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文档简介
1、 第8章 CMOS基本逻辑单元 8.2 CMOS逻辑结构 8.3 级联级的负载8.4 影响门的电气和物理结构设计的因素 8.5 各种逻辑类型的比较8.6 传输门逻辑8.7 RS触发器8.8 时钟脉冲控制触发器8.9 D触发器8.10 施密特触发器 1 8.2.1 CMOS互补逻辑 图8.11 CMOS互补逻辑 反相器 与非门 或非门 综合逻辑门8.2 CMOS逻辑结构2 CMOS倒相器工作原理 CMOS倒相器是CMOS门电路中最基本的逻辑部件,大多数的逻辑门电路均可通过等效倒相器进行基本设计,再通过适当的变换,完成最终的逻辑门电路中具体晶体管尺寸的计算。所以,基本倒相器的设计是逻辑部件设计的基
2、础。 CMOS倒相器的电路构成,是由一个增强型n沟MOS管作为输入管和由一个增强型p沟MOS管作为负载管,且两栅极短接作为输入端,两漏极短接作为输出端,N管源极接地,P管源极接电源电压VDD,这就构成了两管功能上的互补。 3 结合如图8.11(a)所示的CMOS倒相器电路结构示意图,分析其工作过程如下:Vi=“0”时:VGSn=0,VGSp=-VDD p管导通,n管截止 VO=“1”=VDD Vi=“1”时:VGSn=Vi,VGSp=0 n管导通,p管截止 VO=“0”(=0V)即:VOH-VOL=VDD 最大逻辑摆幅,且输出摆幅与p、n 管W/L无关 (无比电路) 。 CMOS的倒相器工作原
3、理图8.11(a)图8.11(a)4 静态CMOS逻辑门电路 CMOS基本门电路 (1) 基本的CMOS与非门、或非门 图 CMOS与非门和或非门 5CMOS与非门:P并N串CMOS或非门:P串N并CMOS与非门、或非门的不同表示符号6注意:串联方式工作时,相当于沟道长度增长,MOS管宽长比为 为使p、n管匹配,需增大串联管的W/L比输入端一般不超过4个。 并联方式工作时,等效为沟道宽度增大。有衬底偏置效应存在。则:(设K为单个最小尺寸MOS管的K值)对于与非门(n2) 转换电平V*向VDD移动 VNMHM。 7对于或非门 (n2) 转换电平V*向VSS移动 VNMLM。 基本CMOS门电路噪
4、容仅能保证在20%VDD。 (2) 带缓冲级的CMOS门电路 由基本线路构成的CMOS门电路存在噪容低,输出波形不对称,CMOS门电路的扇出能力低的缺点,通常以加缓冲器来解决: 输入端加倒相器。 输出端加倒相器。 输入、输出端均加倒相器。加缓冲器要遵循保持原门电路逻辑功能不变的原则。 8带缓冲级的CMOS门电路 为了稳定输出高低电平,可在输入输出端分别加倒相器作缓冲级。下图所示为带缓冲级的二输入端与非门电路。 CMOS集成门的输出缓冲级:输出特性与倒相器相同 带缓冲级的CMOS与非门电路9 带缓冲级的CMOS或非门电路下图所示为带缓冲级的二输入端或非门电路。10 缓冲级给门电路带来的性能上的改
5、善: 门电路驱动能力取决于倒相器特性,与各输入端所处逻辑状态无关。 转移特性得到改善,转换区域变窄,噪容提高。 输出电平由“0”“1”,和“1”“0”跳变时间近似相等,波形趋于对称。 但另一方面,加入缓冲级,使 Vi V0传送过程中经过了3、4级延迟,使延迟时间,因此多用于高噪声干扰低速系统。 11 静态CMOS逻辑门电路 静态CMOS逻辑门具有以下特点121314CMOS与非门的分析 15CMOS或非门的分析 16CMOS与非门或非门设计1.减小面积所有管子取相同尺寸2.使NMOS管和PMOS管有相同的导电因子3. 取串联管子增大n倍的设计4. 全对称设计KNeff=KPeff17CMOS组
6、合逻辑电路设计 与或非门的设计 18类似的或与非门的设计 19实现不带非的组合逻辑20实现8个变量“与”的三种方案 21异或/同或逻辑 22异或电路的实现23用与或非门实现 “异或” “同或”功能 24 8.2.2 CMOS变型电路 (伪NMOS逻辑 ) n个输入端的与非门、或非门CMOS电路需2n个MOS管,而相应的NMOS电路只需(n+1)个MOS管。因此,模仿NMOS电路的这一特点,对CMOS电路加以改进,将PMOS负载管栅接地VSS,即可得到类似于耗尽型NMOS的特性。应注意此电路属有比电路。 与实际的NMOS电路逻辑相比: 伪NMOS逻辑由于采用PMOS负载,其沟道薄层电阻或称方块电
7、阻约为NMOS的23倍,导通电阻,功耗(与 NMOS相比) 另一方面,由于PMOS的导通电阻,延迟时间。 25 伪NMOS逻辑 (a) 与非门 (b) 或非门26伪NMOS逻辑 278.2.3 动态CMOS逻辑简化电路28 简单的单时钟动态CMOS门不能进行级联,需采用两相和四相逻辑。29 1. 准两相时钟3031传输门(TG) transmission gate32 传输门的逻辑特点3334传输门的传输特性 35NMOS传输门传输高电平特性36NMOS传输门传输低电平特性37 NMOS传送晶体管工作原理 如右图示,输入信号Vi通过一栅极受VG控制的NMOS FET M1送到反相器输入端,其中
8、M1称为信号传送器,此结构多用于动态存储电路中。 NMOS传送晶体管 n沟道MOS传输门在传输高电平时,受到门导通阈电压的限制,有阈值损失(Vomax=VDDVTN),称为源跟随器工作方式(由于输出电位随源极电位变化而变化),属于非完美传输;而n沟道MOS传输门在传输低电平时,则可以完美传输低电平,称为漏负载级工作方式(由于输出电位随漏极电位变化而变化)。 38 其工作过程如下: VG=“0” M1截止,Vi不能传送,Vo端维持原态。 VG=“1” 设VGS=VDD ,则:(1) Vi=“0” Vi 端为S端,VGS=VDD,M1 导通,Vo=Vi=“0”。 (2) Vi=“1”(VDD) 若
9、Vo=“0”(0V),则此时,Vi端为D,Vo为S端,有VGS=VDD,VDS=VDD,M1导通,Vo电位升高至(VDD-VTn),信号传送范围受到限制。 若Vo=“1”(VDD),则VGS=VDS=0,M1截止,但此时传送的信号Vi=“1”=VDD,而Vo=VDD其逻辑效果与M1导通等效。 39 注意:不可将两个信号分别加在VG、Vi上以传送晶体管实现与门功能。(VG=“0”时,传送管截止,但不能保证Vo初态为“0”) 传送晶体管的优缺点(1) 单管,占用芯片面积小。 (2) 三端器件,可尽可能减小电路的内部连线。 (3) 不需直流电源(时钟信号+输入信号) (4) 信号传送过程中,ron变
10、化较大(VDS变化) (5) 不宜直接驱动CMOS门电路。 40 p沟道MOS传输门在传输高电平时,可以完美传输高电平,称为漏负载级工作方式(由于输出电位随漏极电位变化而变化);而p沟道MOS传输门在传输低电平时,则受到门导通阈电压的限制,有阈值损失,称为源跟随器工作方式(由于输出电位随源极电位变化而变化),其输出低电平值为完美低电平值再加上一个取了绝对值的阈电压值(pMOS管阈电压为负值)。 41 CMOS传输门 CMOS传输门电路结构和符号表示如左图所示,时钟脉冲控制信号C的范围定为0VDD。 CMOS传输门电路与表示 CMOS传输门的电路结构,它由一个pMOS管和一个nMOS管连接构成,
11、其连接方式为两管的源漏互连(每管的源漏均不确定,视工作条件而定),pMOS管和nMOS管的栅极电位呈非关系。 42 1) CMOS传输门的工作过程 (1) 传输高电平(设Vo初态为“0”) P管为漏负载级(VGSp=-VDD) N管为源跟随器(VGSn=VDSn)传输门导通电阻ron=rn rp,比传送晶体管导通电阻小。 图 传输门传输高电平过程 43下面对传输高电平时各工作区情况展开分析。I区:Vi-V0=VDDVDD-VTpN管:VGSn=VDSnVTn,处于饱和态。随着CL充电使V0端的电位升高,VGSn=VDSn,虽然在饱和态下,VDSn变化对导通电阻无影响,但VGSn也在变化,则此时: P管:在Vi-V0VDD-VTp,即VDSp=-(Vi-V0)
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