电子测量技术扫频仪与晶体管特性图示仪

1、第第7章章 扫频仪与晶体扫频仪与晶体管特性图示仪和数字管特性图示仪和数字集成电路测试仪集成电路测试仪7.1 扫频仪概述扫频仪概述 7.2 BT3型频率特性测试仪型频率特性测试仪 7.3 晶体管特性图示仪晶体管特性图示仪 7.4 数字集成电路测试仪数字集成电路测试仪7.1 扫频仪概述扫频仪概述 扫频仪又称为频率特性测试仪，它是一扫频仪又称为频率特性测试仪，它是一种在示波管屏幕上直接显示被测放大器幅频种在示波管屏幕上直接显示被测放大器幅频特性曲线的图示测量仪器。特性曲线的图示测量仪器。 7.1.1 频率特性测试原理频率特性测试原理 1点频测量法点频测量法 点频测量法亦称逐点测量法，就是通过逐点测点

2、频测量法亦称逐点测量法，就是通过逐点测量一系列规定频率点上的网络增益量一系列规定频率点上的网络增益( (或衰减或衰减) )来确定来确定幅频特性曲线的方法。原理框图如图幅频特性曲线的方法。原理框图如图7171所示。所示。正弦信号发生器 被测网络 电子电压表 电子电压表图图71 71 点频测量法测量幅频特性曲线原理框图点频测量法测量幅频特性曲线原理框图 测量时，从被测电路的低频率端开始逐点调高测量时，从被测电路的低频率端开始逐点调高信号发生器的频率，记录相应的输入电压和输出电信号发生器的频率，记录相应的输入电压和输出电压压 。然后以频率。然后以频率f为横坐标，以为横坐标，以 (或或 )为纵坐标，就

3、可以在直角坐标系上为纵坐标，就可以在直角坐标系上描绘出所测的幅频特性曲线。描绘出所测的幅频特性曲线。 iuUUA/0iUU /lg2002扫频测量法扫频测量法 以扫频信号发生器作为信号源，使信号频率在以扫频信号发生器作为信号源，使信号频率在一定范围内按一定规律作周期性的连续变化，用示一定范围内按一定规律作周期性的连续变化，用示波器来代替电子电压表，直接描绘出被测电路的幅波器来代替电子电压表，直接描绘出被测电路的幅频特性曲线。频特性曲线。 扫频输出扫频信号发生器示波器被测电路宽带检波图图62 62 扫频测量法测量幅频特性曲线原理框图扫频测量法测量幅频特性曲线原理框图 7.1.2 扫频仪常用的基本

4、概念及分类扫频仪常用的基本概念及分类 1常用的基本概念常用的基本概念（1）扫频宽度）扫频宽度 扫频所覆盖的频率范围内最高频率与扫频所覆盖的频率范围内最高频率与最低频率之差。最低频率之差。（2）中心频率）中心频率 位于显示频谱宽度中心的频率。位于显示频谱宽度中心的频率。（3）频偏）频偏 调频波中的瞬时频率与中心频率的差。调频波中的瞬时频率与中心频率的差。（4）调制非线性）调制非线性 指在屏幕显示平面内产生的频率线指在屏幕显示平面内产生的频率线性误差，表现为扫描信号的频率分布不均匀。性误差，表现为扫描信号的频率分布不均匀。（1）按频率划分）按频率划分低频扫频仪；高频扫频仪；电视高频扫频仪等。（2）

5、按用途划分）按用途划分 通用扫频仪；专用扫频仪；宽带扫频仪； 微波综合测试仪等。2扫频仪的分类扫频仪的分类7.1.3 扫频仪的组成及原理扫频仪的组成及原理 扫频仪由扫频信号发生器、示波器、频标电扫频仪由扫频信号发生器、示波器、频标电路、正弦波发生器、输出衰减器和稳幅电路等部路、正弦波发生器、输出衰减器和稳幅电路等部分组成。其组成框图如图分组成。其组成框图如图7373所示。所示。 扫频信号发生器扫频信号发生器被测电路被测电路检波头检波头正弦波发生器正弦波发生器示波器XY频标电路频标电路示波器示波器图图73 扫频仪的组成框图扫频仪的组成框图v1正弦波发生器正弦波发生器 正弦波发生器产生扫频振荡器所

6、需的调制信号正弦波发生器产生扫频振荡器所需的调制信号和示波管的扫描信号。和示波管的扫描信号。 v2扫频信号发生器扫频信号发生器 扫频信号发生器实际上是一种调频振荡器，是扫频信号发生器实际上是一种调频振荡器，是扫频仪的核心部分，它产生频率按一定规律变化的扫频仪的核心部分，它产生频率按一定规律变化的扫频信号。在扫频仪中应用的调频方式主要有磁调扫频信号。在扫频仪中应用的调频方式主要有磁调制，变容二极管，宽带扫频等几种。制，变容二极管，宽带扫频等几种。 （1） 变容二极管扫频振荡器变容二极管扫频振荡器 变容二极管扫频是用改变振荡回路中的电容量，变容二极管扫频是用改变振荡回路中的电容量，以获得扫频的一种

7、方法。它将变容二极管作为振荡以获得扫频的一种方法。它将变容二极管作为振荡器选频电路中电容的一部分，扫频振荡器工作时，器选频电路中电容的一部分，扫频振荡器工作时，将调制信号反向地加到变容二极管上，使二极管的将调制信号反向地加到变容二极管上，使二极管的电容随调制信号变化而变化，进而使振荡器的频率电容随调制信号变化而变化，进而使振荡器的频率也随着变化，达到扫频的目的。也随着变化，达到扫频的目的。（2） 磁调制扫频扫频振荡器 磁调制扫频是用改变振荡回路中带磁芯的电感磁调制扫频是用改变振荡回路中带磁芯的电感线圈的电感量，以获得扫频的一种方法。线圈的电感量，以获得扫频的一种方法。调制电流接至振荡器图图74

8、 74 磁调制扫频结构原理磁调制扫频结构原理 （3）宽带扫频）宽带扫频 在测试幅频特性曲线时，往往既要求扫频信号在测试幅频特性曲线时，往往既要求扫频信号的中心频率在很宽的范围内变化，又要求在任一固的中心频率在很宽的范围内变化，又要求在任一固定的中心频率附近有足够大的扫频宽度。前两种扫定的中心频率附近有足够大的扫频宽度。前两种扫频方法难以同时满足这两个要求，它们的有效扫频频方法难以同时满足这两个要求，它们的有效扫频宽度总是受到种种限制。一般用差频法来扩展扫频宽度总是受到种种限制。一般用差频法来扩展扫频宽度。宽度。 v3频标电路频标电路 频率标记简称频标频率标记简称频标,是用一定形式的标记对扫频是

9、用一定形式的标记对扫频测量中所得到的图形的频率值进行定量，即利用频测量中所得到的图形的频率值进行定量，即利用频标来确定图形上任意点的频率值。包括菱形频标和标来确定图形上任意点的频率值。包括菱形频标和针形频标，菱形频标适用于高频测量，而针形频标针形频标，菱形频标适用于高频测量，而针形频标适用于低频测量。适用于低频测量。 7-5 7-5 频标电路的原理框图频标电路的原理框图 频标频标扫频信号扫频信号 晶体晶体 振荡器振荡器 谐波谐波 发生器发生器 带通带通 滤波器滤波器混频混频 器器LfLNfLNfff)(maxminv晶体振荡器产生的信号经谐波发生器产生一系列的谐波分量，这些基波和谐波分量与扫频

10、信号一起进入频标混频器进行混频。当扫频信号的频率正好等于基波或某次谐波的频率时，混频器产生零差频（零拍）；当两者的频率相近时，混频器输出差频，频值扫频信号的瞬时频偏的变化而变化。差频信号经低通滤波及放大后形成菱形图形，这就是菱形频标菱形频标。 图图76 76 菱形频标菱形频标 v 4输出衰减器输出衰减器 输出衰减器用于改变扫频信号的输出幅输出衰减器用于改变扫频信号的输出幅度。在扫频仪中，衰减器通常有两组：一组度。在扫频仪中，衰减器通常有两组：一组为粗衰减，一般是按每挡为为粗衰减，一般是按每挡为10dB或或20dB步步进衰减；另一组为衰减，按每挡为进衰减；另一组为衰减，按每挡为1dB或或2dB步

11、进衰减。多数扫频仪的输出衰减量可步进衰减。多数扫频仪的输出衰减量可达达100dB。 v5稳幅电路稳幅电路 稳幅电路的作用是减少寄生调幅。扫频振荡器稳幅电路的作用是减少寄生调幅。扫频振荡器在产生扫频信号的过程中，都会不同程度地改变着在产生扫频信号的过程中，都会不同程度地改变着振荡回路的振荡回路的Q值，从而使振荡幅度随调制信号的变值，从而使振荡幅度随调制信号的变化而变化，即产生了寄生调幅。化而变化，即产生了寄生调幅。 抑制寄生调幅的方法很多，最常用的方法是：抑制寄生调幅的方法很多，最常用的方法是：从扫频振荡器的输出信号中取出寄生调幅分量并加从扫频振荡器的输出信号中取出寄生调幅分量并加以放大，再反馈

12、到扫频振荡器去控制振荡管的工作以放大，再反馈到扫频振荡器去控制振荡管的工作点工作电压，使扫频信号的振幅恒定。点工作电压，使扫频信号的振幅恒定。7.2 BT3型频率特性测试仪型频率特性测试仪 v1 电路组成电路组成 BT3型频率特性测试仪主要由扫频信号发生器，频标电路及显示电路组成。 v2. 使用方法使用方法 BT3型频率特性测试仪的面板图如图77所示。 型频 率 特 性 测 试 仪电 源 、 辉 度聚 焦Y轴 位 置轴 衰 减轴 增 益标 尺 、 亮 度 10MHz1MHz外 接频 标 选 择频 标 幅 度外 接 频 标 输 入输 出 衰 减 （ 分 贝 ）扫 频 电 压 输 出兆 赫中 心

13、频 率频 率 偏 移波 段轴 输 入 - 鉴 频图图7-7 BT37-7 BT3型频率特性测试仪的面板图型频率特性测试仪的面板图 v(1)“电源、辉度”：电源开关及波形亮度调节旋钮。v(2)“聚焦”：波形清晰度的调节旋钮。v(3)“标尺亮度”：坐标刻度的亮度调节旋钮。v(4)“鉴频”：置于“”时，荧光屏上显示正方向的幅频特性；置于“”时，显示负方向的幅频特性。v(5)“Y轴位置”：波形作上下移动调节旋钮。v(6)“Y轴衰减”：分1、10、100三档，与“Y轴增益”旋钮配合使用，对波形幅度进行调节。v(7)“Y轴增益”：波形幅度的调节旋钮。v(8)“Y轴输入”：输入从被测电路取出的检测信号。v(

14、9) “频标选择”：分1MHz，10MHz和“外接”三档。观测低频信号时，用1MHz频标，观测高频信号时，用10MHz频标，若均不适用，则可以采用外接频标。v(10) “频标幅度”：频标信号的幅度调节旋钮。 v(11)“外接频标输入”：外部频标信号的输入端，与其配合，“频标选择”旋钮须打到“外接”档。v(12)“扫频电压输出”：扫频信号的输出端，可接输出探头。v(13) “波段”：与“中心频率”旋钮配合使用，扫寻被测波形。v(14)“中心频率”：与“波段”旋钮配合使用，扫寻被测波形。v(15)“输出衰减”：输出扫频信号电压的幅度调节旋钮。v(16)“频率偏移”：波形宽度调节旋钮。 v使用前各系

15、统的检查和准备工作（1） 查显示系统（2） 调节“聚焦”旋钮（3） 左右转动“Y轴移位”旋钮（4） 检查频标（5） 检查各波段起始频标（6） 检查扫频信号 （7） 检查寄生调幅系数 （8） 检查调频非线性系数 （9）零分贝的校正（10）选择合适的探极和电缆 v3扫频仪的应用（1）电路幅频特性的测量 图图713 713 幅频特性的测量线路图幅频特性的测量线路图 v（2）电路参数的测量 增益的测量 如图713所示将经过零分贝校正的BT3型扫频仪与被测电路连接好，调节两个“输出衰减”旋钮，使屏幕上显示的幅频特性曲线的幅度恰好为H,此时，“输出衰减”旋钮所指的分贝数（dB）就是被测电路的增益。 带宽的

16、测量 利用频标能方便地测量出屏幕上所显示的幅频特性曲线的频带宽度。观测并记录曲线上的频标个数，然后算出带宽。v7.3.1 晶体管特性图示仪的工作原理晶体管特性图示仪的工作原理 晶体管特性图示仪能自动测试并显示三极管的输出特性曲线来，因为它满足以下条件： (1)有一个能提供每一个测试过程所需的基极电流IB (2)对每一个固定的基极电流，集电极电压应会自动改变 (3)能及时取出各组UCE和IC值送入显示电路，从而显示出输出特性曲线来 在图示仪中，所需的基极电流由基极阶梯信号发生器提供，所需的集电极电压由集电极扫描电压发生器提供，需要测试的电压、电流值加在示波管的X轴和Y轴上，由示波管显示出来。 7

17、.3晶体管特性图示仪晶体管特性图示仪 v7.3.2 晶体管特性图示仪的组成晶体管特性图示仪的组成 晶体管特性图示仪是由集电极扫描电压发生器、晶体管特性图示仪是由集电极扫描电压发生器、基极阶梯信号发生器、同步脉冲发生器、基极阶梯信号发生器、同步脉冲发生器、X X放大器和放大器和Y Y放大器、示波管及控制电路、电源电路几部分组成，放大器、示波管及控制电路、电源电路几部分组成，其基本组成原理框图如图其基本组成原理框图如图7-177-17所示。所示。 图图7-17 7-17 晶体管特性图示仪原理框图晶体管特性图示仪原理框图 v7.3.3 XJ4810型晶体管特性图示仪型晶体管特性图示仪 1.面板结构面

18、板结构 XJ4810型晶体管特性图示仪的面板结构如图7-19和图7-20所示：图图7-19 XJ48107-19 XJ4810型晶体管特性图示仪的面板结构型晶体管特性图示仪的面板结构 7-20 XJ48107-20 XJ4810型晶体管特性图示仪的测试台型晶体管特性图示仪的测试台 2.XJ48102.XJ4810型晶体管特性图示仪的使用方法型晶体管特性图示仪的使用方法（1）开启电源，指示灯亮，预热15分钟；（2）调节辉度、聚焦、辅助聚焦旋钮，使屏幕上显示清晰的辉点或线条；（3）根据被测晶体管的特性和测试条件的要求，把X轴部分、Y轴部分、基极阶梯信号各部分开关、旋钮都调到相应的位置上；（4）基极

19、阶梯信号调零。具体方法如下：当荧光屏上出现基极阶梯信号后，按下测试台上的“零电压”键，观察光点停留在荧光屏上的位置，复位后调节“阶梯调零” 旋钮，使阶梯信号的起始级光点仍在该处，则基极阶梯信号的零位即被校准。v3仪器的使用步骤仪器的使用步骤（1）接通电源，预热）接通电源，预热5分钟以上。分钟以上。（2）调节示波管及控制部分，即调节）调节示波管及控制部分，即调节“标尺亮度标尺亮度”为橙色标尺；调节为橙色标尺；调节“辉度辉度”、“聚焦聚焦”和和“辅助聚辅助聚焦焦”使亮点清晰。使亮点清晰。（3）将集电极扫描的）将集电极扫描的“峰值电压范围峰值电压范围”、“极极性性”、“功耗电阻功耗电阻”等旋钮调至测

20、量需要的范围，等旋钮调至测量需要的范围，“峰值电压峰值电压”旋钮先置于最小位置，测量过程中慢旋钮先置于最小位置，测量过程中慢慢增至需要值。慢增至需要值。（4）“Y轴作用”与“X轴作用”中的“毫安-伏/度”与“伏/度”旋钮置于需要读测的位置。（5）将“基极阶梯信号”中的“极性”、“串联电阻”、“阶梯选择”等旋钮调至需要读测的范围。“阶梯作用”置于“重复”，“级/秒”一般放置在“200”位置。（6）将测试台的“测试选择”放至“关”的位置，“接地开关”置于需要位置，插上被测晶体管，旋转“测试选择”开关到要测试的一方，即可进行测量。4.4.晶体管特性图示仪的使用注意事项晶体管特性图示仪的使用注意事项（

21、1）对阶梯信号选择、功耗限制电阻、峰值电压范围三个旋钮的使用应特别注意，若使用不当会损坏被测晶体管；（2）测试大功率晶体管和极限参数、过载参数时应采用单簇阶梯信号，以防过载损坏；（3）测试MOS型场效应管时，应注意不要使栅极悬空，以免感应电压过高引起被测管击穿；（4）测试使用完后，立即关闭电源，并使仪器复位，以防下次使用时因疏忽而损坏被测器件。（5）测试使用完后，立即关闭电源，并使仪器复位，以防下次使用时因疏忽而损坏被测器件。v7.3.4 晶体管特性图示仪使用测试实例晶体管特性图示仪使用测试实例 1. 1. 晶体二极管的测试晶体二极管的测试 X放大器扫描电压发生器Y放大器示波管图图7-21 7

22、-21 二极管正反向特性曲线的测试原理框图二极管正反向特性曲线的测试原理框图测正向特性时，扫描电压为正极性，零点位于左下角处；测正向特性时，扫描电压为正极性，零点位于左下角处；测反向特性时，扫描电压为负极性，零点位于右上角处。测反向特性时，扫描电压为负极性，零点位于右上角处。v2. 晶体三极管的测试晶体三极管的测试 Y放 大 器X放 大 器示 波 管图图7-22 7-22 晶体三极管输入特性曲线的测试原理框图晶体三极管输入特性曲线的测试原理框图 晶体管特性图示仪主要是测试晶体三极管的输入和输出特性晶体管特性图示仪主要是测试晶体三极管的输入和输出特性 下面以下面以NPN型小功率管型小功率管3DG

23、7为例，介绍三极管相关参数测试。为例，介绍三极管相关参数测试。 （1）输入特性及输入电阻的测试）输入特性及输入电阻的测试 输入特性曲线中，输入特性曲线中，X坐标轴为坐标轴为Vbe，Y坐标轴为坐标轴为Ib。将光点移至屏幕的左下角作为坐标原点（零点），然后进将光点移至屏幕的左下角作为坐标原点（零点），然后进行基极阶梯调零。行基极阶梯调零。 “峰值电压范围峰值电压范围”：020V； “功耗电阻功耗电阻”：1k左右；左右； “X轴作用轴作用”：0.1伏伏/度（基极电压）；度（基极电压）； “Y轴作用轴作用”：基极电流或基极源电压；：基极电流或基极源电压； “级级/秒秒”：200 “阶梯作用阶梯作用”：

24、重复。：重复。 逐渐调高峰值电压，屏幕上显示如图逐渐调高峰值电压，屏幕上显示如图7-26所所示的输入特性曲线（示的输入特性曲线（VbeIb曲线）。对应于图曲线）。对应于图中中B点的输入电阻可如此求得：点的输入电阻可如此求得： 7-26 输入特性曲线输入特性曲线Ib =0.08mA，Vbe=0.75V，Ib=0.04mA，Vbe=0.02V，则Ri=Vbe/Ib=0.75/0.081039.38kRi=Vbe/Ib=0.02/0.04103500输入电阻计算如下：输入电阻计算如下：（2）输出特性和电流放大特性的测试）输出特性和电流放大特性的测试Y放 大 器示 波 管X放 大 器图图7-23 7-

25、23 晶体三极管输出特性曲线的测试原理框图晶体三极管输出特性曲线的测试原理框图 将光点移至屏幕的左下角作为坐标原点（零将光点移至屏幕的左下角作为坐标原点（零点），进行基极阶梯信号调零，相关旋钮置于以下点），进行基极阶梯信号调零，相关旋钮置于以下位置：位置： “峰值电压范围峰值电压范围”：020V； “功耗电阻功耗电阻”：1k左右；左右； “Y轴作用轴作用”：1mA/度（集电极电流），中功度（集电极电流），中功率管或大功率管，测试条件根据所需工作状态选几率管或大功率管，测试条件根据所需工作状态选几十或几百十或几百mA /度；度； “阶梯作用阶梯作用”：重复：重复 “阶梯选择阶梯选择”：0.01m

26、A； “级级/族族”：10。 逐渐调高峰值电压，屏幕上显示如图逐渐调高峰值电压，屏幕上显示如图7-28所示所示的一族输出特性曲线（的一族输出特性曲线（VceIc曲线）。最下面一曲线）。最下面一条是对应条是对应Ib=0。 图图7-28 输出特性曲线输出特性曲线读出图中Vce=1V时的最上面一条曲线的Ic和Ib的值，可得：hEF=Ic/Ib=9.81mA/100.02=497.4数字集成电路测试仪数字集成电路测试仪7.4.1ICT-33数字集成电路测试仪数字集成电路测试仪1.ICT-33测试仪面板测试仪面板锁 紧 插座锁紧插座控制棒电源指示灯键盘主机显 示屏PASS指示灯FAIL指示灯图图7-29

27、 ICT-33测试仪面板图测试仪面板图（1）电源指示灯）电源指示灯 电源指示灯电源指示灯“POWER”灯亮，灯亮，表示电源已接通。表示电源已接通。（2）“PASS”指示灯指示灯 PASS指示灯亮，表示测试指示灯亮，表示测试的器件合格。的器件合格。（3）“FALL”指示灯指示灯 FALL指示灯亮，表示测试指示灯亮，表示测试的器件不合格。的器件不合格。（4）显示器）显示器 显示器用来显示被测显示器用来显示被测IC器件的型号及器件的型号及相应参数。相应参数。（5）键盘）键盘 “0”“F”键为数字键，用于输入被测器键为数字键，用于输入被测器件的型号、引脚数目及编辑状态时输入地址、数件的型号、引脚数目及

28、编辑状态时输入地址、数据以及相应功能操作。据以及相应功能操作。（6）锁紧插座和锁紧插座控制棒）锁紧插座和锁紧插座控制棒 ICT33C使用使用进口通用锁紧插座，锁紧插座有松开及锁紧状态。进口通用锁紧插座，锁紧插座有松开及锁紧状态。当操作杆竖立时，为松开状态，可取下或放上被当操作杆竖立时，为松开状态，可取下或放上被测器件；当操作杆平放时，为锁紧状态，可对器测器件；当操作杆平放时，为锁紧状态，可对器件进行测试。当处于锁紧状态时，请勿放上或取件进行测试。当处于锁紧状态时，请勿放上或取下被测器件，否则将损坏锁紧插座。下被测器件，否则将损坏锁紧插座。2操作键功能操作键功能（1） “代换查询代换查询”键为功

29、能键。至少输入三位型号键为功能键。至少输入三位型号数字后，输入该键才能被仪器接受。数字后，输入该键才能被仪器接受。（2）“好坏判别好坏判别/查空查空”键为复合功能键。若输入的键为复合功能键。若输入的型号为型号为EPROM器件型号（即器件型号（即27系列），则它使仪器对系列），则它使仪器对被测器件进行查空操作；在其他型号时，它使仪器对被测器件进行查空操作；在其他型号时，它使仪器对被测器件进行好坏判别。若第一次按下了数字键，则被测器件进行好坏判别。若第一次按下了数字键，则至少要输入型号的三位数字后，输入该键才能被接受；至少要输入型号的三位数字后，输入该键才能被接受；若在没有输入器件型号的时候输入该

30、键，则仪器将按若在没有输入器件型号的时候输入该键，则仪器将按前一次输入的器件进行测试。前一次输入的器件进行测试。（3）“型号判断型号判断”键为功能键，在未输入任何数键为功能键，在未输入任何数字的前提下输入该键才有效。字的前提下输入该键才有效。（4）“编辑编辑/退出退出”键为功能键，它使仪器进入或键为功能键，它使仪器进入或退出数据编辑状态。退出数据编辑状态。（5）“老化老化/比较比较”键为复合功能键，当输入型号键为复合功能键，当输入型号为为EPROM、EEPROM器件时，该键的功能是将被测器件时，该键的功能是将被测器件内部的数据与仪器内部的数据进行比较；在其它器件内部的数据与仪器内部的数据进行比

31、较；在其它型号时，该键使仪器对被测器件进行连续老化测试。型号时，该键使仪器对被测器件进行连续老化测试。3ICT-33测试仪的操作步骤测试仪的操作步骤（1）打开电源）打开电源 接通电源，接通电源，“POWER”指示灯亮。指示灯亮。锁紧插座上不能放有集成块，否则将会损坏该集成块，锁紧插座上不能放有集成块，否则将会损坏该集成块，仪器自检将失效。仪器自检将失效。（2）仪器自检）仪器自检 接通电源后，仪器自动进入自检过接通电源后，仪器自动进入自检过程，以指示仪器的状态是否正常。程，以指示仪器的状态是否正常。（3）锁紧被测器件）锁紧被测器件 把被测器件正确插放在插座上，把被测器件正确插放在插座上，并扳动操

32、作杆锁紧被测器件。并扳动操作杆锁紧被测器件。（4）完成相应操作）完成相应操作 根据要完成芯片的测试功能，根据要完成芯片的测试功能，进行相应操作。进行相应操作。7.4.2ICT-33数字集成电路测试仪应用实例数字集成电路测试仪应用实例1器件好坏判别器件好坏判别（1）自检正常后，显示）自检正常后，显示PLEASE。（2）输入）输入7400，显示，显示7400。（3）确认无误后，将被测器件）确认无误后，将被测器件74LS00放上锁紧插座并放上锁紧插座并锁紧，如图锁紧，如图7-30所示。所示。图图7-30 被测器件的锁紧图被测器件的锁紧图（4）按下）按下“好坏判别好坏判别”键。键。若显示若显示PASS

33、，并伴有高音提示，表示器件逻，并伴有高音提示，表示器件逻辑功能完好，黄色辑功能完好，黄色LED灯点亮。灯点亮。若显示若显示FALL，同时有低音提示，表示器件逻，同时有低音提示，表示器件逻辑功能失效，红色辑功能失效，红色LED灯点亮。灯点亮。注意：大多数器件测试时间极短，但也有部分器注意：大多数器件测试时间极短，但也有部分器件测试时间较长（例如存储器），测试过程中仪器件测试时间较长（例如存储器），测试过程中仪器不接受任何命令输入。不接受任何命令输入。2器件型号判别器件型号判别（1）将被测器件插于锁紧插座并锁紧，按）将被测器件插于锁紧插座并锁紧，按“型号型号判别判别“键，仪器显示键，仪器显示P，请

34、用户输入被测器件引脚数，请用户输入被测器件引脚数目，如有目，如有14只脚，即输入只脚，即输入14，仪器显示，仪器显示P14。（2）然后再按）然后再按“型号判别型号判别”键。键。 若被测器件功能完好，并且其型号在本仪器容若被测器件功能完好，并且其型号在本仪器容量以内，此时仪器直接显示被测器件的型号，例如，量以内，此时仪器直接显示被测器件的型号，例如，7400。 若被测器件已损坏，或其型号不在本仪器测试容若被测器件已损坏，或其型号不在本仪器测试容量以内，仪器将显示量以内，仪器将显示OFF，并伴有低音提示，随，并伴有低音提示，随后再显示后再显示PLEASE。注意：注意：进行型号判别时输入的器件引脚数

35、目必须是进行型号判别时输入的器件引脚数目必须是两位数，若被测器件只有两位数，若被测器件只有8只引脚，则要输入只引脚，则要输入08。当被测器件是当被测器件是EPROM、EEPROM时，不能进行型时，不能进行型号判别。号判别。由于仪器是以被测器件的逻辑功能来判定其由于仪器是以被测器件的逻辑功能来判定其型号，因此当各系列中还有其它逻辑功能与被测型号，因此当各系列中还有其它逻辑功能与被测器件逻辑功能完全相同的其它型号时，仪器显示器件逻辑功能完全相同的其它型号时，仪器显示出的被测器件型号可能与实际型号不一致，这取出的被测器件型号可能与实际型号不一致，这取决于该型号在测试软件中的存放顺序。出现这种决于该型

36、号在测试软件中的存放顺序。出现这种现象时，说明仪器显示的型号与被测器件具有相现象时，说明仪器显示的型号与被测器件具有相同的逻辑功能。同的逻辑功能。3器件代换查询器件代换查询 先输入原器件的型号，如先输入原器件的型号，如7400，再按，再按“代换代换查询查询”键。键。（1）若在各系列内存在可代换的型号，则仪器将）若在各系列内存在可代换的型号，则仪器将依此次显示这些型号，例如依此次显示这些型号，例如7403，以后每按一次，以后每按一次“代换查询代换查询”键，就换一种型号显示，直至显示键，就换一种型号显示，直至显示NODEVCE。（2）若不存在可代换的型号，则直接显示）若不存在可代换的型号，则直接显

37、示NODEVCE。4器件老化测试器件老化测试（1）输入）输入7400，显示，显示7400。（2）将）将74LS00放上锁紧插座并锁紧，按放上锁紧插座并锁紧，按“老化老化”键，键，仪器即对被测器件进行连续测试。此时键盘退出工作，仪器即对被测器件进行连续测试。此时键盘退出工作，若用户想退出老化测试状态，只要松开锁紧插座即可，若用户想退出老化测试状态，只要松开锁紧插座即可，此时仪器将显示此时仪器将显示FAIL，同时键盘恢复工作。，同时键盘恢复工作。5ICT-33测试仪操作注意事项测试仪操作注意事项（1）安装被测器件时，一定要注意其缺口方向和）安装被测器件时，一定要注意其缺口方向和安放位置。安放位置。

38、（2）可测系列中，仅）可测系列中，仅CMOS、光耦、数码管系列、光耦、数码管系列可选择可选择9.0V、15V测试电压，其它系列只能选择测试电压，其它系列只能选择3.3V、5.0V进行测试。型号判别时仅可选择进行测试。型号判别时仅可选择5.0V测试电压。测试电压。（3）清除：当发现输入错误或误操作时，按清除）清除：当发现输入错误或误操作时，按清除键，显示键，显示00000000，即可重新输入。，即可重新输入。（4）当进行型号判别时，被测器件的型号被判出）当进行型号判别时，被测器件的型号被判出后，该型号仅供显示用，并未存入仪器内部。若用后，该型号仅供显示用，并未存入仪器内部。若用户对该器件进行好坏

39、判别或老化测试，仍需输入一户对该器件进行好坏判别或老化测试，仍需输入一次型号。次型号。（5）在输入型号并按下）在输入型号并按下“好坏判别好坏判别”键后，若显键后，若显示示OEE，并伴有低音提示，说明该器件未列入，并伴有低音提示，说明该器件未列入测试范围。测试范围。（6）进行键盘操作时，若仪器以高音回答，说明）进行键盘操作时，若仪器以高音回答，说明操作有效操作有效；若以低音回答，说明是误操作，但任；若以低音回答，说明是误操作，但任何误操作均不会损坏仪器。何误操作均不会损坏仪器。（7）输入器件型号时，应省去字母及其它标记，只）输入器件型号时，应省去字母及其它标记，只输入数字，由于各种原因，少部分器件需输