参考试块的目的是在于正确的设置

1、NVN-ENV 583-6en无损检测-超声检测-第六节飞越时间衍射法TOFD是一种可以对缺陷定位以及定量的方法ICS 19.100maart 2000 Dit document is door NEN onder licentie verstrekt aan：/this document has been supplied umder license by NEN to：Vantage NDT B.V T.Bouma 2006/04/18无损检测-超声检测-第六节飞越时间衍射法TOFD是一种可以对缺陷定位以及定量的方法作为欧洲早期标准于1997年5月21日被CEN认可ENV在起初的三年里受到

2、很大的限制，在以后的二年时间里CEN的成员们要求承认此项技术，议题是ENV能否可以作为欧洲标准CEN的成员声明ENV就像EN一样存在，而且还要可用，直到决定CEN/TS转换成ENCEN国家标准成员有，澳大利亚，比利时，塞浦路斯，捷克斯洛伐克，丹麦，爱沙尼亚，芬兰，法国，德国，希腊，匈牙利，冰岛，爱尔兰，意大利，拉脱维亚，立陶宛，卢森堡公国，马耳他，荷兰，挪威，波兰，葡萄牙，斯洛伐克，斯洛文尼亚，西班牙，瑞典，瑞士以及英国Dit document is door NEN onder licentie verstrekt aan：/this document has been supplied u

3、mder license by NEN to：Vantage NDT B.V T.Bouma 2006/04/18第2页ENV 583-6：2000目录 前沿.31， 概论42， 基本参考43， 基本标识，以及技术的说明54， 基础64.1 技术的基本原理64.2 表面 状况以及耦合剂的要求.84.3材质以及程序类型.85 人员资质.86 设备的要求.96.1 超声设备以及显示器96.2 超声探头96.3 扫查装置107 设备设置程序.117.1 基础.117.2 探头的选择以及探头的间距.127.3 时间窗口的设置.127.4 灵敏度设置137.5 扫查分辨力的设置137.6 扫查速度的设置

4、137.7 检查系统显示138 数据分析以及解释.138.1 不连续缺陷的基本分析138.2 不连续缺陷的详细分析159 复杂几何形状缺陷的定位以及定量1710 技术的局限性.1710.1 精确度以及分辨力.1710.2 盲区1911 无数据记录的TOFD检测.1912 检测程序.1913 检测报告.19 灵敏度设置.19附录A 参照试块.20Dit document is door NEN onder licentie verstrekt aan：/this document has been supplied umder license by NEN to：Vantage NDT B.V

5、T.Bouma 2006/04/18第3页ENV 583-6：2000前沿这项欧洲的早期标准已经被无损检测技术协会CEN/TC 138认可，秘书处AFNOR选用根据CEN/CENELEC内部规定，如下的国家标准组织声明作为欧洲早前期标准，澳大利亚，比利时，塞浦路斯，捷克斯洛伐克，丹麦，爱沙尼亚，芬兰，法国，德国，希腊，匈牙利，冰岛，爱尔兰，意大利，拉脱维亚，立陶宛，卢森堡公国，马耳他，荷兰，挪威，波兰，葡萄牙，斯洛伐克，斯洛文尼亚，西班牙，瑞典，瑞士以及英国ENV 583 无损检测-超声检测，包括以下章节EN 583-1 无损检测-超声检测-第一章，基本原理EN 583-2 无损检测-超声检测

6、-第二章，灵敏度以及范围设置EN 583-3 无损检测-超声检测-第三章，收发技术EN 583-4 无损检测-超声检测-第四章，垂直于表面不连续缺陷的检测EN 583-5 无损检测-超声检测-第五章，不连续缺陷的定性以及定量EN 583-6 无损检测-超声检测-第六章，飞越时差衍射法TOFD是一种可以对不连续缺陷定位以及定量的方法Dit document is door NEN onder licentie verstrekt aan：/this document has been supplied umder license by NEN to：Vantage NDT B.V T.Bouma

7、 2006/04/18第4页ENV 583-6：20001， 概论此项标准可作为在低合金碳钢检件中对于不连续缺陷使用TOFD技术进行定位以及定量的基本原则，同样也可以适用于其它的材料，在使用TOFD技术的同时，必须考虑到检件的几何形状，声速特性，材料的类型，以检测的灵敏度尽管是适用的，在一般的情况下，对于材料中的不连续缺陷583-1是通用的，包括在焊缝中的运用，它会对超声探头的选择，位置，以及扫查方向有详细的说明除非在参考文件中有特别的规定，此标准的规定是最低的要求除非有其它特定的等级，在标准583-2里规定为如下产品等级：-等级1，没有限制-等级2和3，在第九节中有介绍等级运用的限制对于产品

8、4和5等级的检测需要特别的程序，这些同样在第九节中有说细的介绍2参考标准这项欧洲标准是结合来自其它出版物的参照以及规定，这些参照都引用在合适的位置，并附加了这些出版物的版本，对于标注日期的参考资料使用更改或修订过的版本。对于没有标注日期的参考资料，使用其最新版本EN 473 NDT 个人资格以及认证-基本程序EN 583-1 无损检测-超声检测-第一章，基本原理EN 583-2 无损检测-超声检测-第二章，灵敏度以及范围的设置EN 12668-1 超声检测-超声检测设备的不同特点， 第一节，仪器EN 12668-2 超声检测-超声检测设备的不同特点 第二节，探头EN 12668-3 超声检测-

9、超声检测设备的不同特点 第三节，组合的设备Dit document is door NEN onder licentie verstrekt aan：/this document has been supplied umder license by NEN to：Vantage NDT B.V T.Bouma 2006/04/18第5页ENV 583-6：2000图1，定义坐标X 坐标平行于扫查表面，平行于预定参考线，以便检测参考线与焊缝一致，确定坐标的起点以便达到更好的检测精度见附录1X 缺陷的长度y 坐标平行于扫查表面，可以垂直于预定参考线见附录1y 横向位置的误差Z 坐标垂直于扫查面见附

10、录1Z 缺陷的高度d 缺陷尖端在表面以下的深度d 深度误差Dds 扫查表面的盲区Ddw 底面盲区C 声速c 声速误差Dit document is door NEN onder licentie verstrekt aan：/this document has been supplied umder license by NEN to：Vantage NDT B.V T.Bouma 2006/04/18第6页ENV 583-6：2000R 空间的解析度t 发射探头与接收探头之间的飞越时间t 侧向波和第二个超声信号之间的飞越时间t 飞越时间的误差td 深度d的飞越时间tp 脉冲达到最高回波10%

11、的时间t w 底面回波的飞越时间S 两个探头之间入射点距离的一半s 探头间距一半的误差W 工件厚度Dead zone 盲区，是指由于几何因素指示信号被遮挡的区域Back wall dead zone 底面盲区，在工件背面所存在的盲区A-Scan 显示超声信号幅度转换为时间B-Scan 飞越时间是通过探头移动所显示出来的Non-parrallel scan 垂直于超声束方向的扫查（见图4）Parrallel scan 平行于超声束方向的扫查（见图5）4 基础41技术的原理TOFD技术，是在不连续缺陷的尖端产生波型的转换，当它转换后产生衍射波，这个衍射波覆盖了较大的角度范围，那么衍射波就会检测出所

12、存在的缺陷，记录信号的飞越时间就可以测量出缺陷的高度，那么就可以对缺陷进行定量，缺陷尺寸通常是被定义为衍射信号的飞越时间差，信号波幅与缺陷定量没有关系Dit document is door NEN onder licentie verstrekt aan：/this document has been supplied umder license by NEN to：Vantage NDT B.V T.Bouma 2006/04/18第7页ENV 583-6：2000图例图例： 1 发射探头 C 探头角度 2 接收探头 d 埋藏性缺陷 a 侧向波 e 缺陷下尖端 b 缺陷上尖端 f 底面回波

13、图2 埋藏性缺陷TOFD基本结构 这个基本构造TOFD技术包括，有一定间距的超声波发射与接收探头（见图2），由于缺陷尖端的方向衍射波很微弱时，通常使用大角度的纵波探头一次扫查一定的长度，在一次扫查中要求精确，当声波脉冲传送到接收探头一端，第一个信号就到达接收探头的一端，这个就是侧向波，侧向波是在被检工件表面下传播。如果没有缺陷的存在，那么第二个到达接收探头的信号将是底面回波。这两个信号都被用作参考的目的，如果忽略变形波，那么在材料中缺陷的信号将在侧向波以及底面回波之间，两个波到达以后，从发射探头到接收探头的路径就会有长和短，显而易见，通常指的是缺陷下尖端信号，缺陷A超信号的典型模式如图3中所示

14、，缺陷的自身高度是缺陷两个尖端的飞越时间差，此时应该注意，侧向波的相位与底面回波的相位是相反的，缺陷上尖端以及下尖端的相位是相反的无论是缺陷接近于表面，或者是贯穿于整个工件厚度，扫查两个表面的时候需要改进精度，特别近表面的缺陷时Dit document is door NEN onder licentie verstrekt aan：/this document has been supplied umder license by NEN to：Vantage NDT B.V T.Bouma 2006/04/18第8页ENV 583-6：2000图例 X 波幅 b 上尖端 y 时间 d 底面回

15、波 a 侧向波 c 下尖端图3 埋藏性缺陷的A超信号42表面状况以及耦合剂 表面的状况是应该注意的，至少应该满足EN 583-1的要求，由于表面状况很差，可能会引起衍射信号很弱，那么就会影响到检测的可靠性可以使用不同的耦合介质，它们的类型要和材料一样被检测，例如，水，可能包含化学成份变湿，结冰，腐蚀等等，耦合介质包括：浆糊，油，干油，纤维素浆糊，还包括有水。耦合剂的性质在检测过程中必须是一至致的，而且必须满足环境温度的情况下43材料以及程序类型由于使用TOFD技术得到的是较低信号的波幅，这种方法的运用尽量减少超声波束的衰减以及扩散，它的检测对象是合金和低合金碳钢。对于晶粒粗糙的材料，如，铸铁，

16、奥氏体焊缝，高合金的材料，需要附加确认以及 附加的后处理由于双方协议，可以在工件中做一些有代表性的人工缺陷，用来确定检测能力，记住它们的衍射特征，是不同于实际上际的缺陷45个人要求个人必须有合格的培训记录，以及有足够的经验，合格的NDT等级，而且必须达到国际所认证的合格等级- EN473，而且必须经过另个的培训以及使用TOFD技术检测的经验Dit document is door NEN onder licentie verstrekt aan：/this document has been supplied umder license by NEN to：Vantage NDT B.V T.

17、Bouma 2006/04/18第9页ENV 583-6：20006设备的要求6.1超声设备以及显示在TOFD技术中使用超声设备，至少要遵守以下标准中的要求：EN12668-1，EN12666-3，EN12668-3。另外，还有如下要求-接收探头的带宽，最低要求是0.5-2倍范围内，探头频率-6db，除非是特殊的材料和产品等级才可以使用较大的带宽，适当使用滤波-发射脉冲可以是单级的也可以是双级的，上升时延不超过0.25倍的普通探头频率-非调整的信号必须数字化作为取样频率至少是4倍的普通探头频率-对于一般的设备来说包括有，超声设备和扫查器见6.3，它们将获取信号以及将信号数字化，信号采样率应该至

18、少是每毫米扫查长度一个A扫信号，数据的获取和扫查器的移动一定要同步-A扫信号数字化以后，呈现出来的是适当的时间数据，窗口是可编程的，将位置以及长度显示出来，传送脉冲起始值为0-200s，窗口长度可编程为5-100s，用这种方法信号就会被数字化，侧向波以及爬波，底波信号，变形波信号，在4.1中会详细介绍。-A扫数字化后是作为单色灰度信号显示出来的，B扫是非平行的扫查。-为了保存所接收到的A扫信号以及B 扫信号，设备应有硬盘，软盘，以及其它可选的磁盘作为存储器，为了记录的目的，将A扫和B扫的数据备份到硬盘上。-设备可以对收集到的信号进行平均化处理。对于典型的TOFD信号，为达到更高的增益设置，可以

19、使用前置放大器，它在频率范围以内可以引起谐振，前置放大器的位置应尽可能地接近接收探头。另外值得注意的是对于缺陷的基本和高级的分析，在本书第八节中有详细的介绍6.2超声探头TOFD技术所使用的超声探头必须达到如下的要求-至少是两个探头，一个发射探头，一个接收探头-类型，任何适用的探头见7.2-波的模式，通常是纵波，使用横波探头很复杂，如有特殊的要求，可以使用。 -两个探头必须使用同样的中心频率，它们的公差应该是±20% ，对于频率的选择可以见此书见7.2 -脉冲的长度，无论是侧向波还是底波，都不可以超过两个回合，测量得到10%的波峰Dit document is door NEN on

20、der licentie verstrekt aan：/this document has been supplied umder license by NEN to：Vantage NDT B.V T.Bouma 2006/04/18第10页ENV 583-6：2000-脉冲重复频率的设置，不可以干涉到正常传送的脉冲波图例1 参考线 6 侧向波2 探头的移动方向 7 缺陷上尖端3 发射波探头 8 缺陷下尖端4 接收探头 9 底面反射5 传送时间-通过整个厚度范围内的时间图4，非平行的扫查，探头移动的方向如左图，相应D扫成象如右图6.3 扫查器扫查器，必须调整两个探头入射点的间距，使之不变扫查

21、器的另一种功能是给超声设备提供探头的位置信息，为B扫精确定位，探头的位置信息是由磁性轮，编码器，或者电位器提供TOFD所用的编码器可以是自动的，也可以是手动的，它们依附在扫查器上铁带，带子，自动轨迹跟踪系统，导向轮探头两个入射点的的距离的中点，与参考中心线也就是焊缝中心线的偏差是±10%Dit document is door NEN onder licentie verstrekt aan：/this document has been supplied umder license by NEN to：Vantage NDT B.V T.Bouma 2006/04/18第11页EN

22、V 583-6：20007 设备设置程序7.1 基础探头的选择与探头晶片尺寸是非常重要的仪器设置参数，它们在很大程度上决定了精度，信噪比，区域的覆盖率图例1 ， 参考线 6， 侧向波2， 探头移动的方向 7， 缺陷的上尖端3， 发射探头 8， 缺陷的下尖端4， 接收探头 9， 底面反射信号5， 传送的时间-整个厚度范围内的时间图5，平行的扫查，探头移动的方向如左图，相应B扫成象如右图设置程序有以下细节应该注意-系统足够的增益和信噪比会影响到衍射信号-合格的分辨率和足够的覆盖率也很重要-有效地使用仪器的动态范围Dit document is door NEN onder licentie ver

23、strekt aan：/this document has been supplied umder license by NEN to：Vantage NDT B.V T.Bouma 2006/04/18第12页ENV 583-6：20007.2 探头的选择以及探头的间距 探头的选择无论是厚或者是薄的工件，合理的TOFD探头排列，可以得到好的检出率，选择这些探头的排列不是特定的，而是根据需要选择相应的规格对于70mm厚的铁素体钢，可以使用一对探头，为了达到好的分辨率和足够的覆盖率，必须合理的选择探头参数，以下列出了三种不同厚度的检件所需的参数表1-厚度小于70mm检件的探头参数的选择对于大于7

24、0mm厚度的检件，可以进行分区检测，每一个区域覆盖不同的深度，对厚度在70-300mm的检件，为了达到良好的分辨率和足够的覆盖率，表2中列出了探头的中心频率，晶片尺寸，以及探头的角度，这些区域将被分开来检测表2 -厚度在70mm-300mm检件的探头参数的选择7.2.2 探头的间距最大的衍射效率所包含的角度大约是120度，探头的排列使声束中心线可以贯穿整个深度范围，那样缺陷才可以被发现角度偏差大于-35度或是45度时，会使衍射波变弱，所以最好不要用，除非是检测需要7.3 时间窗口的设置在理想状态下，时间窗口的记录，从1微秒开始记录，直到侧向波到达，然后伸展到第一个底波到达，因为变形波可以用来分

25、辨缺陷，所以时间窗口是包括第一个变形底面回波的信号时间窗口的显示至少可以覆盖到整个深度范围内的显示,例如，表1和表2Dit document is door NEN onder licentie verstrekt aan：/this document has been supplied umder license by NEN to：Vantage NDT B.V T.Bouma 2006/04/18第13页ENV 583-6：2000用比较小的时间窗口也是可行的，这样可以提高缺陷位置的测量精度，如在参考试块中的代表性的缺陷或人工缺陷，参考试块见附录A7.4 灵敏度的设置探头的间距以及时间窗

26、口的设置完成后，就可以进行下一步的检测为了保证缺陷的信号在数字转换器的范围以内，就必须限制噪声信号，使超声信号大于电噪声信号。仪器的设置电子噪声抑制和系统增益，电子噪声信号会在侧向波这之前到达，所以要求电噪声信号至少低于超声信号6db，并不大于整个波幅范围的5%。灵敏度的设置可以用附录A中的参考试块中的代表性缺陷以及人工缺陷调节，可以得到合理和增益设置和信噪比。7.5 扫查分辨率的设置推荐使用每毫米一个A扫信号7.6 扫查速度的设置 扫查速度的设置可以根据前三节7.3 7.4 7.5中的描述进行设置7.7 系统显示的检查 在进行检测之前，应该对仪器的记录，以及A扫进行检查,可以参照EN1266

27、8-38 数据分析以及解释8.1 缺陷的基本分析基础记录或者可接受缺陷必须满足标准中的要求，缺陷的记录有如下几个主要因素-缺陷的位置X坐标，Y坐标-缺陷的长度x-缺陷的深度以及它的自身高度Z z-缺陷的类型，有如下三种，表面开口缺陷，底面开口缺陷，以及埋藏性缺陷Dit document is door NEN onder licentie verstrekt aan：/this document has been supplied umder license by NEN to：Vantage NDT B.V T.Bouma 2006/04/18第14页ENV 583-6：2000 缺陷的特点

28、对缺陷更好的描述，缺陷上尖端定义为-可以看出来明显的相位，侧向波的相位与缺陷下尖端的相位是相同的-可以看出来明显的相位，底波的相位与缺陷下尖端的相位是相反的，缺陷没有自身高度的时也是这样由于信噪比太底而去辨别相位，这样没有任何意义.1 表面开口缺陷的特性缺陷下尖端的衍射信号非常的弱，不过先得检查有没有足够的耦合剂，此时侧向波会断开，这种情况就会被认为表面开口缺陷有时候侧向波没有断开只是稍微向下移，那么此时的飞越时间长了一点.2 底面开口缺陷的特性缺陷上尖端的衍射信号与底面回波会向上移，或者是底面回波信号会断开，这种情况会被认为是底面开口缺陷.3埋藏性缺陷的特点缺陷包括有上尖端衍射信号和下尖端衍

29、信号，这样的缺陷就是埋藏性缺陷单个缺陷有很明显的上尖端的衍射，此时缺陷的成象在侧向波和底面回波之间，如果缺陷没有明显的下尖端衍射，说明这个缺陷没有高度，如果侧向波和底波都很弱，此时的缺陷是不准确的，可以采用其它的方法，或者多次进行TOFD扫查如果一定要定性，可以参考8.2如果怀疑对缺陷所定的性质，最大可能的保存你的结果，直到进一步的认证计算缺陷的位置一般来说，在X平面和Z平面内进行精确定位，在Y平面和Z平面，是通过两个探头的中心线来进行定位的缺陷的飞越时间差可以计算出缺陷的位置，理论上讲探头入射点的飞越时间是恒定的，那么要对衍射体进行精确定位就必须做两次以上的扫查如果要更精确的对缺陷定位以及明

30、确方向，可以进行多次TOFD扫查，可以做到，-平行扫查，以及非平行扫查Dit document is door NEN onder licentie verstrekt aan：/this document has been supplied umder license by NEN to：Vantage NDT B.V T.Bouma 2006/04/18第15页ENV 583-6：2000计算缺陷的长度计算缺陷的长度可以直接通过计算探头位置的移动距离非平行扫查中，一般来说超声技术会对缺陷有所夸大，因为超声束很宽，所以对缺陷的长度应更仔细缺陷的长度不得小于1.5倍的晶片尺寸，不然会因为太小而

31、无法精确测量，长度计算在TOFD程序中有详细介绍 缺陷深度以及自身高度的计算假定能量是从探头的入射点到检件中的，如果缺陷在两个探头的中间C 声速t 缺陷尖端衍射信号的飞越时间d 缺陷尖端衍射信号的的深度S 两个探头入射点之间距离的一半实际的深度应该是，减去超声信号在探头里的飞越时间，也就是我们通常说的探头延迟，如果不减去这个时间，那么计算出来的深度是不准确的为了避免错误的计算探头延迟，如果可能，那么在衍射脉冲和侧向波之间的飞越时间差t,则：8.1.5.1 上表面开口缺陷 外表面开口缺陷的高度，被定义为外表面到下尖端衍射信号的距离.2 下表面开口缺陷 下表面开口缺陷的高度，被定义为上尖端信号与底

32、面的距离差.3 埋藏性缺陷 埋藏性缺陷被的高度，被定义为，上尖端信号与下尖端信号的距离差82缺陷的详细分析更详细的缺陷分析也是依赖于最基本的TOFD扫查，另外其它的NDT技术也是可以达到这一点的 缺陷详细分析的动机如下-对于缺陷的长度，深度以及自身的高度进行精确的计算-估计缺陷的方向-详细说明缺陷的类型Dit document is door NEN onder licentie verstrekt aan：/this document has been supplied umder license by NEN to：Vantage NDT B.V T.Bouma 2006/04/18第16

33、页ENV 583-6：2000缺陷的详细分析包括，用不同的探头角度，频率，以及探头间距进行多次扫查，同样平行扫查也是很有必要的，也可通过计算机对数据进行分析821 附加扫查.1用低的检测频率进行扫查如果信噪比太低而要进行详细的缺陷分析，扫查时可以采用低的频率，这样就增大了盲区，降低了分辨力设备的参数设置就必须优化见第六章和第七章.2用高的检测频率进行扫查用较高的频率进行扫查，可以得到高的分辨力，增加测量的精度，减少盲区，同时也会降低信噪比，由于增加了草状回波，那么仪器参数设置需要优化见第六章和第七章.3 降低探头的角度进行扫查降低探头的角度，同时减少探头的间距，可以增大分辨力，增加测量的精度，

34、减少盲区，适用于较薄的工件，那么仪器的参数设置也需要优化见第六章和第七章.4使用探头偏移进行扫查为了得到缺陷偏移-y轴-的准确位置，和它的准确的方向，也可以使用平行扫查，或者是非平行扫查，使用不同的探头角度，或者使用不同的探头间距，那么仪器参数的设置需要优化见第六章和第七章在原始成象的时候必须检测相邻两个信号的相位尖端衍射信号恒定飞越时间呈椭圆形，如果我们只考虑y轴和z轴，具体计算方法如下由上式可以看出探头中心平面的不同的偏离，那么所得到尖端衍射的飞越时间就不一样，因此不同的探头的位置，所得到的缺陷的深度也会不一样，只是深度偏差较小。由于平行扫查可以得到最小深度的位置，可以确定缺陷尖端的偏移，

35、可以通过一系列的调整在X轴上的位置，这样可以找到一个缺陷最小的深度值缺陷尖端的位置以及深度确定后，那么它的方向就可以确定下来了原则上说，两次非平行扫查，两次都偏移，对缺陷的深度，长度，以及方向就可以精确确定。然而，缺陷尖端位置的确定，两次偏移扫查的值都会小一点，见附加的平行扫查可以检查出近表面的缺陷，因为可以接近侧向波和底面回波，但是在每一次扫查中所得到缺陷的深度都会改变，这些可以通过侧向波和底面回波来解决Dit document is door NEN onder licentie verstrekt aan：/this document has been supplied umder li

36、cense by NEN to：Vantage NDT B.V T.Bouma 2006/04/18第17页ENV 583-6：2000附加运算法则计算机运算法则可以运用到TOFD扫描数据的记录中例如-曲线的覆盖可以对缺陷的长度定义-为了检测出缺陷可以减少侧向波以及底面回波，除非是断开，如果表面足够的平，那么这项技术就可以更好的掌握-线型运算可以精确地决定完整B扫图像中缺陷的高度以及深度-模型运算能够绘出曲线的轨迹和变形波信号分析，这样可以提供缺陷的方向，深度，以及位置，物理学的理解和模型软件的要求在分析数据时可以使用运算法则9 对于复杂的几何形状的检测以及定量对于检测等级为二级的检件，如果检

37、测表面在两个探头上是平的，没有其它的制约因素除非是检测等级为二级和三级的检件，那么就需要修改检测和解释程序，以解决曲面构件。对于检测等级为四级和五级工件，就需要使用特殊和数据程序技术和操作条件。计算机运算在这种情况下数据分析中可以用为了确认缺陷的检测能力，可以用代表性的检测工件中的自然缺陷和人工缺陷，在这种情况下同样可以使用10 技术的局限性这一段解释TOFD技术的局限性，同样TOFD技术的检出和定量是可用的，它的局限性在于在普通的状况下它的精确性，以及盲区的影响，它们会影响到它的检测能力，更重要的是大家的意识到这种技术所存在的误差。高度倾斜的缺陷，例如在非平行扫查中的横向裂纹，通常难以检测出

38、来，建议进行特殊的演示，以展示对这种缺陷的检测能力，另外对于非线性缺陷，如点状缺陷，可能会有如裂纹等线性缺陷的特征，再次建议有条件时，通过演示体现对小裂纹的辨别能力。 能力演示可在检测文件或其它数据文件中规定。10.1精度以及解晰度应该区别精度与解晰度，精度是反射体位置的精确程度，所谓解晰度紧密的空间衍射体，去区别一个与另一个的能力时间误差会影响到TOFD的测量精度，包括有声速误差，探头间距误差，这样会导致缺陷的误差，在正常情况下不充许精度超标Dit document is door NEN onder licentie verstrekt aan：/this document has bee

39、n supplied umder license by NEN to：Vantage NDT B.V T.Bouma 2006/04/18第18页ENV 583-6：200010.1.1 横向位置的误差在中，缺陷的横向位置通常是假定在两个探头的中间，实际上缺陷可能是偏离中心线的，因此由黄向位置误差引起的深度训差可用如下公式计算：原则上，在声束的下边缘，如是在声束的下边缘不确定，那么横向位置偏差t可用S代替。 10.1.2 时间误差缺陷深度精度的限制，由于时间的误差，误差被计算如下，是深度的误差减少时间误差可以用较窄的脉冲和较高的频率声速的误差由于声速的误差引起的缺陷深度精度，误差计算如下，探头的间距可以减小减少误差，在已知厚度的时，通过测量底面回波的延迟来校验声速，这样可以最大程地减少误差。探头间距离的误差 在深度测量中两个入射点距离的意味着深度误差计算公式如下引起探头间距误差的因素主要有两个，一个是由于两个探头之间距离的误差，一个是探头入射点校验的误差当探头的间距小于两倍的工件厚度时，探头入射点已经不在是固定的入射点，它变成了深度显示，像这种情况，如果需要精确定量，就必须在典型的工件中进行深度的校验空间的解晰度空间的解晰度计算公式如下是声学脉冲的长度，是深度的飞越时间解晰度是随着深度的增加而增加，