用双棱镜干涉测光波波长的实验报告

1、用双棱镜干涉测光波波长的实验报告【实验目的】1 掌握用双棱镜获得双光束干涉的方法，加深对干涉条件的理解.2 学会用双棱镜测定钠光的波长.【实验仪器】光具座，单色光源（钠灯），可调狭缝，双棱镜，辅助透镜（两片），测微目镜，白屏.【实验原理】如果两列频率相同的光波沿着几乎相同的方向传播，并且它们的位相差不随时间而变 化，那么在两列光波相交的区域，光强分布是不均匀的，而是在某些地方表现为加强，在另一些地方表现为减弱（甚至可能为零），这种现象称为光的干涉.菲涅耳利用图1所示的装置，获得了双光束的干涉现象图中AB是双棱镜，它的外形结构如图2所示，将一块平玻璃板的一个表面加工成两楔形板，端面与棱脊垂直，楔

2、角A较小（一般小于10）.从单色光源发出的光经透镜 L会聚于狭缝S,使S成为具有较大亮度的 线状光源.从狭缝 S发出的光，经双棱镜折射后，其波前被分割成两部分，形成两束光，就 好像它们是由虚光源 S1和S2发出的一样，满足相干光源条件，因此在两束光的交叠. 区域P1P2内产生干涉.当观察屏在屏上可观察到平行于狭缝S的、明暗丄71*丄_ = _ = _ =三一相间的、等间距干涉条纹.图1图2设两虚光源S1和S2之间的距离为d，虚光源所在的平面（近似地在光源狭缝 S的平面 内）到观察屏P的距离为d ,且d d ,干涉条纹间距为 X,则实验所用光源的波长为dxd因此，只要测出d、d和x ,就可用公式

3、计算出光波波长.【实验内容】1 调节共轴（1）按图1所示次序，将单色光源 M会聚透镜L,狭缝S,双棱镜AB与测微目镜P放置在光具座上用目视法粗略地调节它们中心等高、共轴，棱脊和狭缝S的取向大体平行.（2）点亮光源M通过透镜L照亮狭缝S,用手执白纸屏在双棱镜后面检查：经双棱镜折射后的光束，有否叠加区P1P2 （应更亮些）?叠加区能否进入测微目镜 ？当移动白屏时，叠加 区是否逐渐向左、右（或上、下）偏移？根据观测到的现象，作出判断，进行必要的调节使之共轴.2. 调节干涉条纹（1）减小狭缝S的宽度，绕系统的光轴缓慢地向左或右旋转双棱镜AB,当双棱镜的棱脊与狭缝的取向严格平行时，从测微目镜中可观察到清

4、晰的干涉条纹.（2）在看到清晰的干涉条纹后，为便于测量，将双棱镜或测微目镜前后移动，使干涉条纹的宽度适当.同时只要不影响条纹的清晰度， 可适当增加狭缝S的缝宽，以保持干涉条纹 有足够的亮度.（注：双棱镜和狭缝的距离不宜过小，因为减小它们的距离，S1、S2间距也将减小，这对d的测量不利.）3. 测量与计算（1）用测微目镜测量干涉条纹的间距X 为了提高测量精度，可测出n条（1020条）干涉条纹的间距 x，除以n,即得 X 测量时，先使目镜叉丝对准某亮纹（或暗纹）的中心，然后旋转测微螺旋，使叉丝移过n个条纹，读出两次读数重复测量几次，求出x.（2）用光具座支架中心间距测量狭缝至观察屏的距离d 由于狭

5、缝平面与其支架中心不重合，且测微目镜的分划板（叉丝）平面也与其支架中心不重合，所以必须进行修正， 以免导致测量结果的系统误差测量几次，求出d.（3）用透镜两次成像法测两虚光源的间距d 参见图3,保持狭缝S与双棱镜AB的位置不变，即与测量干涉条纹间距X时的相同（问：为什么不许动?），在双棱镜与测微目镜之间放置一已知焦距为f的会聚透镜L，移动测微目镜使它到狭缝S的距离d 4f，然后维持恒定沿光具座前后移动透镜L，就可以在L的两个不同位置上从测微目镜中看到两虚光源S1和S2经透镜所成的实像 Sl和S，其中一组为放大的实像，另一组为缩小的实 像分别测得两放大像的间距dl和两缩小像的间距 d2,则按下式

6、即可求得两虚光源的间距图3用所测得的x、d、d值，代入式（7-1），求出光源的波长（5）计算波长测量值的标准不确定度.【注意事项】（1）使用测微目镜时，首先要确定测微目镜读数装置的分格精度，要注意防止回程差，旋转 读数鼓轮时动作要平稳、缓慢，测量装置要保持稳定.（2）在测量d值时，因为狭缝平面和测微目镜的分划板平面均不和光具座滑块的读数准线（支架中心）共面，必须引人相应的修正 （例如，GP一 78型光具座，狭缝平面位置的修正 量为42.5mm MCU一 15型测微目镜分划板平面的修正量为 27.0mm）,否则将引起较大的系 统误差.（3）测量di、d2时，由于透镜像差的影响，将引入较大误差，可在透镜L上加一直径约lcm的圆孔光阑（用黑纸）以增加di、d