第3章集成电路基本工艺_第1页
第3章集成电路基本工艺_第2页
第3章集成电路基本工艺_第3页
第3章集成电路基本工艺_第4页
第3章集成电路基本工艺_第5页
已阅读5页,还剩48页未读 继续免费阅读

下载本文档

版权说明:本文档由用户提供并上传,收益归属内容提供方,若内容存在侵权,请进行举报或认领

文档简介

陈江华 关心每一步工艺对器件性能的影响,读懂PDK, 挖掘工艺潜力。英国VG Semicom公司型号为V80S-Si的MBE设备关键部分照片 关心每一步工艺对器件性能的影响,读懂PDK, 挖掘工艺潜力。IC、Mask & Wafer图3.2Wafer图 3.3图 3.4图 3.5 关心每一步工艺对器件性能的影响,读懂PDK, 挖掘工艺潜力。图 3.6图 3.7图 3.8举例:,y+2d=10m, 则有(y+2d)tg=0.5m图 3.9图 3.10图 3.11 关心每一步工艺对器件性能的影响,读懂PDK, 挖掘工艺潜力。图3.12 场氧 除了作为栅的绝缘材料外,二氧化硅在很多制造工序中可以作为保护层。在器件之间的区域,也可以生成一层称为“场氧”(FOX)的厚SiO2层,使后面的工序可以在其上制作互连线。 关心每一步工艺对器件性能的影响,读懂PDK, 挖掘工艺潜力。图 3.12 反应离子刻蚀RIE 关心每一步工艺对器件性能的影响,读懂PDK, 挖掘工艺潜力。图 3.14

温馨提示

  • 1. 本站所有资源如无特殊说明,都需要本地电脑安装OFFICE2007和PDF阅读器。图纸软件为CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.压缩文件请下载最新的WinRAR软件解压。
  • 2. 本站的文档不包含任何第三方提供的附件图纸等,如果需要附件,请联系上传者。文件的所有权益归上传用户所有。
  • 3. 本站RAR压缩包中若带图纸,网页内容里面会有图纸预览,若没有图纸预览就没有图纸。
  • 4. 未经权益所有人同意不得将文件中的内容挪作商业或盈利用途。
  • 5. 人人文库网仅提供信息存储空间,仅对用户上传内容的表现方式做保护处理,对用户上传分享的文档内容本身不做任何修改或编辑,并不能对任何下载内容负责。
  • 6. 下载文件中如有侵权或不适当内容,请与我们联系,我们立即纠正。
  • 7. 本站不保证下载资源的准确性、安全性和完整性, 同时也不承担用户因使用这些下载资源对自己和他人造成任何形式的伤害或损失。

评论

0/150

提交评论