统计过程控制SPC培训(1)ppt课件

1、统计过程控制SPC培训 .背景与概念： 为了保证预防原那么的实现,20世纪20年代美国贝尔实验室成立了两个研讨质量的课题组,一为过程控制组,学术指点人为休哈特(Walter A.Shewhart);另一为产品控制组,学术指点人为道奇(Harold F.Dodge)。其后，休哈特提出了过程控制实际以及控制过程的详细工具控制图control chart),现今统称为SPC。 所谓SPC统计过程控制就是：为了贯彻预防原那么，运用统计技术对过程中的各个阶段进展评价和检察，从而保证产品与效力满足要求的均匀性。. 产质量量的好坏是由过程质量来决议的,一个好的过程，它必需满足两个条件(1)处于受控形状(2)

2、过程才干指数CPK值到达要求。所以继续的过程改善对每个公司来讲都非常重要。 在过程控制最根本的统计运用，便是控制图及过程才干分析.在阐明过程统计方法之前，先就过程统计的观念作一下简介。. 统计根底:(1).算术平均值X(简称均值)例如:A组:50,70,80,80,90B组:40,60,70,80,90那么: XA=(50+70+80+80+90)/5=74 XB=(40+60+70+80+90)/5=68. 统计根底:(2).极值R R=Xmax-Xmin例如:A组:30,50,60,70,90B组:40,50,60,70,80那么: RA=90-30=60 XB=80-40=40. 统计根

3、底:(2).规范差- n (Xi-X)2 = i=1 n例如: A组:1,5,5,5,9 B组:1,1,5,9,9那么: A= (1-5)2+(5-5)2+(5-5)2+(5-5)2+(9-5)2/5 =2.53 B = 3.58.一预防与查误 有一句话在品管领域是非常适用的“第一次就把事情做好，当然“预防胜于治疗也有一样的意义。查误可在不良发生后找出问题所在，而预防那么可以防备不良之发生。后者具有更积极的意义二过程控制系统 所谓系统即是输入、过程、输出还有回馈所组成，如图：.处置过程人机料法环境客户需求与希望改动之辨识客户回馈制程回馈统计的方法过程/系统输出输入产品/效力过程控制系统方式.三

4、变异 任何一种消费，即使在消费条件完全一样的条件下，其产品的特性值也不会完全一致，总是存在着动摇，呵斥动摇的缘由可以分为普通缘由与特殊缘由。 . 1.普通缘由偶因 又称为普通、偶尔、机遇缘由，在制程中的自然或天生的变异，通常这些变异是由一些小的干扰呵斥，不容易控制，即使再好的过程，我们必需成认，必定有变异存在。偶因引起的质量的偶尔动摇简称偶波，偶波是不可防止的，但对质量的影响微小，故可以把它看作背景噪音而听之任之，所以我们认定当制程仅有普通缘由偶因时，仍属于控制形状。. 2. 特殊缘由异因 又称为非机遇缘由，在制程中某些失误呵斥，失误的来源，能够为人、机器、资料、方法、环境等，此等变异比普通缘

5、由呵斥的变异大，且非周期性产生。异因引起的异常动摇简称异波，异波对质量的影响大，且采取措施不难消除，故在过程中异涉及呵斥异波的异因是我们留意的对象，一旦发生，就应该尽快找出，采取措施加以消除，并纳入规范化，保证它不再出现。假设异波发生那么表示制程曾经失去控制了。 .3偶因与异因的比较： 偶因 异因 一直存在与消费过程中。 消费中时有时无。 对产质量量的影响微小。 影响较大。.偶因与异因的比较： 偶因 异因 遭到的影响是随机的 。 产品遭到同一方向 的影响。 难以除去，不是技术上 不难除去。 有困难，就是经济上不允许。偶因只能减小，不能 彻底消除。.四过程控制及过程才干 过程的形状有4种，用下表

6、分类：分类可接受不可接受受控12不受控34 1. 受控可接受：制程符合要求规格，且在制形状。. 2受控不可接受： 虽在控制形状，但由于变异太大， 无法符合要求稳定的消费，但不合格品率不断处在高程度。必需降低偶因之变异，如工艺的设计缺陷，设备的先天缺乏。 3不受控可接受：符合要求，但不在控制形状。必需找出异因，着手改善。 4.不受控不可接受：无法符合要求，又不在控制形状。必需同时降低偶因以及消除异因。 .五过程改善 过程之继续改善，可分为三个阶段： 1. 分析过程 过程之现况 过程之问题 过程该如何进展 使过程在统计控制形状 决议过程才干 . 2. 维护过程 监控过程绩效 清查特殊缘由并改善 3

7、. 改善过程 改动过程以进一步了解普通缘由呵斥的变异 降低普通缘由呵斥之变异 .六控制图 控制上限 UCL 中心线 CL 控制下限 LCL1控制图的种类：按运用目的分类：分析用控制图和控制用控制图.1控制图的种类：按用途分类：1计量值控制图：所谓计量值指控制图的数据均属于由量具实践丈量而得，如长度、分量、电阻等。例如：a均值-极差控制图 X-R控制图 b均值-规范差控制图 X-s控制图 c中位数-极差控制图 X-R控制图 d单值-挪动极差控制图 X-Rs控制图 .2计数值控制图：所谓计数值指控制图之数据以单位计数而得，如不良数、缺陷数等。例如：a不合格品率控制图 P控制图b不合格品数控制图 P

8、n控制图c单位缺陷数控制图 C控制图d缺陷数控制图 U控制图. 2制造和运用控制图的的普通步骤： 1 搜集预备数据 2 制造分析用控制图 3 计算过程才干指数 4 作控制用控制图 5 修正控制图. 3控制图的判读 判别过程稳态的准那么判稳准那么：延续25个随机陈列的点,界外点数d=0.延续35个随机陈列的点,界外点数d1.延续100个随机陈列的点,界外点数d 2. 3控制图的判读 判别过程异常的准那么判异准那么：(1)判异准那么有两类:一类:延续25个随机陈列的点,界外点数d0.延续35个随机陈列的点,界外点数d1.延续100个随机陈列的点,界外点数d 2.另一类:界内的点陈列不随机,有异常景

9、象.(2)控制限内的点的陈列无以下异常景象：常规控制图的国标GB/T 4091-2001的7种异常景象.a延续9点落在中心线同一侧；产生的缘由:分布的X的在变小。.b延续6点或更多点呈上升或下降趋势；产生的缘由:过程平均值的趋势在变化；能够是工具逐渐磨损，操作员技艺的逐渐提高等。.c延续14点中相邻点上下交替；产生的缘由:是由于轮番运用两台设备或由两位操作员轮番进展操作而引起的系统效应。.d延续3点中有2点落在中心线同一侧的B区以外；产生的缘由:分布的X的在变化。.e延续5点中有4点落在中心线同一侧的C区以外；产生的缘由:类似与d),分布的X的在变化。.f延续15点在C区中心线上下；产生的缘由

10、:数据虚伪或数据分层不够。.g延续8点在中心线两侧,但无一点在C区；产生的缘由:数据分层不够。.4 二种常用控制图的计算公式：(1). X-R控制图 X均值 R极差 X控制图主要用于察看正态分布的均值的变化,R控制图主要用于察看正态分布的分散情况或变异度的变化。 控制对象：长度，分量，强度，纯度，时间等。.计算公式： X-R控制图 UCLX = X+A2RCLX = XUCLX = X+A2RUCLR = D4RCLR = RUCLR = D3R备注：公式中的A2、D3、D4均为参数可以查表或计算得到。.(2). p控制图 p不合格品率 p控制图主要用于控制对象为不合格品率或合格品等计数质量目

11、的的场所。 控制对象：不合格品率，废品率，交货延迟率，等等。.计算公式： P控制图 UCLP = p+3p = P+3 P1-P/nCLp = p = PUCLX = p-3p = P - 3 P1-P/n备注：假设P未知，那么用求平均值的方法来估计，公式中用P来替代P值。.5. 控制图的绘制在XR 图中，我们应该先做哪一个图？1假设先作X图，那么由于这时R图还未判稳，R的数据不可用，故不可行。2假设先做R图，那么由于R图公式中只需R 一个数据，可行。等R图判稳后，再作X图。.6 过程才干指数 CP ：过程才干评价目的在于衡量产品分散宽度符合公差的程度.CP值越小,表示过程才干差,反之表示才干好 过程才干指数公式：CP = T/6=TU-TL/ 6 TU-TL/ 6 TU是规格上限, TL是规格下限.过程才干指数Cp值的评价参考.7. 有偏移情况的过程才干指数: 当产质量量特性值分布的均值与公差中心M不重合(即有偏移)时,显然不合格品率将增大,也即Cp值降低,故Cp公式所计算的过程