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文档简介

1、统计过程控制SPCStatistical Process Control培训讲义Training MaterialSPC-正态分布图的制造与分析1.制造直方图1.1.抽样编号1.2.样品计量1.3.计算极差 R=Xmax-Xmin1.4.数据分组 K1.5.确定组距 d1.6.确定各组区间的端点 ak1.7.计算每组中值 YiSPC-正态分布图的制造与分析1.8.统计样本落在每个区间的频数1.9.建立直方图1.9.1.建立直角坐标1.9.2.标出每一组的端点1.9.3.画出长方形SPC-正态分布图的制造与分析2.制造正态分布图2.1.找出每个长方形的中点2.2.用光滑曲线使中点相连例如灯片分量

2、SPC-正态分布图的制造与分析3.控制图过程控制的有力工具3.1.控制图的构成3.2.均值和极差图X-R的建立3.2.1.搜集数据选择子组大小原那么“应使得一个子组内在该单元中的各样本之间出现变差的时机小SPC-正态分布图的制造与分析选择子组频率选择子组组数3.2.2.建立控制图，记录原始数据3.2.3.计算均值X和极差R X=(1/n)Xi R=Xmax-Xmin3.2.4.确定控制图纵坐标的刻度X图最大刻度值-最小刻度值2(Xmax-Xmin)R图最大刻度值RmaxSPC-正态分布图的制造与分析3.2.5.描点画线3.2.6.计算控制限计算过程平均值X和平均极差RX=(1/n)Xj R=(

3、1/n)Rk计算控制限UCLx=X+A2R LCLx=X-A2RUCLR=D4R LCLR=D3R 3.2.7.在控制图中画控制限SPC-正态分布图的制造与分析3.3.过程才干解释3.3.1.极差图分析点线链区图形的趋势非随机图形的表现子组内数据点总体分布准那么特殊缘由的标注、对策和改善纠正改善后重新计算极差图控制限SPC-正态分布图的制造与分析3.3.2.均值图分析点线链区SPC-正态分布图的制造与分析3.4.如何更快地检测到大的过程变化？3.4.1.方法3.4.2.重新计算R，UCL/LCL计算估计规范偏向 R/d2=R/d2计算其它值R新= R/d2 d2新UCLR新=D4 R新 LCLR新=D3 R新UCLX新=X+A2 R新 LCLX新=X-A2 R新SPC-正态分布图的制造与分析3.5.控制图的益处3.5.1.判别过程稳定3.5.2.预测3.5.3.改良、降本3.5.4.便于交流3.5.5.明确职责SPC-正态分布图的制造与分析3.6.运用控制图的预备3.6.1.建立适用于实施的环境3.6.2.定义过程3.6.3.确定控制的特性3.6.4.确定丈量系统3.6.5.使不用要的变差最小SPC-正态分布图的制造与分析3.7.其它控制图的引见3.7.1.用于计量型数据的其它型控制图X-S均值-规范差图Xi-M

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