载流子是什么?1、由施主原子提供的电子,浓度与施主原子相同。2、本征半导体中成对产生的电子和空穴。掺杂浓度远大于本征半导体中载流子浓度,所以,自由电子浓度远大于空穴浓度。自由电子称
4、为多数载流子(多子),空穴称为少数载流子(少子)。7二、P 型半导体在硅或锗晶体中掺入少量的三价元素,如硼(或铟),晶体点阵中的某些半导体原子被杂质取代,硼原子的最外层有三个价电子,与相邻的半导体原子形成共价键时,产生一个空穴。这个空穴可能吸引束缚电子来填补,使得硼原子成为不能移动的带负电的离子。由于硼原子接受电子,所以称为受主原子。+4+4+3+4空穴硼原子P 型半导体中空穴是多子,电子是少子。8三、杂质半导体的示意表示法P 型半导体+N 型半导体杂质型半导体多子和少子的移动都能形成电流。但由于数量的关系,起导电作用的主要是多子。近似认为多子与杂质浓度相等。91.1.3 PN结一、 PN 结
5、的形成在同一片半导体基片上,分别制造P 型半导体和N 型半导体,经过载流子的扩散,在它们的交界面处就形成了PN 结。10P型半导体N型半导体+扩散运动内电场E漂移运动扩散的结果是使空间电荷区逐渐加宽,空间电荷区越宽。内电场越强,就使漂移运动越强,而漂移使空间电荷区变薄。空间电荷区,也称耗尽层。11漂移运动P型半导体N型半导体+扩散运动内电场E所以扩散和漂移这一对相反的运动最终达到平衡,相当于两个区之间没有电荷运动,空间电荷区的厚度固定不变。12+空间电荷区N型区P型区电位VV0131、空间电荷区中没有载流子。2、空间电荷区中内电场阻碍P中的空穴、N区 中的电子(都是多子)向对方运动(扩散运动)
6、。3、P 区中的电子和 N区中的空穴(都是少),数量有限,因此由它们形成的电流很小。注意:14二、 PN结的单向导电性 PN 结加上正向电压、正向偏置的意思都是: P 区加正、N 区加负电压。 PN 结加上反向电压、反向偏置的意思都是: P区加负、N 区加正电压。15+RE1、PN 结正向偏置内电场外电场变薄PN+_内电场被削弱,多子的扩散加强能够形成较大的扩散电流。162、PN 结反向偏置+内电场外电场变厚NP+_内电场被被加强,多子的扩散受抑制。少子漂移加强,但少子数量有限,只能形成较小的反向电流。RE17 PN结加正向电压时,呈现低电阻,具有较大的正向扩散电流; PN结加反向电压时,呈现
7、高电阻,具有很小的反向漂移电流。 由此可以得出结论:PN结具有单向导电性。18 3 PN结方程其中PN结的伏安特性IS 反向饱和电流VT 温度的电压当量且在常温下(T=300K)19 三、 PN结的反向击穿 当PN结的反向电压增加到一定数值时,反向电流突然快速增加,此现象称为PN结的反向击穿。热击穿不可逆 雪崩击穿 齐纳击穿20四、 PN结的电容效应 PN结具有一定的电容效应,它由两方面的因素决定。 一是势垒电容CB , 二是扩散电容CD 。211 势垒电容CB 势垒电容是由空间电荷区的离子薄层形成的。当外加电压使PN结上压降发生变化时,离子薄层的厚度也相应地随之改变,这相当PN结中存储的电荷
8、量也随之变化,犹如电容的充放电。势垒电容的示意图如下。22 扩散电容是由多子扩散后,在PN结的另一侧面积累而形成的。因PN结正偏时,由N区扩散到P区的电子,与外电源提供的空穴相复合,形成正向电流。刚扩散过来的电子就堆积在 P 区内紧靠PN结的附近,形成一定的多子浓度梯度分布曲线。2 扩散电容CD 反之,由P区扩散到N区的空穴,在N区内也形成类似的浓度梯度分布曲线。扩散电容的示意图如下页所示。23扩散电容示意图 当外加正向电压不同时,扩散电流即外电路电流的大小也就不同。所以PN结两侧堆积的多子的浓度梯度分布也不同,这就相当电容的充放电过程。势垒电容和扩散电容均是非线性电容。24 2 半导体二极管
9、PN 结加上管壳和引线,就成为半导体二极管。引线外壳线触丝线基片点接触型PN结面接触型PN二极管的电路符号:25半导体二极管的型号国家标准对半导体器件型号的命名举例如下:26半导体二极管图片272829 2.1 伏安特性UI死区电压 硅管0.5V,锗管0.1V。导通压降: 硅管0.60.8V,锗管0.10.3V。反向击穿电压UBR30 2.2 二极管的等效电路 1. 理想模型3. 折线模型 2. 恒压降模型31 4. 小信号模型 二极管工作在正向特性的某一小范围内时,其正向特性可以等效成一个微变电阻。即根据得Q点处的微变电导则常温下(T=300K)322.3 主要参数 1. 最大整流电流 IO
10、M二极管长期使用时,允许流过二极管的最大正向平均电流。2. 反向击穿电压UBR二极管反向击穿时的电压值。击穿时反向电流剧增,二极管的单向导电性被破坏,甚至过热而烧坏。手册上给出的最高反向工作电压UWRM一般是UBR的一半。333. 反向电流 IR指二极管加反向峰值工作电压时的反向电流。反向电流大,说明管子的单向导电性差,因此反向电流越小越好。反向电流受温度的影响,温度越高反向电流越大。硅管的反向电流较小,锗管的反向电流要比硅管大几十到几百倍。以上均是二极管的直流参数,二极管的应用是主要利用它的单向导电性,主要应用于整流、限幅、保护等等。下面介绍两个交流参数。344. 微变电阻 rDiDuDID
11、UDQiDuDrD 是二极管特性曲线上工作点Q 附近电压的变化与电流的变化之比:显然,rD是对Q附近的微小变化区域内的电阻。35二极管:死区电压=0 .5V,正向压降0.7V(硅二极管) 理想二极管:死区电压=0 ,正向压降=0 RLuiuouiuott二极管的应用举例 二极管半波整流362.4 稳压二极管UIIZIZmaxUZIZ稳压误差曲线越陡,电压越稳定。+-UZ动态电阻:rz越小,稳压性能越好。37(4)稳定电流IZ、最大、最小稳定电流Izmax、Izmin。(5)最大允许功耗稳压二极管的参数:(1)稳定电压 UZ(2)电压温度系数U(%/) 稳压值受温度变化影响的的系数。(3)动态电阻38稳压二极管的应用举例uoiZDZRiLiuiRL稳压管的技术参数:负载电阻 。要求当输入电压由正常值发生20%波动时,负载电压基本不变。解:令输入电压达到上限时,流过稳压管的电流为Izmax 。求:电阻R和输入电压 ui 的正常值。方程139令输入电压降到下限时,流过稳压管的电流为Izmin 。方程2uoiZDZRiLiuiRL联立方程1、2,可解得:40 稳压二极管在工作时
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