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文档简介
1、第二章 薄膜的力学性质(续) 第四讲 2.4 内应力的测试方法1、悬臂梁法测量时常用基片云母片、玻璃片 尺寸：152 0.0565 10 0.15mm3测量方法：目镜直视法、各种光学法、电感法、电容法、 机电法等，其中电容法的灵敏度最高。薄膜内应力：2、弯盘法采用圆形基片，分别测量出在淀积薄膜前后的基片的曲率半径R1和R2，那么薄膜单位宽度的应力为：基片：玻璃、石英、单晶硅 尺寸：0.1318-0.2230，光学抛光测量方法：牛顿环法(常用)、x射线衍射法、光纤法等。3、 x射线衍射法测试前，用标准的硅单晶样品标定装置误差。薄膜厚度30nm,观测衍射峰最大值所对应的布拉格Bragg角，并比较薄
2、膜的和块状的角。 2.5 薄膜的机械强度分为抗张强度、耐压强度用硬度表示薄膜常开裂薄膜的断裂是它的应力应变曲线的终点抗张强度与应力应变关系紧密。2.5.1 薄膜的应力应变曲线块材：先线性弹性阶段非线性弹性阶段 塑性变形薄膜：有可能发生蠕变，因为薄膜内的缺陷较多，受到内部弹性能的活化而发生了一些变化。 与块材不同2.5.2 薄膜的抗张强度薄膜的断裂机理：在薄膜的内部局限区域中发生塑 性变形，导致在该处变薄，结果这个区域中内 应力增大，出 现小的裂纹，最后发生断裂。薄膜特点：缺陷较多，外表积与体积之比很大， 本身有内应力。薄膜的屈服强度：薄膜的屈服强度比块材大，因为薄膜的外表效应，如薄膜的外表积很
3、大，抑制位错运动和消除位错源。d强度2.6 机械强度的试验方法2.6.1 引张法 采用微张力测试仪，观察样品在较轻负载下的很小伸长率。用灵敏的光学仪器测量伸长率0.5nm2.6.2 膨胀法#样品制法： 将待测薄膜从基片上剥离下来安装在铜管上； 将待测薄膜淀积在塑料膜上，然后溶去塑料膜； 在NaCl基片100面上沉积薄膜如金膜， 然后在薄膜质量最正确处，用喷水法对基片进行钻 孔，直到在孔底只剩下薄膜位置。#用干预图像法测量膨胀面曲率半径在起始态和膨胀态的变化，从而求出薄膜所受的应力与应变分别为： 离心法该法可测量薄膜的附着力和抗张强度，但不能测量应力-应变曲线。转子由磁力悬浮在真空中，外加旋转磁场，使
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