电子元器件检验规范方案标准书模板

1、WORD格式整理电子元器件检验规范标准书修订 日期修订修订内容摘要页次版次修订审核批准2011/03/30/系统文件新制定4A/0/批准：审核：编制：部分电子元器件检验规范标准书IC类检验规范（包括BGA）1.目的作为IQC人员检验IC类物料之依据。2.适用范 围适用于本公司所有IC （包括BGA之检验。3.抽样计 划依MIL-STD-105E, LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考抽样计划。4.允收水准（AQD严重缺点（CR）: 0;主要缺点（MA）: 0.4;次要缺点（MI）: 1.5.5.参考文 件无检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAa.根据来料送检单核对外

2、包装或 LABEL1的P/N及实物是否 都正确，任何有误，均不可接受。b.包装必须采用防静电包装，否则不可接受。目检数量检验MAa.实际包装数量与Label上的数量是否相同，若不同不可接受；b.实际来料数量与送检单上的数量是否吻合，若不吻合不可接受。目检点数外观检验MAa. Marking错或模糊不清难以辨认不可接受；b.来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受；c.本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受；d.元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔，其面积不超 过0.5mm2,且未露出基质，可接受；否则不可接受；e. Pin氧化生锈，或上锡不良，均不可接受；f. 元件脚弯曲，偏位，缺损或少脚，

3、均不可接受；目检或10倍以上 的放大镜检验时，必须佩 带静电带。备注：凡用于真空完全密闭方式包装的IC,由于管理与防护的特殊要求不能现场打开封装的，IQC仅进行包装检验，并加盖免检印章；该IC在SMTk拉前IQC须进行拆封检验。拆封后首先确认包装袋内的湿度显示卡20%RH寸应的位置有没有变成粉红色，若已变为粉红色则使用前必须按供应商的要求进行烘烤。（三） 贴片元件检验规范（电容，电阻，电感）1.目的便于IQC人员检验贴片元件类物料。2.适用范 围适用于本公司所有贴片元件（电容，电阻，电感-）之检验。3.抽样计 划依MIL-STD-105E, LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考

4、抽样计划。4.允收水准（AQD严重缺点（CR）: 0；主要缺点（MA）: 0.4;次要缺点（MI）: 1.5.5.参考文 件LCR数字电桥操作指引数字万用表操作指引检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAa.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确，任何有误，均不可接受。b.包装必须采用防静电包装，否则不可接受。目检数量检验MAa.实际包装数量与Label上的数量是否相同，若不同不可接受；实际来料数量与送检单上的数量是否吻合，若不吻合不可接受。目检点数外观检验MAa. Marking错或模糊不清难以辨认不可接受；b.来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受；c.本

5、体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受；d.元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔，其面积不超过 0.5mm,且未露出基质，可接受；否则不可接受；e. Pin氧化生锈，或上锡不良，均不可接受；目检10倍以上的放 大镜检验时，必 须佩带静电 带。电性检验MA元件实际测量值超出偏差范围内.LCR测试仪数字万用表检验时，必 须佩带静电 带。二极管类型检测 方 法LED选择数字万用表的二极管档，正向测量，LED需发出与要求相符的颜色的光，而反向测量不发光；否则该二极管不合格。注：有标记的一端为负极。其它二极管选择数字万用表的二极管档，正向测量，读数需小于1,而反向测量读数需无穷大；否则该二极管不合格。注

6、：有颜色标记的一端为负极。备注抽样计划说明：对于 CHIP二极管，执行抽样计划时来料数量以盘为单位，样本数也以盘为单位；从抽检的每盘中取35pcs元件进行检测；AQL不变。检验方法见LCFB字电桥测试仪操作 指引和数字万用表操作指引。1.目的作为IQC人员检验插件用电解电容类物料之依据。2.适用范围适用于本公司所有插件用电解电容之检验。3.抽样计划依MIL-STD-105E, LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考抽样计划。4.允收水准（AQL严重缺点（CR）: 0；主要缺点（MA）: 0.4;次要缺点（MI）: 1.5.5.参考文件LCR数字电桥操作指引、数字电容表操作指引。检

7、验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAa.根据来料送检单核对外包装或 LABEL的P/N及实物是否都正确，任何有误，均不可接受。目检数量检验MAa.实际包装数量与Label上的数量是否相同，若不同不可接受； b.实际来料数量与送检单上的数量是否吻合，若不吻合不可接 受。目检点数外观检验MAa.极性等标记符号印刷不清，难以辨认不可接受；b.电解电容之热缩套管破损、脱落，不可接受；c.本体变形，破损等不可接受；d.Pin生锈氧化，均不可接受。目检可焊性检验MAa.Pin上锡不良，或完全不上锡不可接受。（将PIN沾上现使 用 之合格的松香水，再插入小锡炉5秒钟左右后拿起观看 PIN是否100

8、娘好上锡；如果不是则拒收 ）实际操作每LOT取 510PC庭 小锡炉上验证上锡性尺寸规格检验MAa.外形尺寸不符合规格要求不可接受。卡尺若用于新的Model,需在PCB上对应的 位置进行试插电性检验MAa.电容值超出规格要求则不可接受。用数字电容表 或LCR数字电桥 测试仪量测（四）插件用电解电容.（五）晶体类检验规范1.目的作为IQC人员检验晶体类物料之依据。2.适用范围适用于本公司所用晶体之检验。3.抽样计划依MIL-STD-105E, LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考抽样计划。4.允收水准（AQD严重缺点（CR）: 0;主要缺点（MA）: 0.4;次要缺点（MI）:

9、1.5.5.参考文件数字频率计操作指引检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAa.根据来料送检单核对外包装或LABEL的P/N及实物是否都正确，任何有误，均不可接受。目检数量检验MAa.实际包装数量与Label上的数量是否相同，若不同不可接受； b.实际来料数量与送检单上的数量是否吻合，若不吻合不可接 受。目检点数外观检验MAa.字体模糊不清，难以辨认不可接受；b.有不同规格的晶体混装在一起，不可接受；c.元件变形，或受损露出本体等不可接受；d. Pin生锈氧化、上锡不良，或断 Pin ,均不可接受。目检每LOT取510PCM小锡炉上验证上锡性电性检验MAa.晶体不能起振不可接受；b.

10、测量值超出晶体的频率范围则不可接受。测试工位和数字频率 计电性检测方法晶体检测 方 法32.768KHZ16.934MHz25.000MHz在好的样板的相应位置插上待测晶体，再接通电源开机；在正常开机后，用调试好的数字频率计测量晶体， 看测量的频率是否在规格范围内，若不能开机或测量值不在规格范围内，则该晶体不合格。24.576MHz在好的样板的相应位置插上待测晶体、CPU内存条等，再接通电源开机，看能否正常开机显示；在正常开机显示后，用调试好的数字频率计测量晶体，看测量的频率是否在规格范围内，若不能开机显示或测量值不在规 格范围内，则该晶体不合格。（六）三极管检验规范1.目的作为IQC人员检验

11、三极管类物料之依据。2.适用范围适用于本公司所有三极管之检验。3.抽样计划依MIL-STD-105E, LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考抽样计划。4.允收水准（AQD严重缺点（CR）: 0;主要缺点（MA）: 0.4;次要缺点（MI）: 1.5.5.参考文件无检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAa.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确，任何有误，均不可接受。b.包装必须采用防静电包装，否则不可接受。目检数量检验MAa.实际包装数量与Label上的数量是否相同，若不同不可接受； b.实际来料数量与送检单上的数量是否吻合，若不吻合不可接 受

12、。目检点数外观检验MAa. Marking错或模糊不清难以辨认不可接受；b.来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受；c.本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受；d.元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔，其面积不超 过0.5mm,且未露出基质，可接受；否则不可接受；e. Pin氧化生锈，或上锡不良，均不可接受。目检10倍以上的放大镜检验时，必须 佩带静电带。电性检验无（七）排针赚槽（座）类检验规范1.目的作为IQC人员检验排针&由槽（座）类物料之依据。2.适用范 围适用于本公司所有排针&由槽（座）之检验。3.抽样计 划依MIL-STD-105E, LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方

13、式请参考抽样计划。4.允收水准（AQD严重缺点（CR）: 0;主要缺点（MA）: 0.4;次要缺点（MI）: 1.5.5.参考文 件无检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MA根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确，任何有误，均不可接受。目检数量检验MAa.实际包装数量与Label上的数量是否相同，若不同不可接受； 实际来料数量与送检单上的数量是否吻合，若不吻合不可接受。目检点数外观检验MAa. Marking错或模糊不能辩认；b.塑料与针脚不能紧固连接；c.塑料体破损，体脏，变形，明显色差，划伤，缩水；d.过锡炉后塑料体外观变色，变形，脱皮 ；e.针脚拧结，弯曲

14、，偏位，缺损，断针或缺少；f.针脚高低不平、歪针、针氧化、生锈 ；g.针脚端部成蘑菇状影响安装.目检焊锡性检验MAa. PIN上锡不良，或完全不上锡，均不可接受；（将零件脚插入现使用之合格松香水内，全部浸润，再插入小锡炉5秒钟左右后拿起观看PIN是否100%11好上锡；如果不是则拒收）实际操作每LOT取 510PCM小 锡炉上验证上锡性安装检验MAa. 针脚不能与标准PCB顺利安装；b. 针脚露出机板长度小于 0.5mm或大于2.0mm;卡尺针脚露出机板 长度的标准为0.5mm2.0mm范围内。八CABLED检验规范1.目的作为C人员检验CABLED物料之依据。2.适用范 围适用于本公司所有C

15、ABL改之检验。3.抽样计 划依MIL-STD-105E, LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考抽样计划。4.允收水准（AQD严重缺点（CR）: 0;主要缺点（MA）: 0.4;次要缺点（MI）: 1.5.5参考文件无检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAa.根据来料送检单核对外包装或 LABEL1的P/N及实物是否都正确，任何有误，均不可接受。目检数量检验MAa.数量与Label上的数量是否相同，若不同不可接受；b.料数量与送检单上的数量是否吻合，若不吻合不可接受。目检点数外观检验MAa.五金件变形、划伤、生锈、起泡、发黄或其它电镀不良； b.塑料体变形、划伤、毛边

16、、破（断）裂、异色等不良； c.排线破损、断裂、变形、异色、露铜丝、切口不齐等均不可接受；d.排线与支架等组装不牢，易松脱；e.标识CABL曝插方向的颜色不能明确分辩；c.排线接头的颜色不符合规格要求 ；g.排线表面的丝印错.1 .目检2 .按前后左右 上下各轻摇3次排线接头 处，看有无松 脱现象参考 MechanicalDrawing of Cable尺寸检验MAa.长度不符合规格要求不可接受.卷尺尺寸参考MechanicalDrawing ofCable电性测试检 验MAa. 排线的接线方式错不可接受；b. 排线接触不良或不能运行不可接受；c. IDE排线的传输速率不符合要求不可接受.每批取10pcs送QA,请QA的同事帮助测试拉力测试检 验MAa.与公端对插，插拔力不符合规格要求的不可接受.（拉力测试：用标准Box Header与排线对插好，用拉力计测出其 CABL比全被拉出后的最大拔出力。）实际操作备注1