SPC_管制图-SPC_管制图ppt课件

1、統計制程控制(SPC)Statistical Process Controlrobert.fong.SPC的源起以下為SPC的源起.統計制程控制的定義經由制程中去搜集資料,而加以統計分析,從分析中得以發覺制程的異常,並經由問題分析以找出异常缘由,立刻采取改善措施,使制程恢复正常.並透過制程才干解析与標准化,以不斷提出制程才干.美國為何積极推行SPC?日本生產力為何會高?1.SPC可發現制程中的變异,並加以解決,不僅可提升品質,更可降低本钱.2.作業者利用它,可使任务有效率.3.管理者透過它,可掌握制程的品質. 主要是想以SPC來改變產品品質.因為日本正是運用統計制程品管,而使它的產品品質居世界

2、第一.SPC應用步驟 SPC應用步驟流程圖CPK1.33制程條件變動時.常态(Normal)分布常態分布又稱為高斯(Gaussian)分布宇宙万物和工業產品大部份成常態分布-3 -2 - 0 2 368.27%95.45%99.73%.常態分布的特性1.群体平均值之次數最多.2.兩邊對稱3.曲線與橫軸不相交4.曲線之反曲點在1處.5.曲線与橫軸所圍之面積為1 u.常态分布与控制图的关系 - - 3 - 2 + 3 + 2 + UCLB 区C 区C 区B 区A 区LCLCL規格范圍A 区.制程才干分析 Ca : 制程准确度 (Capability of Accuracy)衡量制程之平均值与规格中

3、心值之一致性 Cp : 制程精细度 (Capability of Precision)衡量制程之变异宽度与规格公差范围相差之情形 Cpk : 制程才干指数 (Capability of Process)Ca 与 Cp 之合并.制程準確度 Ca 規格下限規格上限T = 公差 x x - Ca = 制程平均值 - 規格中心值規格公差之一半= X - T = 規格公差= USL LSL = 規格上限 - 規格下限 (单边規格无法计算Ca 值)T / 2.等級断定CA值越小,品質越佳.依CA值大小分為四級.處置原則:A級:維持現狀B級:改進為A級C級:立刻檢討改善D級:采取緊急措施,全面檢討,必要時停

4、顿生產.制程精细度 CpCp = 規格公差6个规范差= (双边規格)T = 或 (单边規格)6| LSL X | | USL X | 33Cp = 1.33Cp = 0.67-規格下限規格上限T = 公差 =Rd2.等級断定CP值越大,品質越佳.依CP值大小分為五級處置原則:A+級:考慮管理的簡單化或本钱降低的方法. A級:維持原狀 B級:改進為A級. C級:需全數選別,並管理,改善工程. D級:進行品質的改善,探求缘由,需求采取緊急對策,並且重新檢討規格.制程才干指數 CpkCpk = ( 1 - | Ca | ) Cp (双边規格)= Cp (单边規格).等級断定CPK值越大,品質越佳.依

5、CPK值大小,分為五級.處置原則:A+級:考慮管理的簡單化或本钱降低的方法.A級:維持現狀B級:改進為A級C級:需全數選別並管理,改進工程. D級:進行品質的改善,探求缘由,需求采取緊急對策,并且重新探討規格.制程才干分析Ca x Cp xCa xCp Ca Cp x.影響CPK值的要素1過程中心位置Ca2過程變差的添加或影響Cp.製程才干CPK的目標摩托羅拉Cp和Cpk的目標: Cp=2.0,Cpk=1.5目前我公司CPK的目標: 對MOTO產品要求Cpk=1.5,普通客戶要求Cpk=1.33.計算計算以下CPK值.CPK計算(續)Z =USLUSL-XLSL=-(LSL-X)Z =X-LS

6、LCpk=Z min3=ZUSL与ZLSL 其中的最小值.控制圖定義 何為控制圖一種用于調查制造程序能否在穩定狀態下(解析用),或者維持制造程序在穩定狀態上所用之圖CLLCLUCL時間或樣本編號統計數值CL ( Central Line ) : 中心線UCL ( Upper Control Line ) : 控制上線LCL ( Lower Control Line ) : 控制下線 .控制圖的作用1及時發現工序過程中所出現的系統性變异2确定工序質量程度能否得以改進3維持並不斷改善現有工序質量程度.控制图绘制流程搜集数据绘制解析用控制图安定形状绘制直方图满足规格控制用控制图分析检讨缘由提升制程才

7、干去除异常缘由以达安定形状是否否是.控制圖分類1.依控制圖之用途分類：可分為控制用控制圖及解析用控制圖解析用控制圖：1決定方針用。2製程解析用。3製程才干研讨用。4製程控制之準備用。 控制用控制圖：係用於控制製程之品質，具有其積極之意義。如有數據超出控制界限應立刻採取如下措施： 1清查不正常缘由。2迅速消除此項缘由。3研讨採取防止此項缘由重複發生之措施。.建立解析用控制圖 A.搜集数据 (100个以上)B.按序陈列数据及分组 (样本数 n=25)C.计算各组平均值X及全距RD.计算总平均值X及全距平均值R E.查系数 A2、D4 、 D3F.计算控制界限 X bar控制圖 中心線CLx=X d

8、bar。 控制上限UCLx=X dbar+A2R bar。 控制下限LCLx=X dbar-A2R bar。 .R控制圖 中心線CLr=R dbar。 控制上限UCLr=D4Rbar。 控制下限UCLr=D3Rbar 。G.繪控制界限。H.點圖。I.控制界限之檢討。J.劃直方圖-確認數據能否呈常態分佈。K.與規格值比較。.建立控制用控制图记入必要事项 (制程称号、控制工程、 .)画控制界限点图 X、R安定形状断定採取措施控制界限定期重新计算.控制圖分類 (續)计量值控制图 (Variables)X - R Chart (平均值与全距控制图)X -Chart (平均值与规范差控制图)X - R

9、Chart (中位值与全距控制图)X - Rm Chart (个别值与挪动全距控制图)计数值控制图 (Attributes)p Chart (不良率控制图)pn Chart (不良数控制图)c Chart (缺陷数控制图)u Chart (单位缺陷数控制图).计量值控制图常数表nA2A3B3B4D3D4E221.8802.659-3.267-3.2672.66031.0231.954-2.568-2.5741.77240.7291.628-2.266-2.2821.45750.5771.427-2.089-2.1141.29060.4831.2870.3031.970-2.0041.18470

10、.4191.1820.1181.8820.0761.9241.10980.3731.0990.1851.8150.1361.8641.05490.3371.0320.2391.7610.1841.8161.010100.3080.9750.2841.7160.2231.7770.975200.1800.6800.5101.4900.4151.5850.803.常态分布统计量抽样分配常数表nm3d2d3c2c3c4c521.0001.1280.8530.5640.4260.7980.60331.1601.6930.8880.7240.3780.8860.46341.0902.0590.8800.

11、7980.3370.9210.38951.1982.3260.8640.8410.3050.9400.34161.1352.5340.8480.8680.2810.9520.30871.2142.7040.8330.8880.2610.9590.28281.1602.8470.8200.9030.2450.9650.26291.2232.9700.8080.9140.2320.9690.246101.1763.0780.7970.9230.2200.9730.232201.2123.7350.7290.9620.1570.9870.161.控制图之判读 正常点子之动态 多数之点子集中在中心线附近 少数之点子落在控制界限附近 点子之分布呈随机形状,无规那么可循 没有点子超出控制界限之外 不正常点子之动态 在中心线附近无点子混合型 在控制界限附近无点子层别型 有点子逸出控制界限 (不稳定型).分析缘由以下為控制點超出控制界限之控制圖製程中發生以下缘由后應進行分析解決.判讀點異常之能够缘由X控制圖 R控制圖 资料之材質 標准化不佳的操作或檢驗員操作.檢驗