SPC_Training（PPT62页)

1、統計製程管制Statistical Process Control( SPC )1應用統計手法作為製程管理及改善是公司製造部門重要工作之一。但是統計品管的應用範圍相當廣泛，一般業界常將它分為三大部分。SPC-2：應用於以製程為主體之工作，其重點在於解決問題SPC-1：應用於以檢查為主體之工作，其重點在於發現問題SPC-3：應用於以研發為主體之工作，其重點在於預防問題SPC之架構及目的2課程綱要對SPC 基本概念計量值管制圖數據資料的蒐集及管制圖的繪製 管制圖 異常判讀計數值管制圖數據資料的蒐集及管制圖的繪製計量值管制圖製程能力解析3什麼是 SPC(Statistical Process Con

2、trol,統計製程管制) ? 在製程管理及改善中所用到的統計技巧 重點在於利用少量樣本及統計手法的特性, 進行不良原因的探討品保、工程、生產、研發 各單位都應善用 SPC 方法來管理並持續改善問題SPC 基本概念4SPC vs. 傳統模式5數據蒐集S P C異常分析生產採取對策找出原因保持製程穩定SPC 的功能6管制圖的分類，管制圖分兩種：計量值管制圖又分X-R平均值及全距管制圖、 X-S平均值及標準差管制圖、中位值及全距管制圖、個別值及全距管制圖計數值管制圖又分P百分不良率管制圖、nP不良個數管制圖、C缺點數管制圖計量管制圖適用的狀況是：資料是可量測的，且數據形式是連續性的。計數管制圖則適用

3、於資料大半只能判定為良或不良，數據不為連續量的狀況，一般常用於外觀檢查。管制圖的分類7管制圖基本統計33隨機變數1.2.(1)常態分佈的特性:8平均數(Average)：平均數具有三個重要特性：簡化作用代表作用比較作用主要顯現集中趨勢(2)常用統計量9 全距(Range)：意義：表示一樣本數據的變動範圍， 意義明顯、計算簡單。 樣本標準差(Sample standard varance)意義：表示樣本內各數據與樣本平均數的離散程度 離散分析:10管制圖原理t33t管制前管制後(1)圖解:共同因與特殊因混雜共同因11(2)管制圖與直方圖的關係12計量值管制圖13計量值管制圖平均值全距14 Ste

4、p 1 計算總平均及平均全距 Step 2 決定座標範圍及點繪資料 Step 3 計算全距管制界限 Step 4 全距是否都在管制界限內 Step 5 決定平均值管制界限 Step 6 平均值是否都在管制界限內計算初始管制界限15計量值管制圖取樣9組（原則上以20組較佳），每組5個。計算出全部數據的平均值及平均全距。在本例分別為平均值=0.58，平均全距為=0.13。Step 1 計算總平均及平均全距：16計量值管制圖首先找出最大和最小的平均值，在找出最大和最小的全距，以便確定座標的範圍及最小刻度，如此才可將所有資料全部點繪在圖表中。Step 2 決定座標範圍及點繪資料：17計量值管制圖全距的

5、管制上限為全距的管制下限為Step 3 計算全距管制界限：18計量值管制圖R ChartStep 4 全距是否都在管制界限內：19計量值管制圖 確定全距在監控下，再求平均值管制界限。 平均值的管制上限為 平均值的管制下限為Step 5 決定平均值管制界限：20計量值管制圖完成 X bar R Chart 21計量值管制圖22計量值管制圖Step 6 平均值是否都在管制界限內：23計量值管制圖例子Specification 試以此10筆資料計算初始管制界限 24計量值管制圖個別計算此五筆樣本之平均與全距並將點繪入管制圖 看看是否有異常點 ?25不良數管制圖計數值管制圖Step 1 計算總不良數：

6、( 固定)Step 2 計算管制上下限：26例題:2728缺點數管制圖計數值管制圖Step 1 計算總不良數：( 固定)Step 2 計算管制上下限：29例題:30管制圖異常點判讀31管制異常現象 :一點落於管制界限外異常點判讀32管制異常現象 :連續3點中之2點落於2倍標準差外異常點判讀33管制異常現象 :連續5點中之4點落於中心線1倍標準準差之外異常點判讀34管制異常現象 :連續8點在中心線的同一側(製程水準的改變)可能原因:由於新員工的引進、方法、原料或機器檢查方法或標 準的改變異常點判讀35管制異常現象 :驅勢或朝一個方向連續的移動可能原因:工具磨損或工作疲勞異常點判讀36管制異常現象

7、 :循環型態可能原因:系統化的環境改變：如溫度、操作者或機器的正規 輪調或電壓變動及生產設備其他因素的改變。異常點判讀37管制異常現象 :混合型態(所繪的點落在管制界限附近)可能原因:由於兩個或更多重疊製程產出分配所形成，混合型 態的產生是，由於操作者太常做製程調整所造成的。異常點判讀38管制異常現象 :層化(缺少自然的變異)可能原因:管制界限的不正確計算，也可能抽樣時從好幾個不同 母體中抽出。若每個樣本的MAX與MIN很接近則觀察到 的變異性就很小。異常點判讀39計數值管制圖40缺點種類備註時間檢驗數不良數龜裂破片污點其他百分不良率10:305041228.011:00505121110.0

8、11:30509352118.012:0050612.012:3050510.013:00501122.013:305048.014:0050714.014:3050816.015:005036.015:3050714.016:0050918.016:3050612.017:00501020.017:3050714.018:005048.018:3050918.019:0050714.019:3050816.020:0050510.0百分不良率計數值管制圖41計數值管制圖Step 1 計算總不良率：Step 2 計算管制上下限：不良率管制圖42AIP/MSU SMT VISUAL INSPEC

9、TIONP- CHART43計數值管制圖Step 3 不良率值是否都在管制上下限內：缺點:管制圖判斷規則不易使用44計數值管制圖Step 4 若 之差異不大以 計算上下界限：45圖中的點是以標準差單位畫的，管制中心線是在 0，管制上下限是 3 和 -3 ，在圖上變動的點是其中 (假如真值未知，則以 估計)是在管制狀態下的不合格率。 Step 5 標準化管制圖46計數值管制圖缺點:圖上顯示的點非測量值，線上操作員不易了解其意義。47計量值管制圖-製程能力解析48精確度 vs. 準確度低精確度低精準度低精確度高精準度高精確度低精準度高精確度高精準度49Cpk的概念的簡介針對Cpk，可分為Ca（精準

10、度）Cp（精確度）精準度(Capability of Accuracy)精確度(Capability of Precision)XmUSLLSL50精確度(Capability of Precision)準確度(Capability of Accuracy)製程能力解析XmUSLLSL51無法分辨下列情況當 時， ，但不良率USLLSLm52製程能力解析雙邊規格I.對稱規格：II.不對稱規格：單邊規格其中Cpk53無法分辨下列情況發現 ，但其製程能力顯然不同USLmLSL5455 等級評定後之處置原則 A級: 作業員遵守作業標準操作並達到規格之要求須 繼續維持.B級: 有必要儘可能將其改進為A級.C級: 作業員可能看錯規格不按作業標準操作或檢討 規格及作業標準.D級: 應採取緊急措施,全面檢討所有可能影響之因 素,必要時得停止生產.56 等級評定後之處置原則A級: 此一製程甚為穩定,可以將規格許容差縮小或 勝任更精密之工作.B級: 有發生不良品之危險,必須加以注意,並設法 維持不要使其變壞及迅速追查.C級: 檢討規格及作業標準,可能本製程不能勝任如 此精密之工作.D級: 應採取緊急措施,全面檢討所有可能影響之因 素,必要時應停止生產.57 等級評定後處置原則A級: 製程能力足夠.B級: 製程