测量系统分析培训讲义(共61页).ppt

1、测量系统分析测量系统分析（Measurement Systems AnalysisMeasurement Systems Analysis）培训讲义培训讲义Quality测量数据的质量测量数据的质量测量数据的质量测量数据的质量 稳定条件下运行某一测量系统得到的多次稳定条件下运行某一测量系统得到的多次测量结果的统计特性测量结果的统计特性偏差太大或变差太大都将直接导致低质量偏差太大或变差太大都将直接导致低质量的测量数据的测量数据术术 语语测量测量赋值给具体事物以表示他们之间关于特殊特性的关系赋值给具体事物以表示他们之间关于特殊特性的关系量具量具任何用来获取测量结果的装置，经常用来特指用在车间任何用

2、来获取测量结果的装置，经常用来特指用在车间的装置，包括用来测量合格的装置，包括用来测量合格/ /不合格装置不合格装置测量系统测量系统用来对测量单元进行量化或对被测特性进行评估，所使用来对测量单元进行量化或对被测特性进行评估，所使用的仪器或量具、标准、操作、方法、夹具、设备、软用的仪器或量具、标准、操作、方法、夹具、设备、软件、人员、环境及假设的集合；用来获得测量结果的整件、人员、环境及假设的集合；用来获得测量结果的整个过程个过程术术 语语分辨力（率）分辨力（率）分辨率（力）分辨率（力）测量系统能发现并真实测量系统能发现并真实地表示被测特性很小变化的能力地表示被测特性很小变化的能力别名：最小可读

3、单位、测量解析度、最小别名：最小可读单位、测量解析度、最小刻度极限或探测的最小极限刻度极限或探测的最小极限一个仪器测量或输出的最小刻度单位一个仪器测量或输出的最小刻度单位通常被显示为测量单位通常被显示为测量单位1010：1 1 （过程变差或公差）的比例法则（过程变差或公差）的比例法则测量系统的有效分辨率测量系统的有效分辨率l要求不低于过程变差或允许偏差的十分之一要求不低于过程变差或允许偏差的十分之一l零件之间的差异必须大于最小测量刻度零件之间的差异必须大于最小测量刻度l极差控制图可显示分辨率是否足够极差控制图可显示分辨率是否足够l数据分级数据分级(ndc)的计算为的计算为 1.41（零件的标准

4、偏差（零件的标准偏差/ 总的量具偏差）一般要求它大于总的量具偏差）一般要求它大于5才可接才可接受受直尺直尺卡尺卡尺千分尺千分尺.2.28.279.2.28.281.2.30.280.2.28.278术术 语语参考值参考值某一个物品的可接受数的值某一个物品的可接受数的值需要一个可操作的定义需要一个可操作的定义常被用来代替真值的使用常被用来代替真值的使用真值真值物品的实际数值物品的实际数值不可知的且无法知道的不可知的且无法知道的术术 语语准确度重复测量均值与真值间的一致性。表示测量重复测量均值与真值间的一致性。表示测量系统误差大小。常用绝对值表示，即偏倚的系统误差大小。常用绝对值表示，即偏倚的绝对

5、值。与真值或可接受的参考值绝对值。与真值或可接受的参考值“接近接近”的程度的程度精密度表示测量随机误差大小，常用标准差表示表示测量随机误差大小，常用标准差表示术术 语语偏倚偏倚观测到的测量值的平均值与参考值之观测到的测量值的平均值与参考值之间的差值间的差值是测量系统的系统误差所构成是测量系统的系统误差所构成术术 语语稳定性（漂移）随时间变化的偏倚值随时间变化的偏倚值一个稳定的测量过程在位置方面是处于统一个稳定的测量过程在位置方面是处于统计上受控状态计上受控状态术术 语语线性线性在量具正常工作量程内的偏倚变化量在量具正常工作量程内的偏倚变化量多个独立的偏倚误差在量具工作量程内的多个独立的偏倚误差

6、在量具工作量程内的关系关系是测量系统的系统误差所构成是测量系统的系统误差所构成术术 语语重复性重复性一位评价人使用一种测量仪器，对同一零一位评价人使用一种测量仪器，对同一零件的同一特性进行多次测量下的变差件的同一特性进行多次测量下的变差是在固定和已定义的测量条件下，连续是在固定和已定义的测量条件下，连续（短期内）多次测量中的变差（短期内）多次测量中的变差通常被称为设备变差通常被称为设备变差设备设备( (量具量具) )的能力或潜能的能力或潜能术术 语语再现性再现性由不同的评价人使用同一个量具由不同的评价人使用同一个量具, ,测量一个测量一个零件的同一特性时产生的测量平均值的变零件的同一特性时产生

7、的测量平均值的变差差在对于产品和过程进行鉴定时在对于产品和过程进行鉴定时, ,误差可能是误差可能是评价人、环境评价人、环境( (时间时间) )或方法或方法通常被称为通常被称为A.V-A.V-评价人变差评价人变差术术 语语GRRGRR或量具的重复性和再现性或量具的重复性和再现性量具的重复性和再现性量具的重复性和再现性: :测量系统重复性和测量系统重复性和再现性联合评估值再现性联合评估值测量系统能力测量系统能力: :取决于使用的方法取决于使用的方法, ,可能包可能包括或不包括时间影响括或不包括时间影响测量过程测量过程测量系统统计特性测量系统统计特性理想的测量系统在每次测量时，应只产生理想的测量系统

8、在每次测量时，应只产生“正确正确”的的测量结果，每次测量结果总应该与一个标准值相符测量结果，每次测量结果总应该与一个标准值相符一个能产生理想测量结果的测量系统，应具零方差、一个能产生理想测量结果的测量系统，应具零方差、零偏倚、和对所测的任何产品错误分类为零概率的统零偏倚、和对所测的任何产品错误分类为零概率的统计特性计特性优良测量系统的基本特性优良测量系统的基本特性足够的分辨率（足够的分辨率（1010：1 1原则）原则）具统计稳定性、亦即测量系统的变差只能是由于普通具统计稳定性、亦即测量系统的变差只能是由于普通原因而非特殊原因造成的原因而非特殊原因造成的测量系统的变异须小于规格公差或过程变异测量

9、系统的变异须小于规格公差或过程变异测量过程测量过程变异源变异源测量系统变差测量系统变差标准标准工件工件仪器仪器人人环境环境测量系统变差的影响测量系统变差的影响对产品决策的影响对产品决策的影响第一类错误（生产者风险第一类错误（生产者风险/ /假警报）：一个好的零件有时假警报）：一个好的零件有时被误判为被误判为“不合格不合格”第二类错误（消费者风险第二类错误（消费者风险/ /漏判率）：一个不合格的零件漏判率）：一个不合格的零件有时被误判为有时被误判为“合格合格”LSLUSL测量系统变差的影响测量系统变差的影响对产品决策的影响对产品决策的影响LSLLSLUSLUSL改进过程改进过程: :生产的生产的

10、产品集中在区产品集中在区域域改进测量系统改进测量系统: :减减少区域少区域面积面积:不合格零件总是判断为不合格不合格零件总是判断为不合格:可能做出错误的判断可能做出错误的判断:合格零件总是判断为合格合格零件总是判断为合格测量系统变差的影响测量系统变差的影响对过程决策的影响对过程决策的影响将普通原因判断为特殊原因将普通原因判断为特殊原因将特殊原因判断为普通原因将特殊原因判断为普通原因（CpCp）观察观察 =(Cp=(Cp）实际实际+ + （CpCp）测量系统测量系统-2-2-2测量系统变差的影响测量系统变差的影响实际的实际的 GRR GRR10%10%20%20%30%30%40%40%50%5

11、0%60%60%70%70%90%观测的观测的CpCp与基于过程范围的与基于过程范围的CpCp1.31.31.291.291.271.271.241.241.191.191.131.131.041.040.930.930.57观测的观测的CpCp与基于公差范围的与基于公差范围的CpCp1.31.31.291.291.261.261.201.201.111.110.990.990.810.810.540.54评估测量系统评估测量系统三个基本要素三个基本要素足够的分辨率足够的分辨率稳定稳定统计特性（误差）在预期量程是一致的，统计特性（误差）在预期量程是一致的，且足够用以测量用途且足够用以测量用途评

12、估测量系统评估测量系统分辨率分辨率测量系统检出并如实指示被测量特性中极小变化测量系统检出并如实指示被测量特性中极小变化的能力的能力若不能测量出过程的变差，这种分辨率用于分析若不能测量出过程的变差，这种分辨率用于分析是不可接受的是不可接受的若不能测定出特殊原因的变差，这种分辨率用于若不能测定出特殊原因的变差，这种分辨率用于控制是不可接受的控制是不可接受的不可接受的分辨率可通过极差图最好的显示出来不可接受的分辨率可通过极差图最好的显示出来数据分级的影响数据分级的影响分级数目分级数目控制控制分析分析只有下列条件才可用于控制：只有下列条件才可用于控制：与规范相比，过程变差较小；与规范相比，过程变差较小

13、；过程变差主要原因导致均值过程变差主要原因导致均值偏移偏移对过程参数及指数估计对过程参数及指数估计不可接受不可接受; ;只能表明过只能表明过程是否正在产生合格零程是否正在产生合格零件件依据过程分布可用半控依据过程分布可用半控制技术制技术; ;可产生不敏感可产生不敏感的计量控制图的计量控制图一般来讲一般来讲, ,对过程及指对过程及指数的估计不可接受数的估计不可接受; ;只只提供粗略估计提供粗略估计可用于计量控制图可用于计量控制图建议使用建议使用5个或更多数据分级个或更多数据分级2-4个数据分级个数据分级1个数据分级个数据分级ndc5直尺直尺卡尺卡尺千分尺千分尺.2.28.279.2.28.281

14、.2.30.280.2.28.278测量系统变差可能的原因测量系统变差可能的原因偏倚偏倚a)a)基准的误差基准的误差b)b)磨损的量具磨损的量具c)c)制造的仪器尺寸不对制造的仪器尺寸不对d)d)仪器没有正确校准仪器没有正确校准e)e)评价人使用仪器不正确评价人使用仪器不正确测量系统变差可能的原因测量系统变差可能的原因稳定性稳定性a)a)仪器需要校正仪器需要校正, ,减小校正周期减小校正周期b)b)正常的老化正常的老化c)c)仪器维护不足仪器维护不足d)d)仪器设计或方法问题仪器设计或方法问题线性线性工作范围上限工作范围上限/ /下限内仪器没有正确校准下限内仪器没有正确校准最大或最小值校准量具

15、的误差最大或最小值校准量具的误差磨损的仪器磨损的仪器测量系统变差可能的原因测量系统变差可能的原因重复性重复性仪器需要维护仪器需要维护量具应重新设计来提高刚度量具应重新设计来提高刚度夹紧及检验点需要改进夹紧及检验点需要改进再现性再现性评价人需要更好的培训如何使用量具仪器及读数评价人需要更好的培训如何使用量具仪器及读数量具刻度盘上的读数不清楚量具刻度盘上的读数不清楚需要某种夹具帮助评价人提高使用量具的一致性需要某种夹具帮助评价人提高使用量具的一致性测量系统研究准备测量系统研究准备计划将要使用的方法计划将要使用的方法例如通过工程决策例如通过工程决策, ,直接观察或量具研究决定直接观察或量具研究决定,

16、 ,是否评价是否评价人在校准或使用仪器时产生影响人在校准或使用仪器时产生影响; ;有些测量系统的再现性有些测量系统的再现性可以忽略可以忽略, ,例如按键例如按键 评价人数量、样品数量、及重复读数次数应预先评价人数量、样品数量、及重复读数次数应预先确定确定尺寸的关键性尺寸的关键性- -关键尺寸需要更多的样品和关键尺寸需要更多的样品和/ /或试验或试验零件规格零件规格- -大而重的零件可规定较少样品及较多试验大而重的零件可规定较少样品及较多试验评价人的选择应从日常操作该仪器的人中选出评价人的选择应从日常操作该仪器的人中选出测量系统研究准备测量系统研究准备 样品选择对于适当的研究非常重要，且取样品选

17、择对于适当的研究非常重要，且取决于测量系统研究的设计决于测量系统研究的设计对于产品控制：对于产品控制：“符合符合/ /不符合产品特性规格不符合产品特性规格”，样品的选择无需覆盖整个规格范围样品的选择无需覆盖整个规格范围对于过程控制：对于过程控制：“过程稳定性，方向及自然变差过程稳定性，方向及自然变差的符合情况的符合情况”，样品必须从过程中选取并代表整，样品必须从过程中选取并代表整个工作范围个工作范围 仪器分辨率应允许至少直接读取特性的预仪器分辨率应允许至少直接读取特性的预期过程变差的十分之一期过程变差的十分之一 确保测量方法在按规定的测量步骤测量特确保测量方法在按规定的测量步骤测量特征尺寸征尺

18、寸测量系统研究准备测量系统研究准备进行研究的方式非常重要进行研究的方式非常重要测量应按随机顺序，以确保研究过程中产生的任测量应按随机顺序，以确保研究过程中产生的任何漂移或变化随机分布。何漂移或变化随机分布。使用盲测方法使用盲测方法设备读数应估计到可得到的最接近的数字，模拟设备读数应估计到可得到的最接近的数字，模拟设备应读取最小刻度的一半设备应读取最小刻度的一半研究工作应由知其重要性且仔细认真的人进行研究工作应由知其重要性且仔细认真的人进行每一位评价人应采取相同的方法每一位评价人应采取相同的方法/ /步骤来获取数步骤来获取数据据计量型测量系统研究计量型测量系统研究确定重复性和再现性分析指南确定重

19、复性和再现性分析指南进行研究进行研究1. 1. 取得一个能代表过程变差实际或预期范围的取得一个能代表过程变差实际或预期范围的样本，为样本，为n n1010个零件的样本个零件的样本2. 2. 确定评价人，确定评价人， 2 2人，分别对评价人和零件人，分别对评价人和零件进行编号，零件编号不要让评价人看到进行编号，零件编号不要让评价人看到3. 3. 每个评价人先后以随机顺序测量每个评价人先后以随机顺序测量n n个零件，个零件，并记录测量结果并记录测量结果4. 4. 重复重复3 3的操作的操作2 2次以上，记录测量结果次以上，记录测量结果5. 5. 按附表的要求计算相关参数按附表的要求计算相关参数确定

20、重复性和再现性分析指南确定重复性和再现性分析指南6. 6. 当测量系统是用来当测量系统是用来对产品进行控制，即对产品进行控制，即判定产品是否符合规格判定产品是否符合规格，而不是用来对过程，而不是用来对过程进行控制时，可以用进行控制时，可以用公差为基础公差为基础来代替来代替过程过程变差变差。在对。在对%EV%EV、%AV%AV、%GRR%GRR、%PV%PV进行计算进行计算时，分母由时，分母由（公差）（公差）来代替总变差（来代替总变差（TVTV）确定重复性和再现性分析指南确定重复性和再现性分析指南接受标准（接受标准（1 1、2 2同时满足）同时满足） 1 1、%GRR%GRR为：为：低于低于10

21、%-10%-接受接受在在10%10%30%30%之间之间-根据应用的重要性、量具成本、根据应用的重要性、量具成本、维修的费用等，有条件接受维修的费用等，有条件接受高于高于30%-30%-不能接受，测量系统必须改善不能接受，测量系统必须改善 2 2、并且、并且分类数量分类数量ndcndc55确定稳定性指南确定稳定性指南进行研究进行研究1.1.取一个样本。取一个样本。2.2.定期（天、周）测量标准样本定期（天、周）测量标准样本4 4 5 5次，应在不次，应在不同的时间读数以代表测量系统的实际使用情况，同的时间读数以代表测量系统的实际使用情况，以便说明在一天中预热、周围环境和其他因素发以便说明在一天

22、中预热、周围环境和其他因素发生的变化生的变化3.3.测量周期测量周期2020个个4.4.将数据按时间顺序画在将数据按时间顺序画在X X（barbar）-R-R控制图上控制图上5.5.对于破坏性的或检测费用高的测量，只定期对对于破坏性的或检测费用高的测量，只定期对标准样本测量标准样本测量1 1 2 2次，用次，用X X（barbar）-MR-MR控制图进行控制图进行分析分析确定稳定性指南确定稳定性指南判定准则判定准则如果如果X X（barbar）-R/ X-MR-R/ X-MR控制图处于控制图处于统计受统计受控状态控状态，则测量系统的稳定性是可以接受，则测量系统的稳定性是可以接受的的确定稳定性的

23、指南确定稳定性的指南举例举例- -稳定性稳定性 为了确定一个新的测量装置的稳定性为了确定一个新的测量装置的稳定性是否可以接受，工艺小组在生产工艺中程是否可以接受，工艺小组在生产工艺中程数附近选择了一个零件。这个零件被送到数附近选择了一个零件。这个零件被送到测量实验室，确定基准值为测量实验室，确定基准值为6.01。小组每。小组每班测量这个零件班测量这个零件5次，共测量次，共测量4周（周（20个子个子组）。收集所有数据以后，组）。收集所有数据以后，X&R 图就可以图就可以做出来了。做出来了。确定稳定性的指南确定稳定性的指南稳定性的均值稳定性的均值极差图极差图6.36.05.7样本均值子组0

24、515202510UCL=6.297Mean=6.021LCL=5.7461.00.50.0样本极差R=0.47792ULC=1.01LCL=0确定偏倚的指南确定偏倚的指南进行研究进行研究 如果用如果用X X（barbar）-R-R图来衡量稳定性，其数据可以图来衡量稳定性，其数据可以用来进行偏倚的评价。在偏倚评价前，控制图分用来进行偏倚的评价。在偏倚评价前，控制图分析应该表明这测量系统处于稳定状态析应该表明这测量系统处于稳定状态取一个样件，并且建立可追溯到一相关标准的参取一个样件，并且建立可追溯到一相关标准的参考值。如不能取得参考值，选择一件落在生产测考值。如不能取得参考值，选择一件落在生产测

25、量值范围中间的生产零件，将他指定为偏倚分析量值范围中间的生产零件，将他指定为偏倚分析的基准样件。在工具室测量该零件的基准样件。在工具室测量该零件n10n10次，并次，并计算计算n n个读值的平均值。用该平均值作为个读值的平均值。用该平均值作为“参考参考值值”用量具对样件测量用量具对样件测量n 15n 15次次计算计算 n n 个读数的均值个读数的均值计算可重复性标准偏差计算可重复性标准偏差2)min()max(dxxii重复性nXXnii1确定偏倚的确定偏倚的 t t 统计量统计量nrbbt偏偏倚倚偏倚偏倚= =观测测量平均值观测测量平均值基准值基准值 可接受偏倚水平)(0)(2/1 ,222

26、/1 ,22avbavbtddtdd偏偏倚倚偏偏倚倚如果如果 0 0 落在围绕偏倚值落在围绕偏倚值 1-1-置信区间以内，偏倚置信区间以内，偏倚在在水平是可接受的。水平是可接受的。d2、d2* 和和 v 可以在附录中查到，可以在附录中查到，g=1，m=n，tv，1-/2在在标准标准t表中查到。表中查到。偏倚研究数据基准值基准值 = 6.0偏倚偏倚15.8-0.225.7-0.335.9-0.145.9-0.156.00.066.10.176.00.086.10.196.40.4106.30.3116.00.0126.10.1136.20.2145.6-0.4156.00.0偏倚研究直方图5.6

27、5.75.85.96.0 6.16.26.3 6.4测量值（measured value）43210频次偏倚研究偏倚研究分析Xrbn(m) 均值均值标准偏差标准偏差均值的标准偏差均值的标准偏差测量值测量值156.00670.225140.05813 基准值基准值 = 6.00， =0.05, g = 1， d2* =3.35t统计量统计量df显著显著t 值值（2 尾）尾）偏奇偏奇95%偏倚置信区间偏倚置信区间低值低值高值高值测量值测量值0.115310.82.2060.0067-0.11850.1319因为因为0 0落在偏倚置信区间（落在偏倚置信区间（ -1.1185 -1.1185 ，0.1

28、3190.1319）内，所以）内，所以偏倚是可以接受的，使用过程不会导致附加变差源。偏倚是可以接受的，使用过程不会导致附加变差源。如果偏倚在统计上不等于如果偏倚在统计上不等于0，检查是否存在以下原因：，检查是否存在以下原因：l 仪器没有经过适当校准仪器没有经过适当校准l 仪器、设备或夹紧装置的磨损仪器、设备或夹紧装置的磨损l 磨损或损坏的基准，基准出现误差磨损或损坏的基准，基准出现误差l 校准不当或调整基准的使用不当校准不当或调整基准的使用不当l 仪器质量差仪器质量差设计或一致性不好设计或一致性不好l 应用错误的量具应用错误的量具l 不同的测量方法不同的测量方法设置、安装、夹紧、技术设置、安装

29、、夹紧、技术l 测量错误的特性测量错误的特性偏倚分析偏倚分析确定线性的指南确定线性的指南进行研究进行研究 线性按下列指南评价：线性按下列指南评价：1.1.选择选择g5g5件零件件零件/ /特性，由于过程变差，这些特性，由于过程变差，这些零件零件/ /特性测量值覆盖量具的工作量程特性测量值覆盖量具的工作量程2.2.对每个零件对每个零件/ /特性，建立可追溯到一相关标准特性，建立可追溯到一相关标准的参考值。的参考值。 3.3.由这个量具的操作者中的一个测量每个零件由这个量具的操作者中的一个测量每个零件m12m12次。次。注：随机地选择零件以使评价人对测量偏倚的注：随机地选择零件以使评价人对测量偏倚

30、的“记忆记忆”最小化最小化确定线性的指南确定线性的指南结果分析结果分析- -作图法作图法4、计算零件每次测量的偏倚及零件偏倚均值。、计算零件每次测量的偏倚及零件偏倚均值。 偏倚偏倚i,j=xi,j-（基准值）（基准值）i 偏倚偏倚i=偏倚偏倚i,j/m5、在线性图上画出单值偏倚和相关基准值的偏倚均在线性图上画出单值偏倚和相关基准值的偏倚均值值确定线性的指南确定线性的指南6、用下面等式计算和画出最佳拟合线和置信区间、用下面等式计算和画出最佳拟合线和置信区间对于最佳拟合直线，用公式：对于最佳拟合直线，用公式：yi=axi+b xi =基准值基准值 yi=偏倚平均值偏倚平均值这里这里xi是基准值，是

31、基准值， yi是偏倚均值，用下列公式求出是偏倚均值，用下列公式求出a、b和和s。a=(xy-xy/gm)/x2-(x)2/gmb=y-axs= (yi2-b yi-a xiyi)/(gm-2)1/2确定线性的指南确定线性的指南对于给定的对于给定的x0，画出，画出a水平的置信区间水平的置信区间低值：低值：b+ax0-t1-a/2(gm-2)s/n高值：高值：b+ax0+t1-a/2(gm-2)s/n其中其中1/n=1/gm+(x0-x)2/ (xi-x)21/2确定线性的指南确定线性的指南接受准则接受准则如果如果“偏倚偏倚=0”=0”的整个线都位于置信度区的整个线都位于置信度区间以内，则该测量系

32、统的线性是可接受的间以内，则该测量系统的线性是可接受的注解注解置信度区间置信度区间 预期的包括了某一参数的真值的数值范围（在预期的包括了某一参数的真值的数值范围（在某些要求应用情况下被称为置信水准）某些要求应用情况下被称为置信水准）确定线性的指南确定线性的指南线性线性-举例举例一名工厂主管希望对过程采用新的测量系统一名工厂主管希望对过程采用新的测量系统,作为作为PPAP的一部分的一部分,需要评价测量系统的线性需要评价测量系统的线性,在测量在测量系统量程内选择系统量程内选择 5个零件个零件,每个零件经过全尺寸检每个零件经过全尺寸检验测量以确定其基准值验测量以确定其基准值.然后由领班分别测量每个然

33、后由领班分别测量每个零件零件12次次.研究中零件是被随机选择的研究中零件是被随机选择的.计算偏倚均值，可用计算偏倚均值，可用Excel 。确定线性的指南确定线性的指南作图分析：用最小二乘法求出作图分析：用最小二乘法求出a、 ba=(xy-xy/gm)/x2-(x)2/gm=-0.131667b=y-ax=0.736667计算计算s和最佳拟合线的置信带。和最佳拟合线的置信带。判断偏倚判断偏倚=0是否包含在置信带内：是否包含在置信带内：如果偏倚如果偏倚=0没有包含在置信带内，说明线性不符合没有包含在置信带内，说明线性不符合要求。要求。确定线性的指南确定线性的指南10 9 8 7 6 5 4 3 2

34、 1 0-1MasterbiasS = 0.239540 R-Sq = 71.4 % R-Sq(adj) = 70.9 %bias = 0.736667 - 0.131667 Master95% CIRegressionliner study记数型测量系统研究记数型测量系统研究记数型测量系统研究记数型测量系统研究记数型测量系统是一种测量数值为一有限记数型测量系统是一种测量数值为一有限的分类数量的测量系统。它与获得一连串的分类数量的测量系统。它与获得一连串数值结果的计量型测量系统截然不同。通数值结果的计量型测量系统截然不同。通/ /止规是最常用的量具，它只有两种可能的止规是最常用的量具，它只有两种可能的结果；其他的记数型测量系统，例如目视结果；其他的记数型测