电子元件抽样方案

1、.：.；元器件的抽样方案1. 目 的本规范为制定方案及检验程序的基准, 并为未来抽样方案之多样化提供资上的支持,保管继续的文件适用性。2. 适用范围 本文件适用于公司范围内质量保证部所进的检验活动。3. 抽样水准：3.1除书面规定的厂商采用固定抽样检验方案外,其它,普通采用本文件给出的动态检验转换抽样表,抽样样本数通常以批数为准, 一个批的数通常为一个单据的记录数.这样的单据有: 进货验收单, 入库验收单等.3.2根据产质量量特性(含构造, 尺寸,电气特性,机械性能,功能等)决议抽验方案，抽验数及允收质量.水准(AQL).根据物料类别区分,各产质量量特性抽检数量3.3 新产品之初次(批)废品,

2、贵重的进货品等,当无特别规定时,通常需全数检验.产品资料类别CRIMAJMIN备注电容00.25%0.65%三极管00.25%0.65%二极管00.25%0.65%芯片00.25%0.65%电阻00.25%0.65%4. 检验根据4.1 工程图纸4.2 检验指示43 产品规格书4.4 检验方案4.5 样品对照4.6 评价报告和成认书4.7 客户订单五.检验转换：5.1 转换阐明f NR 延续三批合格f RN 一批退货f TN 延续三批合格f NT 延续三批中有二批拒收f N- 正 常f T - 加 严f R 放 宽原那么上采用上述检验次序转换, 根据需求公司也可根据实践需求进加严,正常,放宽的

3、转换程序.5.2 正常检验批量样本允收质量水准(AQL)0.50.250.40.6510.1.5Ac ReAc ReAc ReAc ReAc ReAc Re2-829-15316-25526-5080 151-90130 191-150200 1151-280320 11 2281-500500 11 22 3501-1200800 11 22 33 41201-32001251 22 33 45 63201-100002001 22 33 45 67 810001-350003151 22 33 45 67 810 1135001-1500005002 33 45 67 810 1114 1

4、5150001-5000008003 45 67 810 1114 1521 22500001-12505 67 810 1114 1521 22备注:f Ac 允收数f Re 拒收数f : 采用箭头下第一个抽样方案,如样本大小超越或等于批那么用 100%之检验.f : 采用箭头上第一个抽样方案.5.3 放宽检验批量样本允收质量水准(AQL)0.50.250.40.6510.1.5Ac ReAc ReAc ReAc ReAc ReAc Re2-829-15216-25226-5030 151-9050 191-15080 1151-280130 10 2281-500200 10 21 350

5、1-1200320 10 21 31 41201-3200500 21 31 42 53201-10000800 21 31 42 53 610001-350001250 21 31 42 53 65 835001-1500002001 31 42 53 65 87 10150001-5000003151 42 53 65 87 1010 13500001-5002 53 65 87 1010 13备注:f Ac 允收数f Re 拒收数f : 采用箭头下第一个抽样方案,如样本大小超越或等于批那么用 100%之检验.f : 采用箭头上第一个抽样方案.f 如二个次数样本已超越允收数, 但尚未到达拒

6、收数时, 可允收此批, 惟以后须恢复正常检验.5.4 加严检验批量样本允收质量水准(AQL)0.50.250.40.6510.1.5Ac ReAc ReAc ReAc ReAc ReAc Re2-829-15316-25526-50851-90130 191-150200 1151-280320 1281-500500 11 2501-1200800 11 22 31201-32001250 11 22 33 43201-100002001 22 33 45 610001-350003151 22 33 45 68 935001-1500005001 32 33 45 68 912 13150

7、001-5000008001 43 45 68 912 1318 19500001-12502 55 68 912 1318 19备注:f Ac 允收数f Re 拒收数f : 采用箭头下第一个抽样方案,如样本大小超越或等于批那么用 100%之检验.f : 采用箭头上第一个抽样方案.6.0 C=0 抽样方案明: 本节内容变仅供参考, 作为其它文件的援用参考根据.指示数值(相关联的 AQLS).010 .015 .025040.065 .10 .15 .25.40 .55 1.0 1.52.5 4.0 6.5 10.0批量数样本数289152625* * * * * * * * * * * * *

8、 * * * * * * * * * * 13 8* 20 13 85 3 2 25 3 2 25 3 2 22650519091150* * * * * * * * * * * * * * 80 50* 125 80 5032 20 13 832 20 13 832 20 13 125 5 5 37 6 5 411 7 6 51512802815005011200* * * * * * 315* 800 500315200 125 8050200 125 805032 20 20 1948 47 20 2173 47 34 2713 10 7 616 11 9 719 15 11 81201

9、320032011000010001350001250 800 5003151250 800 500315200 125 120116200 192 18911673 53 42 3586 68 50 38108 77 60 4623 18 13 929 22 15 935 29 15 9350011500001500015000005000011250 800 5004901250 800 750715476 294 218170476 345 270200123 96 74 56156 119 9064189 143 10240 29 15 940 29 15 940 29 15 9备注:

10、f “* 表示整批都须检验f 允收数均为零7.0 较完好 MIL-STD-105E 单次抽样方案摘录阐明: 除非特别指出, 本章节为本公司抽样检验方案的基准, 为规范的抽样方案表.相关联的(AQLS)普通检验水准()批样本大 小允收质量水准(AQL)0.100.150.250.40.651.01.52.54.0Ac ReAc ReAc ReAc ReAc ReAc ReAc ReAc ReAc Re2 89 1516 252350 10 126 5051 9091 150813200 10 10 121 22 3151 282815005011200325080 0 10 10 11 2232

11、342 33 45 6 3 45 67 81201 32003201 1000010001 350001252003150 11 2232342 33 45 63 45 67 85 67 810 117 810 1114 1510 1114 1521 2235001 150000150001 500000500001 50080012501 22 33 42 33 45 63 45 67 85 66 710 117 810 1114 1510 1114 1521 2214 1521 2221 22备注:f Ac 允收数f Re 拒收数f :采用箭头下第一个抽样方案,如样本大小超越或等于批时那么用 100%之检验.f :运用箭头上第一个抽样方案.f 本表摘自 MIL-STD-105E 抽样方案表.8.0 缺陷定义阐明: 本章节给出缺陷定义的规范,作为一切相关文件的援用根据.8.1 严重缺陷(CRITICAL DEFECT,简写为: CRI)缺陷,使产品在消费运输或运用过程中能够出现危及人身财富平安之缺陷,称为严重缺陷.8.2 主要缺陷(MAJOR DEFECT. 简写为 MAJ) 缺陷,使产品失去全部或部分主要功能,或者相对严重影响的构造装配的,从而显著低产品运用性的缺陷,称为主要缺陷.8.3 次要缺陷(MINOR