第6章超声波探伤设备简介

1、轨道铺筑与探伤检测轨道铺筑与探伤检测第六章第六章 超声波探伤设备简介超声波探伤设备简介 钢轨超声波探伤的历史和现状钢轨超声波探伤的历史和现状 19541954年年1010月铁道部引进瑞士生产的共振月铁道部引进瑞士生产的共振式探伤仪用于钢轨探伤，这是我国铁路式探伤仪用于钢轨探伤，这是我国铁路钢轨超声波探伤的开始。钢轨超声波探伤的开始。19571957年北京年北京BC13BC13和武汉和武汉GTSGTS1 1手杖式钢手杖式钢轨探伤仪问世，标志着我国钢轨探伤仪轨探伤仪问世，标志着我国钢轨探伤仪的研制、开发、探伤模式的研究，进入的研制、开发、探伤模式的研究，进入一个新的里程。一个新的里程。196919

2、69年初，上海无线电年初，上海无线电2222厂研制生产了厂研制生产了我国首台我国首台A A型显示脉冲反射式钢轨探伤型显示脉冲反射式钢轨探伤仪（仪（JGTJGT1 1），使我国钢轨超声波探伤），使我国钢轨超声波探伤跃上了一个新的台阶。跃上了一个新的台阶。19721972年两通道钢轨探伤仪年两通道钢轨探伤仪JGTJGT2 2问世；问世； 19831983年上海超声波仪器厂生产的年上海超声波仪器厂生产的JGTJGT3 3钢轨探伤仪具有四个通道，具有反射和钢轨探伤仪具有四个通道，具有反射和穿透式检测功能。穿透式检测功能。随着科技的不断发展，相继推出了随着科技的不断发展，相继推出了JGTJGT5 5、C

3、TCT1 1、SBSB1C1C、GTSGTS2 2、JGTJGT5DSS5DSS、BJGTBJGT6 6等钢轨探伤仪；等钢轨探伤仪；19961996年，上海皓天超声年，上海皓天超声电子有限公司研制出了电子有限公司研制出了JDT-6B/AJDT-6B/A型型6 6通道仪通道仪器，第一次把微机技术应用于探伤，实现了器，第一次把微机技术应用于探伤，实现了局部智能化。局部智能化。19931993年我国引进了美国年我国引进了美国PJTPJT公司生产的公司生产的SYSSYS10001000大型钢轨探伤车，从而使得我大型钢轨探伤车，从而使得我国的钢轨探伤工作从单一的小仪器探伤国的钢轨探伤工作从单一的小仪器探

4、伤发展到大小仪器互补进行钢轨探伤的局发展到大小仪器互补进行钢轨探伤的局面，目前广州、上海地铁均已采用互补面，目前广州、上海地铁均已采用互补模式，模式，一、超声波探伤仪的显示方式一、超声波探伤仪的显示方式第一节第一节 超声波探伤仪超声波探伤仪超声波探伤仪是利用超声波反射或透射原理检超声波探伤仪是利用超声波反射或透射原理检查工件缺陷的电子仪器。它的作用是产生电振查工件缺陷的电子仪器。它的作用是产生电振荡并加于探头晶片，激励晶片发射超声波；同荡并加于探头晶片，激励晶片发射超声波；同时将探头接收的信号进行放大，通过一定的形时将探头接收的信号进行放大，通过一定的形式显示出来，从而得到被探工件内部有无缺陷

5、式显示出来，从而得到被探工件内部有无缺陷及缺陷位置和大小等信息。及缺陷位置和大小等信息。 通常所说的超声波探伤仪，就是指通常所说的超声波探伤仪，就是指A A型显示的型显示的脉冲反射式探伤仪。它是以脉冲反射式探伤仪。它是以水平基线（水平基线（X X轴）轴）表示超声波传播的时间或距离表示超声波传播的时间或距离，用垂直基线用垂直基线（Y Y轴）表示缺陷回波大小轴）表示缺陷回波大小（幅度）的一种信（幅度）的一种信号显示方式。对同一均匀介质而言，由于超号显示方式。对同一均匀介质而言，由于超声波传播时间与缺陷的埋藏深度成正比，因声波传播时间与缺陷的埋藏深度成正比，因此可以此可以根据缺陷回波在示波屏水平线上

6、的位根据缺陷回波在示波屏水平线上的位置确定缺陷的深度置确定缺陷的深度，用回波幅度的高低来衡用回波幅度的高低来衡量缺陷的大小量缺陷的大小。A型显示型显示 A型显示型显示A A型显示的缺点：型显示的缺点：难难以判断缺陷的几何形以判断缺陷的几何形状，缺乏直观性。状，缺乏直观性。A A型显示具有型显示具有检波和检波和非检波非检波两种形式。两种形式。 这是一种能够显示被检工件横截面的图像这是一种能够显示被检工件横截面的图像，指示反射体大致尺寸及其相对位置的超，指示反射体大致尺寸及其相对位置的超声信息显示方法。荧光屏上声信息显示方法。荧光屏上横坐标代表探横坐标代表探头移动距离头移动距离，纵坐标代表超声波传

7、播时间纵坐标代表超声波传播时间（或距离）。（或距离）。基线随着探头的移动和回波基线随着探头的移动和回波时间的变化而变化，可以直观了解探头移时间的变化而变化，可以直观了解探头移动下方横截面的缺陷分布和离探测面的深动下方横截面的缺陷分布和离探测面的深度，度，获得探头扫查方向工件及缺陷的正投获得探头扫查方向工件及缺陷的正投影图影图。B型显示型显示B型显示型显示该方式可以直观地显示出被探工件任一纵截面该方式可以直观地显示出被探工件任一纵截面上缺陷的分布及缺陷的深度等信息。上缺陷的分布及缺陷的深度等信息。C C型显示是型显示是将探头接收到的缺陷信号以亮点和将探头接收到的缺陷信号以亮点和暗点方式来绘制出缺

8、陷的水平投影图，从而确暗点方式来绘制出缺陷的水平投影图，从而确定缺陷位置和大小的超声信息显示方法定缺陷位置和大小的超声信息显示方法。荧光。荧光屏显示的是被检工件的投影图，黑白显示不能屏显示的是被检工件的投影图，黑白显示不能表示出缺陷的埋藏深度，彩色显示借助门脉冲表示出缺陷的埋藏深度，彩色显示借助门脉冲将深度分成不同色阶，用不同颜色表示不同深将深度分成不同色阶，用不同颜色表示不同深度，则可估算缺陷的大约深度。由于钢轨结构度，则可估算缺陷的大约深度。由于钢轨结构的特殊性（工字型），的特殊性（工字型），此方法一般不应用于钢此方法一般不应用于钢轨探伤中轨探伤中。C型显示型显示C型显示型显示该方式可形象

9、地显示工件内部缺陷的平面投影该方式可形象地显示工件内部缺陷的平面投影图像，若以各点的亮度代表回波传播时间，则图像，若以各点的亮度代表回波传播时间，则也可得到缺陷深度分布。也可得到缺陷深度分布。二、超声波探伤仪的工作原理二、超声波探伤仪的工作原理A A型显示脉冲反射式型显示脉冲反射式超声波探伤仪自身超声波探伤仪自身发展形成三种形态发展形成三种形态模拟式模拟式数字式数字式数字模拟组合式数字模拟组合式模拟波形显示，旋扭控制，波形刻度读出。数字波形显示，数字参数控制，波形数字读出。模拟波形显示，旋扭控制，部分参数数字输入，波形数字读出。A A型显示脉冲反射式型显示脉冲反射式模拟式模拟式超声波探伤仪一般

10、由超声波探伤仪一般由同同步电路步电路、发射电路发射电路、扫描电路扫描电路、接收电路接收电路、显示显示电路电路、电源电路电源电路、探头探头和和辅助单元辅助单元（报警和深度（报警和深度补偿）等组成。补偿）等组成。同步电路是探伤仪的指挥中心。由其产生的周期同步电路是探伤仪的指挥中心。由其产生的周期性同步脉冲信号，性同步脉冲信号，一路输给扫描电路一路输给扫描电路产生线性良产生线性良好的锯齿波，经示波管水平偏转板在荧光屏上好的锯齿波，经示波管水平偏转板在荧光屏上产产生一条水平扫描基线生一条水平扫描基线；另一路触发发射电路另一路触发发射电路产生产生一个持续时间很短的高频电脉冲至探头内的压电一个持续时间很短

11、的高频电脉冲至探头内的压电晶片，激励晶片晶片，激励晶片产生超声波脉冲产生超声波脉冲。超声波透过耦。超声波透过耦合剂射入工件，遇工件界面或缺陷即产生反射回合剂射入工件，遇工件界面或缺陷即产生反射回波，又由探头接收转变成电脉冲输入高频放大器波，又由探头接收转变成电脉冲输入高频放大器，经检波电路再由视频放大电路进一步放大后加，经检波电路再由视频放大电路进一步放大后加到示波管的垂直偏转板上。到示波管的垂直偏转板上。工作原理工作原理这时荧光屏上的亮点不仅在水平线上按时间作线这时荧光屏上的亮点不仅在水平线上按时间作线性移动，而且受到垂直偏转板上的电压影响作垂性移动，而且受到垂直偏转板上的电压影响作垂直运动

12、，由此产生一幅与探头接收到的超声波传直运动，由此产生一幅与探头接收到的超声波传播时间和回波强度相对应的图形，从而在扫描线播时间和回波强度相对应的图形，从而在扫描线的相应位置上显示缺陷的深度和大小。此外，具的相应位置上显示缺陷的深度和大小。此外，具有报警和深度补偿功能的一起，也受到同步脉冲有报警和深度补偿功能的一起，也受到同步脉冲的控制，产生报警和进行深度补偿。的控制，产生报警和进行深度补偿。工作原理工作原理1.1.同步电路（触发电路）同步电路（触发电路）作用：产生数十数千赫兹作用：产生数十数千赫兹(Hz)(Hz)的同步脉冲，作的同步脉冲，作为发射电路、扫描电路以及其他辅助电路的触发为发射电路、

13、扫描电路以及其他辅助电路的触发脉冲，使各电路在时间上协调一致工作。脉冲，使各电路在时间上协调一致工作。重复频率重复频率：每秒钟内发射同步脉冲的次数每秒钟内发射同步脉冲的次数。重复频率的选择：视被检工件厚度进行调节。厚重复频率的选择：视被检工件厚度进行调节。厚度大，使用较低的重复频率；厚度小，可使用较度大，使用较低的重复频率；厚度小，可使用较高的重复频率。高的重复频率。幻象波幻象波：高重复频率使两次脉冲间隔时间变短，高重复频率使两次脉冲间隔时间变短，使未充分衰减的多次反射进入下一周期，形成的使未充分衰减的多次反射进入下一周期，形成的波形波形。同步电路同步电路2.扫描电路（时基电路）扫描电路（时基

14、电路）作用：产生锯齿波电压，施加到示波管水平偏转作用：产生锯齿波电压，施加到示波管水平偏转板上，使显示管荧光屏上的光点沿水平方向从左板上，使显示管荧光屏上的光点沿水平方向从左向右作等速移动，产生一条水平扫描时基线。向右作等速移动，产生一条水平扫描时基线。时基线调节时基线调节：测量范围（声速）粗调和细调测量范围（声速）粗调和细调：改变屏幕上显示：改变屏幕上显示的时间（距离）范围的大小，实质是调节扫描速的时间（距离）范围的大小，实质是调节扫描速度（锯齿波的斜率）。度（锯齿波的斜率）。延迟延迟：调节屏幕上显示的时间范围的起点，即时：调节屏幕上显示的时间范围的起点，即时基电路触发的延迟时间。将同步信号

15、延迟一段时基电路触发的延迟时间。将同步信号延迟一段时间后触发扫描电路，使扫描延迟一段时间开始。间后触发扫描电路，使扫描延迟一段时间开始。扫描电路扫描电路3.扫描电路（时基电路）扫描电路（时基电路）作用：产生锯齿波电压，施加到示波管水平偏转作用：产生锯齿波电压，施加到示波管水平偏转板上，使显示管荧光屏上的光点沿水平方向从左板上，使显示管荧光屏上的光点沿水平方向从左向右作等速移动，产生一条水平扫描时基线。向右作等速移动，产生一条水平扫描时基线。测量范围（声速）粗调和细调测量范围（声速）粗调和细调：改变屏幕上显示：改变屏幕上显示的时间（距离）范围的大小，实质是调节扫描速的时间（距离）范围的大小，实质

16、是调节扫描速度（锯齿波的斜率）。度（锯齿波的斜率）。延迟延迟：调节屏幕上显示的时间范围的起点，即时：调节屏幕上显示的时间范围的起点，即时基电路触发的延迟时间，从而改变扫描起点。基电路触发的延迟时间，从而改变扫描起点。探伤时，可根据被检工件的厚度选择适当的探测探伤时，可根据被检工件的厚度选择适当的探测范围，使荧光屏水平轴每刻度代表一定的距离，范围，使荧光屏水平轴每刻度代表一定的距离，从而达到确定缺陷位置的目的从而达到确定缺陷位置的目的。扫描电路扫描电路4.发射电路发射电路作用：电脉冲信号发生器，产生高压电脉冲施作用：电脉冲信号发生器，产生高压电脉冲施加到压电晶片上产生脉冲超声波。加到压电晶片上产

17、生脉冲超声波。电路形式有以下两种电路形式有以下两种：调谐式调谐式：电路谐振频率由电路中的电感、电容：电路谐振频率由电路中的电感、电容决定，发出的超声波脉冲频带较窄。谐振频率决定，发出的超声波脉冲频带较窄。谐振频率调谐到与探头的固有频率相一致。调谐到与探头的固有频率相一致。非调谐式非调谐式：发射一短脉冲（尖脉冲或方波），：发射一短脉冲（尖脉冲或方波），脉冲频带较宽，可适应不同频带范围的探头。脉冲频带较宽，可适应不同频带范围的探头。发射电路发射电路接收电路接收电路接收电路及其波形接收电路及其波形5.接收电路接收电路将来自探头的微弱回波电信号进行多级放大、检将来自探头的微弱回波电信号进行多级放大、检

18、波后输至显示电路（在示波屏在显示）。波后输至显示电路（在示波屏在显示）。接收电接收电路性能直接影响探伤仪的垂直线性、动态范围、路性能直接影响探伤仪的垂直线性、动态范围、探伤灵敏度余量、分辨率等技术指标探伤灵敏度余量、分辨率等技术指标。组成：衰减器、高频放大器、检波器和视频放大组成：衰减器、高频放大器、检波器和视频放大器等器等。接收电路接收电路衰减器衰减器：对信号幅度定量调节，给出不同信：对信号幅度定量调节，给出不同信号幅度差的精确读数，用于不同信号幅度的号幅度差的精确读数，用于不同信号幅度的比较；将超出显示器幅度范围的过大信号衰比较；将超出显示器幅度范围的过大信号衰减到显示器可显示的幅度。减到

19、显示器可显示的幅度。高频放大电路高频放大电路：将衰减器输出的射频信号进：将衰减器输出的射频信号进行放大。行放大。检波电路检波电路：将探头接收到的射频信号转换成：将探头接收到的射频信号转换成视频信号，以检波的形式显示。视频信号，以检波的形式显示。接收电路接收电路抑制电路抑制电路：用于将幅度较小的一部分信号截去，：用于将幅度较小的一部分信号截去，不在显示屏上显示。使用抑制时，仪器的垂直线不在显示屏上显示。使用抑制时，仪器的垂直线性和动态范围均会下降。性和动态范围均会下降。目的是为了减少杂波目的是为了减少杂波。阻塞阻塞：在使用收发并用的单晶片探头以脉冲反射：在使用收发并用的单晶片探头以脉冲反射法进行

20、检测时，很高的发射脉冲在激励探头晶片法进行检测时，很高的发射脉冲在激励探头晶片的同时也直接进入接收电路，形成始波。由于发的同时也直接进入接收电路，形成始波。由于发射脉冲电压很高，在短时间内放大器的放大量会射脉冲电压很高，在短时间内放大器的放大量会降低，甚至没有放大作用。降低，甚至没有放大作用。盲区盲区：由于发射脉冲自身宽度和放大器的阻塞现：由于发射脉冲自身宽度和放大器的阻塞现象，在靠近始波的一段时间范围内，所要求发现象，在靠近始波的一段时间范围内，所要求发现的缺陷往往不能发现。这段时间所对应的入射面的缺陷往往不能发现。这段时间所对应的入射面进入试件的深度距离，称为盲区。进入试件的深度距离，称为

21、盲区。主要性能主要性能根据铁道部技术标准根据铁道部技术标准A A型脉冲反射式超声波探伤型脉冲反射式超声波探伤仪通用技术条件仪通用技术条件（JB/T 10061-1999JB/T 10061-1999）规定，）规定，超声波通用探伤仪需具备以下主要性能：超声波通用探伤仪需具备以下主要性能：u水平线性水平线性：探伤仪荧光屏时间或距离轴线上显：探伤仪荧光屏时间或距离轴线上显示的信号与输入接收信号成正比关系的程度。示的信号与输入接收信号成正比关系的程度。按按标准其误差不大于标准其误差不大于2%2%。u垂直线性垂直线性：探伤仪荧光屏上显示信号幅度与输：探伤仪荧光屏上显示信号幅度与输入接收器的信号幅度成正比

22、关系的程度。入接收器的信号幅度成正比关系的程度。按标准按标准其误差不大于其误差不大于8%8%。u动态范围动态范围：在增益调节不变时，探伤仪荧光屏：在增益调节不变时，探伤仪荧光屏上能分辨的最大与最小反射面积波高之比，即反上能分辨的最大与最小反射面积波高之比，即反射波高从射波高从100%100%到消失所需要的衰减量。到消失所需要的衰减量。按标准不按标准不小于小于26dB26dB。三、超声波探伤仪的主要性能三、超声波探伤仪的主要性能主要性能主要性能u灵敏度余量灵敏度余量：在超声探伤系统中，以一定电平：在超声探伤系统中，以一定电平表示的标准缺陷探测灵敏度与最大探测灵敏度之表示的标准缺陷探测灵敏度与最大

23、探测灵敏度之间的差值，间的差值，其含义是仪器和探头组合检测最小缺其含义是仪器和探头组合检测最小缺陷的能力陷的能力。u分辨力分辨力：超声探伤系统能够区分横向、纵向或超声探伤系统能够区分横向、纵向或深度方向相距最近的一定大小的两个相邻缺陷的深度方向相距最近的一定大小的两个相邻缺陷的能力能力。u盲区盲区：在一定的探伤灵敏度下，从探测面到最在一定的探伤灵敏度下，从探测面到最近可探缺陷在被检工件中的深度近可探缺陷在被检工件中的深度。u电噪声电平电噪声电平：荧光屏上电噪声平均幅度在垂直：荧光屏上电噪声平均幅度在垂直刻度上的百分比。刻度上的百分比。一、超声波探头的工作原理一、超声波探头的工作原理第二节第二节

24、 超声波探头超声波探头探头：以探头：以超声换能器超声换能器为主要元件组装成具有一为主要元件组装成具有一定特性的超声发射、接收器件。定特性的超声发射、接收器件。超声波探头是超声波探头是组成超声检测系统的最重要的组件之一。探头组成超声检测系统的最重要的组件之一。探头的性能直接影响超声检测的能力和效果。的性能直接影响超声检测的能力和效果。超声换能器超声换能器：将其他形式能量转换成超音频振：将其他形式能量转换成超音频振动形式能量的器件可用来发射超声波，具有可动形式能量的器件可用来发射超声波，具有可逆效应时又可用来接收超声波。逆效应时又可用来接收超声波。超声换能器的种类超声换能器的种类压电换能器压电换能

25、器磁致伸缩换能器磁致伸缩换能器电磁声换能器电磁声换能器激光换能器激光换能器压电晶片压电晶片探头的关键部件探头的关键部件压电晶片作用压电晶片作用：将电能转换成声能，并将声能转：将电能转换成声能，并将声能转换成电能。换成电能。正压电效应（声能正压电效应（声能电能）电能）：某些晶体材料在交：某些晶体材料在交变拉压应力的作用下，产生交变电场的效应；变拉压应力的作用下，产生交变电场的效应；逆压电效应（电能逆压电效应（电能声能）声能）：当晶体材料在交变：当晶体材料在交变电场作用下，产生伸缩变形的效应。电场作用下，产生伸缩变形的效应。压电效应压电效应：正、逆压电效应的统称。：正、逆压电效应的统称。压电材料压

26、电材料：具有压电效应的：具有压电效应的单晶和多晶材料单晶和多晶材料。多多晶材料又称压电陶瓷晶材料又称压电陶瓷。压电材料的主要性能参数压电材料的主要性能参数1.1.压电应变常数压电应变常数d d3333：在压电晶体上施加单位电压：在压电晶体上施加单位电压时产生的应变大小。时产生的应变大小。衡量压电晶体材料发射灵敏度高低的重要参数。衡量压电晶体材料发射灵敏度高低的重要参数。2.2.压电电压常数压电电压常数 g g3333：作用在压电晶体上单位应力：作用在压电晶体上单位应力所产生的电压梯度大小。所产生的电压梯度大小。衡量压电晶体材料接收灵敏度高低的重要参数。衡量压电晶体材料接收灵敏度高低的重要参数。

27、3.3.介电常数介电常数：介质的介电性质。：介质的介电性质。4.4.机电耦合系数机电耦合系数 K K: : 表示压电材料机械能（声能）表示压电材料机械能（声能）与电能之间的转换效率。与电能之间的转换效率。输入的能量转换的能量K输入的机械能转换的电能K输入的电能转换的机械能K 正压电效应： 逆压电效应： （声能（声能电能）电能）（电能（电能声能）声能）5.5.机械品质因子机械品质因子mm：压电晶片在谐振时储存的机：压电晶片在谐振时储存的机械能与在一个周期内损耗的能量之比。械能与在一个周期内损耗的能量之比。6.6.频率常数频率常数N Nt t：压电晶片的厚度与固有频率的乘：压电晶片的厚度与固有频率

28、的乘积。积。7.7.居里温度居里温度T TC C：使压电材料的压电效应消失的温：使压电材料的压电效应消失的温度。度。损储EEm机电耦合系数机电耦合系数K K较大较大，以便获得较高的转换效率。，以便获得较高的转换效率。机械品质因子机械品质因子mm较小较小，以便获得较高的分辨率和，以便获得较高的分辨率和较小的盲区。较小的盲区。压电应变常数压电应变常数d d3333和压电电压常数和压电电压常数 g g3333较大较大，以便获，以便获得较高的发射灵敏度和接收灵敏度。得较高的发射灵敏度和接收灵敏度。频率常数频率常数N Nt t较大较大，介电常数，介电常数较小较小，以便获得较高，以便获得较高的频率。的频率

29、。居里温度居里温度T TC C较高较高，声阻抗，声阻抗Z Z适当适当。二、超声波探头的组成结构二、超声波探头的组成结构压电换能器探头由压电换能器探头由压电晶片压电晶片、阻尼块阻尼块、接头接头、电缆线电缆线、保护膜保护膜和和外壳外壳组成。斜探头有一个使组成。斜探头有一个使晶片与入射面成一定角度的晶片与入射面成一定角度的斜楔块斜楔块。接收和发射超声波，实现电声换能接收和发射超声波，实现电声换能。晶片性能。晶片性能决定探头性能。决定探头性能。晶片的尺寸和频率决定发射声场的强度、距离晶片的尺寸和频率决定发射声场的强度、距离波幅特性和指向性。晶片制作质量关系到探头波幅特性和指向性。晶片制作质量关系到探头

30、的声场对称型、分辨力、信噪比等特性。的声场对称型、分辨力、信噪比等特性。1. 压电晶片压电晶片压电晶片压电晶片单晶材料单晶材料多晶陶瓷材料多晶陶瓷材料石英、硫酸锂等石英、硫酸锂等钛酸钡、钛酸钡、钛酸铝钛酸铝等等与晶片或楔块组合具有较高阻尼效率的块状物与晶片或楔块组合具有较高阻尼效率的块状物体称为阻尼块。阻尼块由环氧树脂和钨粉等按体称为阻尼块。阻尼块由环氧树脂和钨粉等按一定比例配成的阻尼材料，一定比例配成的阻尼材料，对压电晶片的惯性对压电晶片的惯性振动起阻尼作用，减少脉冲宽度和杂信号的干振动起阻尼作用，减少脉冲宽度和杂信号的干扰，提高分辨力；吸收晶片向背面发射的超声扰，提高分辨力；吸收晶片向背面

31、发射的超声波；对晶片起支承作用波；对晶片起支承作用。2.阻尼块和吸声材料阻尼块和吸声材料保护压电晶片不致磨损和损坏。有保护压电晶片不致磨损和损坏。有硬质保护膜硬质保护膜（如陶瓷、金属片等）和（如陶瓷、金属片等）和软质保护膜软质保护膜（如有机（如有机玻璃、聚氨酯薄膜、尼龙等）。硬质保护膜虽玻璃、聚氨酯薄膜、尼龙等）。硬质保护膜虽然耐磨，但耦合条件要求高，透声性能差；软然耐磨，但耦合条件要求高，透声性能差；软质保护膜一般比硬质保护膜的透声性能高质保护膜一般比硬质保护膜的透声性能高3535倍倍，且具有良好的耦合条件。因此，且具有良好的耦合条件。因此对探测面关洁对探测面关洁度较差的工件多使用软质保护膜

32、度较差的工件多使用软质保护膜，钢轨探伤钢轨探伤使使用的探头保护膜用的探头保护膜一般选用尼龙一般选用尼龙10101010材料材料，其衰，其衰减系数为减系数为5dB/cm5dB/cm左右，具有良好的透声性。左右，具有良好的透声性。3.保护膜保护膜使超声波倾斜入射到检测面而装在晶片前面的楔使超声波倾斜入射到检测面而装在晶片前面的楔块。斜探头与直探头的不同就是多了一块透声的块。斜探头与直探头的不同就是多了一块透声的斜楔块。斜楔块。其作用其作用一是产生波形转换一是产生波形转换，将纵波转换，将纵波转换成横波也可以转换成表面波或板波，这取决于斜成横波也可以转换成表面波或板波，这取决于斜楔的倾角；楔的倾角；二

33、是二是使用斜楔内多次反射波不返回晶使用斜楔内多次反射波不返回晶片处，以片处，以减少杂波的干扰减少杂波的干扰。常见楔块的前部和上。常见楔块的前部和上部的消声槽就是减少杂波的措施之一。部的消声槽就是减少杂波的措施之一。斜楔中的斜楔中的纵波波速须小于工件中的纵波波速纵波波速须小于工件中的纵波波速。斜楔块的采。斜楔块的采用材料是有机玻璃，它具有加工方便，衰减系数用材料是有机玻璃，它具有加工方便，衰减系数适宜的优点。适宜的优点。4.斜楔斜楔使超声波倾斜入射到检测面而装在晶片前面的楔使超声波倾斜入射到检测面而装在晶片前面的楔块。斜探头与直探头的不同就是多了一块透声的块。斜探头与直探头的不同就是多了一块透声

34、的斜楔块。斜楔块。其作用其作用一是产生波形转换一是产生波形转换，将纵波转换，将纵波转换成横波也可以转换成表面波或板波，这取决于斜成横波也可以转换成表面波或板波，这取决于斜楔的倾角；楔的倾角；二是二是使用斜楔内多次反射波不返回晶使用斜楔内多次反射波不返回晶片处，以片处，以减少杂波的干扰减少杂波的干扰。常见楔块的前部和上。常见楔块的前部和上部的消声槽就是减少杂波的措施之一。部的消声槽就是减少杂波的措施之一。斜楔中的斜楔中的纵波波速须小于工件中的纵波波速纵波波速须小于工件中的纵波波速。斜楔块的采。斜楔块的采用材料是有机玻璃，它具有加工方便，衰减系数用材料是有机玻璃，它具有加工方便，衰减系数适宜的优点

35、。适宜的优点。4.斜楔斜楔超声波探头超声波探头 按波形分按波形分按频谱分按频谱分按晶片数分按晶片数分板波探头板波探头纵波探头纵波探头宽频探头宽频探头窄频探头窄频探头单晶片探头单晶片探头双晶片探头双晶片探头多晶片探头多晶片探头三三. 超声波探头的分类超声波探头的分类横波探头横波探头表面波探头表面波探头按耦合方式分按耦合方式分直接接触探头直接接触探头间接接触探头（液水浸探头）间接接触探头（液水浸探头）按波的传播方向分按波的传播方向分直探头直探头斜探头斜探头可变角探头可变角探头发射垂直于探头表面传播的纵波，直接接触工发射垂直于探头表面传播的纵波，直接接触工件表面的方式入射纵波检测。件表面的方式入射纵

36、波检测。主要用于检测与检测面平行或近似平行的缺陷主要用于检测与检测面平行或近似平行的缺陷（板材、锻件）。（板材、锻件）。钢轨探伤中主要用于探测焊钢轨探伤中主要用于探测焊缝缺陷缝缺陷。主要参数主要参数：频率、晶片尺寸频率、晶片尺寸。宽频探头灵敏度高，窄频探头分辨率高宽频探头灵敏度高，窄频探头分辨率高。1. 接触式纵波直探头接触式纵波直探头u共同特点共同特点：压电晶片贴在一斜楔上，晶片与探：压电晶片贴在一斜楔上，晶片与探头表面成一定倾角。头表面成一定倾角。u纵波斜探头纵波斜探头（LL） ：利用小角度的纵：利用小角度的纵波进行缺陷检测；利用纵波穿透能力强的特点进波进行缺陷检测；利用纵波穿透能力强的特

37、点进行纵波斜入射检测。使用时应注意工件中同时行纵波斜入射检测。使用时应注意工件中同时存存在的横波的干扰在的横波的干扰。u横波斜探头横波斜探头（LL=） ：折射波为纯：折射波为纯横波。结构为直探头加斜楔。横波。结构为直探头加斜楔。主要用于检测与探主要用于检测与探测面成一定角度的缺陷测面成一定角度的缺陷。2. 接触式斜探头接触式斜探头u横波斜探头横波斜探头（LL=） ：折射波为纯：折射波为纯横波。结构为直探头加斜楔。横波。结构为直探头加斜楔。主要用于检测与探主要用于检测与探测面成一定角度的缺陷测面成一定角度的缺陷。u表面波探头表面波探头（LL） ：入射角在产生瑞：入射角在产生瑞利波的临界角附近，通

38、常比利波的临界角附近，通常比略大。结构与横略大。结构与横波斜探头一样。波斜探头一样。用于检测表面和近表面缺陷用于检测表面和近表面缺陷。u兰姆波探头兰姆波探头：角度根据板厚、频率和所选的兰：角度根据板厚、频率和所选的兰姆波模式而定。姆波模式而定。用于检测薄板中缺陷用于检测薄板中缺陷。u可变角探头可变角探头：入射角可变。：入射角可变。入射角变化范围为入射角变化范围为0 07070，可实现各种波形的检测。，可实现各种波形的检测。分类分类：双晶纵波探头双晶纵波探头（LL）、）、 双晶横波探头双晶横波探头（LL=）。）。结构结构：双晶探头有分别用于发射和接收的两块压电晶：双晶探头有分别用于发射和接收的两

39、块压电晶片，中间夹有隔声层。片，中间夹有隔声层。优点优点：灵敏度高、杂波少盲区小、工件中近场区长度：灵敏度高、杂波少盲区小、工件中近场区长度小、探测范围可调。小、探测范围可调。主要用于主要用于：检测近表面缺陷和已知缺陷的定点测量。：检测近表面缺陷和已知缺陷的定点测量。主要参数主要参数：频率、晶片尺寸和声束汇聚区。：频率、晶片尺寸和声束汇聚区。3. 双晶探头（分割探头）双晶探头（分割探头） 双晶片声场重叠区域灵敏度最双晶片声场重叠区域灵敏度最高高, ,一般用于定向定位检测。一般用于定向定位检测。 两片晶片分别粘两片晶片分别粘贴在软木隔音层贴在软木隔音层两侧的延迟块上，两侧的延迟块上，分别用来发射

40、和分别用来发射和接收超声波，其接收超声波，其优点是减少纵波优点是减少纵波单晶片探头存在单晶片探头存在的阻塞，提高对的阻塞，提高对近场区的探测能近场区的探测能力，还可以调节力，还可以调节两延迟块角度使两延迟块角度使声束能力集中在声束能力集中在所需区域。所需区域。钢轨探伤时所用的钢轨探伤时所用的0 0探头是双晶片直探头，探头是双晶片直探头，3737、7070和小角度（和小角度（1818）探头是双晶片斜探头。）探头是双晶片斜探头。0 0探头探头与钢轨探伤仪组合使用与钢轨探伤仪组合使用具有反射式和穿透具有反射式和穿透式两种探伤功能式两种探伤功能，主要用于检测轨腰投影范围内的主要用于检测轨腰投影范围内的

41、水平裂纹、纵向裂纹和有一定长度的斜裂纹水平裂纹、纵向裂纹和有一定长度的斜裂纹。双晶片双晶片斜探头斜探头在钢轨探伤中在钢轨探伤中主要用于反射式探伤主要用于反射式探伤， 7070探头探头主要用于检测钢轨头部横向裂纹，如轨头主要用于检测钢轨头部横向裂纹，如轨头核伤；核伤； 3737探头探头主要用于检测轨腰投影范围内的斜裂纹和主要用于检测轨腰投影范围内的斜裂纹和与轨端或螺孔相连的水平裂纹。与轨端或螺孔相连的水平裂纹。点聚焦点聚焦：声透镜为球面，理想焦点为一点；：声透镜为球面，理想焦点为一点；线聚焦线聚焦：声透镜为柱面，理想焦点为一条线。：声透镜为柱面，理想焦点为一条线。接触聚焦接触聚焦：通过薄层耦合介

42、质与工件接触。：通过薄层耦合介质与工件接触。主要参数主要参数：频率、晶片尺寸和焦距。：频率、晶片尺寸和焦距。4. 接触式聚焦探头接触式聚焦探头透镜式透镜式聚焦聚焦反射式反射式聚焦聚焦曲面晶片式曲面晶片式聚焦聚焦水浸法水浸法：以水为耦合介质，探头不：以水为耦合介质，探头不与工件直接接触。与工件直接接触。水浸平探头水浸平探头：在水中使用的纵波平在水中使用的纵波平探头探头。当改变探头倾角使声束从水。当改变探头倾角使声束从水中倾斜入射至工件表面，也可通过中倾斜入射至工件表面，也可通过折射在工件中产生纯横波。折射在工件中产生纯横波。水浸聚焦探头水浸聚焦探头：在水浸平探头前加在水浸平探头前加上声透镜上声透

43、镜产生聚焦声束。产生聚焦声束。5. 水浸平探头和水浸聚焦探头水浸平探头和水浸聚焦探头水浸聚焦探头水浸聚焦探头6.原子反应堆高温探头原子反应堆高温探头7.电磁超声探头电磁超声探头8.爬波探头爬波探头爬波爬波：表面下的纵波表面下的纵波。当纵波以第一临界角。当纵波以第一临界角附近的角度入射到界面时，会在第二介质中产生附近的角度入射到界面时，会在第二介质中产生表面下纵波，即爬波。表面下纵波，即爬波。爬波探头：结构与横波探头类似，入射角不同。爬波探头：结构与横波探头类似，入射角不同。爬波探头辐射的声场爬波探头辐射的声场四、超声波探头的型号和表示方法四、超声波探头的型号和表示方法基本频率基本频率晶片材料晶

44、片材料晶片尺寸晶片尺寸探头种类探头种类特征特征晶片材料表示法晶片材料表示法锆钛酸铅陶瓷锆钛酸铅陶瓷钛酸钡陶瓷钛酸钡陶瓷钛酸铅陶瓷钛酸铅陶瓷铌酸锂单晶铌酸锂单晶碘酸锂单晶碘酸锂单晶石英单晶石英单晶其它压电材料其它压电材料代号代号压电材料压电材料探头种类表达法探头种类表达法FGFGSJSJBMBMKBKB直探头直探头斜探头（用表示）斜探头（用表示）斜探头（折射角表示）斜探头（折射角表示）联合双探头（分割探头）联合双探头（分割探头）水浸探头水浸探头表面波探头表面波探头可变角探头可变角探头代号代号探头名称探头名称基本频率基本频率晶片材料晶片材料晶片尺寸晶片尺寸探头种类探头种类特征特征2.5 20 直探

45、头直探头圆晶片直径圆晶片直径20钛酸钡陶瓷钛酸钡陶瓷频率频率2.5MHz 5 P 66 3表示折射角表示折射角矩形晶片矩形晶片66钛酸铅陶瓷钛酸铅陶瓷频率频率5MHz值为值为3五、影响探伤结果的因素五、影响探伤结果的因素u垂直线性垂直线性会影响缺陷当量大小判定会影响缺陷当量大小判定u水平线性水平线性影响缺陷定位，非缺陷波的识影响缺陷定位，非缺陷波的识别别u盲区盲区影响近表面的缺陷的检测影响近表面的缺陷的检测1.仪器与探头组合性能仪器与探头组合性能u频率频率理论上能够发现的最小缺陷是波长理论上能够发现的最小缺陷是波长的的1/21/2，在能保证穿透的前提下，选高一些频率，在能保证穿透的前提下，选高

46、一些频率u直径直径直径大，发射功率大，能探厚度直径大，发射功率大，能探厚度大的工件，工作大的工件，工作 效率高，但近场区长度增效率高，但近场区长度增加，近场区内易漏缺陷，波高不稳。加，近场区内易漏缺陷，波高不稳。uK K值值根据厚度和焊缝宽度选择，应一根据厚度和焊缝宽度选择，应一次波越过背面对过焊缝边缘，薄板选大一些次波越过背面对过焊缝边缘，薄板选大一些，厚板选小一些，保证扫查到整个面。，厚板选小一些，保证扫查到整个面。2.探头探头超声波探伤时在探头与工件之间如存在空气，超声波探伤时在探头与工件之间如存在空气，由于空气声阻抗比较大，超声波不能被导入工由于空气声阻抗比较大，超声波不能被导入工件，

47、必须使用一种液体件，必须使用一种液体消除间隙，在探头与件消除间隙，在探头与件之间起透声的作用，这就是耦合剂之间起透声的作用，这就是耦合剂。耦合剂耦合剂应选用声阻抗（密度与声速乘积）应选用声阻抗（密度与声速乘积）比较大的比较大的，常用耦合剂的有机油、水玻璃、甘，常用耦合剂的有机油、水玻璃、甘油、水、化学浆糊等。油、水、化学浆糊等。3.耦合耦合耦合层厚度耦合层厚度理论上耦合层厚度为波长理论上耦合层厚度为波长1/21/2的的整数倍时透声效果最好，耦合层厚度为波长的整数倍时透声效果最好，耦合层厚度为波长的1/41/4的奇数倍时透声效果最差，实际工作中一般的奇数倍时透声效果最差，实际工作中一般尽可能使耦

48、合层薄一些。尽可能使耦合层薄一些。工件表面粗糙影响，要求工件表面的粗糙度不工件表面粗糙影响，要求工件表面的粗糙度不高于高于6.36.3m m。4.4.探伤灵敏度探伤灵敏度灵敏度选择过高时探伤时反射的杂波太多灵敏度选择过高时探伤时反射的杂波太多, ,影响影响缺陷波的识别缺陷波的识别, ,灵敏度过低时会漏掉缺陷。灵敏度过低时会漏掉缺陷。5.5.仪器时间扫描线调试的正确性，斜探头仪器时间扫描线调试的正确性，斜探头K K值测值测试的正确性试的正确性会影响缺陷的定位或对非缺陷信号会影响缺陷的定位或对非缺陷信号的判别。的判别。6.6.手工探伤时探头的移动速度手工探伤时探头的移动速度过快，缺陷波显过快，缺陷

49、波显示不够亮，易漏掉缺陷。示不够亮，易漏掉缺陷。一、工件的准备一、工件的准备第三节第三节 超声波探伤前的准备超声波探伤前的准备1.1.了解被测工件了解被测工件探伤前应了解被检工件的材料特性、制造工艺探伤前应了解被检工件的材料特性、制造工艺、表面状况、缺陷种类及受检部位的受力方向、表面状况、缺陷种类及受检部位的受力方向等，确定探伤方法、检测部位。等，确定探伤方法、检测部位。2.2.处理探测面处理探测面探测面如被氧化生锈、或粘着异物、涂层、高探测面如被氧化生锈、或粘着异物、涂层、高温处理后的表面和凹凸不平等，则必须在探伤温处理后的表面和凹凸不平等，则必须在探伤前进行处理，以保证探头与探测面之间的良

50、好前进行处理，以保证探头与探测面之间的良好耦合。耦合。二、仪器和探头的选择二、仪器和探头的选择1.1.探伤仪探伤仪探伤仪应垂直和水平线性好、分辨力强、灵敏度高探伤仪应垂直和水平线性好、分辨力强、灵敏度高、动态范围大、盲区小、衰减器精度高。因此应经、动态范围大、盲区小、衰减器精度高。因此应经常对仪器性能进行测试，对达不到标准的仪器应及常对仪器性能进行测试，对达不到标准的仪器应及时调试、修理。时调试、修理。2.2.探头探头应根据探测要求，选用合适的探头。如钢轨形状复应根据探测要求，选用合适的探头。如钢轨形状复杂，缺陷取向不同，在选择探头时既有纵波直探头杂，缺陷取向不同，在选择探头时既有纵波直探头又

51、有横波斜探头。在选用斜探头时，应根据缺陷取又有横波斜探头。在选用斜探头时，应根据缺陷取向尽可能使声束与缺陷垂直的原则选取向尽可能使声束与缺陷垂直的原则选取K K值。当工值。当工件较薄时，应选用件较薄时，应选用K K值较大，以避免近场区探伤。值较大，以避免近场区探伤。三、探伤灵敏度的校准三、探伤灵敏度的校准探伤灵敏度是指在确定的声程范围内发现规定大探伤灵敏度是指在确定的声程范围内发现规定大小缺陷的能力。其基本要求是发现工件中规定大小缺陷的能力。其基本要求是发现工件中规定大小的缺陷，并对缺陷进行定量。小的缺陷，并对缺陷进行定量。探伤灵敏度大小探伤灵敏度大小应适宜：太高，显示屏上杂波过多，判辨分析困

52、应适宜：太高，显示屏上杂波过多，判辨分析困难；太低，容易造成漏检。难；太低，容易造成漏检。1.1.试块调节法试块调节法根据不同工件要求选定相应试块，利用试块中的根据不同工件要求选定相应试块，利用试块中的人工缺陷作基准以确定探伤灵敏度，必要时需根人工缺陷作基准以确定探伤灵敏度，必要时需根据试块与工件的材质、形状和表面关洁度的差别据试块与工件的材质、形状和表面关洁度的差别作必要的补偿。作必要的补偿。2.2.底面调节法底面调节法以工件底面作为基准反射体，将其底波调至规定的以工件底面作为基准反射体，将其底波调至规定的基准波高，以此作为探伤灵敏度。这种调节方法需基准波高，以此作为探伤灵敏度。这种调节方法

53、需注意选择的部位存在底面锈蚀、倾斜以及与其他零注意选择的部位存在底面锈蚀、倾斜以及与其他零件接触影响基准波高的情况，如件接触影响基准波高的情况，如钢轨探伤中以轨底钢轨探伤中以轨底作为作为0 0探头灵敏度调节是应注意上述影响探头灵敏度调节是应注意上述影响。3.3.探伤灵敏度的调整量探伤灵敏度的调整量探伤灵敏度的一般调节方法是：先将探头置于校准探伤灵敏度的一般调节方法是：先将探头置于校准试块上，调节增益使基准反射体最高回波达基准高试块上，调节增益使基准反射体最高回波达基准高度，此时得到了调节基准。再根据计算所得的调节度，此时得到了调节基准。再根据计算所得的调节基准与检测灵敏度基准之间的基准与检测灵

54、敏度基准之间的dBdB差，使用衰减器调差，使用衰减器调整该整该dBdB数，就能达到所需的探伤灵敏度。数，就能达到所需的探伤灵敏度。四、探头在工件表面的扫查方式四、探头在工件表面的扫查方式探头在工件表面的扫查方式，以探头在工件探测探头在工件表面的扫查方式，以探头在工件探测面上的相对位置和运动轨迹来表示，探头的运动面上的相对位置和运动轨迹来表示，探头的运动过程就是工件被检部位受到声束扫查的过程过程就是工件被检部位受到声束扫查的过程。扫扫查方式查方式多种多样，没有一定的限制，其多种多样，没有一定的限制，其选择原则选择原则主要有两条主要有两条：一是保证工件的整个被检区域有足一是保证工件的整个被检区域有

55、足够的声束覆盖，避免漏检够的声束覆盖，避免漏检；二是探头的移动应使二是探头的移动应使其入射声束尽可能与工件缺陷反射面垂直，以便其入射声束尽可能与工件缺陷反射面垂直，以便获得最佳检测效果获得最佳检测效果。1.1.全面扫查全面扫查全面扫描就是探头在整个探测面上无一遗漏全面扫描就是探头在整个探测面上无一遗漏地循序移动，要求相邻扫查间距不大于探头地循序移动，要求相邻扫查间距不大于探头直径，直径，常用于要求较高的工件探伤常用于要求较高的工件探伤。2.局部扫查局部扫查局部扫查就是探头在整个探测面上按规定要局部扫查就是探头在整个探测面上按规定要求有一定间距地规则移动、相邻扫查线往往求有一定间距地规则移动、相

56、邻扫查线往往大于探头直径。这种扫查方式大于探头直径。这种扫查方式常用于对探伤常用于对探伤要求不太高的工件要求不太高的工件，如钢板探伤等。，如钢板探伤等。第四节第四节 常用超声波探伤仪常用超声波探伤仪GJT系列 探伤灵敏度高 性能稳定 适用环境强 操作简便模拟型系列 可靠性好 性噪比高 探测范围大 易于分辨数字型系列 智能型强 操作界面简单 数据存储 体积轻便二、二、JGT-6钢轨探伤仪工作原理及使用钢轨探伤仪工作原理及使用JGT-6型钢轨探伤仪也称为型钢轨探伤仪也称为钢轨探伤小车钢轨探伤小车，是装有，是装有检测轨道上钢轨伤损设备的专用小车。该仪器具有检测轨道上钢轨伤损设备的专用小车。该仪器具有

57、6个探伤通道，含有个探伤通道，含有2个个70探头、探头、2个个37探头探头及及1个个0探头。在使用过程中，探头。在使用过程中，6通道通道0探头一探头一般不用，般不用，18与与37探头不同时使用。该仪器除探头不同时使用。该仪器除轨面声束无法涉及的部位外，轨面声束无法涉及的部位外，可同时用反射法或穿可同时用反射法或穿透法探测钢轨的轨头伤、螺孔裂纹、轨腰水平或纵透法探测钢轨的轨头伤、螺孔裂纹、轨腰水平或纵向裂纹、轨底裂纹和焊接裂纹等多种伤损向裂纹、轨底裂纹和焊接裂纹等多种伤损。JGT-6JGT-6钢轨探伤仪探头设置钢轨探伤仪探头设置该探头组合形式从该探头组合形式从JGT-3JGT-3钢轨探伤仪开始使

58、用，钢轨探伤仪开始使用，JGT-6JGT-6钢轨探伤仪增加了钢轨探伤仪增加了1818探头，是探头，是目前使用最多的探头组合方法目前使用最多的探头组合方法。该组合将该组合将37 37 探头和探头和18 18 探头通过转换在探头通过转换在3 3、4 4通道进行显示。通道进行显示。该组合存在的该组合存在的缺点是轨头探测盲区较大缺点是轨头探测盲区较大。6 6通道一般不进行钢轨探伤检测通道一般不进行钢轨探伤检测。该组合适用于目前所有的钢轨探伤仪该组合适用于目前所有的钢轨探伤仪。3737 0 07070 707018182 20 03 3通道通道37376 6通道通道5 5通道通道 4 4通道通道2 2通

59、道通道 1 1通道通道3 3、4 4通道通道声源产生并采用一声源产生并采用一定的方式使超声波定的方式使超声波进入工作进入工作声波在工件中传声波在工件中传播并与工件材料播并与工件材料以及其中的缺陷以及其中的缺陷相互作用，使其相互作用，使其传播方向或特征传播方向或特征别改变别改变改变后的声波经检测改变后的声波经检测设备接收并对其进行设备接收并对其进行处理和分析处理和分析根据接收后的特征根据接收后的特征，评估工件本身及，评估工件本身及内部是否存在缺陷内部是否存在缺陷及缺陷的特征及缺陷的特征DAC DAC 电电 路路闸闸 门门 电电 路路移位传感器移位传感器报警灵敏度调节节报警灵敏度调节节水平扫描及放

60、大水平扫描及放大字符帧扫描字符帧扫描基基 线线 间间 距距发发 射射 点点 路路微微机机电电路路探头探头前置放大前置放大主放大主放大视放视放电路电路CRTCRT电路电路字符增辉字符增辉扫描信号扫描信号扫描增辉扫描增辉稳稳 压压 电电 路路功功 能能开开关关报报警警音音频频放放大大开关信号开关信号 开关信号开关信号 视放电压视放电压 发射电压发射电压 扫描电压扫描电压 输入电源输入电源各单元电路各单元电路JGT-6钢轨探伤仪电路原理图钢轨探伤仪电路原理图1.1.机头机头 2.2.电电池盒池盒3.3.机头机头旋转紧旋转紧固丝固丝4.4.推手推手5.5.推手推手紧固丝紧固丝6.6.抬抬手手7.7.翻