计量型MSA五性分析报告

1、XXX公司计量型MSA分析报告XX/840-004BNq：L2017003日期实施人评价人仪器名称仪器编号分析结论审核批准2017年2月23日陈秋凤、雷丽花、欧阳丽敏张志超数显卡尺（中间检验）XXX合格不合格计量型MSA分析报告目录稳定性1偏倚4线性7重复性和9再现性备注:对于有条件接收的项目应阐述接受原因.XX公司质量部第一节稳定性分析1.1 稳定性概述在经过一段长时间下，用相同的测量系统对同一基准或零件的同一特性进行测量所获得的总变差，即稳定性是整个时间的偏倚变化。1.2 试验方案2017年02月份,随机抽取一常见印制板样品,让中间检验员工每天的早上及晩上分别使用数显卡尺对样品外形尺寸测量

2、5次/组，共测量25组数据，并将每次测量的数据记录在表1。1.3 数据收集表1稳定性分析数据收集记录表操作者陈秋凤测量日期2017-02-042017-02-20测量时间测量结果/单位：_mm_第1次第2次第3次第4次第5次时段165.2365.2365.2365.2465.23时段265.2365.2365.2365.2365.23时段365.2465.2365.2365.2465.24时段465.2465.2465.2465.2365.24时段565.2365.2465.2365.2365.23时段665.2465.2465.2465.2465.24时段765.2465.2365.2465

3、.2465.24时段865.2465.2365.2365.2465.23时段965.2365.2465.2365.2365.23时段1065.2365.2365.2365.2365.23时段1165.2465.2365.2365.2465.24时段1265.2465.2465.2465.2465.23时段1365.2465.2365.2365.2465.23操作者陈秋凤测量日期2017-02-042017-02-20测量时间测量结果/单位：_mm_第1次第2次第3次第4次第5次时段1465.2365.2365.2365.2365.23时段1565.2465.2465.2365.2365.24时

4、段1665.2365.2365.2465.2365.23时段1765.2365.2465.2365.2365.23时段1865.2465.2465.2465.2465.23时段1965.2465.2365.2365.2365.23时段2065.2465.2465.2465.2465.24时段2165.2365.2365.2465.2365.23时段2265.2465.2465.2365.2465.24时段2365.2365.2465.2465.2365.23时段2465.2365.2465.2465.2465.24时段2565.2365.2365.2365.2365.231.4 测量系统稳定性

5、可接受判定标准1.4.1 不允许有超出控制限的点；1.4.2 连续7点位于中心线同一侧；1.4.3 连续6点上升或下降；1.4.4 连续14点交替上下变化；1.4.5 连续3点有2点距中心的距离大于两个标准差；1.4.6 连续5点中有4点距离中心线的距离大于一个标准差1.4.7 连续15点排列在中心线的一个标准差范围内；1.4.8 连续8点距中心线的距离大于一个标准差。第#页/共13页XX公司质量部1.5数据分析中间检验数显卡尺(0T50mm)的Xbar-R控制图65.23755值塚本離2350232565.2300+3SL=65.24012+2SL=65.23824+1SL=65.23636

6、X=65.23448-1SL=65.23260-2SL=65.23072-3SL=65.22884第3页/共13页135791113151719212325样本0.0200.0150101350.005+3SL=0.02069+2SL=0.01705+1SL=0.01342R=0.00978-1SL=0.00615-2SL=0.00251-3SL=0791113151719212325样本图1中间检验数显卡尺Xbar-R控制图从图1Minitab生成Xbar-R控制图可知，没有控制点超出稳定性可接受判定标准，表明该测量系统稳定性可接受。1.6测量系统稳定性分析结果判定对中间检验_数显卡尺进行稳

7、定性分析，分析结果表明该测量系统稳定性可接受。XX公司质量部第二节偏倚分析2.1 偏倚分析概述对相同零件上同一特性的观测值与真值（参考值）的差异。2.2 试样方案2.2.1选择一个被测样品,确定样品的外形尺寸基准值x,样品外形尺寸基准值通过铳边工序所使用的泛用型尺寸测量机重复测量10次取测量均值获得。2.2.2让经常使用该量具的检验员测量样品15次,每次读数记为x.（i为第i次测量）。i2.3 数据收集表2偏倚分析数据收集记录表操作者陈秋凤测量时间2017-01-21单位mm测量次数测量结果测量次数测量结果197.02997.02297.021097.02397.011197.02497.02

8、1297.01597.021397.02697.021497.02797.011597.02897.02/2.4 测量系统偏倚可接受判定标准若0在偏倚95%可信度的置信区间范围内，可以在统计上判定测量系统的偏倚等于零，而这种判定犯错的可能性为5%，此时可判定测量系统偏倚可接受第4页/共13页XX公司质量部2.5数据分析2.5.1根据测量所得数据，将数据记录于表3,并计算测量结果的平均值x。n乙XIX二4-n2.5.2 计算偏倚B。B=x-x2.5.3计算重复性标准差b。r最大值（x）-最小值（x）b=riid*22.5.4计算均值X的标准差b。b2.5.5偏倚95%可信度的置信区间上限及下限计

9、算方式。上限下限B+幺b()d*bv,1-a/22B一伫b()d*bv,1-a/22第7页/共13页表3偏倚分析记录表评价人张志超测量次数单位：mm读数偏倚197.020.002297.020.002397.01-0.008497.020.002597.020.002697.020.002797.01-0.008897.020.002基准值x|测量次数n平均值x97.0181597.017d2d*2自由度v3.471913.553310.8分析时间2017-01-21测量次数单位：mm读数偏倚997.020.0021097.020.0021197.020.0021297.01-0.008139

10、7.020.0021497.020.0021597.020.002偏倚B复性标准差r均值x的标准差bb0.0010.00280.0007t偏倚95%的置信区间v,ia/2下限上限2.206-0.00060.0026注：d2、d*、v、t-可查表获得，具体参考ZW4DD-034B0MSA测量系统分析管理办法22v,1a/22.5.6从表3数据分析，数显卡尺测量偏倚为0.001mm，偏倚值95%的置信区间为-0.0006,0.0026,因为0在上述偏倚值的95%置信区间范围内，所以该测量系统偏倚接受2.6测量系统偏倚分析结果判定对中间检验数显卡尺进行偏倚分析，分析结果表明该测量系统偏倚可接受。XX

11、公司质量部第三节线性分析3.1 线性分析概述在测量设备预期的工作（测量）量程内，偏倚值的差异，线性可被视为偏倚对于量程大小不同所发生的变化。3.2 试验方案3.2.1选择5个样品，且这5个样品外形尺寸涵盖量具的整个工作量程。3.2.2确定每个样品的外形尺寸x.,各样品外形尺寸通过铳边工序所使用的泛用型尺i寸测量机重复测量10次取测量均值获得。3.2.3让经常使用该测量工具的检验员分别对每个样品测量12次，并将对应测量结果x.ij记录在表4中，其中i为样品编号，j为测量次数。3.3 数据收集表4线性分析数据收集记录表操作者陈秋凤测量时间2017-01-22单位mm样品编号i读数V测量次数1234

12、5117.8939.9766.78105.02146.62217.8939.9766.78105.02146.61317.8939.9766.78105.01146.62417.8939.9766.78105.02146.62517.9039.9766.78105.02146.62617.8939.9866.78105.02146.62717.8939.9766.78105.01146.61817.9039.9766.78105.02146.62917.8939.9766.78105.02146.621017.8939.9766.78105.02146.621117.8939.9766.781

13、05.02146.621217.8939.9766.78105.02146.62基准值17.89039.96766.790104.971146.6443.4测量系统线性可接受判定标准“偏倚=0”的整条直线都在置信区间范围内，则判定测量系统的线性可接受，否则需要分析原因改善。3.5数据分析测试数据的量具线性和偏倚研究量具名称：数显卡尺（中间检验）研究日期：2017-02-22报表人：张志超公差：0.15mm其他：ZEA-2014-H070参考值回归95%置信区间数据平均偏倚量具线性自变量系数系数标准误P常量0.0074990.0061410.227斜率-0.000054020.000069620

14、.441S0.0248145R-Sq1.0%量具偏倚参考偏倚P平均0.00343330.00017.890.00166670.08539.9670.00383330.00266.79-0.0100000*104.9710.04733330.000146.644-0.02566670.000图2中间检验数显卡尺线性分析图从图2Minitab生成的线性图分析，“偏倚=0”的整条直线在置信区间内，表明该测量系统线性可接受。3.6测量系统线性分析结果判定对中间检验数显卡尺进行线性分析，分析结果表明该测量系统线性可接受第四节重复性、再现性分析4.1 重复性、再现性概述重复性：由一个被评价人使用同一测量仪

15、器，多次测量同一零件同一特性值时获得的测量变差。再现性：由不同的评价人采用相同的测量仪器，测得同一零件同一特性的测量平均值之间的变差。4.2 试验方案挑出10个样品，样品外形尺寸涵盖整个过程变差（一般为样品尺寸公差）,然后找3个人分别在不同的时间段测量这10块样品的外形尺寸，测试前，测试人员不知道样品的测试顺序，每个人分别在3个时间段分别测量每块样品的外形尺寸1次，并将每次的测量结果记录在表4。4.3 数据收集表4重复性、再现性分析数据记录表操作者测量时间测量数据/单位：mm12345678910陈秋凤时段170.5170.4470.3470.5970.4970.5670.3770.3270.

16、2970.41时段270.5270.4470.3370.5970.4770.5570.3770.3170.2870.40时段370.5170.4470.3370.6070.4870.5570.3770.3270.2870.40雷丽花时段170.5170.4370.3170.5870.4770.5470.3670.3170.2970.41时段270.5070.4370.3270.5870.4770.5470.3570.3170.2870.40时段370.5170.4370.3270.5970.4770.5470.3570.3170.2870.40欧阳丽敏时段170.5270.4470.3370.

17、5970.4870.5670.3770.3270.2970.41时段270.5370.4670.3470.6170.4970.5670.3870.3270.3070.42时段370.5270.4470.3370.5970.4870.5670.3770.3270.2970.414.4 测量系统重复性、再现性分析可接受判定标准4.4.1量具重复性和再现性（R&R）的可接受性准则4.4.1.1重复性、再现性、GR&R低于10%的误差一一测量系统良好，可以接受；4.4.1.2重复性、再现性、GR&R在10至30%之间根据应用的重要性，量具成本，维修的费用等，可以是可接受的。当判定是可以接受时应在分析报

18、告中阐述接受理由，比如通过对比法、枚举法等方法进行分析，明确是从重要性、量具成本、维修费用等因素的哪些因素说明该测量系统可以接受；4.4.1.3重复性、再现性、GR&R大于30%的误差一一测量系统不可接受。需分析各种问题加以改进，或更换新的量具。4.4.2有效分辨率ndc4.4.2.1 数据分级数为1时，对过程参数及指数估计不可接受；4.4.2.2 数据分级为2至4时，一般来讲对过程参数及指数的估计不可接受，只提供粗劣估计；4.4.2.3 数据分级数5或更大时，可用于过程控制或过程分析。4.5数据分析测试数据的量具R&R（方差分析）报表人：张志超量具名称：数显卡尺（中间检验0T50mm）公差：0.15mm研究日期：2017-02-23其他：ZEA-2014-H070变%贡献10050重复再现性部件间0量具R&R研究变异100比分百%贡献%研究变异70.6570.5070.35R控制图（按操作者）UCL=0.021451.02L010.00差极本样部件号测试数据X操作者陈秋凤雷丽花欧阳丽敏操作者70.5570.35R=0.00833L