P0可修补率改善报告

1、1名稱名稱P0P0可修補率改善報告可修補率改善報告日期日期20102010年年1010月月部門部門LCM制造六廠 TEST2 1.主題選定 2.問題現況 3.對策擬定 4.執行成效綱綱 要要3VOCCTQYP0可修率 36%G可修22%Q可修14%不可修不可修(ReLion/報廢報廢)64%1.NF-N為不可修之最大宗；其次為Particle可修率現狀 NF-N57.4%Judge codeDefect 原因Particle22.1%Scracth11.6%ESD8.9%4內外部顧客要求內外部顧客要求: : P0可修補率改善.選題理由選題理由: : 1. NF-Not Found 如果無法修法

2、，則判報廢. 2. 可修率在36%左右，不可修中NF為最大宗（57.4%）, Particle其次22.05%，如果無法修法，則判報廢 3.目標: 整體可修率提升至70%以上改善範圍及預估效益改善範圍及預估效益: : 可修率改善程度= 70%-36% = 3434% (% (預估的改善比率預估的改善比率) ) 以P0量產產出比率估算出效益: Capa.(提昇產能 Hot Key) ： 月產能 * P0比例 * 可修補率提升程度 * 修補良率 = 3,656,570 * 0.5% * （70% - 36%）* 95% = 5905單片CostDown * 年產能=29,430,233 NTD51

3、.4650 Full點燈人員在點畫面時點燈人員在點畫面時,在黑階畫面下可看到明顯的亮線在黑階畫面下可看到明顯的亮線2.4650 Full機臺機臺JPG自動自動Show前站前站P0位置的位置的Mark信息信息,防止防止TA漏放漏放若若鐳射修補失敗鐳射修補失敗, ,原亮線依然存在原亮線依然存在6關於量測系統驗證方向有二:1.PNRP人員需針對P0在PNRP機臺點燈下作原因判定的G R&R2.點燈人員在入廠后必須做LOI的教育訓練,并有通過站點的認證,具備檢測和判別 能力此為計數性統計,如有亮線,人員點選后電腦判等級程式會記錄其等級和位置若若鐳射修補失敗鐳射修補失敗, ,4650點燈原亮線依然存在點

4、燈原亮線依然存在點燈畫面7PNRP TA G R&R計畫表1. P0 Sample: NF-N類x5，Particle類x5， Scracth類x5，ESD類x5，M2類x5 NF-G類x52. 檢驗員3人一組， Sample數 30，每一位檢驗員對30個 Sample在顯微鏡下檢查3次,判是否可修8CBA1009590858075检检验验员员百百分分比比95.0% 置信区间百分比CBA1009590858075检检验验员员百百分分比比95.0% 置信区间百分比研究日期: 报表人: 产品名称: 其他: 评评估估一一致致性性检检验验员员自自身身检检验验员员与与标标准准所有检验员与标准所有检验员与

5、标准 评估一致性# 检 # 相 95 % 置信区验数 符数 百分比 间 30 25 83.33 (65.28, 94.36)# 相符数: 所有检验员的评估与已知的标准一致。Fleiss Kappa 统计量响应 Kappa Kappa 标准误 Z P(与 0 )0 0.886761 0.0608581 14.5710 0.00001 0.886761 0.0608581 14.5710 0.0000检检验员自身验员自身 评估一致性 # 检 # 相 95 % 置信区检验员 验数 符数 百分比 间A 30 28 93.33 (77.93, 99.18)B 30 29 96.67 (82.78, 99

6、.92)C 30 29 96.67 (82.78, 99.92)# 相符数: 检验员在多个试验之间，他/她自身标准一致。94650 TA Gage R&R計畫表1. 線Defect Sample: P0 x3，S/BL x3， D/OL x2，DD/S x1，D/DLx12. 檢驗員3人一組， Sample數 10，每一位檢驗員對10個 Sample點燈檢查3次,判是否是 P010所有检验员与标准 评估一致性# 检 # 相 95 % 置信区验数 符数 百分比 间 10 9 90.00 (55.50, 99.75)# 相符数: 所有检验员的评估与已知的标准一致。Fleiss Kappa 统计量响

7、应 Kappa Kappa 标准误 Z P(与 0 )0 0.977553 0.105409 9.27388 0.00001 0.977553 0.105409 9.27388 0.0000 CBA10090807060检检验验员员百百分分比比95.0% 置信区间百分比CBA10090807060检检验验员员百百分分比比95.0% 置信区间百分比研究日期: 报表人: 产品名称: 其他: 评评估估一一致致性性检检验验员员自自身身检检验验员员与与标标准准11定義績效目定義績效目標標評量標準評量標準改善前改善前改善後改善後(S)特定性特定性P0可修補總良率P0可修補總良率(M)可衡量性可衡量性200

8、9.1112月現狀平均: 36%目標 : 70%(A)可達成性可達成性Process Z= 2.36Process Z=2.878(R)務實性務實性其他產品別也有相同異常可一同降低其他產品別不良率(T)時效性時效性2009.112010.22010.32010.912P0可修率低機料 人環法LOI-2PNRPQUICK OVER KILL點燈人員點錯坐標點燈人員判錯DefectDefect修法規範不完善點燈未檢出TFT制程異常TFT修復失敗LCD組立異常Particle類CF制程異常PNRP人員可修判定錯誤環境照度環境溫度N-FN不可修不可修Particle不可修不可修1314可修率低機料 人

9、環法LOI-2PNRPQUICK OVER KILL點燈人員點錯坐標點燈人員判錯DefectDefect修法規範不完善點燈未檢出TFT制程異常TFT修復失敗LCD組立異常Particle類CF制程異常PNRP人員可修判定錯誤環境照度環境溫度環境濕度N-FN 未定義修法未定義修法X1Particle未定義修法未定義修法X215Item要要 因因對策方向對策方向X1N-FN未定義修法未定義修法針對不同產品的針對不同產品的Defect，完善修法，完善修法X2Particle未定義修法未定義修法針對不同產品的針對不同產品的Defect，完善修法，完善修法16Item要要 因因對策方向對策方向X1N-F

10、N不可修不可修針對針對NF-N部分，完善修法部分，完善修法X2Particle不可修不可修針對針對Particle引起的部分，完善引起的部分，完善修法修法17SourceDatalineSGNF-N：在PNRP顯微鏡下為有亮暗線，但找不到異常處。拆解后部分解析為SG異常，屬Quick線路，FA大部分解析為未發現。SG異常X1NF_N不可修不可修18因S-G面積較大，可能存在相鄰DatalineShort，因此再在有異常現象的Dataline左右各切1次，切完后Quick點燈現象如圖3針對SG異常，可采取Cut反端子部，以達到隔離異常處，Full點燈及模組后從端子部送信號，故功能不受影響修補前Q

11、uick點燈修補后Quick點燈修補處修補后Full點燈X1NF_N不可修不可修19因考慮到靜電環存在損傷但在顯微鏡下不可見2010.01.11對NF_N類在切除上端子部(反端子部)修法的基礎上新增切除下端子部靜電環X1NF_N不可修不可修20P0中NF-N(36.5%)為不可修之最大宗現行修法中規定NF-N不可修對樣本對樣本1進行進行NF-N不可修，不可修，Particle不可修不可修，對樣本對樣本2進行進行NF-N可修，可修，Particle不可修不可修。双比率检验和置信区间双比率检验和置信区间 样本 X N 样本 p1 756 1389 0.5442762 1158 1952 0.593

12、238差值 = p (1) - p (2)差值估计: -0.0489612差值的 95% 置信区间: (-0.0830328, -0.0148897)差值 = 0(与 0) 的检验: Z = -2.82 P 值 = 0.005Fisher 精确检验: P 值 = 0.005X1NF_N不可修不可修21Item要要 因因對策方向對策方向X1NF_N不可修不可修針對針對NF_N部分，完善修法部分，完善修法X2Particle不可修不可修針對針對Particle引起的部分，完善引起的部分，完善修法修法22X2Particle不可修不可修因因Particle引起線引起線Defect，在，在2007年之

13、前曾因修補良率不高以及所占比例不高而不采取修補年之前曾因修補良率不高以及所占比例不高而不采取修補但目前看來但目前看來Particle引起引起P0占報廢數的占報廢數的10%30%（隨來料比例而變）（隨來料比例而變）在不影響修補良率的情況下，提升在不影響修補良率的情況下，提升P0之可修率之可修率針對針對Particle引起線引起線Defect，因原因明確，顯微鏡下直接可見，因原因明確，顯微鏡下直接可見Particle，故采取將，故采取將Particle進行圍離，進行圍離，一般采取如下三種一般采取如下三種Type；1.若有傷及若有傷及M1則依暗點及斷線修補則依暗點及斷線修補Rule進行修補進行修補2

14、.若無傷及若無傷及M2,則僅做則僅做ITO切割來圍離切割來圍離Particle同時做斷線修補同時做斷線修補3.若若Particle落于反端子部則直接切除反端子部即可落于反端子部則直接切除反端子部即可對于對于Particle落于端子部引起的線落于端子部引起的線Defect無法進行補救，仍作報廢處理無法進行補救，仍作報廢處理23P0中Particle占直接報廢中的15%現行修法中規定Particle 引起的線Defect不可修對樣本對樣本1進行進行NF-N可修，可修，Particle不可修不可修對樣本對樣本2進行進行NF-N可修，可修，Particle部分可修部分可修双比率检验和置信区间双比率检验

15、和置信区间 样本 X N 样本 p1 906 1372 0.6603502 507 709 0.715092差值 = p (1) - p (2)差值估计: -0.0547418差值的 95% 置信区间: (-0.0963573, -0.0131263)差值 = 0(与 0) 的检验: Z = -2.58 P 值 = 0.010Fisher 精确检验: P 值 = 0.012X2Particle不可修不可修2425可能要因可能要因已對策實施已對策實施執行度及效果確認 (實驗數據 / trend chart / pareto / 直方圖 / 照片等, 以附頁說明)備註備註NF_N不可修P0、D/D

16、L之NF_N PNRP修法變更 TE1020083NBParticle不可修U-Type型產品因particle引起線defect的P0可修 26NF-N 修法导入Particle修法导入27控制控制步驟步驟要控要控制什制什麽麽輸出還輸出還是輸入是輸入規格規格/ /要求要求測量測量方法方法控制控制方法方法樣樣本本類類型型頻率頻率誰誰/ /測測什麽什麽記錄記錄在哪在哪裡裡決策規則決策規則/ /矯正措施矯正措施鐳射鐳射能量能量修補修補鐳射鐳射能量能量輸出輸出鐳射能鐳射能量的量的穩穩定性定性powepower r metermeter保養保養時量時量測測1 11 1次次/ /雙周雙周保養人保養人員測量員測量鐳射能鐳射能量量保養保養記錄記錄表表異常時通異常時通知工程師知工程師進行調整進行調整1.能量管控2.手法管控 將新增之修法入OI LCM制造六廠制造六廠 PNRP镭射修补要领作业指导书镭射修补要领作业指导书 ，使修法規範化3.良率管控 3.1 每日可修補